一种被动式弱光光强检测设备制造技术

本发明专利技术涉及测量设备技术领域，具体涉及一种被动式弱光光强检测设备。该检测设备包括：光屏蔽腔、检测模块和处理模块，光屏蔽腔适于放置待检测发光物质；检测模块包括光电检测器和温控组件，光电检测器用于对放置在光屏蔽腔内的待检测发光物质进行检测，温控组件用于控制光电检测器的温度；处理模块与检测模块连接。在进行工作时，将待检测发光物质放置在光屏蔽腔中，检测模块和处理模块启动，检测模块中的光电检测器获取待检测发光物质的光学信息，经过光电检测器获取的信息传送至处理模块，由处理模块进行分析处理，在光电检测器工作时，温控组件可对光电检测器的温度进行控制，保证测量信号的稳定性。保证测量信号的稳定性。保证测量信号的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种被动式弱光光强检测设备


[0001]本专利技术涉及测量设备
，具体涉及一种被动式弱光光强检测设备。

技术介绍

[0002]发光光强定量测定设备是一类用途广泛地分析设备，包含核心的极弱光检测单元、光学单元及其他辅助单元等。按照是否需要激发光源，将需要激发光源的设备称为主动式光学检测设备，将不需要激光光源的设备称为被动式光学检测设备。其中，主动式光学检测设备采用特定光源照射待测样品并与样品发生相互作用，通过测量作用后的光信号可获取样品的物理量信息，主要包括散射光测量设备、荧光测量设备、吸收光测量设备等。
[0003]当待测样品能够主动发光，检测设备只需被动测量样品发光的强度、光谱等信息，进而定性或者定量出样品中发光物质的物化信息，这类设备统称为被动式光学检测设备。由于被动式光学检测设备内没有光源，无法主动调节待测目标的发光量，为了满足目标物质从痕量到大量范围内都能定量检测的要求，此类光学设备需要具有检出下限低，定量检测范围宽的性能指标。

