一种老化房测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种老化房测试系统，包括老化房外壳，老化房外壳用于对电子高性能电子产品进行高温和恶劣环境测试，且老化房外壳内壁的两侧开设有导向槽，所述导向槽顶部开设有限位槽，所述导向槽的底部开设有卡槽。本实用新型专利技术通过固定结构，将高性能电子产品放入到固定结构的内壁，贴合杆的内壁顶部一侧的凹槽与高性能电子产品的外壁贴合，对高性能电子产品进行固定，然后将安装有固定结构的支撑杆放入都老化房外壳的内壁，用于模拟高性能电子产品在恶劣环境下的使用状况，同时由于固定结构为框架结构设置，可以减少固定结构与高性能电子产品的接触，使高性能电子产品更好的暴露在模拟的恶劣环境内。模拟的恶劣环境内。模拟的恶劣环境内。

【技术实现步骤摘要】
一种老化房测试系统


[0001]本技术涉及老化房领域，具体涉及一种老化房测试系统。

技术介绍

[0002]老化房，又叫烧机房，是针对高性能电子产品仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药、化工等领域。
[0003]但是其在实际使用时，将高性能电子产品放入到老化房的内部之后，由于高性能电子产品无法在老化房的内部转动或直接放置在放置架的表面，使高性能电子产品无法与老化房内模拟出的高温、恶劣环境全面接触。
[0004]因此，专利技术一种老化房测试系统来解决上述问题很有必要。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是提供一种老化房测试系统，通过固定结构，将高性能电子产品放入到固定结构的内壁，贴合杆的内壁顶部一侧的凹槽与高性能电子产品的外壁贴合，对高性能电子产品进行固定，然后将安装有固定结构的支撑杆放入都老化房外壳的内壁，用于模拟高性能电子产品在恶劣环境下的使用状况，同时由于固定结构为框架结构设置，可以减少固定结构与高性能电子产品的接触，使高性能电子产品更好的暴露在模拟的恶劣环境内，以解决技术中的上述不足之处。
[0006]为了实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种老化房测试系统，包括老化房外壳，老化房外壳用于对电子高性能电子产品进行高温和恶劣环境测试，且老化房外壳内壁的两侧开设有导向槽，所述导向槽顶部开设有限位槽，所述导向槽的底部开设有卡槽；
[0007]支撑杆，支撑杆用于对多个高性能电子产品进行固定，且支撑杆两侧的底部转动连接有滚轮，所述支撑杆的两端在导向槽的内壁滑动连接，所述支撑杆内部开设有安装槽；
[0008]固定结构，固定结构对高性能电子产品进行转动，且固定结构转动连接于安装槽的内壁。
[0009]优选的，所述支撑杆两侧的顶部转动连接有转动块，所述支撑杆顶部的转动块与限位槽卡合连接。
[0010]优选的，所述安装槽的数量设置为多个，多个所述安装槽等间距分布于支撑杆的顶部。
[0011]优选的，所述固定结构包括：
[0012]升降杆，升降杆转动连接于安装槽的内壁，所述升降杆的顶部转动连接有滑轮，所述滑轮与支撑杆贴合，所述升降杆底部焊接有导向环，所述导向环内壁开设有连接槽；
[0013]滑动块，滑动块滑动连接于连接槽的内壁，所述滑动块的内侧转动连接有转动杆，所述转动杆的内壁开设有辅助槽；
[0014]辅助块，辅助块滑动连接于转动杆的内壁，所述转动杆一侧固定安装有贴合杆。
[0015]优选的，所述滑动块的数量设置为两个，两个所述滑动块对称分布于导向环的水平中心线的两侧。
[0016]优选的，所述贴合杆的数量设置为两个，两个所述贴合杆通过拉紧弹簧连接。
[0017]在上述技术方案中，本技术提供的技术效果和优点：
[0018]1、通过固定结构，将高性能电子产品放入到固定结构的内壁，贴合杆的内壁顶部一侧的凹槽与高性能电子产品的外壁贴合，对高性能电子产品进行固定，然后将安装有固定结构的支撑杆放入都老化房外壳的内壁，用于模拟高性能电子产品在恶劣环境下的使用状况，同时由于固定结构为框架结构设置，可以减少固定结构与高性能电子产品的接触，使高性能电子产品更好的暴露在模拟的恶劣环境内。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为本技术的立体剖面图；
[0021]图2为本技术的立体剖面图；
