一种光学检测的五轴光学平台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光学检测的五轴光学平台，包括底座，所述底座的顶部安装有支撑架，所述支撑架的内部安装有三轴驱动件，所述三轴驱动件上安装有光学测量仪，所述支撑架的外侧固定连接有两个L形架，两个所述L形架之间转动连接有调节环。该实用新型专利技术通过支撑架配合底座对装置进行支撑，使用时，首先将待检测的光学产品放置在检测平面台上，然后启动驱动机构带动有光学产品的检测平面台转动至对接盘的正上方，然后启动升降座带动调节座上升，使得对接盘与检测平面台卡合连接，然后启动顶部的三轴驱动件带动光学测量仪对光学产品进行测量检测，从而实现了装置具备具备可实现连续化持续上料测量作业，提高了检测效率的优点。提高了检测效率的优点。提高了检测效率的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种光学检测的五轴光学平台


[0001]本技术涉及光学检测
，具体涉及一种光学检测的五轴光学平台。

技术介绍

[0002]五轴光学测量平台是用于检测光学面板(LCD，OLED，TEG实验片等)的光学数据的系统平台。国内的光学面板发展迅速，需要对产品进行光学数据测量，溯源国际标准。该五轴光学测量机台搭载光学测量仪器(如PR等)在可变视角的条件下，可测量亮度、色度、光谱、1931色坐标、1976色坐标、均匀性、Flcker、Cross
‑
talk、响应时间等光学参数，目前对测量可变视角状态下的项目，采用的是发光面板直立放置在一个旋转台上。
[0003]经过检索申请号为申请号201721378841.1公开了一种五轴测量机台。该机台包括机架、三轴机械手、检测仪和旋转平台，机架的支架上固定连接有三轴机械手，三轴机械手与光学检测仪连接，机架平台的环形槽内连接有可以水平旋转和垂直翻转的旋转平台，旋转平台位于光学检测仪的下方。本技术提供了一种五轴测量机台，通过三轴机械手带动光学检测仪器，在三个方向进行移动检测，利用可以水平旋转和垂直旋转的旋转平台，来方便发光面板的放置和拿取，以及实现发光面板各个角度的测量。
[0004]但是上述方案中测量进行过程中，单次支撑对一个平面光学件进行测量，测量一侧就需要重复一次上下料操作，操作效率低。