技术实现思路

[0004]因此，本专利技术提供一种被动式弱光光强检测设备，以实现对待发光目标的稳定检测。
[0005]本专利技术技术方案为：
[0006]一种被动式弱光光强检测设备，包括：光屏蔽腔、检测模块和处理模块，所述光屏蔽腔适于放置待检测发光物质；所述检测模块，其包括光电检测器和温控组件，所述光电检测器用于对放置在所述光屏蔽腔内的待检测发光物质进行检测，所述温控组件用于控制所述光电检测器的温度；所述处理模块与所述检测模块连接，用于对所述检测模块获取的信息进行分析处理。
[0007]优选地，所述温控组件包括：制冷片和温控电路，所述制冷片与所述光电检测器接触以调节所述光电检测器的温度，所述温控电路与所述制冷片连接。
[0008]优选地，所述温控组件还包括：温度传感器和温控导热保温外壳，所述温度传感器用于检测所述光电检测器的温度，所述温控电路根据所述温度传感器的反馈进行温度调节；所述温控导热保温外壳用于对所述光电检测器和所述制冷片进行防护；所述温控组件与所述光屏蔽腔的外壁相接，所述光电检测器设置在所述光屏蔽腔和所述温控导热保温外壳之间，所述制冷片设置在所述温控导热保温外壳内。
[0009]优选地，所述温控导热保温外壳包括相互连接的第一部和第二部，所述第一部与所述光屏蔽腔的外壁相接，所述光电检测器和所述制冷片与所述第一部对应设置，所述温控电路与所述第二部对应设置；所述第一部与所述第二部呈“L”字形设置。
[0010]优选地，所述光屏蔽腔包括：光屏蔽罩和盖体，所述光屏蔽罩与所述盖体对应设置。
[0011]优选地，该被动式弱光光强检测设备，还包括开合检测单元，所述开合检测单元用于检测所述盖体与所述光屏蔽罩是否闭合。
[0012]优选地，所述处理模块包括：主控电路和显示器，所述主控电路与所述显示器连接，并且所述主控电路与所述检测模块和所述开合检测单元连接。
[0013]优选地，该被动式弱光光强检测设备，还包括供电组件，所述供电组件与所述检测模块和所述处理模块连接，用于对所述检测模块和所述处理模块进行供电；所述供电组件包括交互接口、充电电路和电池，所述交互接口与所述充电电路连接，并且所述充电电路与所述电池连接。
[0014]优选地，该被动式弱光光强检测设备，还包括主外壳，所述主外壳的截面呈梯形结构，所述光屏蔽罩沿竖直方向设置，其开口与所述主外壳的上表面相接；所述盖体设置在所述主外壳的上表面，并与所述主外壳通过铰链翻转连接，所述开合检测单元设置在所述盖体与所述主外壳之间；所述电池设置在所述主外壳的底面上，所述交互接口设置在所述主外壳的直角腰上，所述充电电路设置在所述主外壳与所述光屏蔽罩之间，所述显示器设置在所述主外壳的倾角腰上。
[0015]优选地，所述光电检测器为硅光电倍增管，所述检测模块还包括聚焦透镜，所述聚焦透镜设置在所述光电检测器的光敏面的一侧，并且嵌入至所述光屏蔽腔的腔壁内，所述聚焦透镜将所述待检测发光物质的光进行聚焦并传导至所述光电检测器的光敏面上。
[0016]本专利技术技术方案，具有如下有益效果：
[0017]本专利技术的被动式弱光光强检测设备，包括：光屏蔽腔、检测模块和处理模块，光屏蔽腔适于放置待检测发光物质；检测模块包括光电检测器和温控组件，光电检测器用于对放置在光屏蔽腔内的待检测发光物质进行检测，温控组件用于控制光电检测器的温度；处理模块与检测模块连接。在进行工作时，将待检测发光物质放置在光屏蔽腔中，检测模块和处理模块启动，检测模块中的光电检测器获取待检测发光物质的光学信息，经过光电检测器获取的信息传送至处理模块，由处理模块进行分析处理，在光电检测器工作时，温控组件可对光电检测器的温度进行控制，保证测量信号的稳定性。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本专利技术的被动式弱光光强检测设备的结构示意图；
[0020]图2为本专利技术所涉及的检测模块的结构示意图。
[0021]附图标记说明：
[0022]1‑
主外壳；2
‑
封盖；3
‑
电池；4
‑
检测模块；400
‑
温度传感器；401
‑
聚焦透镜；402
‑
光电检测器；403
‑
制冷片；404
‑
温控导热保温外壳；405
‑
温控电路；5
‑
盖体；6
‑
光屏蔽罩；7
‑
开合检测单元；701
‑
位置发射器；702
‑
位置传感器；8
‑
显示器；9
‑
开关按键；10
‑
主控电路；11
‑
铰链；12
‑
检测管；13
‑
充电电路；14
‑
交互接口；15
‑
第一部；16
‑
第二部。
具体实施方式
[0023]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0024]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种被动式弱光光强检测设备，其特征在于，包括：光屏蔽腔、检测模块(4)和处理模块，所述光屏蔽腔适于放置待检测发光物质；所述检测模块(4)，其包括光电检测器(402)和温控组件，所述光电检测器(402)用于对放置在所述光屏蔽腔内的待检测发光物质进行检测，所述温控组件用于控制所述光电检测器(402)的温度；所述处理模块与所述检测模块(4)连接，用于对所述检测模块(4)获取的信息进行分析处理。2.根据权利要求1所述的被动式弱光光强检测设备，其特征在于，所述温控组件包括：制冷片(403)和温控电路(405)，所述制冷片(403)与所述光电检测器(402)接触以调节所述光电检测器(402)的温度，所述温控电路(405)与所述制冷片(403)连接。3.根据权利要求2所述的被动式弱光光强检测设备，其特征在于，所述温控组件还包括：温度传感器(400)，所述温度传感器(400)用于检测所述光电检测器(402)的温度，所述温控电路(405)根据所述温度传感器(400)的反馈进行温度调节；温控导热保温外壳(404)，所述温控导热保温外壳(404)用于对所述光电检测器(402)和所述制冷片(403)进行防护；所述温控组件与所述光屏蔽腔的外壁相接，所述光电检测器(402)设置在所述光屏蔽腔和所述温控导热保温外壳(404)之间，所述制冷片(403)设置在所述温控导热保温外壳(404)内。4.根据权利要求3所述的被动式弱光光强检测设备，其特征在于，所述温控导热保温外壳(404)包括相互连接的第一部(15)和第二部(16)，所述第一部(15)与所述光屏蔽腔的外壁相接，所述光电检测器(402)和所述制冷片(403)与所述第一部(15)对应设置，所述温控电路(405)与所述第二部(16)对应设置；所述第一部(15)与所述第二部(16)呈“L”字形设置。5.根据权利要求1
‑
4中任一项所述的被动式弱光光强检测设备，其特征在于，所述光屏蔽腔包括：光屏蔽罩(6)和盖体(5)，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋保栋，杨海洋，张晓聪，
申请(专利权)人：北京协同创新研究院，
类型：发明
国别省市：