一种集成电路布局时序性能自动评测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种集成电路布局时序性能自动评测系统，一种集成电路布局时序性能自动评测系统包括：布局文件输入模块，用于接收集成电路的布局文件；时序分析模块，用于根据所述布局文件和预设的时序规则，对所述集成电路的时序性能进行分析，并输出时序分析结果；评测指标生成模块，用于根据所述时序分析结果和预设的评测标准，生成所述集成电路的时序性能评测指标；评测报告输出模块，用于根据所述时序性能评测指标，输出所述集成电路的时序性能评测报告。本发明专利技术能够降低用户进行集成电路布局时序性能评测的难度和成本，提高集成电路布局设计的效率和质量。局设计的效率和质量。局设计的效率和质量。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路布局时序性能自动评测系统


[0001]本专利技术涉及软件控制
，尤其涉及一种集成电路布局时序性能自动评测系统。

技术介绍

[0002]集成电路布局是指将数字逻辑电路的门级网表映射到具体的物理单元和互连线上，以实现电路的功能和性能要求。集成电路布局的质量直接影响到电路的面积、功耗、速度、信号完整性等指标。因此，集成电路布局设计是数字集成电路设计中的一个重要环节。集成电路布局的时序性能是指电路在给定的工作频率和工作环境下，能够正确传输和处理数据信号的能力。
[0003]目前，集成电路布局设计过程中，通常需要使用人工手动测试的方式来进行时序性能的检查和优化。测试人员通过研发人员提供详细的输入文件，如网表、布局文件、标准单元库、时钟树信息、SDC文件等来进行测试，在这一过程中需要测试人员熟悉各种命令和参数，才能进行有效的时序分析。这些测试过程较为复杂和繁琐，对于初学者或者非专业人员来说，存在一定的门槛和难度。
[0004]因此，目前还缺乏一种可靠的集成电路布局时序性能自动评测系统，该系统能够根据用户提供的简单输入信息，如布局文件等，实现布局时序性能自动评测，并给出时序性能的评价结果和优化建议。

