芯片老化检测用芯片固定结构制造技术

本实用新型专利技术涉及芯片老化检测固定技术领域，具体为芯片老化检测用芯片固定结构，包括矩形板；所述矩形板的内部开设有通槽，所述矩形板的上端面一侧安装有T字板，所述T字板朝向通槽的一侧旋转连接有圆柱，所述圆柱上安装有朝向通槽的夹持设备，T字板正对圆柱的一侧安装有与圆柱固定连接的方柱，通过设有的矩形板、T字板、圆柱、方柱、夹持设备和固定设备，通过矩形板上安装的两个夹持设备对芯片进行夹持，由圆柱与夹持设备固定连接，由圆柱与T字板旋转连接，通过方柱与圆柱固定连接，通过滑动安装在方柱上的固定设备带动夹持设备进行旋转，便于在芯片的一侧进行完老化检测后，快捷将芯片的另一侧翻转，提高了芯片的检测效率。提高了芯片的检测效率。提高了芯片的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片老化检测用芯片固定结构


[0001]本技术涉及芯片老化检测固定
，具体为芯片老化检测用芯片固定结构。

技术介绍

[0002]芯片在生产出来后需要做一系列的测试，其中老化测试是模拟芯片的工作状态，在高温的情况或其它情况下加速芯片的电气故障，在一段时间内获取芯片的故障率，让芯片在给定的负荷状态下工作而使其缺陷在较短的时间内出现，从而得到芯片在生命周期大致的故障率，避免在使用早期发生故障。
[0003]现有的芯片老化检测固定结构，在芯片的单面检测完毕后，对芯片的另一面进行检测时，需要将芯片拆下，然后翻转后重新进行固定，降低了芯片的检测效率。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供芯片老化检测用芯片固定结构，以解决上述
技术介绍
中提出现有的芯片老化检测固定结构，在芯片的单面检测完毕后，对芯片的另一面进行检测时，需要将芯片拆下，然后翻转后重新进行固定，降低了芯片的检测效率。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：芯片老化检测用芯片固定结构，包括矩形板；
[0006]所述矩形板的内部开设有通槽，所述矩形板的上端面一侧安装有T字板，所述T字板朝向通槽的一侧旋转连接有圆柱，所述圆柱上安装有朝向通槽的夹持设备，所述T字板正对圆柱的一侧安装有与所述圆柱固定连接的方柱，所述方柱上滑动安装有固定设备，便于对芯片的两面进行检测。
[0007]优选的，所述固定设备包括方块，所述方块上开设有供方柱滑动的凹槽，所述方块朝向T字板的一侧对称安装有两个磁柱，所述T字板上开设有供磁柱插接吸附的孔，便于翻转芯片时进行固定。
[0008]优选的，所述夹持设备包括竖板，所述竖板的一侧底端安装有第一横板，所述竖板安装有第一横板的一侧滑动安装有第二横板，用于夹持芯片。
[0009]优选的，所述竖板的顶端构造有耳板，所述耳板上螺旋连接有螺纹杆，所述螺纹杆的底端与所述第二横板旋转连接，所述螺纹杆的顶端安装有握持部，用于带动横板夹持芯片。
[0010]优选的，所述矩形板上端面的另一侧滑动安装有另一个夹持设备，所述夹持设备的一侧安装有长板，所述夹持设备与所述长板旋转连接，所述长板的两端均构造有L形板，所述通槽的侧面对称开设有两个供L形板嵌入滑动的横槽，便于夹持不同尺寸的芯片。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0012]1、通过设有的矩形板、T字板、圆柱、方柱、夹持设备和固定设备，通过矩形板上安装的两个夹持设备对芯片进行夹持，由圆柱与夹持设备固定连接，由圆柱与T字板旋转连
接，通过方柱与圆柱固定连接，通过滑动安装在方柱上的固定设备带动夹持设备进行旋转，便于在芯片的一侧进行完老化检测后，快捷将芯片的另一侧翻转，提高了芯片的检测效率；
[0013]2、通过设有的横槽、长板、L形板，通过长板两端构造的L形板嵌合入横槽内，并在横槽内滑动，可以对不同尺寸的芯片进行夹持，较为方便。
附图说明
[0014]图1为本技术的结构示意图；
[0015]图2为本技术图1中A处结构的放大示意图；
