一种图像高分辨率支持方法、装置和电子设备制造方法及图纸

本公开提供的一种图像高分辨率支持方法、装置和电子设备，可以获得正交像素图像；对正交像素图像进行电光转换处理，获得第一光空间信号；对第一光空间信号进行抗混叠低通滤波处理，获得第二光空间信号；对第二光空间信号进行光电转换处理，获得第一菱形像素图像；对第一菱形像素图像进行菱形降采样，获得第二菱形像素图像。本公开利用菱形像素图像的像素总量小于正交像素图像的特点，提供正交像素图像转换为菱形像素图像的技术过程，能够降低DMD芯片的尺寸对高分辨率图像的图像投影效果的影响，为高分辨率图像提供有效支持，从而提升图像投影后的视觉效果。像投影后的视觉效果。像投影后的视觉效果。

【技术实现步骤摘要】
一种图像高分辨率支持方法、装置和电子设备


[0001]本公开涉及图像处理
，尤其涉及一种图像高分辨率支持方法、装置和电子设备。

技术介绍

[0002]随着基于数字微型晶体(Digital Micromirror Device，DMD)的芯片技术的发展和成熟，通过增加DMD芯片的尺寸，可以提高图像的投影分辨率，能够为用户提供图像投影功能。
[0003]然而，随着图像的分辨率越来越高，由于DMD芯片的尺寸与成本正相关，在不改变DMD芯片的尺寸的情况下，越高分辨率的图像的投影效果越差，投影延时也越高，难以为用户提供高质量的图像投影效果。
[0004]因此，如何在DMD芯片有限尺寸的场景下，对高分辨率图像进行有效支持，成为本领域技术人员急需解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]鉴于上述问题，本公开提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种图像高分辨率支持方法、装置和电子设备，技术方案如下：
[0006]一种图像高分辨率支持方法，包括：
[0007]获得正交像素图像；
[0008]对所述正交像素图像进行电光转换处理，获得第一光空间信号；
[0009]对所述第一光空间信号进行抗混叠低通滤波处理，获得第二光空间信号；
[0010]对所述第二光空间信号进行光电转换处理，获得第一菱形像素图像；
[0011]对所述第一菱形像素图像进行菱形降采样，获得第二菱形像素图像。
[0012]可选的，所述对所述正交像素图像进行电光转换处理，获得第一光空间信号，包括：
[0013]对所述正交像素图像中的任一像素：利用该像素在所述正交像素图像上对应的正交像素值，查询预设电光转换对应表，获得该像素对应的光空间强度值；
[0014]根据所述正交像素图像中各像素对应的所述光空间强度值，获得第一光空间信号。
[0015]可选的，所述对所述第一光空间信号进行抗混叠低通滤波处理，获得第二光空间信号，包括：
[0016]使用抗混叠低通滤波器与所述第一光空间信号进行滤波相关性运算，获得第二光空间信号。
[0017]可选的，所述使用抗混叠低通滤波器与所述第一光空间信号进行滤波相关性运算，获得第二光空间信号，包括：
[0018]对所述第一光空间信号中的任一像素：利用抗混叠低通滤波器的滤波器核，在所
述第一光空间信号中确定该像素对应的目标领域；
[0019]获得与所述目标领域对应的像素强度值集合，其中，所述像素强度值集合包括所述目标领域中各像素对应的光空间强度值；
[0020]基于所述滤波器核，利用所述像素强度值集合进行滤波相关性运算，获得该像素对应的滤波后强度值；
[0021]根据所述第一光空间信号中各像素对应的所述滤波后强度值，获得第二光空间信号。
[0022]可选的，所述对所述第二光空间信号进行光电转换处理，获得第一菱形像素图像，包括：
[0023]对所述第二光空间信号中的任一像素：利用该像素在所述第二光空间信号上对应的所述滤波后强度值，查询预设光电转换对应表，获得该像素对应的菱形像素值；
[0024]根据所述第二光空间信号中各像素对应的所述菱形像素值，获得第一菱形像素图像。
[0025]可选的，所述对所述第一菱形像素图像进行菱形降采样，获得第二菱形像素图像，包括：
[0026]按照棋盘格式，使用相互对角间隔抽取方式对所述第一菱形像素图像中处于奇数列和偶数列的像素对应的菱形像素值进行抽样，获得第二菱形像素图像。
[0027]可选的，在所述对所述第一菱形像素图像进行菱形降采样，获得第二菱形像素图像之后，所述方法还包括：
[0028]将所述第二菱形像素图像投影至目标显示区域。
[0029]可选的，所述方法应用于OpenCL架构。
[0030]一种图像高分辨率支持装置，包括：正交像素图像获得单元、第一光空间信号获得单元、第二光空间信号获得单元、第一菱形像素图像获得单元和第二菱形像素图像获得单元，
[0031]所述正交像素图像获得单元，用于获得正交像素图像；
[0032]所述第一光空间信号获得单元，用于对所述正交像素图像进行电光转换处理，获得第一光空间信号；
[0033]所述第二光空间信号获得单元，用于对所述第一光空间信号进行抗混叠低通滤波处理，获得第二光空间信号；
