地层吸收衰减参数的估计方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种地层吸收衰减参数的估计方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：依据衰减前后地震波振幅谱确定不同频率下的第一谱比对数；对第一谱比对数进行数据清理，得到第二谱比对数；其中，数据清理包括异常值剔除操作；依据第二谱比对数加权线性拟合确定地层吸收衰减参数。采用本申请技术方案，通过对第一谱比对数进行数据清理，得到第二谱比对数，使得由于噪声等因素而造成的异常谱比对数能够被清除，从而降低噪声等因素的影响，从而降低系统的运算误差。通过第二谱比对数加权线性拟合确定地层吸收衰减参数，使得地层吸收衰减参数的确定过程更稳定，确定结果更准确。确定结果更准确。确定结果更准确。

【技术实现步骤摘要】
地层吸收衰减参数的估计方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及地震勘探
，尤其涉及一种地层吸收衰减参数的估计方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]地震波在地下介质中传播过程中，由于地层的非完全弹性地震波会产生吸收衰减，导致其能量减弱和频带变窄。地震波吸收衰减通常选用参数Q值来描述。地震波的吸收衰减参数Q值可以用于提高地震资料分辨率、储层刻画、流体检测等，因此稳健可靠地估计出地震波的吸收衰减参数具有重要意义。
[0003]当前估计地震波吸收衰减参数Q值的方法主要为谱比法，尽管该方法在理论上估计精度高，但存在着对噪声非常敏感、稳定性差的问题，因此急需一种方法能够有效降低噪声干扰，提高地震波吸收衰减参数估计的稳定性。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种地层吸收衰减参数的估计方法、装置、电子设备及存储介质，以解决在谱比法确定地层吸收衰减参数时，由于噪声等因素的影响而使得最终结果出现较大误差的问题。
[0005]根据本专利技术的一方面，提供了一种地层吸收衰减参数的估计方法，该方法包括：
[0006]依据衰减前后地震波振幅谱确定不同频率下的第一谱比对数；
[0007]对第一谱比对数进行数据清理，得到第二谱比对数；其中，数据清理包括异常值剔除操作；
[0008]依据第二谱比对数加权线性拟合确定地层吸收衰减参数。
[0009]根据本专利技术的另一方面，提供了一种地层吸收衰减参数的估计装置，该装置包括：
[0010]谱比对数确定模块，用于依据衰减前后地震波振幅谱确定不同频率下的第一谱比对数；
[0011]数据清理模块，用于对第一谱比对数进行数据清理，得到第二谱比对数；其中，数据清理包括异常值剔除操作；
[0012]衰减参数确定模块，用于依据第二谱比对数加权线性拟合确定地层吸收衰减参数。
[0013]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，电子设备包括：
[0014]至少一个处理器；以及
[0015]与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0016]存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，计算机程序被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例的地层吸收衰减参数的估计方法。
[0017]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质
存储有计算机指令，计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例的地层吸收衰减参数的估计方法。
[0018]根据本专利技术实施例的技术方案，通过对第一谱比对数进行数据清理，得到第二谱比对数，使得由于噪声等因素而造成的异常谱比对数能够被清除，从而降低噪声等因素的影响，从而降低系统的运算误差。通过第二谱比对数加权线性拟合确定地层吸收衰减参数，使得地层吸收衰减参数的确定过程更稳定，确定结果更准确。采用上述步骤，降低了谱比法所受噪声等因素的影响，提高了谱比法的稳定性与准确性。
[0019]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1是根据本专利技术实施例一提供的一种地层吸收衰减参数的估计方法的流程图；
[0022]图2是本专利技术实施例所适用的第一谱比对数线性拟合结果的示意图；
[0023]图3是本专利技术实施例所适用的第二谱比对数线性拟合结果的示意图；
[0024]图4是本专利技术实施例提供了一种地层吸收衰减参数的估计装置的结构框图；
