一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法技术

技术编号:38563497 阅读:17 留言:0更新日期:2023-08-22 21:03
本发明专利技术公开了一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法,获取含有气隙缺陷的XLPE电缆试样;对含有气隙缺陷的XLPE电缆试样进行太赫兹时域光谱反射模式测试,得到含有气隙缺陷的XLPE电缆试样的太赫兹时域光谱反射图;基于含有气隙缺陷的XLPE电缆试样的太赫兹时域光谱反射图,确定主波与气隙反射回波的相位信息;根据主波与气隙反射回波的相位信息构建反射模型,基于反射模型,通过光学计算完成对气隙缺陷的精准定位。本发明专利技术为XLPE电力电缆的缺陷识别方法提供了一种精度高、运行速度快、能量低、安全可靠的检测方式,能够实现对XLPE电力电缆气隙缺陷的实时监测和精准定位。力电缆气隙缺陷的实时监测和精准定位。力电缆气隙缺陷的实时监测和精准定位。

【技术实现步骤摘要】
一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法


[0001]本专利技术涉及高压绝缘材料
,具体为一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法。

技术介绍

[0002]交联聚乙烯(cross

linked polyethylene,XLPE)以其优异的电气、机械性能被广泛应用于中高压电力电缆。但XLPE在生产、敷设、运行过程中受到多种环境或人为因素影响,导致产生微孔气隙缺陷。大量研究表明,微孔缺陷将导致局部的电场集中以及局部放电,进而产生电树枝,造成绝缘性能的严重劣化。因此,研究XLPE电力电缆的气隙缺陷位置、及时更换电缆对于电网稳定运行至关重要。
[0003]传统的气隙研究主要有以下几种方法,基于激光超声技术对盆式绝缘子气泡、裂纹等缺陷进行识别,利用快宽频阻抗谱以实现电缆中热老化和核辐射老化缺陷的定位,基于局部放电法采用PD信号的幅频特性和相位差定位XLPE的局部缺陷。而上述研究方法普遍存在以下问题:1.需要高电压、强电流的实验环境,较为危险;2.无法满足对XLPE电缆大规模无损检测的要求。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法,以克服现有技术存在的缺陷,本专利技术具有识别精度高、运行速度快、能量低、安全可靠的优点,适用于高电压大电流的实际电力生产环境中。
[0005]本专利技术是通过以下技术方案来实现:
[0006]一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法,包括如下步骤:
[0007]获取含有气隙缺陷的XLPE电缆试样;
[0008]对含有气隙缺陷的XLPE电缆试样进行太赫兹时域光谱反射模式测试,得到含有气隙缺陷的XLPE电缆试样的太赫兹时域光谱反射图;
[0009]基于含有气隙缺陷的XLPE电缆试样的太赫兹时域光谱反射图,确定主波与气隙反射回波的相位信息;
[0010]根据主波与气隙反射回波的相位信息构建反射模型,基于反射模型,通过光学计算完成对气隙缺陷的精准定位。
[0011]进一步地,所述获取含有气隙缺陷的XLPE电缆试样,具体包括:
[0012]采用电缆试样径切,得到块状XLPE电缆试样;
[0013]对块状XLPE电缆试样进行气隙缺陷重构,获得针孔型气隙缺陷试样,即含有气隙缺陷的XLPE电缆试样。
[0014]进一步地,所述对块状XLPE电缆试样进行气隙缺陷重构,具体为:使用钢针尾段扎入块状XLPE电缆试样进行气隙缺陷重构。
[0015]进一步地,在得到含有气隙缺陷的XLPE电缆试样后,将含有气隙缺陷的XLPE电缆
试样置于真空环境中进行保温。
[0016]进一步地,所述保温的温度为70℃,保温的时间为12h。
[0017]进一步地,所述基于含有气隙缺陷的XLPE电缆试样的太赫兹时域光谱反射图,确定主波与气隙反射回波的相位信息,具体为:
[0018]基于含有气隙缺陷的XLPE电缆试样的太赫兹时域光谱反射图,获取主波的幅值信息和气隙反射回波的幅值信息,基于主波的幅值信息和气隙反射回波的幅值信息,以及Origin软件内嵌的寻峰模块确定主波与气隙反射回波的相位信息。
[0019]进一步地,所述根据主波与气隙反射回波的相位信息构建反射模型,具体为:
[0020]计算在进行太赫兹时域光谱反射模式测试时,太赫兹波在含有气隙缺陷的XLPE电缆试样表面的反射角θ2与折射角θ3:
[0021]根据主波与气隙反射回波的相位信息,计算出太赫兹波直接在XLPE表面反射路径与在气隙表面反射路径的光程差Δt;
[0022]基于太赫兹波在含有气隙缺陷的XLPE电缆试样表面的反射角θ2与折射角θ3,以及太赫兹波直接在XLPE表面反射路径与在气隙表面反射路径的光程差Δt,得到反射模型。
[0023]进一步地,太赫兹波在含有气隙缺陷的XLPE电缆试样表面的反射角θ2与折射角θ3计算如下:
[0024]θ1=θ2=45
°

