测量系统、测量方法、测量设备和程序技术方案

技术编号:38631054 阅读:25 留言:0更新日期:2023-08-31 18:29
一种测量系统(10)包括:测量单元(22A),被配置为通过基于具有第一时钟周期的第一时钟信号以第一间隔执行多次测量来获得多个测量结果;时间戳单元(22B),被配置为基于具有比第一时钟周期长的第二时钟周期并且具有比第一时钟信号高的周期精度的第二时钟信号向由测量单元(22A)获得的多个测量结果中的按第二间隔获得的每个测量结果添加时间戳,所述时间戳指示测量时间;以及测量时间校正单元(32B),根据由两个时间戳标识的时段和在该时段期间获得的测量结果的数量来校正测量结果的测量时间。这使得可以以低功耗获得被标记有与实际时间偏差很小的测量时间的测量结果。间偏差很小的测量时间的测量结果。间偏差很小的测量时间的测量结果。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测量系统、测量方法、测量设备和程序


[0001]本专利技术涉及用于获得测量结果以及测量时间的测量系统、测量方法、测量设备和程序。

技术介绍

[0002]近年来,下述服务已经得到使用,所述服务中小型可穿戴传感器用于长时间连续测量用户的生物信息或环境信息,并且通过测量获得的测量结果用于健康管理等。作为用于这种服务的技术,PLT1公开了一种技术,该技术使用可穿戴设备根据作为心脏的动作电位的心电图电位来测量心率等,并实时向智能电话等发送通过测量获得的测量结果或将测量结果记录在存储器中。
[0003][引用文献列表][0004][专利文献][0005][PTL1]PCT国际公开No.2016/24495

