本实用新型专利技术公开了一种具有升降功能的芯片检测装置，包括有底座，所述底座上端面一侧安装有置料板，所述底座上端面另一侧安装有升降槽，所述升降槽内腔转动安装有丝杆，所述升降槽上端面安装有伺服电机，所述升降槽内腔两侧分别固定有导轨，所述导轨表面套接插设有滑套，两个所述滑套之间固定有与丝杆表面螺纹啮合的滚珠螺母，所述滚珠螺母表面固定有支撑横板。本实用新型专利技术中，该装置的检测探针可以升降，在对芯片进行接触检测时，无需抬举芯片动作，降低芯片损坏风险，同时通过可转动的转盘，可以灵活调节多个检测探针的间距，便于检测探针与不同型号芯片进行接触检测作业，检测探针可以与探针安装座便捷装配，便于后期更换或维护检测探针。检测探针。检测探针。
【技术实现步骤摘要】
一种具有升降功能的芯片检测装置
[0001]本技术涉及芯片检测设备
，尤其涉及一种具有升降功能的芯片检测装置。
技术介绍
[0002]芯片检测，是用于检测芯片上的引脚是否有缺陷、损坏或异常，引脚是芯片与外部电路连接的金属针，其质量和状态直接影响芯片的性能和可靠性，芯片的检测装置对于保证芯片的正常工作和防止故障非常重要；
[0003]以公开号为CN209069985U所示的一种芯片检测用升降装置，包括升降装置机架、气缸、导向套管、导向柱、滑槽、滚珠、抬升板；升降装置机架为一个长方体外框，升降装置机架上端开口，升降装置机架中段前后侧各自设有一排滑槽；滑槽内排入滚珠；升降装置机架内侧底端中央位置设有气缸；气缸的气缸杆连接抬升板。
[0004]在上述装置中，虽然能够实现芯片自动抬升到检测工位，但其在使用过程中，是对芯片进行抬升检测的，使得芯片频繁的运动，容易出现芯片的意外损坏，不具备检测探头升降功能，同时检测探头的间距不能灵活调节。
技术实现思路
[0005]本技术的目的是为了解决现有的芯片检测装置，在使用过程中，是对芯片进行抬升检测的，使得芯片频繁的运动，容易出现芯片的意外损坏，不具备检测探头升降功能，同时检测探头的间距不能灵活调节的缺点。
[0006]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0007]一种具有升降功能的芯片检测装置，包括有底座，所述底座上端面一侧安装有置料板，所述底座上端面另一侧安装有升降槽，所述升降槽内腔转动安装有丝杆，所述升降槽上端面安装有伺服电机，所述升降槽内腔两侧分别固定有导轨，所述导轨表面套接插设有滑套，两个所述滑套之间固定有与丝杆表面螺纹啮合的滚珠螺母，所述滚珠螺母表面固定有支撑横板；
[0008]所述支撑横板延长端固定有连接盘，且所述连接盘四周开设有滑槽，所述滑槽内部套接插设有工型块，所述工型块内部嵌合安装有探针安装座，所述探针安装座内腔安装有检测探针，所述探针安装座上端面固定有拨管；
[0009]所述支撑横板上端面安装有支撑架，所述支撑架延长端转动安装有转盘，所述转盘内部开设有弧形槽，所述支撑架上端面安装有驱动电机。
[0010]作为上述技术方案的进一步描述：
[0011]所述伺服电机输出端穿过所述升降槽与丝杆传动连接，用于驱动丝杆旋转升降滚珠螺母。
[0012]作为上述技术方案的进一步描述：
[0013]所述弧形槽与拨管表面活动套接，所述转盘与连接盘中心线呈同一垂直线。
[0014]作为上述技术方案的进一步描述：
[0015]所述驱动电机输出端与转盘传动连接，用于驱动转盘旋转。
[0016]作为上述技术方案的进一步描述：
[0017]所述探针安装座通过工型块与滑槽之间构成可滑动结构。
[0018]综上，由于采用了上述技术方案，本技术的有益效果是：
[0019]1、本技术中，该装置的检测探针可以升降，在对芯片进行接触检测时，无需抬举芯片动作，降低芯片损坏风险，同时通过可转动的转盘，可以灵活调节多个检测探针的间距，便于检测探针与不同型号芯片进行接触检测作业。
[0020]2、本技术中，该装置的检测探针可以与探针安装座便捷装配，便于后期更换或维护检测探针。
附图说明
[0021]图1为本技术中一种具有升降功能的芯片检测装置立体的结构示意图；
[0022]图2为本技术中升降槽处的结构示意图；
[0023]图3为本技术中连接盘与转盘连接处分离的结构示意图。
[0024]图例说明：
