本申请属于激光雷达技术领域，公开了一种调整激光雷达测距精度的方法、装置及激光雷达。通过获取激光雷达测距时对应的点云距离，根据点云距离确定用于调整激光雷达测距精度的目标参数，从而实现对激光雷达测距精度进行调整，其中目标参数包括激光功率、激光雷达接收端进光量以及激光雷达接收的激光束的能量。本申请的实施例方式能够通过调整激光功率、激光雷达接收端进光量以及激光雷达接收的激光束的能量来改善点云质量，减少出现点云波动和畸变点云的情况，从而提高了激光雷达测距精度的准确性。的准确性。的准确性。
【技术实现步骤摘要】
调整激光雷达测距精度的方法、装置及激光雷达
[0001]本申请属于激光雷达
，具体涉及一种调整激光雷达测距精度的方法、装置及激光雷达。
技术介绍
[0002]激光雷达的TOF（Time of Flight）测距法，也称为飞行时间测距法，是一种常见的激光雷达测距方法，它基于测量从激光发射器发出的激光脉冲到目标物体并返回激光接收器所需的时间来计算目标物体与激光雷达的距离。激光打在不同距离下所表现的激光能量不同，导致激光雷达在测试距离时会有不同程度的测距偏差，测试距离的精度不够准确。
技术实现思路
[0003]本申请实施例提供一种调整激光雷达测距精度的方法、装置及激光雷达，解决激光雷达测试距离精度不够准确的技术问题。
[0004]第一方面，本申请实施例提供了一种调整激光雷达测距精度的方法，包括：获取激光雷达测距时对应的点云距离；根据所述点云距离确定目标参数，所述目标参数用于调整所述激光雷达的测距精度，所述目标参数包括激光功率、激光雷达接收端进光量以及激光雷达接收的激光束的能量。
[0005]在一些实施例中，所述目标参数为所述激光功率，所述根据所述点云距离确定目标参数，包括：根据获得的点云距离和预设的第一模型计算所述点云距离对应的激光功率；其中，所述第一模型用于根据所述点云距离确定目标范围内的激光功率，当所述点云距离小于第一预设距离阈值时，减小所述激光功率，当所述点云距离大于或等于所述第一预设距离阈值时，增大所述激光功率。
[0006]在一些实施例中，获取所述第一模型；所述获取所述第一模型包括：确定采样距离和靶材；根据所述采样距离，调节所述靶材对应激光功率，并获得使所述靶材测距误差最小时的激光功率，所述测距误差最小时的激光功率记录为标定激光功率；根据所述采样距离、所述标定激光功率以及第一公式，计算所述第一模型的标定参数；根据所述标定参数和所述第一公式确定所述第一模型。
[0007]在一些实施例中，所述根据所述采样距离，调节所述靶材对应激光功率，并获得使所述靶材测距误差最小时的激光功率，包括：获取多个采样距离，以及每一采样距离对应的至少一个靶材；分别获取每一所述采样距离对应的至少一个靶材中，使每一所述靶材测距对应的距离误差最小的激光功率；根据所述靶材的权重系数和每一所述靶材对应的误差最小的激光功率，计算获得所述靶材对应的采样距离的激光功率，所述采样距离的激光功率为所述采样距离的标定激光功率。
[0008]在一些实施例中，所述目标参数为所述激光雷达接收端进光量，所述根据所述点云距离确定目标参数，包括：根据获得的点云距离和预设的第二模型计算所述点云距离对应的进光量；其中，所述第二模型用于根据所述点云距离确定目标范围内的激光雷达接收
端进光量，当所述点云距离小于第二预设距离阈值时，增大所述激光雷达接收端进光量。
[0009]在一些实施例中，获取所述第二模型；所述获取所述第二模型包括：获取测距光路理论盲区距离；根据所述测距光路理论盲区距离确定采样距离，其中所述采样距离小于或等于所述测距光路理论盲区距离；获取使测距时的光圈最小的经验进光量；确定目标靶材，并获取在所述目标靶材下使得测距精度值最高的标定光圈值；根据所述采样距离、所述经验进光量、所述标定光圈值以及第二公式，计算所述第二模型的标定参数；根据所述标定参数和所述第二公式确定所述第二模型。
[0010]在一些实施例中，当所述点云距离大于或等于所述第二预设距离阈值时，所述方法还包括：设置所述激光雷达接收端进光量为所述经验进光量。
[0011]在一些实施例中，所述目标参数为所述激光雷达接收的激光束的能量，所述根据所述点云距离确定目标参数，包括：根据获得的点云距离和预设的第三模型计算所述点云距离对应的所述激光雷达接收的激光束的能量；其中，所述第三模型用于根据所述点云距离确定目标范围内的激光功率和激光雷达接收端进光量，根据激光功率和所述激光雷达接收端进光量确定所述激光雷达接收的激光束的能量。
[0012]在一些实施例中，所述方法还包括：获取所述第三模型；所述获取所述第三模型包括：确定不同采样距离范围对应的参考靶，并根据所述参考靶的精度的最优值确定激光雷达接收的激光束的标定能量；获取所述不同采样距离范围对应的激光功率和激光雷达接收端进光量；根据所述标定能量、所述激光功率、所述激光雷达接收端进光量以及第三公式，计算所述第三模型的标定参数；根据所述标定参数和所述第三公式确定所述第三模型。
[0013]第二方面，本申请实施例提供了一种调整激光雷达测距精度的装置，包括：点云距离获取模块，用于获取激光雷达测距时对应的点云距离；测距精度调整模块，用于根据所述点云距离确定目标参数，所述目标参数用于调整所述激光雷达的测距精度，所述目标参数包括激光功率、激光雷达接收端进光量以及激光雷达接收的激光束的能量。
