一种功率器件的辐照测试电路及系统技术方案

本申请公开一种功率器件的辐照测试电路及系统，涉及电子器件测试技术领域，能够实现功率器件的原位测试，可以提高测试精度。功率器件的辐照测试电路，包括：功率器件；测试源表，用于向处于辐照环境中的所述功率器件提供电压激励，以及测试所述功率器件在所述电压激励下的电流值；电性测试电路，用于测试所述功率器件在辐照环境中的电学性能。率器件在辐照环境中的电学性能。率器件在辐照环境中的电学性能。

【技术实现步骤摘要】
一种功率器件的辐照测试电路及系统


[0001]本申请涉及电子器件测试
，尤其涉及一种功率器件的辐照测试电路及系统。

技术介绍

[0002]随着航空航天技术的不断发展，功率器件在航空航天领域中的应用也越来越广泛。由于太空中存在较多的粒子辐射，功率器件的性能容易受到辐照环境的影响，因此需要对功率器件进行辐照测试，可以测试功率器件在辐照环境中的电学性能。
[0003]然而，现有的功率器件的测试电路板只能提供电压激励，如需测试功率器件的其他电学性能，需要将功率器件移动至电性测试设备上进行测试，即需要进行移位测试，功率器件的移动浪费时间，影响测试精度。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种功率器件的辐照测试电路及系统，能够实现功率器件的原位测试，可以提高测试精度。
[0005]本申请实施例的第一方面，提供一种功率器件的辐照测试电路，包括：
[0006]功率器件；
[0007]测试源表，用于向处于辐照环境中的所述功率器件提供电压激励，以及测试所述功率器件在所述电压激励下的电流值；
[0008]电性测试电路，用于测试所述功率器件在辐照环境中的电学性能。
[0009]在一些实施方式中，所述功率器件的辐照测试电路，还包括开关，所述开关与所述功率器件电连接；
[0010]所述开关的闭合用于控制所述测试源表向处于辐照环境中的所述功率器件提供所述电压激励、控制所述测试源表测试所述功率器件在所述电压激励下的电流值以及控制所述电性测试电路测试所述功率器件在辐照环境中的电学性能；
[0011]所述开关用于在所述功率器件发生击穿或烧毁的情况下被控制断开，以控制所述测试源表停止向所述功率器件提供所述电压激励。
[0012]在一些实施方式中，所述功率器件包括功率晶体管；
[0013]所述功率晶体管的栅极、源极和漏极分别电连接有一个所述开关。
[0014]在一些实施方式中，所述开关包括继电器。
[0015]在一些实施方式中，所述电性测试电路包括：
[0016]阈值电压测试电路，用于测试所述功率晶体管的阈值电压；
[0017]击穿测试电路，用于测试所述功率晶体管的击穿电压；
[0018]漏电测试电路，用于测试所述功率晶体管的漏电流。
[0019]在一些实施方式中，所述功率器件的辐照测试电路，还包括金属膜无感电阻，所述金属膜无感电阻与所述功率晶体管的栅极电连接。
[0020]在一些实施方式中，所述测试源表与所述功率器件通过同轴电缆电连接。
[0021]在一些实施方式中，所述功率器件的辐照测试电路，还包括薄膜电容，所述薄膜电容与所述测试源表并联。
[0022]本申请实施例的第二方面，提供一种功率器件的辐照测试系统，包括：
[0023]如第一方面所述的功率器件的辐照测试电路。
[0024]在一些实施方式中，所述的功率器件的辐照测试系统，还包括：
[0025]远程控制设备，用于发出远程控制指令；
[0026]测试控制设备，用于基于接收到的所述远程控制指令，控制所述功率器件的辐照测试电路。
[0027]本申请实施例提供的功率器件的辐照测试电路及系统，将被测的功率器件、提供激励的测试源表和用于测试电学性能的电性测试电路集中在一个电路中，可以实现无需移动功率器件或者无需移动DUT板，在一个功率器件的辐照测试电路中即可完成提供激励、激励电流测试以及电学性能的测试，以实现原位测试，避免由于移动功率器件造成的测试精度下降的问题，原位测试还可以避免产生不必要的静电损伤。另外，将被测的功率器件、提供激励的测试源表和用于测试电学性能的电性测试电路集中在一个电路中，还能够通过远程控制来实现远程测试，以提高辐照测试的自动化程度。
