自动化测试系统中的测试部位构造技术方案

本发明专利技术题为“自动化测试系统中的测试部位构造”。本发明专利技术公开了一种示例性测试系统，其包括用于测试DUT的测试插座、用于该测试插座的盖件和致动器，该致动器被构造成迫使该盖件至该测试插座上并且从该测试插座去除该盖件。该致动器包括：上臂，其用以移动该盖件；附接机构，其连接至该上臂以接触该盖件，其中该附接机构被构造成允许该盖件相对于该测试插座浮动，以实现该盖件与该测试插座之间的对准；以及下臂，其用以将该致动器锚定至含有该测试插座的板。该致动器被构造成使该上臂线性地朝向以及远离该测试插座移动，以及使该上臂朝向以及远离该测试插座旋转。及远离该测试插座旋转。及远离该测试插座旋转。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】自动化测试系统中的测试部位构造


[0001]本说明书大体上涉及自动化测试系统及其部件。

技术介绍

[0002]系统级测试(system
‑
level testing,SLT)涉及测试整个装置，而不是测试装置的单独部件。如果该装置通过一连串的系统级测试，那么假设该装置的单独部件操作正常。随着装置中的部件的复杂度以及数目增加，SLT已变得更普遍。例如，可以系统层级测试芯片实施系统(例如专用集成电路(application
‑
specific integrated circuit,ASIC))，以确定构成该系统的部件是否正常运作。

