一种非标准形状透明晶体样品显微观测用样品托制造技术

本实用新型专利技术涉及一种非标准形状透明晶体样品显微观测用样品托，包括圆环形样品腔和设置于圆环形样品腔一侧的固定轴，固定轴上设置连杆，连杆的伸长端设置可移动样品台，所述的连杆沿固定轴的轴高方向上下可移，固定轴与连杆之间设置紧固件；所述的环形样品腔的侧腔壁上开设供可移动样品台穿置的进出口，进出口两侧对称设置有进出孔，进出孔上设置有夹紧机构。对于非标准形状的透明晶体样品方便的显微观测，即可进行透明晶体样品的反射和投射光检测。测。测。

【技术实现步骤摘要】
一种非标准形状透明晶体样品显微观测用样品托


[0001]本技术涉及晶体检测
，具体涉及一种非标准形状透明晶体样品显微观测用样品托。

技术介绍

[0002]晶体是物质的一种存在形态，晶体的结构特征是长程有序性。晶体材料是一种重要的应用材料。晶体可以分为天然晶体和人工合成晶体。天然晶体是大自然中天然生成，一般含有较多杂质，其外形也没有规律性。有些纯净的天然晶体具有较高的观赏和收藏价值，如钻石就是碳的晶体形态。人工合成晶体是人类通过工具合成出来具有长程有序晶体结构的物质。
[0003]根据晶体物理化学性质不同，晶体材料被大量应用于电子、测量、生命科学等各个领域。晶体在人类文明发展中具有重要的作用。但是无论是天然晶体还是人工合成晶体，都会含有不同类型的缺陷，如零维的点缺陷空位、替位原子，一维的线缺陷位错，二维的面缺陷晶界、层错，三维的空洞、凹坑等。在透光性较好的晶体中，缺陷可以通过显微设备来观察检测。晶体材料中有很多属于透光性较高的晶体，如水晶、蓝宝石、碳化硅、氮化铝等。可以通过显微镜的反射模式观察晶体表面的缺陷，也可以通过显微镜的透射模式观察晶体内部的缺陷。
[0004]现有的显微设备样品台通常为平面状，用于观察晶体表面缺陷的反射模式样品台一般为不透明的深色平板制成，观察透明晶体内部缺陷的透射模式样品台则为透明材质或中间镂空的框式结构。但是不管哪一种样品台，其针对的样品形态都是标准几何形态，表面平整，厚度均匀，外形规则，即需要基本加工后的样品才可以方便观测。但是在晶体制备技术改进过程中，如果晶体质量较差，则无需耗费人力物力去进行加工，所以往往需要立即观察制备的晶体质量、缺陷分布等。特别是在晶体制备工艺调整阶段，这种情况经常发生。而未经加工的晶体其外形通常是不规则的非标准形状，对于非标准形状的透明晶体样品，在平面样品台上无法随意变换位置，进一步有要求，还需要变换角度去观察晶体中的缺陷。这给晶体检测和晶体制备技术的改进提高带来不便。