附图说明
[0028]图1为本申请实施例提供的一种功率器件的辐照测试电路的示意性结构框图；
[0029]图2为本申请实施例提供的一种功率器件的辐照测试电路的局部结构示意图；
[0030]图3为本申请实施例提供的一种功率器件的辐照测试系统的示意性结构框图；
[0031]图4为本申请实施例提供的另一种功率器件的辐照测试系统的示意性结构框图。
具体实施方式
[0032]为了更好的理解本说明书实施例提供的技术方案，下面通过附图以及具体实施例对本说明书实施例的技术方案做详细的说明，应当理解本说明书实施例以及实施例中的具体特征是对本说明书实施例技术方案的详细的说明，而不是对本说明书技术方案的限定，在不冲突的情况下，本说明书实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。
[0033]在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。术语“两个以上”包括两个或大于两个的情况。
[0034]随着航空航天技术的不断发展，功率器件在航空航天领域中的应用也越来越广泛。由于太空中存在较多的粒子辐射，功率器件的性能容易受到辐照环境的影响，因此需要对功率器件进行辐照测试，可以测试功率器件在辐照环境中的电学性能。然而，现有的功率
器件的测试电路板只能提供电压激励，如需测试功率器件的其他电学性能，需要将功率器件移动至电性测试设备上进行测试，即需要进行移位测试，功率器件的移动浪费时间，影响测试精度，也难以实现远程控制。
[0035]有鉴于此，本申请实施例提供一种功率器件的辐照测试电路及系统，能够实现功率器件的原位测试，可以提高测试精度，实现远程控制测试。
[0036]本申请实施例提供一种功率器件的辐照测试系统，图1为本申请实施例提供的一种功率器件的辐照测试电路的示意性结构框图。如图1所示，本申请实施例体用的功率器件的辐照测试电路，包括：功率器件100；测试源表200，用于向处于辐照环境中的功率器件100提供电压激励，以及测试功率器件100在电压激励下的电流值；电性测试电路300，用于测试功率器件100在辐照环境中的电学性能。测试源表200可以对功率器件100施加电压激励，并测试功率器件100在电压激励下的电流值。电性测试电路300可以测试功率器件100的电学性能，电学性能可以包括电流、电压等电性参数，或者是击穿特性参数、烧毁特性参数等，本申请实施例不作具体限定。功率器件的辐照测试电路可以放置在辐照测试室内，具体可以是真空靶室，真空靶室内可以提供粒子辐照，粒子辐照可以通过加速器发射粒子束流来实现，粒子辐照可以模拟太空的辐照环境。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种功率器件的辐照测试电路，其特征在于，包括：功率器件；测试源表，用于向处于辐照环境中的所述功率器件提供电压激励，以及测试所述功率器件在所述电压激励下的电流值；电性测试电路，用于测试所述功率器件在辐照环境中的电学性能。2.根据权利要求1所述的功率器件的辐照测试电路，其特征在于，还包括开关，所述开关与所述功率器件电连接；所述开关的闭合用于控制所述测试源表向处于辐照环境中的所述功率器件提供所述电压激励、控制所述测试源表测试所述功率器件在所述电压激励下的电流值以及控制所述电性测试电路测试所述功率器件在辐照环境中的电学性能；所述开关用于在所述功率器件发生击穿或烧毁的情况下被控制断开，以控制所述测试源表停止向所述功率器件提供所述电压激励。3.根据权利要求2所述的功率器件的辐照测试电路，其特征在于，所述功率器件包括功率晶体管；所述功率晶体管的栅极、源极和漏极分别电连接有一个所述开关。4.根据权利要求2或3所述的功率器件的辐照测试电路，其特征在于，所述开关包括继电器。5.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：王春林，高见头，张刚，赵发展，
申请(专利权)人：中国科学院微电子研究所，
类型：发明
国别省市：