[0025][0026]其中,ε
s
、ε0分别为XLPE电缆试样介电常数、真空介电常数,θ1为入射角,n0、n
s
分别为真空折射率与XLPE电缆试样的折射率。
[0027]进一步地,太赫兹波直接在XLPE表面反射路径与在气隙表面反射路径的光程差Δt计算如下:
[0028]太赫兹波直接在XLPE表面反射路径即为产生主波信号的太赫兹路径,记为路径1;太赫兹波在气隙表面反射路径即为反射回波信号的太赫兹路径,记为路径2;
[0029][0030]其中,c为真空光速,L1为路径1中太赫兹波从XLPE电缆试样表面到反射镜之间的光程、L2为路径1中太赫兹波从反射镜到离轴抛面镜之间的之间光程、L3为路径1中太赫兹波从离轴抛面镜到达太赫兹探测器之间的光程、L1'为路径2中太赫兹波从气隙表面到XLPE电缆试样表面之间的光程、L2'为路径2中太赫兹波从XLPE试样表面到反射镜之间的光程、L3'为路径2中太赫兹波从反射镜到离轴抛面镜之间之间的光程、L4'为路径2中太赫兹波从离轴抛面镜到达太赫兹探测器之间的光程;
[0031]消去路径中消耗时间相同的空间路程,得到:
[0032][0033]其中,Δl1=L2‑
L3′
,Δl2=L2′‑
L1,Δl3=L3‑
L4′

[0034]进一步地,所述基于反射模型,通过光学计算完成对气隙缺陷的精准定位,具体为计算气隙深度,计算表达式为:
[0035][0036]其中,h为气隙深度。
[0037]与现有技术相比,本专利技术具有以下有益的技术效果:
[0038]本专利技术设计了一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法,基于太赫兹时域光谱反射模块的瞬态性、相干性、非接触特性,通过测量XLPE试样的太赫兹时域光谱反射图,能够基于光学运算完成对气隙的无损检测以及精准定位。本专利技术采用太赫兹时域光谱技术对XLPE电力电缆气隙缺陷进行识别,有利于电缆厂家改进加工工艺、提升生产质量,同时有助于监测人员快速掌握电缆实际缺陷状况并及时更换电缆,进而保障电力系统的安全稳定运行。本专利技术所述的XLPE电力电缆的缺陷识别以及定位方法具有识别精度高、运行速度快、能量低、安全可靠的优点,适用于高电压大电流的实际电力生产环境中。
附图说明
[0039]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0040]图1为本专利技术一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法流程图;
[0041]图2为本专利技术实例中含有气隙缺陷的XLPE电缆试样结构图;
[0042]图3为本专利技术实施例中含有气隙缺陷本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法,其特征在于,包括如下步骤:获取含有气隙缺陷的XLPE电缆试样;对含有气隙缺陷的XLPE电缆试样进行太赫兹时域光谱反射模式测试,得到含有气隙缺陷的XLPE电缆试样的太赫兹时域光谱反射图;基于含有气隙缺陷的XLPE电缆试样的太赫兹时域光谱反射图,确定主波与气隙反射回波的相位信息;根据主波与气隙反射回波的相位信息构建反射模型,基于反射模型,通过光学计算完成对气隙缺陷的精准定位。2.根据权利要求1所述的一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法,其特征在于,所述获取含有气隙缺陷的XLPE电缆试样,具体包括:采用电缆试样径切,得到块状XLPE电缆试样;对块状XLPE电缆试样进行气隙缺陷重构,获得针孔型气隙缺陷试样,即含有气隙缺陷的XLPE电缆试样。3.根据权利要求2所述的一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法,其特征在于,所述对块状XLPE电缆试样进行气隙缺陷重构,具体为:使用钢针尾段扎入块状XLPE电缆试样进行气隙缺陷重构。4.根据权利要求2所述的一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法,其特征在于,在得到含有气隙缺陷的XLPE电缆试样后,将含有气隙缺陷的XLPE电缆试样置于真空环境中进行保温。5.根据权利要求4所述的一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法,其特征在于,所述保温的温度为70℃,保温的时间为12h。6.根据权利要求1所述的一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法,其特征在于,所述基于含有气隙缺陷的XLPE电缆试样的太赫兹时域光谱反射图,确定主波与气隙反射回波的相位信息,具体为:基于含有气隙缺陷的XLPE电缆试样的太赫兹时域光谱反射图,获取主波的幅值信息和气隙反射回波的幅值信息,基于主波的幅值信息和气隙反射回波的幅值信息,以及Origin软件内嵌的寻峰模块确定主波与气隙反射回波的相位信息。7.根据权利要求1所述的一种XLPE电力电缆气隙缺陷的识别以及定位方法,其特征在于,所述根据主波与气隙反射回波的相位信息构建反射模型,具体为:计算在进行太赫兹时域光谱反射模式测试时,太赫兹波在含有气隙缺陷的XLPE电缆试样表面的反射角θ2与...

【专利技术属性】
技术研发人员:廉泽李新禹俞华冯阳李盛涛
申请(专利权)人:西安交通大学
类型:发明
国别省市:

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