一种多工位同步的光耦测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种多工位同步的光耦测试系统，包括主机以及与主机相连接的从机，所述主机通过从机对被测光耦进行测试，所述从机包括从机控制电路以及与从机控制电路相连接的多源测量模拟电路，所述多源测量模拟电路包括测试模块、同步接收处理模块，所述测试模块与被测光耦相连接，所述测试模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路，从机控制电路将测试值发送给主机。本实用新型专利技术支持乒乓模式、同步模式及多信道扫描模式等多种测试模式，在多线程控制上，由主机向从机发送时钟信号，从机解析信号，最多支持256位从机地址。最多支持256位从机地址。最多支持256位从机地址。

【技术实现步骤摘要】
一种多工位同步的光耦测试系统


[0001]本技术涉及半导体器件交流特性测试领域，尤其涉及了一种多工位同步的光耦测试系统。

技术介绍

[0002]随着技术的发展，光耦的应用场景越来越多，市场对光耦的需求愈来愈大。因此，高效率地测试是提高光耦产能中尤为重要的一环。在光耦测试领域，常规光耦测试系统成熟度较高，但随着光耦产量的增加，常规光耦测试系统在测试速度上开始跟不上产能需求。
[0003]综上所述，要实现光耦材料位于封装产线的高效、高速测试的需求，需研发一款多工位同步的光耦测试系统。

