本发明专利技术公开了一种芯片来料检测系统及基于其芯片自动检测方法，芯片来料检测系统包括：直线输送设备、旋转输送设备、抓取机械手、芯片检测执行设备、残次品存储容器以及合格产品输出设备；直线输送设备包括：输送链条、链条驱动机构以及定位工装，输送链条上安装有定位工装，定位工装用于定位安放芯片，输送链条由链条驱动机构驱动，芯片的定位槽朝向输送链条输送方向，且芯片端部从定位工装边缘悬出；旋转输送设备包括：旋转台以及旋转驱动机构，旋转台能转动地安装在直线输送设备的输出端，旋转台由旋转驱动机构驱动旋转。该芯片来料检测系统及基于其芯片自动检测方法解决现有技术中不能实现自动将芯片残次品排出的问题。中不能实现自动将芯片残次品排出的问题。中不能实现自动将芯片残次品排出的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片来料检测系统及基于其芯片自动检测方法
[0001]本专利技术涉及芯片生产用设备，具体涉及一种芯片来料检测系统及基于其芯片自动检测方法。
技术介绍
[0002]如图1所示，芯片包括：片本体11以及引脚12，片本体11内设置有内置电路，内置电路电连接至外部的引脚12，以供连接外部电路。片本体11上凹陷形成定位槽13，定位槽13为半圆柱体结构，由于每个引脚12都是不一样的，也就是远离定位槽13的引脚12和靠近定位槽13的引脚12功能很多都不一样，为了方便后续安装在外部电路中，定位槽13是必须的，以方便识别各个不同的引脚12。不同芯片类型，就有不同的芯片宽度，两侧引脚12之间的距离d也不一样。
[0003]随着科技的发展，芯片在我们生活中使用越来越频繁，很多电器设备均需要用到芯片，因此芯片生产量比较大。为了保证芯片质量，需要对芯片进行检测，如果单个检测芯片就会大大降低生产效率，不能满足快速的现代化生产要求，因此如何实现芯片自动输送后自动检测是本申请讨论的话题。
[0004]中国专利公开了一种申请号为CN202120811911.8的芯片检测装置的上料机构，该芯片检测装置的上料机构包括支撑桌，所述支撑桌的顶部滑动连接有检测台，所述检测台上表面的一侧固定有插座，所述检测台上表面的中部固定有输料板，所述输料板的中部通过轴承转动连接有用于进行芯片上料工作的上料机构，所述支撑桌的一侧设置有芯片卷带，所述上料机构包括转轴、链轮、链条、电机、导向框、第一滑轨、移动块、连接柱、连接杆和真空吸嘴。
[0005]上述芯片检测装置的上料机构，虽然能够实现将芯片定位输送，但是仍然存在的缺点为：不能实现自动将芯片残次品排出，排出芯片残次品需要手动，导致生产效率降低。
技术实现思路
[0006]本专利技术要提供一种芯片来料检测系统及基于其芯片自动检测方法，解决现有技术中不能实现自动将芯片残次品排出的问题。
[0007]为实现上述目的，本专利技术采用了如下的技术方案：
[0008]本专利技术首先公开了一种芯片来料检测系统，包括：直线输送设备、旋转输送设备、抓取机械手、芯片检测执行设备、残次品存储容器以及合格产品输出设备；直线输送设备包括：输送链条、链条驱动机构以及定位工装，输送链条上安装有定位工装，定位工装用于定位安放芯片，输送链条由链条驱动机构驱动，芯片的定位槽朝向输送链条输送方向，且芯片端部从定位工装边缘悬出；旋转输送设备包括：旋转台以及旋转驱动机构，旋转台能转动地安装在直线输送设备的输出端，旋转台由旋转驱动机构驱动旋转；在旋转台周围安装有芯片检测执行设备、残次品存储容器以及合格产品输出设备，芯片检测执行设备位于残次品存储容器以及合格产品输出设备前方；在旋转台上安装有至少三抓取机械手，抓取机械手
用于抓取芯片。