[0034]所述第一菱形像素图像获得单元，用于对所述第二光空间信号进行光电转换处理，获得第一菱形像素图像；
[0035]所述第二菱形像素图像获得单元，用于对所述第一菱形像素图像进行菱形降采样，获得第二菱形像素图像。
[0036]一种电子设备，所述电子设备包括至少一个处理器、以及与处理器连接的至少一个存储器、总线；其中，所述处理器、所述存储器通过所述总线完成相互间的通信；所述处理器用于调用所述存储器中的程序指令，以执行上述任一项所述的图像高分辨率支持方法。
[0037]借由上述技术方案，本公开提供的一种图像高分辨率支持方法、装置和电子设备，可以获得正交像素图像；对正交像素图像进行电光转换处理，获得第一光空间信号；对第一光空间信号进行抗混叠低通滤波处理，获得第二光空间信号；对第二光空间信号进行光电
转换处理，获得第一菱形像素图像；对第一菱形像素图像进行菱形降采样，获得第二菱形像素图像。本公开利用菱形像素图像的像素总量小于正交像素图像的特点，提供正交像素图像转换为菱形像素图像的技术过程，能够降低DMD芯片的尺寸对高分辨率图像的图像投影效果的影响，为高分辨率图像提供有效支持，从而提升图像投影后的视觉效果。
[0038]上述说明仅是本公开技术方案的概述，为了能够更清楚了解本公开的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本公开的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本公开的具体实施方式。
附图说明
[0039]通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本公开的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
[0040]图1示出了本公开实施例提供的图像高分辨率支持方法的一种实施方式的流程示意图；
[0041]图2示出了本公开实施例提供的OpenCL架构的初始化过程的说明示意图；
[0042]图3示出了本公开实施例提供的图像高分辨率支持方法的另一种实施方式的流程示意图；
[0043]图4示出了本公开实施例提供的图像高分辨率支持方法的另一种实施方式的流程示意图；
[0044]图5示出了本公开实施例提供的图像高分辨率支持方法的另一种实施方式的流程示意图；
[0045]图6示出了本公开实施例提供的图像高分辨率支持方法的另一种实施方式的流程示意图；
[0046]图7示出了本公开实施例提供的图像高分辨率支持方法的另一种实施方式的流程本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像高分辨率支持方法，其特征在于，包括：获得正交像素图像；对所述正交像素图像进行电光转换处理，获得第一光空间信号；对所述第一光空间信号进行抗混叠低通滤波处理，获得第二光空间信号；对所述第二光空间信号进行光电转换处理，获得第一菱形像素图像；对所述第一菱形像素图像进行菱形降采样，获得第二菱形像素图像。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述正交像素图像进行电光转换处理，获得第一光空间信号，包括：对所述正交像素图像中的任一像素：利用该像素在所述正交像素图像上对应的正交像素值，查询预设电光转换对应表，获得该像素对应的光空间强度值；根据所述正交像素图像中各像素对应的所述光空间强度值，获得第一光空间信号。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一光空间信号进行抗混叠低通滤波处理，获得第二光空间信号，包括：使用抗混叠低通滤波器与所述第一光空间信号进行滤波相关性运算，获得第二光空间信号。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述使用抗混叠低通滤波器与所述第一光空间信号进行滤波相关性运算，获得第二光空间信号，包括：对所述第一光空间信号中的任一像素：利用抗混叠低通滤波器的滤波器核，在所述第一光空间信号中确定该像素对应的目标领域；获得与所述目标领域对应的像素强度值集合，其中，所述像素强度值集合包括所述目标领域中各像素对应的光空间强度值；基于所述滤波器核，利用所述像素强度值集合进行滤波相关性运算，获得该像素对应的滤波后强度值；根据所述第一光空间信号中各像素对应的所述滤波后强度值，获得第二光空间信号。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述第二光空间信号进行光电转换处理，获得第一菱形像素图像，包括：对所述第二光空间信号中的任一像素：利用该像素在所述第二光空间信号上...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭港，成一诺，艾帆，鲜龙，
申请(专利权)人：北京经纬恒润科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：