[0014]第三方面，本申请实施例提供了一种激光雷达，包括：至少一个处理器和存储器；所述存储器与所述处理器耦合，所述存储器用于存储指令或程序，当所述指令或程序被所述至少一个处理器执行时，使所述至少一个处理器执行上述第一方面所述的方法。
[0015]第四方面，本申请实施例提供了一种计算机存储介质，计算机存储介质存储有指令或程序，当指令或程序被激光雷达执行时，使所述激光雷达执行上述第一方面所述的方法。
[0016]第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，包括指令或程序，当指令或程序被激光雷达执行时，使激光雷达执行上述第一方面所述的方法。
[0017]在本申请实施例中，通过获取激光雷达测距时对应的点云距离，根据点云距离确定用于调整激光雷达测距精度的目标参数，从而实现对激光雷达测距精度进行调整，其中目标参数包括激光功率、激光雷达接收端进光量以及激光雷达接收的激光束的能量。本申请的实施例方式能够通过调整激光功率、激光雷达接收端进光量以及激光雷达接收的激光束的能量来改善点云质量，减少出现点云波动和畸变点云的情况，从而提高了激光雷达测距精度的准确性。
附图说明
[0018]图1是本申请实施例提供的一种基于激光雷达的应用场景示意图；图2是本申请实施例提供的一种激光雷达的结构示意图；图3是本申请实施例提供的一种调整激光雷达测距精度的方法的流程图；图4是本申请另一实施例提供的一种调整激光雷达测距精度的方法的流程图；图5是本申请又一实施例提供的一种调整激光雷达测距精度的方法的流程图；图6是本申请实施例提供的进光量随距离的变化曲线示意图；图7是本申请实施例提供的盲区内进光量随距离的变化曲线示意图；图8是本申请再一实施例提供的一种调整激光雷达测距精度的方法的流程图；图9是本申请实施例提供的一种调整激光雷达测距精度的装置的结构框图；图10是本申请实施例提供的一种激光雷达的结构示意图。
具体实施方式
[0019]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、详细的描述。显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种调整激光雷达测距精度的方法，其特征在于，包括：获取激光雷达测距时对应的点云距离；根据所述点云距离确定目标参数，所述目标参数用于调整所述激光雷达的测距精度，所述目标参数包括激光功率、激光雷达接收端进光量以及激光雷达接收的激光束的能量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标参数为所述激光功率，所述根据所述点云距离确定目标参数，包括：根据获得的点云距离和预设的第一模型计算所述点云距离对应的激光功率；其中，所述第一模型用于根据所述点云距离确定目标范围内的激光功率，当所述点云距离小于第一预设距离阈值时，减小所述激光功率，当所述点云距离大于或等于所述第一预设距离阈值时，增大所述激光功率。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述第一模型；所述获取所述第一模型包括：确定采样距离和靶材；根据所述采样距离，调节所述靶材对应激光功率，并获得使所述靶材测距误差最小时的激光功率，所述测距误差最小时的激光功率记录为标定激光功率；根据所述采样距离、所述标定激光功率以及第一公式，计算所述第一模型的标定参数；根据所述标定参数和所述第一公式确定所述第一模型。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述采样距离，调节所述靶材对应激光功率，并获得使所述靶材测距误差最小时的激光功率，包括：获取多个采样距离，以及每一采样距离对应的至少一个靶材；分别获取每一所述采样距离对应的至少一个靶材中，使每一所述靶材测距对应的距离误差最小的激光功率；根据所述靶材的权重系数和每一所述靶材对应的误差最小的激光功率，计算获得所述靶材对应的采样距离的激光功率，所述采样距离的激光功率为所述采样距离的标定激光功率。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标参数为所述激光雷达接收端进光量，所述根据所述点云距离确定目标参数，包括：根据获得的点云距离和预设的第二模型计算所述点云距离对应的进光量；其中，所述第二模型用于根据所述点云距离确定目标范围内的激光雷达接收端进光量，当所述点云距离小于第二预设距离阈值时，增大所述激光雷达接收端进光量。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述第二模型；所述获取所述第二模型包括：获取测距光路理论盲区距离；根据所述测距光路理论盲区距离确定采样距离，其中所述采样距离小于或等于所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈悦，欧阳家斌，董玉枢，
申请(专利权)人：深圳市欢创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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