[0009]优选的是，抓取机械手包括：抓取上臂、抓取下臂、臂驱动机构、抓取座、水平伸缩气缸以及竖直伸缩气缸，抓取上臂、抓取下臂均安装在抓取座上，抓取下臂能相对抓取座在竖直方向上运动，抓取下臂安装在臂驱动机构的输出端，臂驱动机构安装在抓取座内，抓取座连接至水平伸缩气缸的活塞杆，水平伸缩气缸驱动抓取座在旋转台的径向上运动，水平伸缩气缸外壳安装在竖直伸缩气缸的输出端，竖直伸缩气缸驱动水平伸缩气缸在竖直方向上运动，竖直伸缩气缸安装在水平旋转台边缘上。
[0010]优选的是，定位工装包括：脚定位销以及中部支撑机构，脚定位销开设有定位孔，定位孔供芯片引脚插入，中部支撑机构用于支撑芯片中片本体底面。
[0011]优选的是，中部支撑机构包括：第一支撑块、第二支撑块以及调节定位组件，第一支撑块和第二支撑块安装在安装座上，第一支撑块和第二支撑块均能相对安装座在Z方向上移动，调节定位组件连接至第一支撑块和第二支撑块的安装处，调节定位组件用于将第一支撑块和第二支撑块定位在安装座上。
[0012]优选的是，第一支撑块和第二支撑块上可拆卸连接脚定位销。
[0013]优选的是，在第一支撑块和第二支撑块上均安装有升降限位组件，升降限位组件通过保持弹簧连接至所在的第一支撑块或第二支块，在安装座上安装有定位部，在保持弹簧弹力下升降限位组件与定位部配合限制所在的第一支撑座或第二支撑座相对安装座在Z方向上移动。
[0014]优选的是，芯片检测执行设备包括：检测工作台、定位垫板、中部支撑台、内侧支撑机构、边缘压紧块、导电片、导线、压紧驱动机构以及检测控制箱，检测工作台顶面安装有定位垫板，定位垫板开设有伸入槽，伸入槽深度小于芯片引脚长度，伸入槽供芯片引脚伸入，定位垫板上安装有中间支撑机构和边缘压紧块，中间支撑机构和边缘压紧块有两对，两对中间支撑机构和边缘压紧块分别用于压紧芯片两侧引脚，中间支撑机构支撑引脚靠近芯片中心的一侧，边缘压紧块能相对检测工作台在远离或靠近芯片中心方向上移动，边缘压紧块连接至压紧驱动机构的输出端，压紧驱动机构用于驱动边缘压紧块远离或靠近中间支撑机构的方向上运动，边缘压紧块靠近中间支撑机构一侧安装有导电片，导电片用于与引脚接触，导电片通过导线连接至检测控制箱。
[0015]优选的是，导电片包括：软性电线以及弹性垫，弹性垫上安装软性电线，软性电线与位于定位槽内的引脚垂直，软性电线与导线电连接，软心电线用于与引脚接触，弹性垫安装在边缘压紧块上。
[0016]优选的是，中间支撑机构包括：中间支撑块以及双向驱动气缸，双向驱动气缸的两输出端分别连接至两中间支撑块，两中间支撑块分别与两边缘压紧块对应设置。
[0017]本专利技术还公开了一种芯片自动检测方法，包括如下步骤：S1、人工将芯片放置在定位工装上；S2、直线输送设备上带动输送链条循环移动，继而将定位工装上芯片带动到直线输送设备的输出端；与此同时，旋转输送设备将抓取机械手旋转到与直线输送设备的输出端对准的位置；S3、抓取机械手抓取位于直线输送设备的输出端上的芯片；S4、旋转输送设备驱动抓取机械手旋转，将夹紧有芯片的抓取机械手旋转到与芯片检测执行设备对准的位置；S5、将抓取机械手释放芯片，芯片落在芯片检测执行设备上；S6、芯片检测执行设备对芯片通电后，对芯片进行检测，判断芯片是否合格，若芯片合格，则进行步骤S7以及S9，若不合
格，则进行步骤S7以及S8；S7、抓取机械手抓取位于芯片检测执行设备上的芯片；S8、旋转输送设备驱动抓取机械手旋转，抓取机械手与残次品存储容器对准时释放芯片；S9、旋转输送设备驱动抓取机械手旋转，抓取机械手与合格产品输出设备对准时释放芯片。
[0018]相比于现有技术，本专利技术具有如下有益效果：
