基于USB传输的芯片设备端数据收集系统和方法技术方案

本申请实施例提供了基于USB传输的芯片设备端数据收集系统和方法，其中系统包括上位机、主机端、芯片设备端；主机端与芯片设备端连接，上位机与主机端通过USB数据线连接；方法包括将芯片设备端放置到芯片老化测试设备中进行老化测试，芯片设备端将老化测试日志发送至主机端，主机端通过USB数据线将老化测试日志转发至上位机；提高了芯片老化测试设备的空间利用率，保证了USB数据线所传输的老化测试日志不失真，保证了老化测试结果的准确性。保证了老化测试结果的准确性。保证了老化测试结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
基于USB传输的芯片设备端数据收集系统和方法


[0001]本申请实施例涉及但不限于存储器领域，尤其涉及基于USB传输的芯片设备端数据收集系统和方法。

技术介绍

[0002]在半导体领域，对于主机端与芯片设备端之间的数据传输，目前主要的方式是通过数据线连接主机端与芯片设备端。当需要进行老化测试，并收集芯片设备端进行老化测试时所产生的老化测试日志，目前通常是通过串行接口在芯片设备端收集数据，大量的串口线也要求大量的串口拓展设备。则在进行老化测试时，需要将芯片设备端以及与芯片设备端连接的串行接口放入到芯片老化测试设备中。
[0003]但是，限于串行接口的特性，在高低温情况下，串行接口所传输的数据存在较大的失真风险；则将芯片设备端以及与芯片设备端连接的串行接口放入到芯片老化测试设备中进行老化测试，串行接口所传输的老化测试日志就会失真，由老化测试日志所推导的老化测试结果不够准确，导致老化测试准确性下降。
[0004]并且，由于老化测试设备一般都具有密封性，且仅有少数与外部互通的孔洞；将芯片设备端以及与芯片设备端连接的串行接口均放入到芯片老化测试设备中进行测试，占用芯片老化测试设备大量空间。串口线的排布与老化测试设备空间的特性，局限了芯片测试设备数量的拓展、维护，导致低下的测试效率与较少的同测设备数量。