[0016]图3为本技术图2中固定设备的结构示意图；
[0017]图4为本技术图1中B处结构的放大示意图。
[0018]图中：1、矩形板；101、通槽；102、横槽；2、T字板；201、圆柱；202、方柱；3、夹持设备；301、竖板；302、第一横板；303、第二横板；304、耳板；305、螺纹杆；306、握持部；4、固定设备；401、方块；402、凹槽；403、磁柱；5、长板；501、L形板。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施条例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]实施例
[0021]请参阅图1
‑
4，图示中的：本实施例为本技术方案中优选实施方式，芯片老化检测用芯片固定结构，包括矩形板1；
[0022]矩形板1的内部开设有通槽101，矩形板1的上端面一侧安装有T字板2，T字板2朝向通槽101的一侧旋转连接有圆柱201，圆柱201上安装有朝向通槽101的夹持设备3，T字板2正对圆柱201的一侧安装有与圆柱201固定连接的方柱202，方柱202上滑动安装有固定设备4。
[0023]如图1、图3所示，固定设备4包括方块401，方块401上开设有供方柱202滑动的凹槽402，方块401朝向T字板2的一侧对称安装有两个磁柱403，T字板2上开设有供磁柱403插接吸附的孔；
[0024]如图4所示，夹持设备3包括竖板301，竖板301的一侧底端安装有第一横板302，竖板301安装有第一横板302的一侧滑动安装有第二横板303；
[0025]如图4所示，竖板301的顶端构造有耳板304，耳板304上螺旋连接有螺纹杆305，螺纹杆305的底端与第二横板303旋转连接，螺纹杆305的顶端安装有握持部306；
[0026]如图1、图4所示，矩形板1上端面的另一侧滑动安装有另一个夹持设备3，夹持设备3的一侧安装有长板5，夹持设备3与长板5旋转连接，长板5的两端均构造有L形板501，通槽101的侧面对称开设有两个供L形板501嵌入滑动的横槽102；
[0027]本实施例中，将滑动长板5，然后将芯片放置在两个第一横板302上，之后通过握持部306带动螺纹杆305旋转，由螺纹杆305带动第二横板303对芯片进行夹持，然后进行检测，检测完一面后，拉动方块401，通过凹槽402在方柱202上滑动，然后将磁柱403从T字板2内拔出，之后旋转方块401，由方柱202带动圆柱201上的夹持设备3旋转，将芯片翻转后，将方块
401上的两个磁柱403重新插入T字板2内进行固定。
[0028]在本技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0029]最后应说明的是：以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.芯片老化检测用芯片固定结构，包括矩形板(1)；其特征在于：所述矩形板(1)的内部开设有通槽(101)，所述矩形板(1)的上端面一侧安装有T字板(2)，所述T字板(2)朝向通槽(101)的一侧旋转连接有圆柱(201)，所述圆柱(201)上安装有朝向通槽(101)的夹持设备(3)，所述T字板(2)正对圆柱(201)的一侧安装有与所述圆柱(201)固定连接的方柱(202)，所述方柱(202)上滑动安装有固定设备(4)。2.根据权利要求1所述的芯片老化检测用芯片固定结构，其特征在于：所述固定设备(4)包括方块(401)，所述方块(401)上开设有供方柱(202)滑动的凹槽(402)，所述方块(401)朝向T字板(2)的一侧对称安装有两个磁柱(403)，所述T字板(2)上开设有供磁柱(403)插接吸附的孔。3.根据权利要求1所述的芯片老化检测用芯片固定结构，其特征在于：所述夹持...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋杰，
申请(专利权)人：叁技科技天津有限公司，
类型：新型
国别省市：