[0019]1)本申请中增加设置了旋转输送设备、抓取机械手、残次品存储容器以及合格产品输出设备，实现了抓取机械手将位于直线输送设备输出端的芯片抓取走，并且带到芯片旋转到芯片检测执行设备、残次品存储容器以及合格产品输出设备处，从而实现了检测芯片产品，并且检测后可以将残次品输送到残次品存储容器，合格产品输送到合格产品输出设备，从而实现了残次品和合格产品分开输出。整个过程中，不需要人工转移残次品，节约了本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片来料检测系统，其特征在于，包括：直线输送设备(2)、旋转输送设备(3)、抓取机械手(4)、芯片检测执行设备(5)、残次品存储容器(6)以及合格产品输出设备(7)；直线输送设备(2)包括：输送链条(21)、链条驱动机构以及定位工装(22)，输送链条(21)上安装有定位工装(22)，定位工装(22)用于定位安放芯片，输送链条(21)由链条驱动机构驱动，芯片的定位槽(13)朝向输送链条(21)输送方向，且芯片端部从定位工装(22)边缘悬出；旋转输送设备(3)包括：旋转台以及旋转驱动机构，旋转台能转动地安装在直线输送设备(2)的输出端，旋转台由旋转驱动机构驱动旋转；在旋转台周围安装有芯片检测执行设备(5)、残次品存储容器(6)以及合格产品输出设备(7)，芯片检测执行设备(5)位于残次品存储容器(6)以及合格产品输出设备(7)前方；在旋转台上安装有至少三抓取机械手(4)，抓取机械手(4)用于抓取芯片。2.根据权利要求1所述的一种芯片来料检测系统，其特征在于，抓取机械手(4)包括：抓取上臂(41)、抓取下臂(42)、臂驱动机构、抓取座(45)、水平伸缩气缸(46)以及竖直伸缩气缸(47)，抓取上臂(41)、抓取下臂(42)均安装在抓取座(45)上，抓取下臂(42)能相对抓取座(45)在竖直方向上运动，抓取下臂(42)安装在臂驱动机构的输出端，臂驱动机构安装在抓取座(45)内，抓取座(45)连接至水平伸缩气缸(46)的活塞杆，水平伸缩气缸(46)驱动抓取座(45)在旋转台的径向上运动，水平伸缩气缸(46)外壳安装在竖直伸缩气缸(47)的输出端，竖直伸缩气缸(47)驱动水平伸缩气缸(46)在竖直方向上运动，竖直伸缩气缸(47)安装在水平旋转台边缘上。3.根据权利要求1所述的一种芯片来料检测系统，其特征在于，定位工装(22)包括：脚定位销(220)以及中部支撑机构，脚定位销(220)开设有定位孔，定位孔供芯片引脚(12)插入，中部支撑机构用于支撑芯片中片本体(11)底面。4.根据权利要求3所述的一种芯片来料检测系统，其特征在于，中部支撑机构包括：第一支撑块(221)、第二支撑块(222)以及调节定位组件(23)，第一支撑块(221)和第二支撑块(222)安装在安装座(26)上，第一支撑块(221)和第二支撑块(222)均能相对安装座(26)在Z方向上移动，调节定位组件(23)连接至第一支撑块(221)和第二支撑块(222)的安装处，调节定位组件(23)用于将第一支撑块(221)和第二支撑块(222)定位在安装座(26)上。5.根据权利要求4所述的一种芯片来料检测系统，其特征在于，第一支撑块(221)和第二支撑块(222)上可拆卸连接脚定位销(220)。6.根据权利要求5所述的一种芯片来料检测系统，其特征在于，在第一支撑块(221)和第二支撑块(222)上均安装有升降限位组件(24)，升降限位组件(24)通过保持弹簧(25)连接至所在的第一支撑块(221)或第二支块，在安装座(26)上安装有定位部(260)，在保持弹簧(25)弹力下升降限位组件(24)与定位部...
【专利技术属性】
技术研发人员：李迅，
申请(专利权)人：重庆星辰伟业科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。