技术实现思路

[0004]针对现有技术存在的不足，本技术的目的就在于提供了一种多工位同步的光耦测试系统，支持乒乓模式、同步模式及多信道扫描模式等多种测试模式，在多线程控制上，由主机向从机发送时钟信号，从机解析信号，最多支持256位从机地址。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用的技术方案是这样的：一种多工位同步的光耦测试系统，包括主机以及与主机相连接的从机，所述主机通过从机对被测光耦进行测试，所述从机包括从机控制电路以及与从机控制电路相连接的多源测量模拟电路，所述多源测量模拟电路包括测试模块、同步接收处理模块，所述测试模块与被测光耦相连接，所述测试模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路，从机控制电路将测试值发送给主机。
[0006]作为一种优选方案，所述主机通过数据总线发送8bit时钟信号至从机处，经由译码器转译为256bit信号，所述时钟信号包含开始时钟信号、地址时钟信号，所述开始时钟信号开关控制地址时钟信号，所述地址时钟信号至多256个地址。
[0007]作为一种优选方案，所述同步接收处理模块包括数字同步单元、模拟同步单元，所述测试模块包括FIMV模块、FVMI模块、浮动型HV模块。
[0008]作为一种优选方案，所述FIMV模块具体为恒流源单元，用于实现加电流测电压，所述FIMV模块与被测光耦相连接，所述FIMV模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路。
[0009]作为一种优选方案，所述FVMI模块具体为恒压源单元，用于实现加电压测电流，所述FVMI模块与被测光耦相连接，所述FVMI模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路。
[0010]作为一种优选方案，所述浮动型HV模块包括同步采集模块、电压环路选择单元、电流环路选择电路，所述从机控制电路经过同步采集模块、电压环路选择单元后与被测光耦相连接，所述同步采集模块包括数字采集单元、模拟采集单元，所述从机控制电路经过模拟采集单元、电流环路选择电路后与被测光耦相连接。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果：本技术支持乒乓模式、同步模式及多信道扫描模式等多种测试模式，在多线程控制上，由主机向从机发送时钟信号，从机解析信号，最多支持256位从机地址。
附图说明
[0012]图1是本技术的硬件结构框图；
[0013]图2是本技术中浮动型HV模块的结构框图；
[0014]图3是本技术的测试流程图；
[0015]图4是本技术中乒乓模式的示意图；
[0016]图5是本技术中同步模式的示意图；
[0017]图6是本技术中多通道扫描模式的示意图。
具体实施方式
[0018]下面结合具体实施例对本技术作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本技术的技术方案，而不能以此来限制本技术的保护范围。
[0019]实施例：
[0020]如图1~6所示，一种多工位同步的光耦测试系统，包括主机以及与主机相连接的从机，所述主机通过从机对被测光耦进行测试，所述从机包括从机控制电路以及与从机控制电路相连接的多源测量模拟电路，所述多源测量模拟电路包括测试模块、同步接收处理模块，所述测试模块与被测光耦相连接，所述测试模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路，从机控制电路将测试值发送给主机。
[0021]具体的，本实施例中采用Altera EP4CE6E22C8N系列作为从机控制电路的主要芯片，EP4CE6E22C8N为嵌入式FPGA芯片，设计灵活，使用便捷。
[0022]优选的，所述主机通过数据总线发送8bit时钟信号至从机处，经由译码器转译为256bit信号，所述时钟信号包含开始时钟信号、地址时钟信号，所述开始时钟信号开关控制地址时钟信号，所述地址时钟信号至多256个地址。
[0023]具体的，所述译码器采用芯片74HC138D，为高速CMOS器件，自身功耗低，输出高低电平范围宽。
[0024]优选的，所述同步接收处理模块包括数字同步单元、模拟同步单元，所述测试模块包括FIMV模块、FVMI模块、浮动型HV模块。
[0025]具体的，所述数字同步单元采用SN74LS06数字同步反相器，所述模拟同步单元采用延迟较短的模拟开关DG454。
[0026]更为优选的，所述FIMV模块具体为恒流源单元，用于实现加电流测电压，所述FIMV模块与被测光耦相连接，所述FIMV模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路。
[0027]具体的，所述FIMV模块结合精密运放OPA445和轨到轨精密运放LTC6090ISE作为恒流源结构，用于实现加电流测电压。
[0028]更为优选的，所述FVMI模块具体为恒压源单元，用于实现加电压测电流，所述FVMI模块与被测光耦相连接，所述FVMI模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模
块处理返回至从机控制电路。
[0029]具体的，所述FVMI模块采用低Vos运放OPA132UA作为恒压源结构，用于实现加电压测电流。
[0030]更为优选的，所述浮动型HV模块包括同步采集模块、电压环路选择单元、电流环路选择电路，所述从机控制电路经过同步采集模块、电压环路选择单元后与被测光耦相连接，所述同步采集模块包括数字采集单元、模拟采集单元，所述从机控制电路经过模拟采集单元、电流环路选择电路后与被测光耦相连接。
[0031]具体的，所述电压环路选择单元采用高速模拟开关DG411，所述电流环路选择电路采用多路复用芯片74HC4052D。
[0032]本技术具体测试时，包括如下步骤：
[0033]（1）设定测试模式，所述测试模式包括乒乓模式、同步模式、多通道扫描模式，其中乒乓模式的系统包括一个主机、两个从机，一个主机与两个从机相连接，所述主机交替测试两个从机上的被测光耦；所述同步模式的系统包括若干主机、若干从机，所述主机的数量与从机的数量相同，每个主机与对应的从机相连接，所有的主机同步并行测试对应从机上的被测光耦；所述多通道扫描模式的系统包括一个主机、若干从机，一个主机与若干从机相连接，所述主机依次测试从机上的被测光耦；
[0034]（2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多工位同步的光耦测试系统，其特征在于：包括主机以及与主机相连接的从机，所述主机通过从机对被测光耦进行测试，所述从机包括从机控制电路以及与从机控制电路相连接的多源测量模拟电路，所述多源测量模拟电路包括测试模块、同步接收处理模块，所述测试模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路，从机控制电路将测试值发送给主机。2.根据权利要求1所述的一种多工位同步的光耦测试系统，其特征在于：所述主机通过数据总线发送8bit时钟信号至从机处，经由译码器转译为256bit信号，所述时钟信号包含开始时钟信号、地址时钟信号，所述开始时钟信号开关控制地址时钟信号，所述地址时钟信号至多256个地址。3.根据权利要求1所述的一种多工位同步的光耦测试系统，其特征在于：所述同步接收处理模块包括数字同步单元、模拟同步单元，所述测试模块包括FIMV模块、FVMI模块、浮动型HV模块。4.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹贺，钱卫东，
申请(专利权)人：苏州索拉科技有限公司，
类型：新型
国别省市：