技术实现思路

[0005]为解决
技术介绍
中的问题，本技术提出一种非标准形状透明晶体样品显微观测用样品托，对于非标准形状的透明晶体样品方便的显微观测，即可进行透明晶体样品的反射和投射光检测。
[0006]为解决上述问题，本技术采用如下技术方案：一种非标准形状透明晶体样品显微观测用样品托，包括圆环形样品腔和设置于圆环形样品腔一侧的固定轴，固定轴上设置连杆，连杆的伸长端设置可移动样品台，所述的连杆沿固定轴的轴高方向上下可移，固定轴与连杆之间设置紧固件；
[0007]所述的环形样品腔的侧腔壁上开设供可移动样品台穿置的进出口，进出口两侧对
称设置有进出孔，进出孔上设置有夹紧机构。
[0008]进一步的，所述的紧固件为紧锁连杆的固定螺母。
[0009]进一步的，所述的夹紧机构包括固设于进出孔中的步进电机，步进电机的输出端设置丝杠机构，丝杠机构的滑台上设置样品固定伸缩杆，样品固定伸缩杆的伸缩端设置样品固定托。
[0010]再进一步的，所述的样品固定托呈夹口状，夹口包括底撑和侧撑，底撑和侧撑呈90
°
夹角。
[0011]再进一步的，所述的夹紧机构上设置旋转机构，所述的旋转机构包括位于步进电机上方的旋转电机，旋转电机固定于圆环形样品腔内腔壁上，旋转电机的输出端设置样品旋转卡扣，所述的样品旋转卡扣为张于步进电机上的电磁控制夹，当电磁控制夹夹紧，所述的旋转电机带动所述的夹紧机构转动。
[0012]再进一步优选的，所述的步进电机的外壁固设有限位环，所述的进出孔中位于限位环所在位设置环形限位槽，所述的限位环设置于所述的环形限位槽中。
[0013]本技术的有益效果：采用本技术的一种非标准形状透明晶体样品显微观测用样品托，对于非标准形状的透明晶体样品方便的显微观测，即可进行透明晶体样品的反射和投射光检测。
附图说明
[0014]下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。
[0015]图1为本技术样品托结构示意图；
[0016]图中附图标记：1、圆环形样品腔，2、可移动样品台，7、(伸缩杆)进出孔，8、(可移动样品台的)进出口，9、(可移动样品台的)连杆，10、(可移动样品台的)固定轴，11、固定螺母；
[0017]图2为一侧夹紧机构的样品固定伸缩杆系统及样品旋转卡扣系统示意图：
[0018]图中附图标记：3、(伸缩杆)步进电机，4、样品固定伸缩杆，5、旋转电机，6、样品旋转卡扣，12、步进电机电源连接线，13、步进电机信号控制连接线，14、旋转电机电源连接线，15、旋转电机信号控制连接线，16、样品固定托；
[0019]图3为固定轴部位紧固件的结构图；
[0020]图4为夹紧机构的一个实施例(仅具有样品固定伸缩杆系统)的具体结构图；图中，虚线部位为样品；
[0021]图5为一侧夹紧机构的另一个实施例(具有样品固定伸缩杆系统及样品旋转卡扣系统)的具体结构图。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]一种非标准形状透明晶体样品显微观测用样品托，包括圆环形样品腔1和设置于圆环形样品腔1一侧的固定轴10，固定轴10上设置连杆9，连杆9的伸长端设置可移动样品台
2，所述的连杆9沿固定轴10的轴高方向上下可移，固定轴10与连杆9之间设置紧固件；
[0024]所述的环形样品腔1的侧腔壁上开设供可移动样品台2穿置的进出口8，进出口8两侧对称设置有进出孔7，进出孔7上设置有夹紧机构。
[0025]进一步的，参照图3，所述的紧固件为紧锁连杆9的固定螺母11。
[0026]进一步的，参照图4，所述的夹紧机构包括固设于进出孔7中的步进电机3，步进电机3的输出端设置丝杠机构，丝杠机构的滑台上设置样品固定伸缩杆4，样品固定伸缩杆4的伸缩端设置样品固定托16。
[0027]再进一步的，参照图4，所述的样品固定托16呈夹口状，夹口包括底撑和侧撑，底撑和侧撑呈90
°
夹角。这样夹紧固定样品效果更好。
[0028]再进一步的，参照图5，所述的夹紧机构上设置旋转机构，所述的旋转机构包括位于步进电机3上方的旋转电机5，旋转电机5固定于圆环形样品腔1内腔壁上，旋转电机5的输出端设置样品旋转卡扣6，所述的样品旋转卡扣6为张于步进电机3上的电磁控制夹，当电磁控制夹夹紧，所述的旋转电机5带动所述的夹紧机构转动。设计时，夹紧机构的重心偏向进出孔7，这样，当需要旋转时，执行电磁控制夹夹紧步进电机3，旋转电机5电机轴与电磁控制夹之间设置转动齿轮啮合，旋转电机5电机轴转动带动步进电机3转动，进而带动整个夹紧机构转动。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种非标准形状透明晶体样品显微观测用样品托，其特征在于：包括圆环形样品腔(1)和设置于圆环形样品腔(1)一侧的固定轴(10)，固定轴(10)上设置连杆(9)，连杆(9)的伸长端设置可移动样品台(2)，所述的连杆(9)沿固定轴(10)的轴高方向上下可移，固定轴(10)与连杆(9)之间设置紧固件；所述的环形样品腔(1)的侧腔壁上开设供可移动样品台(2)穿置的进出口(8)，进出口(8)两侧对称设置有进出孔(7)，进出孔(7)上设置有夹紧机构。2.根据权利要求1所述的一种非标准形状透明晶体样品显微观测用样品托，其特征在于：所述的紧固件为紧锁连杆(9)的固定螺母(11)。3.根据权利要求1所述的一种非标准形状透明晶体样品显微观测用样品托，其特征在于：所述的夹紧机构包括固设于进出孔(7)中的步进电机(3)，步进电机(3)的输出端设置丝杠机构，丝杠机构的滑台上设置样品固定伸缩杆(4)，样品固定伸缩杆(4)的伸缩端设置样品...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈奇，阙晓丽，马宁，
申请(专利权)人：合肥露笑半导体材料有限公司，
类型：新型
国别省市：