一种图像分割方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种图像分割方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取通过对目标集成电路进行拍摄得到的电路X射线图像，以及，已训练完成的双分支图像分割模型；将所述电路X射线图像输入到所述双分支图像分割模型中，并根据所述双分支图像分割模型的输出结果，得到所述目标集成电路的分割掩码图；其中，所述双分支图像分割模型至少包括语义分支和空间分支，所述语义分支包括已进行通道压缩的残差网络，所述双分支图像分割模型还包括与所述空间分支和所述残差网络分别连接的融合结构，所述残差网络至少包括交叉尺度注意模块。本发明专利技术实施例的技术方案，可以在减少模型参数量以及提高运算效率的情况下，保证图像分割精度。割精度。割精度。

【技术实现步骤摘要】
一种图像分割方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及图像处理
，尤其涉及一种图像分割方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着科技的快速发展，集成电路的热度逐渐升高，在各行业均被广泛使用，目前对产品的需求量越来越大，而缺陷检测正是集成电路生产过程中不可缺少的一个环节。在缺陷检测过程中，对包含集成电路的x射线图像中的集成电路的分割尤其的重要。
[0003]但是，目前的图像分割方法，无法兼顾运算效率和分割精度，叩待解决。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种图像分割方法、装置、电子设备及存储介质，以在减少模型参数量以及提高运算效率的情况下，保证图像分割精度。
[0005]根据本专利技术的一方面，提供了一种图像分割方法，可以包括：获取通过对目标集成电路进行拍摄得到的电路X射线图像，以及，已训练完成的双分支图像分割模型；将电路X射线图像输入到双分支图像分割模型中，并根据双分支图像分割模型的输出结果，得到目标集成电路的分割掩码图；其中，双分支图像分割模型至少包括语义分支和空间分支，语义分支包括已进行通道压缩的残差网络，双分支图像分割模型还包括与空间分支和残差网络分别连接的融合结构，残差网络至少包括交叉尺度注意模块。
[0006]根据本专利技术的另一方面，提供了一种图像分割装置，用于执行本专利技术任意实施例所提供的图像分割方法，可以包括：双分支图像分割模型获取模块，用于获取通过对目标集成电路进行拍摄得到的电路X射线图像，以及，已训练完成的双分支图像分割模型；分割掩码图得到模块，用于将电路X射线图像输入到双分支图像分割模型中，并根据双分支图像分割模型的输出结果，得到目标集成电路的分割掩码图；其中，双分支图像分割模型至少包括语义分支和空间分支，语义分支包括已进行通道压缩的残差网络，双分支图像分割模型还包括与空间分支和残差网络分别连接的融合结构，残差网络至少包括交叉尺度注意模块。
[0007]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，可以包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有被至少一个处理器执行的计算机程序，计算机程序被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器执行时实现本专利技术任意实施例所提供的图像分割方法。
[0008]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任意实施例所提供的图像分割方法。
[0009]本专利技术实施例的技术方案，获取通过对目标集成电路进行拍摄得到的电路X射线图像，以及，已训练完成的双分支图像分割模型；将电路X射线图像输入到双分支图像分割模型中，并根据双分支图像分割模型的输出结果，得到目标集成电路的分割掩码图；其中，双分支图像分割模型至少包括语义分支和空间分支，语义分支包括已进行通道压缩的残差网络，双分支图像分割模型还包括与空间分支和残差网络分别连接的融合结构，残差网络至少包括交叉尺度注意模块。本专利技术实施例的技术方案，使用双分支图像分割模型以及已进行通道压缩的残差网络，可以减少模型参数量，还可以提高通过在双分支图像分割模型中部署交叉尺度注意模块保证图像分割精度，从而可以在减少模型参数量以及提高运算效率的情况下，保证图像分割精度。
[0010]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或是重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0011]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1是本专利技术实施例一中所提供的一种图像分割方法的流程图。
[0013]图2是本专利技术实施例一中所提供的一种图像分割方法中的电路X射线图像的示例图。
[0014]图3是本专利技术实施例一中所提供的一种图像分割方法中的分割掩码图的示例图。
[0015]图4是本专利技术实施例一中所提供的一种图像分割方法中的交叉尺度注意模块的结构图。
[0016]图5是本专利技术实施例一中所提供的一种图像分割方法中的深度可分离卷积层的结构图。
[0017]图6是本专利技术实施例一中所提供的一种图像分割方法中的四个电路X射线图像的示例图。
[0018]图7是本专利技术实施例一中所提供的一种图像分割方法中的四个分割掩码图的示例图。
[0019]图8是本专利技术实施例二中所提供的一种图像分割方法的流程图。
[0020]图9是本专利技术实施例三中所提供的一种图像分割方法的流程图。