技术实现思路

[0005]针对现有技术中存在的问题，本技术的目的在于提供一种光学检测的五轴光学平台。
[0006]为解决上述问题，本技术采用如下的技术方案。
[0007]一种光学检测的五轴光学平台，包括底座，所述底座的顶部安装有支撑架，所述支撑架的内部安装有三轴驱动件，所述三轴驱动件上安装有光学测量仪，所述支撑架的外侧固定连接有两个L形架，两个所述L形架之间转动连接有调节环，所述调节环与支撑架之间安装有驱动机构，所述调节环上开设有等距离排列的通孔，所述通孔的内部卡接有检测平面台，所述底座的顶部安装有升降座，所述升降座上安装调节座，所述调节座上安装有对接盘，所述对接盘与通孔上的检测平面台对接配合。
[0008]作为上述技术方案的进一步描述：所述检测平面台的底部设置有磁力卡环，所述通孔的内部设置有磁力卡槽，所述磁力卡环卡接至磁力卡槽的内部。
[0009]作为上述技术方案的进一步描述：所述检测平面台的底部固定连接有凸环，所述对接盘的顶部固定连接磁力凸块，所述磁力凸块磁力卡接至凸环的内部。
[0010]作为上述技术方案的进一步描述：所述驱动机构包括减速电机、齿轮和齿环，所述减速电机的外侧固定安装至支撑架的外侧，所述减速电机的输出端通过联轴器与齿轮固定连接，所述齿环的外侧固定安装至调节环的内侧，所述齿轮的外侧与齿环相啮合。
[0011]作为上述技术方案的进一步描述：所述三轴驱动件包括X轴导轨、Y轴导轨和Z轴导
轨，所述X轴导轨的两端均固定连接至支撑架的内部，所述Y轴导轨的一端安装至X轴导轨上，所述Z轴导轨垂直固定安装至支撑架的背面，所述X轴导轨的背面安装至Z轴导轨上，所述测量仪活动活动安装至Y轴导轨上。
[0012]作为上述技术方案的进一步描述：所述底座上安装有电控箱，所述电控箱上集成安装有操控面板。
[0013]相比于现有技术，本技术的优点在于：
[0014]本方案通过三轴驱动件配合驱动机构和调节环配合使用，从而实现了装置具备具备可实现连续化持续上料测量作业，提高了检测效率的优点。
附图说明
[0015]图1为本技术的立体结构示意图；
[0016]图2为本技术的部分立体拆分结构示意图；
[0017]图3为本技术的部分仰视剖面结构示意图；
[0018]图4为本技术的部分立体结构示意图。
[0019]图中标号说明：
[0020]1、底座；2、支撑架；3、三轴驱动件；31、X轴导轨；32、Y轴导轨；33、Z轴导轨；4、L形架；5、调节环；6、驱动机构；61、减速电机；62、齿轮；63、齿环；7、通孔；71、磁力卡槽；8、检测平面台；81、磁力卡环；82、凸环；9、升降座；10、调节座；11、对接盘；111、磁力凸块；12、光学测量仪；13、电控箱；14、操控面板。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述；
[0022]请参阅图1～4，本技术中，一种光学检测的五轴光学平台，包括底座1，所述底座1的顶部安装有支撑架2，所述支撑架2的内部安装有三轴驱动件3，所述三轴驱动件3上安装有光学测量仪12，所述支撑架2的外侧固定连接有两个L形架4，两个所述L形架4之间转动连接有调节环5，所述调节环5与支撑架2之间安装有驱动机构6，所述调节环5上开设有等距离排列的通孔7，所述通孔7的内部卡接有检测平面台8，所述底座1的顶部安装有升降座9，所述升降座9上安装有调节座10，所述调节座10上安装有对接盘11，所述对接盘11与通孔7上的检测平面台8对接配合。
[0023]本技术中，通过支撑架2配合底座1对装置进行支撑，使用时，首先将待检测的光学产品放置在检测平面台8上，然后启动驱动机构6带动有光学产品的检测平面台8转动至对接盘11的正上方，然后启动升降座9带动调节座10上升，使得对接盘11与检测平面台8卡合连接，然后启动顶部的三轴驱动件3带动光学测量仪12对光学产品进行测量检测，并且检测的同时可对调节环5上的下一工位的检测平面台8上进行同步上料，从而实现了装置具备具备可实现连续化持续上料测量作业，提高了检测效率的优点，解决了现有技术中的测量进行过程中，单次支撑对一个平面光学件进行测量，测量一侧就需要重复一次上下料操作，操作效率低问题。
[0024]请参阅图3，其中：所述检测平面台8的底部设置有磁力卡环81，所述通孔7的内部
设置有磁力卡槽71，所述磁力卡环81卡接至磁力卡槽71的内部。
[0025]本技术中，通过磁力卡环81配合磁力卡槽71使得检测平面台8与调节环5之间结合更加稳定，避免调节时产品不稳。
[0026]请参阅图2与图4，其中：所述检测平面台8的底部固定连接有凸环82，所述对接盘11的顶部固定连接磁力凸块111，所述磁力凸块111磁力卡接至凸环82的内部。
[0027]本技术中，通过凸环82与磁力凸块111卡接配合，使得对接盘11在接触并对接检测平面台8时结合更加稳定，并且在检测完毕后同样可顺利分离，保持装置连续性作业。
[0028]请参阅图1，其中，所述驱动机构6包括减速电机61、齿轮62和齿环63，所述减速电机61的外侧固定安装至支撑架2的外侧，所述减速电机61的输出端通过联轴器与齿轮62固定连接，所述齿环63的外侧固定安装至调节环5的内侧，所述齿轮62的外侧与齿环63相啮合。
[0029]本技术中，通过启动减速电机61带动齿轮62转动，齿轮62带动齿环本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学检测的五轴光学平台，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部安装有支撑架(2)，所述支撑架(2)的内部安装有三轴驱动件(3)，所述三轴驱动件(3)上安装有光学测量仪(12)，所述支撑架(2)的外侧固定连接有两个L形架(4)，两个所述L形架(4)之间转动连接有调节环(5)，所述调节环(5)与支撑架(2)之间安装有驱动机构(6)，所述调节环(5)上开设有等距离排列的通孔(7)，所述通孔(7)的内部卡接有检测平面台(8)，所述底座(1)的顶部安装有升降座(9)，所述升降座(9)上安装有调节座(10)，所述调节座(10)上安装有对接盘(11)，所述对接盘(11)与通孔(7)上的检测平面台(8)对接配合。2.根据权利要求1所述的一种光学检测的五轴光学平台，其特征在于：所述检测平面台(8)的底部设置有磁力卡环(81)，所述通孔(7)的内部设置有磁力卡槽(71)，所述磁力卡环(81)卡接至磁力卡槽(71)的内部。3.根据权利要求1所述的一种光学检测的五轴光学平台，其特征在于：所述检测平面台(8)的底部固定连接有凸环(82)，所述对接盘(11)的顶部固定连接磁力凸块...

【专利技术属性】
技术研发人员：周卫立，李建奎，
申请(专利权)人：苏州芯艾蓝光电材料有限公司，
类型：新型
国别省市：