本实用新型专利技术提一种LED灯具老化测试装置，包括LED灯具测试箱，LED灯具测试箱的顶部表面设置有制冷机，LED灯具测试箱的顶部内壁均匀设置有多组灯座，LED灯具测试箱的顶部内壁两侧均设置有冷气管，LED灯具测试箱背面一侧侧壁设置有加热管，所述LED灯具测试箱的一侧的底部内壁和顶部内壁相互靠近的一侧转动连接有多组隔板，和所述LED灯具测试箱的一侧侧壁设置有控制箱，通过设有的加热器和加热管等，能够模拟在高温下，能够对LED灯具的老化进行测试，通过设有的制冷机、冷气管和冷气喷头等，能够模拟在低温下，能够对LED灯具的老化进行测试，并可观察LED灯具的表面是否存在脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象。材料变形等异常现象。材料变形等异常现象。
【技术实现步骤摘要】
一种LED灯具老化测试装置
[0001]本技术涉及LED灯具测试
，具体为一种LED灯具老化测试装置。
技术介绍
[0002]半导体发光二极管灯具即LED(LightEmittingDiode)灯具，是一种半导体固体发光器件，它是利用固体半导体芯片作为发光材料，在半导体中通过载流子发生复合放出过剩的能量而引起光子发射，直接发出红、黄、蓝、绿、青、橙、紫、白色的光。LED照明产品就是利用LED作为光源制造出来的照明器具。
[0003]在LED灯具生产出来之后，大都是需要进行老化测试，用来测试出所生产LED灯具的使用寿命和LED灯具的老化程度，但是，专利技术人认为，现有的LED灯具老化测试，基本上是采用将所生产出来的LED灯具接入灯座上，并长时间点亮照明，直至LED灯具熄灭来测试LED灯具的老化程度，以及使用寿命，或者不停的对LED灯具进行点灯和熄灯来测试LED灯具的老化程度，但是，此种测试方法忽略了LED灯具的使用环境，如在高温的环境下使用，或者在低温环境下使用时，其LED灯具的表面是否存在脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种LED灯具老化测试装置，以解决上述
技术介绍
提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种LED灯具老化测试装置，包括LED灯具测试箱，所述LED灯具测试箱的顶部表面设置有制冷机，所述LED灯具测试箱的顶部内壁均匀设置有多组灯座，所述LED灯具测试箱的顶部内壁两侧均设置有冷气管，所述LED灯具测试箱背面一侧侧壁设置有加热管，所述LED灯具测试箱的一侧的底部内壁和顶部内壁相互靠近的一侧转动连接有多组隔板，和所述LED灯具测试箱的一侧侧壁设置有控制箱。
[0006]作为本技术的进一步描述：所述LED灯具测试箱的顶部表面设置有的制冷机的输出端设置有贯穿至LED灯具测试箱内部并延伸至冷气管内的通气管，所述冷气管的底部均匀设置有多组冷气喷头。
[0007]作为本技术的进一步描述：所述控制箱的底部内壁一侧设置有加热器，所述加热器的输出端与LED灯具测试箱背面一侧侧壁所设置加热管的一端连接。
[0008]作为本技术的进一步描述：多组所述隔板的顶部表面均设置有贯穿并延伸至LED灯具测试箱外部的转轴，且转轴的外圈设置有齿轮，且多组齿轮相互啮合，且其中位于中部的转轴的上部外圈设置有转动把手。
[0009]作为本技术的进一步描述：所述控制箱的底部内壁一侧设置有PLC控制器，所述灯座通过导线连接，且导线上分别设置有调压器和继电器。
[0010]作为本技术的进一步描述：所述LED灯具测试箱靠近正面的一侧上部安装有第二箱门，所述控制箱正面一侧安装有第一箱门，且第一箱门和第二箱门一侧侧壁均设置
有门把手，所述第二箱门上开设有观察窗，且贯穿窗上设置有玻璃。
[0011]作为本技术的进一步描述：所述LED灯具测试箱的底部表面四角和控制箱的底部表面两侧均设置有支撑腿
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0013](1)通过设有的加热器和加热管等，可启动加热器，此时加热器能够对加热管进行加热，此时LED灯具测试箱内的温度将会升高，并可将LED灯具测试箱内部的温度升到至规定的温度之后，此时可通过PLC控制器将灯座进行通电，此时能够模拟在高温下，能够对LED灯具的老化进行测试，并可观察LED灯具的表面是否存在脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象。
