本发明专利技术公开了一种光学模拟方法、装置、设备和介质，其中方法包括：通过朗道理论获取液晶层的平衡态模型；基于平衡态模型获取液晶层的琼斯矩阵表示；分别获取显示面板中的各偏光片、各补偿膜、入射光的琼斯矩阵表示；根据前述琼斯矩阵表示获取出射光的琼斯矩阵表示；根据出射光和入射光的琼斯矩阵表示计算显示面板的透过率表示；根据透过率表示，调整各偏光片的参数和/或各补偿膜的参数，以使透过率在入射光不同的入射角度下达到与液晶层匹配的预期透过率。从而，可以模拟出各个状态下的显示面板，并可以根据预期透过率调整偏光片的参数和/或补偿膜的参数，对实际中偏光片和补偿膜的搭配选择起到了指导性的作用。提升了选择的效率。效率。效率。
【技术实现步骤摘要】
一种光学模拟方法、装置、设备和介质
[0001]本专利技术涉及显示领域中光学模拟
，尤其涉及一种光学模拟方法、装置、设备和介质。
技术介绍
[0002]目前，量产的液晶显示器可分为许多不同的液晶显示模式，比如TN(Twisted Nematic，扭曲向列型面板)、IPS(In
‑
Plane Switching，平面转换面板)、VA(vertical alignment，广视角面板)等，而不同的显示模式拥有不同的器件结构、液晶层厚度、以及光路设计。因此为了更好地显示画面，达到视角优秀、超高对比度等等要求，会使用补偿膜对显示面板的显示效果进行补偿。
[0003]对于不同的显示效果的要求，不同的显示面板，配置的偏光片以及补偿膜的参数均不相同。
[0004]当前，采用的方法是通过实际的膜材贴屏测试，根据显示器件的结构与显示模式，选择补偿膜与偏光片。将膜材进行贴合后贴敷在液晶玻璃上进行测试，评估所测试偏光片与补偿膜架构的效果，并不断微调直至找到最佳架构，满足市场需求。但是，这样的方法虽然最直观，但是效率很低。
技术实现思路
[0005]本专利技术提供了一种光学模拟方法、装置、设备和介质，以解决相关技术中手动搭配偏光片和补偿膜的低效率的问题。
[0006]为解决上述问题，本专利技术第一方面实施例提出了一种光学模拟方法，包括：
[0007]获取显示面板中液晶层中液晶分子的属性参数和环境参数；
[0008]根据所述属性参数和所述环境参数，结合朗道理论获取所述液晶层的平衡态模型；
[0009]基于所述平衡态模型获取所述液晶层的快慢轴方向折射率；
[0010]基于所述液晶层的快慢轴方向折射率获取所述液晶层的琼斯矩阵表示；
[0011]分别获取所述显示面板中的各偏光片的琼斯矩阵表示、各补偿膜的琼斯矩阵表示、入射光的琼斯矩阵表示；
[0012]根据所述液晶层的琼斯矩阵表示、各所述偏光片的琼斯矩阵表示、各所述补偿膜的琼斯矩阵表示、所述入射光的琼斯矩阵表示，获取出射光的琼斯矩阵表示；
[0013]根据所述出射光的琼斯矩阵表示和所述入射光的琼斯矩阵表示计算所述显示面板的透过率表示；
[0014]根据所述透过率表示，调整各所述偏光片的参数和/或各所述补偿膜的参数，以使所述透过率在入射光不同的入射角度下达到与所述液晶层匹配的预期透过率。
[0015]根据本专利技术的一个实施例，在分别获取所述显示面板中的各偏光片的琼斯矩阵表示、各补偿膜的琼斯矩阵表示、入射光的琼斯矩阵表示之前，还包括：
[0016]分别获取所述显示面板中的各偏光片的穆勒矩阵表示、各补偿膜的穆勒矩阵表示、入射光的穆勒矩阵表示；
[0017]所述显示面板中的各偏光片的穆勒矩阵表示、各补偿膜的穆勒矩阵表示、入射光的穆勒矩阵表示，获取出射光的穆勒矩阵表示；
[0018]根据所述出射光的穆勒矩阵表示和所述入射光的穆勒矩阵表示，在中心对比度为最大对比度时，获取各所述偏光片的范围参数、各所述补偿膜的范围参数；
[0019]所述根据所述透过率表示，调整各所述偏光片的参数和/或各所述补偿膜的参数，包括：
[0020]在获取各所述偏光片的范围参数内调整各所述偏光片的参数、和/或在各所述补偿膜的范围参数内调整各所述补偿膜的参数。
[0021]根据本专利技术的一个实施例，在获取出射光的琼斯矩阵表示之后，还包括：
[0022]根据所述出射光的琼斯矩阵表示获取所述显示面板的出射光的椭圆率表示；
[0023]根据所述显示面板的出射光的椭圆率表示，调整各所述偏光片的参数和/或各所述补偿膜的参数。
[0024]根据本专利技术的一个实施例，在获取出射光的琼斯矩阵表示之后，还包括：
[0025]根据所述出射光的琼斯矩阵表示获取所述显示面板的出射光的椭圆率表示；
[0026]根据所述显示面板的出射光的椭圆率表示，调整各所述偏光片的参数和/或各所述补偿膜的参数；
[0027]其中，调整各所述偏光片的参数和/或各所述补偿膜的参数包括：
[0028]在获取各所述偏光片的范围参数内调整各所述偏光片的参数、和/或在各所述补偿膜的范围参数内调整各所述补偿膜的参数。
[0029]根据本专利技术的一个实施例，所述根据所述属性参数和所述环境参数，结合朗道理论获取所述液晶层的平衡态模型包括：
[0030]根据所述属性参数，通过朗道理论建立所述液晶层的初始数学模型；
[0031]基于所述环境参数，迭代所述初始数学模型，得到所述平衡态模型。