技术实现思路

[0006][技术问题][0007]日常佩戴的可穿戴传感器要求体积小且重量轻,这限制了电池容量。因此,执行长时间测量需要低功耗的测量。顺便提及,存在下述情况:期望链接并管理测量结果和用户当时的活动,然后在考虑用户活动的同时分析测量结果。在这种情况下,每个测量结果与用户活动之间的对应关系通过时间来管理。对于该管理,期望将测量结果与准确的测量时间一起进行管理。这里,测量定时通常使用时钟信号来控制。如果高精度时钟信号被用于测量以准确地管理如上所述的测量时间,则功耗将增加。另一方面,如果使用以低功耗运行的振荡电路,则会降低时钟信号的精度,因此也会降低测量时间的准确性。因此,功耗与测量时间的准确性之间存在折衷关系。注意,这种折衷不仅发生在可穿戴传感器中,而且发生在一般测量中。
[0008]本专利技术的目的是以低功耗获得提供了相对于实际时间具有小的时间差的测量时间的测量结果。
[0009][问题的解决方案][0010]为了解决上述问题,根据本专利技术的第一方面的测量系统包括:测量单元,被配置为基于具有第一时钟周期的第一时钟信号执行多次测量以获得多个测量结果;时间戳提供单元,被配置为基于具有比所述第一时钟周期长的第二时钟周期并且具有比所述第一时钟信号更好的周期精度的第二时钟信号向通过所述测量单元获得的多个测量结果中的两个或更多个测量结果中的每个测量结果提供指示测量时间的时间戳,所述多个测量结果中的所述两个或更多个测量结果是所述多个测量结果的一部分;以及测量时间校正单元,被配置为:根据使用向所述多个测量结果中的所述两个或更多个测量结果中的每个测量结果提供的时间戳中的两个时间戳所指定的时段以及所述多个测量结果中的在所述时段期间获得
的测量结果的数量,校正在所述时段期间获得的测量结果中的除了已被提供时间戳的测量结果之外的测量结果的测量时间,所述两个或更多个测量结果是所述多个测量结果的一部分。
[0011]根据本专利技术的第二方面的测量方法包括:测量步骤:基于具有第一时钟周期的第一时钟信号执行多次测量以获得多个测量结果;时间戳提供步骤:基于具有比所述第一时钟周期长的第二时钟周期并且具有比所述第一时钟信号更好的周期精度的第二时钟信号,向通过所述测量步骤获得的所述多个测量结果中的两个或更多个测量结果中的每个测量结果提供指示测量时间的时间戳,所述多个测量结果中的所述两个或更多个测量结果是所述多个测量结果的一部分;以及测量时间校正步骤:根据使用向所述多个测量结果中的所述两个或更多个测量结果中的每个测量结果提供的时间戳中的两个时间戳所指定的时段以及所述多个测量结果中的在所述时段期间获得的测量结果的数量,校正在所述时段期间获得的测量结果中的除了被提供时间戳的测量结果之外的测量结果的测量时间,所述两个或更多个测量结果是所述多个测量结果的一部分。
[0012]根据本专利技术的第三方面的测量设备包括:测量单元,被配置为:基于具有第一时钟周期的第一时钟信号执行多次测量以获得多个测量结果;以及时间戳提供单元,被配置为:基于具有比所述第一时钟周期长的第二时钟周期并且具有比所述第一时钟信号更好的周期精度的第二时钟信号,向通过所述测量单元获得的所述多个测量结果中的两个或更多个测量结果中的每个测量结果提供指示测量时间的时间戳,所述多个测量结果中的所述两个或更多个测量结果是所述多个测量结果的一部分,其中,所述时间戳用于校正在使用提供给所述多个测量结果中的所述两个或更多个测量结果中的每个测量结果的时间戳中的两个时间戳所指定的时段期间获得的测量结果中的除了被提供所述时间戳的测量结果之外的测量结果的测量时间,所述两个或更多个测量结果是所述多个测量结果的一部分。
[0013]根据本专利技术的第四方面的程序使计算机充当测量时间校正单元,所述计算机获取通过基于具有第一时钟周期的第一时钟信号执行多次测量而获得的多个测量结果以及基于具有比所述第一时钟周期长的第二时钟周期并且具有比所述第一时钟信号更好的周期精度的第二时钟信号向所述多个测量结果中的两个或更多个测量结果中的每个测量结果提供的指示测量时间的时间戳,所述多个测量结果中的所述两个或更多个测量结果是所述多个测量结果的一部分,所述测量时间校正单元被配置为:根据使用向所述多个测量结果中的所述两个或更多个测量结果中的每个测量结果提供的时间戳中的两个时间戳所指定的时段以及所述多个测量结果中的在所述时段期间获得的测量结果的数量,校正在所述时段期间获得的测量结果中的除了被提供时间戳的测量结果之外的测量结果的测量时间,所述两个或更多个测量结果是所述多个测量结果的一部分。
[0014][专利技术的有益效果][0015]根据本专利技术,可以以低功耗获得提供了相对于实际时间具有小的时间差的测量时间的测量结果。
附图说明
[0016][图1]图1是根据本专利技术的实施例的测量系统的硬件配置图。
[0017][图2]图2是示出了根据本专利技术的实施例的测量系统的配置的框图。
[0018][图3]图3是示出了测量结果序列和时间戳的配置示例的图。
[0019][图4]图4是用于描述使用图2中的测量时间校正单元执行的测量时间校正处理的流程图。
[0020][图5]图5是用于说明在图4的测量时间校正处理中从测量结果序列中删除测量结果的处理的示意图,并且是删除测量结果之前的示意图。
[0021][图6]图6是用于说明在图4的测量时间校正处理中从测量结果序列中删除测量结果的处理的示意图,并且是删除测量结果之后的示意图。
[0022][图7]图7是用于说明在图4的测量时间校正处理中向测量结果序列添加测量结果的处理的示意图,并且是添加测量结果之前的示意图。
[0023][图8]图8是用于说明在图4的测量时间校正处理中向测量结果序列添加测量结果的处理的示意图,并且是添加测量结果之后的示意图。
[0024][图9]图9是示出了用于在图4的测量时间校正处理中向测量结果序列添加测量结果的处理的示例的图。
[0025][图10]图10是示出了在图4的测量时间校正处理中向测量结果序列添加测量结果的处理的另一示例的图。
[0026][图11]图11是示出了用于在图4的测量时间校正处理中从测量结果序列中删除测量结果的处理的另一示例的图。
[0027][图12]图12是示出了本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测量系统,包括:测量单元,被配置为:基于具有第一时钟周期的第一时钟信号执行多次测量以获得多个测量结果;时间戳提供单元,被配置为:基于具有比所述第一时钟周期长的第二时钟周期并且具有比所述第一时钟信号更好的周期精度的第二时钟信号,向通过所述测量单元获得的所述多个测量结果中的两个或更多个测量结果中的每个测量结果提供指示测量时间的时间戳,所述多个测量结果中的所述两个或更多个测量结果是所述多个测量结果的一部分;以及测量时间校正单元,被配置为:根据使用向所述多个测量结果中的所述两个或更多个测量结果中的每个测量结果提供的时间戳中的两个时间戳所指定的时段、以及所述多个测量结果中的在所述时段期间获得的测量结果的数量,校正在所述时段期间获得的测量结果中的除了被提供时间戳的测量结果之外的测量结果的测量时间,所述两个或更多个测量结果是所述多个测量结果的一部分。2.根据权利要求1所述的测量系统,其中,使用所述测量单元获得的所述多个测量结果包括多个测量结果序列,一个测量结果序列是通过连续N次测量获得的N个测量结果,所述时间戳提供单元被配置为:向所述多个测量结果序列中的每个测量结果序列的第一测量结果添加时间戳,以及所述测量时间校正单元被配置为:使用所述两个时间戳之间的差来指定获得测量结果序列的N个测量结果的测量时段,根据所指定的测量时段的长度从测量结果序列中删除测量结果或向测量结果序列添加新的测量结果,以及使测量结果序列的测量结果的数量更接近于当所述第一时钟信号没有周期误差时在所述测量时段内获得的测量结果的数量,以校正测量时间。3.根据权利要求2所述的测量系统,其中,所述多个测量结果中的各个测量结果包括第一类型测量结果和不同于所述第一类型的第二类型测量结果,以及所述测量时间校正单元被配置为:使得在删除测量结果时不删除所述第一类型测量结果。4.根据权利要求2或3所述的测量系统,其中,所述测量时间校正单元被配置为:当基于没有周期误差时的第一时钟信号的测量周期为T
cycle
并且所述测量时段为T
term
时,当通过以下表达式(A)获得的M为负数时从所述测量结果序列中删除|M|个测量结果,而当M为正数时向所述测量结果序列添加M个新的测量结果:M=int(T
term
/T
cycle
)

N...(A)其中,int(T
term
/T
cycle
)是对通过T
term
/T
cycle
所获得的值的整数转换运算。5.根据权利要求2至4中任一项所述的测量系统,其中,所述测量结果包括基于所述第一时钟信号测量的时间间隔,以及所述测量系统还包括测量结果校正单元,所述测量结果校正单元被配置为通过将所述时间间隔乘以由以下表达式(B)计算的校正...

【专利技术属性】
技术研发人员:桑原启松永贤一小笠原隆行
申请(专利权)人:日本电信电话株式会社
类型:发明
国别省市:

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