[0021]图10是本专利技术实施例四中所提供的一种图像分割方法的流程图。
[0022]图11是本专利技术实施例五中所提供的一种图像分割方法的流程图。
[0023]图12是本专利技术实施例五中所提供的一种图像分割方法中的空间注意模块的结构图。
[0024]图13是本专利技术实施例五中提供的一种图像分割方法中的一可选示例的结构图。
[0025]图14是本专利技术实施例五中提供的一种图像分割方法中的另一可选示例的流程图。
[0026]图15是本专利技术实施例六所提供的图像分割装置的结构框图。
[0027]图16是实现本专利技术实施例的图像分割方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0028]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0029]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。“目标”、“原始”等的情况类似，在此不再赘述。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0030]实施例一
[0031]图1是本专利技术实施例一中所提供的一种图像分割方法的流程图。本实施例可适用于对图像分割的情况。该方法可以由本专利技术实施例提供的图像分割装置来执行，该装置可以由软件和/或硬件的方式实现，该装置可以集成在电子设备上，该电子设备可以是各种用户终端或服务器。
[0032]参见图1，本专利技术实施例的方法具体包括如下步骤：S101、获取通本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像分割方法，其特征在于，包括：获取通过对目标集成电路进行拍摄得到的电路X射线图像，以及，已训练完成的双分支图像分割模型；将所述电路X射线图像输入到所述双分支图像分割模型中，并根据所述双分支图像分割模型的输出结果，得到所述目标集成电路的分割掩码图；其中，所述双分支图像分割模型包括语义分支和空间分支，所述语义分支包括已进行通道压缩的残差网络，所述双分支图像分割模型还包括与所述空间分支和所述残差网络分别连接的融合结构，所述残差网络至少包括交叉尺度注意模块。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于， 所述将所述电路X射线图像输入到所述双分支图像分割模型中，并根据所述双分支图像分割模型的输出结果，得到所述目标集成电路的分割掩码图，包括：将所述电路X射线图像输入到所述残差网络中，得到语义分支结果；将所述电路X射线图像输入到所述空间分支中，得到空间分支结果；将所述语义分支结果以及所述空间分支结果输入到所述融合结构中，并将所述融合结构输出的融合结构结果作为所述双分支图像分割模型的输出结果；根据所述双分支图像分割模型的输出结果，得到所述目标集成电路的分割掩码图。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述残差网络还包括第一下采样层、第二下采样层以及第一上采样层，所述交叉尺度注意模块包括第一交叉尺度注意模块以及第二交叉尺度注意模块；所述将所述电路X射线图像输入到所述残差网络中，得到语义分支结果，包括：将所述电路X射线图像输入到所述第一下采样层中，并将所述第一下采样层的输出结果输入到所述第二下采样层中；将所述第一下采样层的输出结果输入到所述第一交叉尺度注意模块中；将所述第二下采样层的输出结果输入到所述第一上采样层中，并将所述第一上采样层的输出结果输入到所述第二交叉尺度注意模块中；基于所述第一交叉尺度注意模块的输出结果，以及，所述第二交叉尺度注意模块的输出结果，确定语义分支结果。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述残差网络还包括第二上采样层；所述基于所述第一交叉尺度注意模块的输出结果，以及，所述第二交叉尺度注意模块的输出结果，确定语义分支结果，包括：将所述第二交叉尺度注意模块的输出结果与所述第一交叉尺度注意模块的输出结果，进行相加融合，得到第一相加融合结果；将所述第一相加融合结果输入到所述第二上采样层中，将所述第二上采样层的输出结果作为语义分支结果。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述残差网络还包括第三下采样层，所述交叉尺度注意模块还包括第三交叉尺度注意模块；在所述将所述第一下采样层的输出结果输入到所述第二下采样层中之后，还包括：将所述第二下采样层的输出结果输入到所述第三下采样层中，并将所述第三下采样层的输出结果输入到所述第三交叉尺度注意模块中；
所述基于所述第一交叉尺度注意模块的输出结果，以及，所述第二交叉尺度注意模块的输出结果，确定语义分支结果，包括：基于所述第一交叉尺度注意模块的输出结果、所述第二交叉尺度注意模块的输出结果，以及，所述第三交叉尺度的输出结果，确定语义分支结果。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述残差网络还包括第一卷积层、第三上采样层以及第四上采样层，所述第一交叉尺度注意模块的输出结果包括第一特征图，所述第二交叉尺度注意模块的输出结果包括第二特征图；所述基于所述第一交叉尺度注意模块的输出结果、所述第二交叉尺度注意模块的输出结果，以及，所述第三交叉尺度的输出结果，确定语义分支结果，包括：将所述第三交叉尺度的输出结果输入到所述第一卷积层中，并将所述第一卷积层输出的...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐华安，周立，杨雁清，施林枫，
申请(专利权)人：无锡日联科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：