[0032]根据本专利技术的一个实施例，所述液晶分子的属性参数包括液晶层厚度、初始快慢轴方向折射率、弹性常数、介电常数、粘滞系数；所述环境参数包括电场强度。
[0033]根据本专利技术的一个实施例，所述偏光片的参数包括：偏光片厚度、偏光片快慢轴方向折射率、偏光片吸收轴方向；所述补偿膜的参数包括：补偿膜厚度、补偿膜快慢轴方向折射率、补偿膜慢轴方向。
[0034]为解决上述问题，本专利技术第二方面实施例提出了一种光学模拟装置，包括：
[0035]第一获取模块，用于获取显示面板中液晶层中液晶分子的属性参数和环境参数；
[0036]模型建立模块，用于根据所述属性参数和所述环境参数，结合朗道理论获取所述液晶层的平衡态模型；
[0037]第二获取模块，用于基于所述平衡态模型获取所述液晶层的快慢轴方向折射率；
[0038]第三获取模块，用于基于所述液晶层的快慢轴方向折射率获取所述液晶层的琼斯矩阵表示；
[0039]第四获取模块，用于分别获取所述显示面板中的各偏光片的琼斯矩阵表示、各补偿膜的琼斯矩阵表示、入射光的琼斯矩阵表示；
[0040]第五获取模块，用于根据所述液晶层的琼斯矩阵表示、各所述偏光片的琼斯矩阵表示、各所述补偿膜的琼斯矩阵表示、所述入射光的琼斯矩阵表示，获取出射光的琼斯矩阵表示；
[0041]第一计算模块，用于根据所述出射光的琼斯矩阵表示和所述入射光的琼斯矩阵表示计算所述显示面板的透过率表示；
[0042]调整确定模块，用于根据所述透过率表示，调整各所述偏光片的参数和/或各所述补偿膜的参数，以使所述透过率在入射光不同的入射角度下达到与所述液晶层匹配的预期透过率。
[0043]为解决上述问题，本专利技术第三方面实施例还提出了一种光学模拟电子设备，所述光学模拟电子设备包括：
[0044]至少一个处理器；以及
[0045]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0046]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的光学模拟方法。
[0047]为解决上述问题，本专利技术第四方面实施例还提出了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光学模拟方法，其特征在于，包括：获取显示面板中液晶层中液晶分子的属性参数和环境参数；根据所述属性参数和所述环境参数，结合朗道理论获取所述液晶层的平衡态模型；基于所述平衡态模型获取所述液晶层的快慢轴方向折射率；基于所述液晶层的快慢轴方向折射率获取所述液晶层的琼斯矩阵表示；分别获取所述显示面板中的各偏光片的琼斯矩阵表示、各补偿膜的琼斯矩阵表示、入射光的琼斯矩阵表示；根据所述液晶层的琼斯矩阵表示、各所述偏光片的琼斯矩阵表示、各所述补偿膜的琼斯矩阵表示、所述入射光的琼斯矩阵表示，获取出射光的琼斯矩阵表示；根据所述出射光的琼斯矩阵表示和所述入射光的琼斯矩阵表示计算所述显示面板的透过率表示；根据所述透过率表示，调整各所述偏光片的参数和/或各所述补偿膜的参数，以使所述透过率在入射光不同的入射角度下达到与所述液晶层匹配的预期透过率。2.根据权利要求1所述的光学模拟方法，其特征在于，在分别获取所述显示面板中的各偏光片的琼斯矩阵表示、各补偿膜的琼斯矩阵表示、入射光的琼斯矩阵表示之前，还包括：分别获取所述显示面板中的各偏光片的穆勒矩阵表示、各补偿膜的穆勒矩阵表示、入射光的穆勒矩阵表示；所述显示面板中的各偏光片的穆勒矩阵表示、各补偿膜的穆勒矩阵表示、入射光的穆勒矩阵表示，获取出射光的穆勒矩阵表示；根据所述出射光的穆勒矩阵表示和所述入射光的穆勒矩阵表示，在中心对比度为最大对比度时，获取各所述偏光片的范围参数、各所述补偿膜的范围参数；所述根据所述透过率表示，调整各所述偏光片的参数和/或各所述补偿膜的参数，包括：在获取各所述偏光片的范围参数内调整各所述偏光片的参数、和/或在各所述补偿膜的范围参数内调整各所述补偿膜的参数。3.根据权利要求1所述的光学模拟方法，其特征在于，在获取出射光的琼斯矩阵表示之后，还包括：根据所述出射光的琼斯矩阵表示获取所述显示面板的出射光的椭圆率表示；根据所述显示面板的出射光的椭圆率表示，调整各所述偏光片的参数和/或各所述补偿膜的参数。4.根据权利要求2所述的光学模拟方法，其特征在于，在获取出射光的琼斯矩阵表示之后，还包括：根据所述出射光的琼斯矩阵表示获取所述显示面板的出射光的椭圆率表示；根据所述显示面板的出射光椭圆率表示，调整各所述偏光片的参数和/或各所述补偿膜的参数；其中，调整各所述偏光片的参数和/或各所述补偿膜的参数包括：在获取各所述偏光片的范围参数内调整各所述偏光片的参数、和/或在各所述补偿膜的范围参数内调整...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈思博，陈方中，霍丙忠，黄盆盛，张建军，
申请(专利权)人：深圳市三利谱光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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