技术实现思路

[0005]本申请的目的是提供一种集成电路布局时序性能自动评测系统，本方案中，能够对集成电路的时序性能进行全面、准确、快速的评测，并给出相应的评测报告和优化建议，提高了集成电路设计的效率和质量，从而本申请能够降低用户进行集成电路布局时序性能评测的难度和成本，提高集成电路布局设计的效率和质量。
[0006]为解决上述技术问题，本申请提供了一种集成电路布局时序性能自动评测系统，包括：
[0007]布局文件输入模块，用于接收集成电路的布局文件；
[0008]时序分析模块，用于根据所述布局文件和预设的时序规则，对所述集成电路的时序性能进行分析，并输出时序分析结果；
[0009]评测指标生成模块，用于根据所述时序分析结果和预设的评测标准，生成所述集成电路的时序性能评测指标；
[0010]评测报告输出模块，用于根据所述时序性能评测指标，输出所述集成电路的时序性能评测报告。
[0011]优选地，所述时序分析模块还用于对所述集成电路的关键路径进行识别，并将所述关键路径作为所述时序分析结果的一部分输出。
[0012]优选地，所述评测指标生成模块还用于对所述集成电路的时序性能进行等级划
分，并将所述等级作为所述时序性能评测指标的一部分输出。
[0013]优选地，所述评测报告输出模块还用于以图形或表格的形式展示所述时序性能评测指标。
[0014]优选地，所述一种集成电路布局时序性能自动评测系统还包括优化建议提供模块，所述优化建议提供模块用于根据所述时序性能评测指标和预设的优化策略，提供针对所述集成电路布局的优化建议，并将所述优化建议作为所述时序性能评测报告的一部分输出。
[0015]优选地，所述一种集成电路布局时序性能自动评测系统还包括用户交互模块，所述用户交互模块用于接收用户对所述优化建议的选择或修改，并将用户选择或修改后的优化建议反馈给所述优化建议提供模块。
[0016]优选地，所述优化建议提供模块还用于根据用户选择或修改后的优化建议，对所述布局文件进行相应的修改，并将修改后的布局文件输出给用户。
[0017]优选地，所述一种集成电路布局时序性能自动评测系统还包括数据库模块，所述数据库模块用于存储和管理所述布局文件、时序分析结果、时序性能评测指标、时序性能评测报告和优化建议。
[0018]优选地，所述预设的时序规则、评测标准和优化策略均可由用户通过所述用户交互模块进行设置或修改，并存储在所述数据库模块中。
[0019]优选地，所述用户交互模块还用于向用户提供所述集成电路布局的可视化界面，以便用户观察和操作所述集成电路布局。
[0020]本专利技术的一种集成电路布局时序性能自动评测系统具有如下有益效果，本专利技术公开的一种集成电路布局时序性能自动评测系统包括：布局文件输入模块，用于接收集成电路的布局文件；时序分析模块，用于根据所述布局文件和预设的时序规则，对所述集成电路的时序性能进行分析，并输出时序分析结果；评测指标生成模块，用于根据所述时序分析结果和预设的评测标准，生成所述集成电路的时序性能评测指标；评测报告输出模块，用于根据所述时序性能评测指标，输出所述集成电路的时序性能评测报告。本专利技术能够对集成电路的时序性能进行全面、准确、快速的评测，并给出相应的评测报告和优化建议，提高了集成电路设计的效率和质量；此外，本专利技术能够根据预设的时序规则、评测标准和优化策略，对集成电路的时序性能进行分析、生成、展示和优化，增加了系统的灵活性和适应性。因此，本专利技术能够降低用户进行集成电路布局时序性能评测的难度和成本，提高集成电路布局设计的效率和质量。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的部分实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图：
[0022]图1是本专利技术较佳实施例的一种集成电路布局时序性能自动评测系统的结构示意图；
[0023]图2是本专利技术较佳实施例的一种集成电路布局时序性能自动评测系统的根据所述布局文件和预设的时序规则，对所述集成电路的时序性能进行分析，并输出时序分析结果
的流程示意图；
[0024]图3是本专利技术较佳实施例的一种集成电路布局时序性能自动评测系统的集成电路的时序性能等级划分的流程示意图；
[0025]图4是本专利技术较佳实施例的另一种集成电路布局时序性能自动评测系统的结构示意图；
[0026]图5是本专利技术较佳实施例的另一种集成电路布局时序性能自动评测系统的结构示意图；
[0027]图6是本专利技术较佳实施例的另一种集成电路布局时序性能自动评测系统的结构示意图。
具体实施方式
[0028]本申请的核心是提供一种集成电路布局时序性能自动评测系统，本方案中，能够对集成电路的时序性能进行全面、准确、快速的评测，并给出相应的评测报告和优化建议，提高了集成电路设计的效率和质量，从而本申请能够降低用户进行集成电路布局时序性能评测的难度和成本，提高集成电路布局设计的效率和质量。
[0029]下面将详细描述本专利技术的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本专利技术，并不被配置为限定本专利技术。对于本领域技术人员来说，本专利技术可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本专利技术的示例来提供对本专利技术更好的理解。
[0030]需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路布局时序性能自动评测系统，其特征在于，包括：布局文件输入模块，用于接收集成电路的布局文件；时序分析模块，用于根据所述布局文件和预设的时序规则，对所述集成电路的时序性能进行分析，并输出时序分析结果；评测指标生成模块，用于根据所述时序分析结果和预设的评测标准，生成所述集成电路的时序性能评测指标；评测报告输出模块，用于根据所述时序性能评测指标，输出所述集成电路的时序性能评测报告。2.根据权利要求1所述的一种集成电路布局时序性能自动评测系统，其特征在于，所述时序分析模块还用于对所述集成电路的关键路径进行识别，并将所述关键路径作为所述时序分析结果的一部分输出。3.根据权利要求1所述的一种集成电路布局时序性能自动评测系统，其特征在于，所述评测指标生成模块还用于对所述集成电路的时序性能进行等级划分，并将所述等级作为所述时序性能评测指标的一部分输出。4.根据权利要求1所述的一种集成电路布局时序性能自动评测系统，其特征在于，所述评测报告输出模块还用于以图形或表格的形式展示所述时序性能评测指标。5.根据权利要求1所述的一种集成电路布局时序性能自动评测系统，其特征在于，所述一种集成电路布局时序性能自动评测系统还包括优化建议提供模块，所述优化建议提供模块用于根据所述时序性能评测指标和预设的优化策略，提供针对所述集成电路...

【专利技术属性】
技术研发人员：周萌，
申请(专利权)人：云中芯半导体技术苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：