技术实现思路

[0003]一种示例性测试系统包括包装。这些包装包括用于测试受测装置(device under test,DUT)的测试插座以及用于对在这些测试插座中的这些DUT执行测试的至少一些测试电子器件。不同的包装被构造成具有不同构造。这些不同构造包括以不同节距布置的至少不同数目个测试插座。该示例性测试系统可单独或以组合方式包括下列特征中的一者或多者。
[0004]该示例性测试系统可包括被构造成将这些DUT移入以及移出这些测试插座的取放自动化件。该取放自动化件可被构造成至少服务具有不同构造的这些包装。该取放自动化件可构造以运输不同类型DUT。该取放自动化件可基于测试时间以及处理量来构造。
[0005]这些包装的各者可为模块化，并且在不同包装上所含有的测试插座上的该取放自动化件操作期间移入以及移出(例如，完全移出)该测试系统。包装可包括一个或多个行，其中各行含有一个或多个测试插座。各测试插座可与致动器相关联，以将盖件放置在该测试插座上方或将该盖件从该测试插座去除。包装的这些行中的至少两者可构造以固持不同类型DUT。这些包装的一者或多者(例如，各包装)可被构造成固持以及测试不同类型DUT。
[0006]该测试系统可包括：冷却房，其容纳这些测试插座且供应冷却空气；以及暖房，其被布置成接收来自该冷却房由于测试这些DUT而已变暖的空气。该暖房可为多个暖房中的一者，其中各暖房用于不同包装。该测试系统可包括：空气对液体热交换器，其用以从来自该暖房的循环暖空气产生该冷却空气；以及一个或多个风扇，其用以使该冷却空气移动至该冷却房中。该测试系统可包括离子化空气供应器以及一个或多个风扇，以使来自该离子化空气供应器的经离子化空气在这些测试插座的至少一些测试插座上方移动。该测试系统可包括热控制系统，以独立且非同步地控制单独测试插座的温度。
[0007]如所提及，该取放自动化件可被构造成将这些DUT移入以及移出这些测试插座，且该取放自动化件可被构造成至少服务这些包装的这些不同构造。该取放自动化系统可包括：拾取器，其用于从这些测试插座拾取DUT和/或将这些DUT放置在这些测试插座中；以及支架(gantry)，这些拾取器安装在该支架上。该支架可被构造成相对于这些测试插座移动这些拾取器以定位这些拾取器，这些拾取器用于从这些测试插座拾取这些DUT或将这些DUT
放置在这些测试插座中。这些拾取器可独立地且同时操作。这些拾取器以及支架为用于该测试系统的机器人，且可布置在这些测试插座上方的一层中。这些拾取器以及支架可为布置在这些测试插座上方的该层中的该测试系统的唯一机器人。该测试系统可包括托盘，这些托盘具有用于固持待测DUT或已受测DUT中的至少一者的单元。这些拾取器可被构造成：从这些托盘拾取这些待测DUT，并将这些待测DUT放置在这些测试插座中；以及从这些测试插座拾取这些已受测DUT，并将这些已受测DUT放置在这些托盘中。
[0008]该测试系统可包括壳体，这些拾取器以及该支架被安装在该壳体中，并且这些包装被固持在该壳体中。在该取放自动化件操作于这些包装的不同者期间，一包装可移入或移出该壳体。这些拾取器可独立地以四个自由度操作。这些拾取器可各独立地以四个自由度操作。
[0009]这些测试系统对这些DUT执行的测试可包括系统级测试。这些包装的第一者可包括一个或多个测试插座，且这些包装的第二者可包括两个或更多个测试插座。这些不同构造可在该测试系统中同时容纳不同类型DUT。这些不同构造可在该测试系统中同时支持具有不同形状因数的不同类型DUT。这些不同构造可在该测试系统中同时支持具有不同电接口的不同类型DUT。这些不同构造可在该测试系统中同时支持具有不同热需求的不同类型DUT。这些不同构造可在该测试系统中同时支持具有不同物理接口的不同类型DUT。这些不同构造可在该测试系统中同时支持具有不同无线功能的不同类型DUT。这些不同构造可在该测试系统中同时支持具有机电接口的不同类型DUT。
[0010]一种示例性测试系统包括用于测试DUT的测试插座、用于该测试插座的盖件和致动器，该致动器被构造成迫使该盖件至该测试插座上并且从该测试插座去除该盖件。该致动器包括：上臂，其用以移动该盖件；附接机构，其连接至该上臂以接触该盖件，其中该附接机构被构造成允许该盖件相对于该测试插座浮动，以实现该盖件与该测试插座之间的对准；以及下臂，其用以将该致动器锚定至含有该测试插座的板。该致动器被构造成使该上臂线性地朝向以及远离该测试插座移动，以及使该上臂朝向以及远离该测试插座旋转。该示例性测试系统可单独或以组合方式包括下列特征中的一者或多者。
[0011]该附接机构可包括：一个或多个弹簧，其在该上臂与该盖件之间；以及环架，其连接至该上臂并且被布置成接触止板，该止板连接至该盖件且限制该盖件的移动。该盖件可为盖件组件或为该盖件组件的部分，该盖件组件包括对准销，以对准该盖件组件与该测试插座相关联的互补孔。该盖件组件可包括：罩盖，其接触该DUT；热电冷却器(TEC)，其与该罩盖接触；导热板，其与该TEC接触；以及该止板，其与该导热板接触。当该致动器迫使该盖件至该测试插座上时，该止板可被构造成与该测试插座的框架接触。
[0012]该盖件组件可包括：冷却剂管线，其将液体冷却剂带到该导热板；弹簧，其在该止板与该导热板之间。该盖件组件可包括热连接至该导热板的一个或多个加热器。该一个或多个加热器可控制以提高温度。该测试系统还可包括：第一温度传感器，其在该罩盖处，以检测邻近于该DUT的温度；以及第二温度传感器，其在该罩盖处，以检测比由该第一温度传感器所检测的该温度更远离该DUT的该罩盖处的温度。
[0013]该上臂可为包括缆线索环的组件的一部分，以固持往返于该盖件路由电信号或液体冷却剂中的至少一者的导管。
[0014]该附接机构可被构造成允许该盖件以多个自由度浮动，例如使用环架与弹簧。在
示例中，该附接机构可被构造成允许该盖件以至少三个自由度浮动，该附接机构可被构造成允许该盖件以至少四个自由度浮动，该附接机构可被构造成允许该盖件以至少五个自由度浮动，或该附接机构可被构造成允许该盖件以六个自由度浮动。该附接机构可被构造成在浮动期间允许该盖件以在单一维度移动达以在三位数微米(一位数毫米)或更少的量。
[0015]该盖件可包括盖件组件。该盖件组件可包括：TEC，其与该D本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测试系统，所述测试系统包括：测试插座，所述测试插座用于测试受测装置(DUT)；盖件，所述盖件用于所述测试插座；以及致动器，所述致动器被构造成迫使所述盖件至所述测试插座上，以及将所述盖件从所述测试插座去除，所述致动器包括：上臂，所述上臂用以移动所述盖件；附接机构，所述附接机构连接至所述上臂以接触所述盖件，所述附接机构被构造成允许所述盖件相对于所述测试插座浮动，以实现所述盖件与所述测试插座之间的对准；以及下臂，所述下臂用以锚定所述致动器至含有所述测试插座的板；其中所述致动器被构造成使所述上臂线性地朝向以及远离所述测试插座移动，以及使所述上臂朝向以及远离所述测试插座旋转。2.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述附接机构包括：一个或多个弹簧，所述一个或多个弹簧在所述上臂与所述盖件之间；以及环架，所述环架连接至所述上臂且被布置成接触其接触所述盖件的止板。3.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述盖件包括盖件组件，所述盖件组件包括：对准销，所述对准销用以对准所述盖件组件与所述测试插座相关联的互补孔。4.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述盖件包括盖件组件，所述盖件组件包括：罩盖，所述罩盖接触所述DUT；热电冷却器(TEC)，所述热电冷却器与所述罩盖接触；导热板，所述导热板与所述TEC接触；以及止板，所述止板与所述导热板接触，当所述致动器迫使所述盖件至所述测试插座上时，所述止板与所述测试插座的框架接触。5.根据权利要求4所述的测试系统，其中所述盖件组件包括：冷却剂管线，所述冷却剂管线将液体冷却剂带到所述导热板；以及弹簧，所述弹簧在所述止板与所述导热板之间。6.根据权利要求4所述的测试系统，其中所述盖件组件包括：一个或多个加热器，所述一个或多个加热器经热连接至所述导热板，所述一个或多个加热器能够经控制以提高温度。7.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述上臂能够为包括缆线索环的组件的一部分，以固持往返于所述盖件路由电信号或液体冷却剂中的至少一者的导管。8.根据权利要求2所述的测试系统，所述测试系统进一步包括：第一温度传感器，所述第一温度传感器在所述罩盖处，以检测邻近于所述DUT的温度；以及第二温度传感器，所述第二温度传感器在所述罩盖处，以检测比由所述第一温度传感器所检测的所述温度更远离所述DUT的所述罩盖处的温度。9.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述附接机构被构造成允许所述盖件以多个自由度浮动。10.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述附接机构被构造成允许所述盖件以至少三个自由度浮动。
11.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述附接机构被构造成允许所述盖件以至少四个自由度浮动。12.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述附接机构被构造成允许所述盖件以至少五个自由度浮动。13.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：迈克尔，
申请(专利权)人：泰瑞达公司，
类型：发明
国别省市：