[0025]1、底座；2、置料板；3、升降槽；4、丝杆；5、伺服电机；6、导轨；7、滑套；8、滚珠螺母；9、支撑横板；10、连接盘；11、滑槽；12、工型块；13、探针安装座；14、检测探针；15、拨管；16、支撑架；17、转盘；18、弧形槽；19、驱动电机。
具体实施方式
[0026]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]参照图1
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图3，一种具有升降功能的芯片检测装置，包括有底座1，底座1上端面一侧安装有置料板2，底座1上端面另一侧安装有升降槽3，升降槽3内腔转动安装有丝杆4，升降槽3上端面安装有伺服电机5，升降槽3内腔两侧分别固定有导轨6，导轨6表面套接插设有滑套7，两个滑套7之间固定有与丝杆4表面螺纹啮合的滚珠螺母8，滚珠螺母8表面固定有支撑横板9；
[0028]支撑横板9延长端固定有连接盘10，且连接盘10四周开设有滑槽11，滑槽11内部套接插设有工型块12，工型块12内部嵌合安装有探针安装座13，探针安装座13内腔安装有检测探针14，探针安装座13上端面固定有拨管15；
[0029]支撑横板9上端面安装有支撑架16，支撑架16延长端转动安装有转盘17，转盘17内部开设有弧形槽18，支撑架16上端面安装有驱动电机19；
[0030]将待测芯片放置在置料板2的表面，这时通过伺服电机5的输出端转动，驱动着丝杆4旋转，丝杆4旋转时表面螺纹啮合的滚珠螺母8向下移动，使其一侧固定的连接盘10向下移动，连接盘10下安装的检测探针14与芯片接触，进行检测作业；
[0031]通过驱动电机19输出端转动，可以带动着转盘17旋转，转盘17表面开设的弧形槽
18推动着拨管15，使其工型块12在滑槽11内移动，工型块12带动着探针安装座13移动，调节多个检测探针14的间距，使其可以与待测芯片检测区域相对。
[0032]进一步的，伺服电机5输出端穿过升降槽3与丝杆4传动连接，用于驱动丝杆4旋转升降滚珠螺母8。
[0033]进一步的，弧形槽18与拨管15表面活动套接，转盘17与连接盘10中心线呈同一垂直线。
[0034]进一步的，驱动电机19输出端与转盘17传动连接，用于驱动转盘17旋转。
[0035]进一步的，探针安装座13通过工型块12与滑槽11之间构成可滑动结构。
[0036]工作原理：使用时，首先将待测芯片放置在置料板2的表面，这时通过伺服电机5的输出端转动，驱动着丝杆4旋转，丝杆4旋转时表面螺纹啮合的滚珠螺母8向下移动，使其一侧固定的连接盘10向下移动，连接盘10下安装的检测探针14与芯片接触，进行检测作业，通过驱动电机19输出端转动，可以带动着转盘17旋转，转盘17表面开设的弧形槽18推动着拨管15，使其工型块12在滑槽11内移动，工型块12带动着探针安装座13移动，调节多个检测探针14的间距，使其可以与待测芯片检测区域相对，就这样完成了本技术的工作原理。
[0037]以上，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种具有升降功能的芯片检测装置，包括有底座(1)，其特征在于，所述底座(1)上端面一侧安装有置料板(2)，所述底座(1)上端面另一侧安装有升降槽(3)，所述升降槽(3)内腔转动安装有丝杆(4)，所述升降槽(3)上端面安装有伺服电机(5)，所述升降槽(3)内腔两侧分别固定有导轨(6)，所述导轨(6)表面套接插设有滑套(7)，两个所述滑套(7)之间固定有与丝杆(4)表面螺纹啮合的滚珠螺母(8)，所述滚珠螺母(8)表面固定有支撑横板(9)；所述支撑横板(9)延长端固定有连接盘(10)，且所述连接盘(10)四周开设有滑槽(11)，所述滑槽(11)内部套接插设有工型块(12)，所述工型块(12)内部嵌合安装有探针安装座(13)，所述探针安装座(13)内腔安装有检测探针(14)，所述探针安装座(13)上端面固定有拨管(15)；所述支撑横板(9)上端面安装有支撑架(16)，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈建新，
申请(专利权)人：上海益深电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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