[0025]图5是实现本专利技术实施例的地层吸收衰减参数的估计方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0026]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0027]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0028]实施例一
[0029]图1为本专利技术实施例一提供了一种地层吸收衰减参数的估计方法的流程图，本实施例可适用于运用谱比法确定地层吸收衰减参数时，降低噪声等因素对运算结果准确性的影响的情况，该方法可以由地层吸收衰减参数的估计装置来执行，该地层吸收衰减参数的
估计装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该地层吸收衰减参数的估计装置可配置于具有数据处理能力的电子设备中。如图1所示，该方法包括：
[0030]S110、依据衰减前后地震波振幅谱确定不同频率下的第一谱比对数。
[0031]谱比法可以是在一定的频带范围内对接收子波和震源子波振幅谱比的对数进行线性拟合，得到拟合直线的斜率，根据斜率与Q值的关系式估计出Q值，其中，Q值为地层吸收衰减参数。
[0032]当地震波在地层中传播时，由于地层的非完全弹性，地震波会产生衰减，衰减的过程可以用Futterman常Q模型表示如下：
[0033][0034]其中，A0(f)为震源子波振幅谱，A(f)为接收子波振幅谱，f为频率，Δt为旅行时，Q为地层吸收衰减参数。C表示散射衰减，在整个地震频带内与频率无关，包括几何扩散、反射、透射等。
[0035]将(1)式中的A0(f)与A(f)下相除并取对数，得到以下公式：
[0036][0037](2)式可以看作关于频率的线性函数，从而可以改写为下式：
[0038]L(f)＝kf+b
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(3)
[0039]其中，L(f)＝ln[A(f)A0(f)]为谱比对数；k为斜率，b为截距，b＝ln(C)。
[0040]根据上述内容可以得到第一谱比对数，其中，第一谱比对数可以是通过衰减前后地震波振幅谱相除并取对数直接得到的。
[0041]S120、对第一谱比对数进行数据清理，得到第二谱比对数。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种地层吸收衰减参数的估计方法，其特征在于，包括：依据衰减前后地震波振幅谱确定不同频率下的第一谱比对数；对所述第一谱比对数进行数据清理，得到第二谱比对数；其中，所述数据清理包括异常值剔除操作；依据所述第二谱比对数加权线性拟合确定地层吸收衰减参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述第一谱比对数进行数据清理，得到第二谱比对数，包括：对所述第一谱比对数进行异常值剔除，得到第二谱比对数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述第一谱比对数进行异常值剔除，得到第二谱比对数，包括：依据所述第一谱比对数进行线性拟合，得到第一拟合直线；依据所述第一拟合直线，确定不同频率下各个第一谱比对数散点到所述第一拟合直线的直线距离；依据所述第一拟合直线的直线距离，确定所述第一谱比对数散点到所述第一拟合直线的直线距离的算术平均值与标准差值；若所述第一谱比对数的直线距离与所述算术平均值的差值的绝对值大于预设倍数的所述标准差值时，剔除该频率下的第一谱比对数散点，得到所述第二谱比对数。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据所述第二谱比对数加权线性拟合确定地层吸收衰减参数，包括：依据所述第二谱比对数进行线性拟合，得到第二拟合直线；依据所述第二拟合直线，确定不同频率下各个所述第二谱比对数到所述第二拟合直线的直线距离；依据不同频率下各个所述第二谱比对数到所述第二拟合直线的直线距离，确定所述第二拟合直线的直线距离的中位数值；依据所述第二拟合直线的直线距离与所述第二拟合直线的直线距离的中位数值，确定不同频率下所述第二谱比对数的权重系数。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述依据所述第二拟合直线的直线距离与所述第二拟合直线的直线距离的中位数值，确定不同频率下所述第二谱比对数的权重系数，包括：若所述第二拟合...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭光荣，刘军，李振升，杨登锋，李杰，蔡嵩，黄荣燕，姜曼，
申请(专利权)人：中海石油深海开发有限公司，
类型：发明
国别省市：