[0022]图3为本技术的支撑杆立体图；
[0023]图4为本技术的固定结构立体展开图。
[0024]附图标记说明：
[0025]1、老化房外壳；2、导向槽；3、限位槽；4、支撑杆；5、滚轮；6、转动块；7、安装槽；8、固定结构；801、升降杆；802、滑轮；803、导向环；804、连接槽；805、滑动块；806、转动杆；807、辅助槽；808、辅助块；809、贴合杆；810、拉紧弹簧；9、卡槽。
具体实施方式
[0026]为了使本领域的技术人员更好地理解本技术的技术方案，下面将结合附图对本技术作进一步的详细介绍。
[0027]本技术提供了如图1
‑
4所示的一种老化房测试系统，包括老化房外壳1，老化房外壳1用于对电子高性能电子产品进行高温和恶劣环境测试，且老化房外壳1内壁的两侧开设有导向槽2，导向槽2顶部开设有限位槽3，导向槽2的底部开设有卡槽9；
[0028]支撑杆4，支撑杆4用于对多个高性能电子产品进行固定，且支撑杆4两侧的底部转动连接有滚轮5，支撑杆4的两端在导向槽2的内壁滑动连接，支撑杆4内部开设有安装槽7；
[0029]固定结构8，固定结构8对高性能电子产品进行转动，且固定结构8转动连接于安装槽7的内壁。
[0030]进一步的，在上述技术方案中，支撑杆4两侧的顶部转动连接有转动块6，支撑杆4顶部的转动块6与限位槽3卡合连接，将支撑杆4安装到导向槽2的内壁，然后转动转动块6，转动块6的底部与导向槽2的顶部贴合，对支撑杆4进行支撑，使支撑杆4可以带动高性能电子产品滑入到老化房外壳1的内壁进行固定。
[0031]进一步的，在上述技术方案中，安装槽7的数量设置为多个，多个安装槽7等间距分
布于支撑杆4的顶部，多个设置的安装槽7可以对固定结构8进行固定，同时固定结构8在安装槽7的内部转动可以带动高性能电子产品进行转动，使高性能电子产品可以更好与老化房外壳1内模拟的恶劣环境接触。
[0032]进一步的，在上述技术方案中，固定结构8包括：
[0033]升降杆801，升降杆801转动连接于安装槽7的内壁，升降杆801的顶部转动连接有滑轮802，滑轮802与支撑杆4贴合，升降杆801底部焊接有导向环803，导向环803内壁开设有连接槽804；
[0034]滑动块805，滑动块805滑动连接于连接槽804的内壁，滑动块805的内侧转动连接有转动杆806，转动杆806的内壁开设有辅助槽807；
[0035]辅助块808，辅助块808滑动连接于转动杆806的内壁，转动杆806一侧固定安装有贴合杆809，滑动块805的数量设置为两个，两个滑动块805对称分布于导向环803的水平中心线的两侧，贴合杆809的数量设置为两个，两个贴合杆809通过拉紧弹簧810连接，将高性能电子产品安装到四个贴合杆809的内壁进行固定，然后在老化房外壳1的内部有空气吹过时，可以使高性能电子产品带动转动杆806转动，同时滑动块805在连接槽804的内壁转动，使高性能电子产品可以多角度进行转动。
[0036]本实用工作原本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种老化房测试系统，其特征在于：包括：老化房外壳(1)，老化房外壳(1)用于对电子高性能电子产品进行高温和恶劣环境测试，且老化房外壳(1)内壁的两侧开设有导向槽(2)，所述导向槽(2)顶部开设有限位槽(3)，所述导向槽(2)的底部开设有卡槽(9)；支撑杆(4)，支撑杆(4)用于对多个高性能电子产品进行固定，且支撑杆(4)两侧的底部转动连接有滚轮(5)，所述支撑杆(4)的两端在导向槽(2)的内壁滑动连接，所述支撑杆(4)内部开设有安装槽(7)；固定结构(8)，固定结构(8)对高性能电子产品进行转动，且固定结构(8)转动连接于安装槽(7)的内壁。2.根据权利要求1所述的一种老化房测试系统，其特征在于：所述支撑杆(4)两侧的顶部转动连接有转动块(6)，所述支撑杆(4)顶部的转动块(6)与限位槽(3)卡合连接。3.根据权利要求1所述的一种老化房测试系统，其特征在于：所述安装槽(7)的数量设置为多个，多个所述安装槽(7)等间距分布于支撑杆(4)的顶部。4.根据权利要求1所述的一种老化房测试系统，...

【专利技术属性】
技术研发人员：代士圣，
申请(专利权)人：上海圣试电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：