[0014](2)通过设有的制冷机、冷气管和冷气喷头等，可启动制冷机，此时，制冷机能够通过通气管向冷气管内通冷气，之后可通过冷气喷头将冷气喷向LED灯具测试箱内部，此时能够对LED灯具测试箱内部的温度进行到底至所设定的温度之后，此时，可通过PLC控制器将灯座进行通电，此时能够模拟在低温下，能够对LED灯具的老化进行测试，并可观察LED灯具的表面是否存在脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象。
附图说明
[0015]图1为本技术的主视结构示意图；
[0016]图2为本技术的LED灯具测试箱正面剖视结构示意图；
[0017]图3为本技术的LED灯具测试箱背面结构示意图；
[0018]图4为本技术的LED灯具测试箱背面剖视结构示意图；
[0019]图5为本技术的隔板开启结构示意图。
[0020]图中：1、LED灯具测试箱；2、通气管；3、制冷机；4、齿轮；5、控制箱；6、第一箱门；7、支撑腿；8、门把手；9、第二箱门；10、灯座；11、PLC控制器；12、加热器；13、隔板；14、冷气管；15、冷气喷头；16、转动把手；17、加热管。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]请参阅图1
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图5，本技术提供一种技术方案：一种LED灯具老化测试装置，包括LED灯具测试箱1，LED灯具测试箱1的顶部表面设置有制冷机3，LED灯具测试箱1的顶部内壁均匀设置有多组灯座10，LED灯具测试箱1的顶部内壁两侧均设置有冷气管14，LED灯具测试箱1背面一侧侧壁设置有加热管17，LED灯具测试箱1的一侧的底部内壁和顶部内壁相互靠近的一侧转动连接有多组隔板13，和LED灯具测试箱1的一侧侧壁设置有控制箱5。
[0023]在本实施例中：LED灯具测试箱1的顶部表面设置有的制冷机3的输出端设置有贯穿至LED灯具测试箱1内部并延伸至冷气管14内的通气管2，冷气管14的底部均匀设置有多组冷气喷头15。
[0024]具体使用时：可启动制冷机3，此时，制冷机3能够通过通气管2向冷气管14内通冷
气，之后可通过冷气喷头15将冷气喷向LED灯具测试箱1内部，此时能够对LED灯具测试箱1内部的温度进行到底至所设定的温度之后，此时，可通过PLC控制器11将灯座10进行通电，此时能够模拟在低温下，能够对LED灯具的老化进行测试。
[0025]在本实施例中：控制箱5的底部内壁一侧设置有加热器12，加热器12的输出端与LED灯具测试箱1背面一侧侧壁所设置加热管17的一端连接。
[0026]具体使用时：可启动加热器12，此时加热器12能够对加热管17进行加热，此时LED灯具测试箱1内的温度将会升高，并可将LED灯具测试箱1内部的温度升到至规定的温度之后，此时可通过PLC控制器11将灯座10进行通电，此时能够模拟在高温下，能够对LED灯具的老化进行测试，并可观察LED灯具的表面是否存在脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象。
[0027]在本实施例中：多组隔板13的顶部表面均设置有贯穿并延伸至LED本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种LED灯具老化测试装置，包括LED灯具测试箱(1)，其特征在于：所述LED灯具测试箱(1)的顶部表面设置有制冷机(3)，所述LED灯具测试箱(1)的顶部内壁均匀设置有多组灯座(10)，所述LED灯具测试箱(1)的顶部内壁两侧均设置有冷气管(14)，所述LED灯具测试箱(1)背面一侧侧壁设置有加热管(17)，所述LED灯具测试箱(1)的一侧的底部内壁和顶部内壁相互靠近的一侧转动连接有多组隔板(13)，和所述LED灯具测试箱(1)的一侧侧壁设置有控制箱(5)。2.根据权利要求1所述的一种LED灯具老化测试装置，其特征在于：所述LED灯具测试箱(1)的顶部表面设置有的制冷机(3)的输出端设置有贯穿至LED灯具测试箱(1)内部并延伸至冷气管(14)内的通气管(2)，所述冷气管(14)的底部均匀设置有多组冷气喷头(15)。3.根据权利要求1所述的一种LED灯具老化测试装置，其特征在于：所述控制箱(5)的底部内壁一侧设置有加热器(12)，所述加热器(12)的输出端与LED灯具测试箱(1)背面一侧侧壁所设置加热管(...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐雄华，宋薇薇，
申请(专利权)人：赫顶天津工业技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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