技术实现思路

[0005]以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0006]本申请的目的在于至少一定程度上解决相关技术中存在的技术问题之一，本申请实施例提供了基于USB传输的芯片设备端数据收集系统和方法，通过USB数据线传输老化测试日志，保证了老化测试日志不失真。
[0007]本申请的第一方面的实施例，一种基于USB传输的芯片设备端数据收集系统，包括上位机、主机端、芯片设备端；所述主机端与所述芯片设备端连接，所述上位机与所述主机端通过USB数据线连接；
[0008]其中，所述芯片设备端放置到芯片老化测试设备中进行老化测试，所述芯片设备端将老化测试日志发送至所述主机端，所述主机端通过所述USB数据线将所述老化测试日志转发至所述上位机。
[0009]本申请的第一方面的某些实施例，所述芯片老化测试设备包括温控系统、电压控制系统、信号源和监控系统；所述温控系统用于使所述芯片设备端置于预设的温度环境，以模拟高温环境和低温环境对所述芯片设备端的影响；所述电压控制系统包括恒流电源和变压器，用于控制所述芯片设备端的电压，以模拟电压变化对所述芯片设备端的影响；所述信号源用于为所述芯片设备端提供不同频率和幅度的信号来进行性能测试和可靠性测试；所
述监测系统包括多通道数据采集卡、示波器和频谱分析仪，所述监测系统用于实时监测所述芯片设备端的多项参数，以评估芯片在不同环境下的稳定性和可靠性。
[0010]本申请的第一方面的某些实施例，所述监测系统安装有测试软件，所述监测系统用于通过所述测试软件为所述芯片设备端的老化测试提供测试程序和数据分析功能。
[0011]本申请的第一方面的某些实施例，所述上位机还用于获取所述老化测试日志的类型以及根据所述老化测试日志的类型对所述老化测试日志进行分类存储。
[0012]本申请的第一方面的某些实施例，所述芯片设备端为嵌入式多媒体存储卡或通用闪存存储器。
[0013]本申请的第二方面的实施例，一种基于USB传输的芯片设备端数据收集方法，应用于数据收集系统，所述数据收集系统包括上位机、主机端、芯片设备端；所述主机端与所述芯片设备端连接，所述上位机与所述主机端通过USB数据线连接；
[0014]所述数据收集方法包括：
[0015]所述芯片设备端放置到芯片老化测试设备中进行老化测试；
[0016]所述芯片设备端将老化测试日志发送至所述主机端，所述主机端接收所述芯片设备端所发送的所述老化测试日志；
[0017]所述主机端通过所述USB数据线将所述老化测试日志转发至所述上位机，所述上位机通过所述USB数据线接收所述主机端所转发的所述老化测试日志。
[0018]本申请的第二方面的某些实施例，所述芯片老化测试设备的温度范围为40摄氏度至150摄氏度。
[0019]本申请的第二方面的某些实施例，所述老化测试的时间范围为1小时至100天。
[0020]本申请的第二方面的某些实施例，在所述主机端通过所述第二USB数据线将所述老化测试日志转发至所述上位机，所述上位机通过所述第二USB数据线接收所述主机端所转发的所述老化测试日志之后，所述数据收集方法还包括：
[0021]所述上位机获取所述老化测试日志的类型；
[0022]所述上位机根据所述老化测试日志的类型对所述老化测试日志进行分类存储。
[0023]本申请的第二方面的某些实施例，所述芯片设备端为嵌入式多媒体存储卡或通用闪存存储器。
[0024]上述方案至少具有以下的有益效果：仅将芯片设备端放置到芯片老化测试设备中进行老化测试的方式所占用的芯片老化测试设备空间更小，提高了芯片老化测试设备的空间利用率，提高了老化测试的效率；另外，相对于通过位于芯片老化测试设备中与芯片设备端连接的串行接口收集老化测试日志的方式，通过USB数据线传输老化测试日志的方式，由于是在主机端连接USB数据线，无需将USB数据线放置到高温箱内，保证了USB数据线所传输的老化测试日志不失真，保证了由老化测试日志所推导的老化测试结果的准确性，提升了老化测试效果。
附图说明
[0025]附图用来提供对本申请技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，并不构成对本申请技术方案的限制。
[0026]图1是通过串行接口传输芯片设备端的老化测试日志的数据收集系统的结构示意
图；
[0027]图2是本申请的实施例所提供的基于USB传输的芯片设备端数据收集方法的步骤图；
[0028]图3是上位机存储老化测试日志的步骤图；
[0029]图4是本申请的实施例所提供的基于USB传输的芯片设备端数据收集系统的结构示意图。
具体实施方式
[0030]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0031]需要说明的是，虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书、权利要求书或上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
[0032]下面结合附图，对本申请实施例作进一步阐述。
[0033]参照图1，在半导体领域，对于主机端20与芯片设备端10之间的数据传输，目前主要的方式是通过数据线连接主机端20与芯片设备端10。当需要进行老化测试，并本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于USB传输的芯片设备端数据收集系统，其特征在于，包括上位机、主机端、芯片设备端；所述主机端与所述芯片设备端连接，所述上位机与所述主机端通过USB数据线连接；其中，所述芯片设备端放置到芯片老化测试设备中进行老化测试，所述芯片设备端将老化测试日志发送至所述主机端，所述主机端通过所述USB数据线将所述老化测试日志转发至所述上位机。2.根据权利要求1所述的一种基于USB传输的芯片设备端数据收集系统，其特征在于，所述芯片老化测试设备包括温控系统、电压控制系统、信号源和监控系统；所述温控系统用于使所述芯片设备端置于预设的温度环境，以模拟高温环境和低温环境对所述芯片设备端的影响；所述电压控制系统包括恒流电源和变压器，用于控制所述芯片设备端的电压，以模拟电压变化对所述芯片设备端的影响；所述信号源用于为所述芯片设备端提供不同频率和幅度的信号来进行性能测试和可靠性测试；所述监测系统包括多通道数据采集卡、示波器和频谱分析仪，所述监测系统用于实时监测所述芯片设备端的多项参数，以评估芯片在不同环境下的稳定性和可靠性。3.根据权利要求2所述的一种基于USB传输的芯片设备端数据收集系统，其特征在于，所述监测系统安装有测试软件，所述监测系统用于通过所述测试软件为所述芯片设备端的老化测试提供测试程序和数据分析功能。4.根据权利要求1所述的一种基于USB传输的芯片设备端数据收集系统，其特征在于，所述上位机还用于获取所述老化测试日志的类型和根据所述老化测试日志的类型对所述老化测试日志进行分类存储。5.根据权利要求1所述的一种基于USB传输的芯片设备端数据收集系...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡鸿源，贺乐，赖鼐，龚晖，
申请(专利权)人：深圳市晶存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：