一种用于半导体测试的多通道高速数据采集系统技术方案

本发明专利技术公开了一种用于半导体测试的多通道高速数据采集系统，涉及数据采集技术领域，解决了现有技术中，不能够对实时数据传输通道进行监管，以至于在数据采集过程中造成数据采集效率低的技术问题，在运行对象数量的实时控制过程中，安全预警单元对运行对象的运行进行实时安全预警，防止数据采集的运行对象存在风险，影响数据采集的效率，同时根据采集数据的安全增加了隐患；将实时运行对象进行安全预警管控后，采集监控单元对实时运行对象的采集进行监控，根据运行对象接收指令进行采集监管，将运行对象的运行效率进一步进行审核，保证运行对象的数据采集高效性。行对象的数据采集高效性。行对象的数据采集高效性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体测试的多通道高速数据采集系统


[0001]本专利技术涉及数据采集
，具体为一种用于半导体测试的多通道高速数据采集系统。

技术介绍

[0002]半导体生产流程如下：由晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试组成。半导体封装测试是指将通过测试的晶圆按照产品型号及功能需求加工得到独立芯片的过程。在多通道模式中，每个通道都合用256灰度级存放着图像中颜色元素的信息。该模式多用于特定的打印或输出。一般包括8位通道与16位通道。
[0003]但是在现有技术中，不能够对实时数据传输通道进行监管，以至于在数据采集过程中造成数据采集效率低；
[0004]为此，我们提出一种用于半导体测试的多通道高速数据采集系统。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于为了解决上述提出的问题，而提出一种用于半导体测试的多通道高速数据采集系统，在运行对象数量的实时控制过程中，安全预警单元对运行对象的运行进行实时安全预警，防止数据采集的运行对象存在风险，影响数据采集的效率，同时根据采集数据的安全增加了隐患；将实时运行对象进行安全预警管控后，采集监控单元对实时运行对象的采集进行监控，根据运行对象接收指令进行采集监管，将运行对象的运行效率进一步进行审核，保证运行对象的数据采集高效性。
[0006]本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：
[0007]一种用于半导体测试的多通道高速数据采集系统，包括采集平台，采集平台内设置有通道监管单元、数据量分析单元、安全预警单元以及采集监控单元；r/>[0008]在数据采集过程中，通道监管单元针对现有数据传输通道监管，判断当前数据采集过程中使用的通道是否满足实际需求，根据实时使用的数据传输通道作为监管对象，若当前监管对象性能监管不合格，将其进行运维；若当前监管对象性能监管合格，将其采集系统进行实时数据量分析；
[0009]在通过监管分析的监管对象投入使用后，数据量分析单元根据实时系统内数据量进行分析，根据数据量的传输采集强度推断监管对象的投入是否适合当前工作强度；在运行对象数量的实时控制过程中，安全预警单元对运行对象的运行进行实时安全预警，将实时运行对象进行安全预警管控后，采集监控单元对实时运行对象的采集进行监控。
[0010]作为本专利技术的一种优选实施方式，通道监管单元的运行过程如下：
[0011]在监管对象运行过程中获取到数据传输量增加过程中数据传输速度的浮动值，并将数据传输量增加过程中数据传输速度的浮动值标记为FZ，在数据传输量增加时，获取到监管对象内数据传输量最大可超过额定数据传输量的超出量，并将监管对象内数据传输量最大可超过额定数据传输量的超出量设置标号DC；在监管对象数据传输量超过额定数据传
输量时，监管对象内数据传输相邻周期交替时传输速度涨幅降低量，并将监管对象内数据传输相邻周期交替时传输速度涨幅降低量标记为JD；
[0012]设置公式并将上述数据代入公式计算获取到监管对象的监管系数GP；
[0013]将监管对象的监管系数GP与监管系数阈值进行比较：
[0014]若监管对象的监管系数GP大于等于监管系数阈值，则当前监管对象性能监管不合格，将其进行运维；若监管对象的监管系数GP小于监管系数阈值，则当前监管对象性能监管合格，将其采集系统进行实时数据量分析。
[0015]作为本专利技术的一种优选实施方式，其中，公式为其中，GP为监管对象的监管系数，jkl1、jkl2以及jkl3均为上述数据对应权重系数，并且均为大于1的自然数。
[0016]作为本专利技术的一种优选实施方式，数据量分析单元的运行过程如下：
[0017]将实时投入使用的监管对象标定为运行对象，在运行对象使用过程中，获取到采集平台内待采集数据量与完成采集的数据量对应比值以及采集平台内实时待采集数据增加量与运行对象实时数据可采集量的差值，并将采集平台内待采集数据量与完成采集的数据量对应比值以及采集平台内实时待采集数据增加量与运行对象实时数据可采集量的差值分别与数据量比值阈值和数据量差值阈值进行比较。
[0018]作为本专利技术的一种优选实施方式，若采集平台内待采集数据量与完成采集的数据量对应比值超过数据量比值阈值，或者采集平台内实时待采集数据增加量与运行对象实时数据可采集量的差值超过数据量差值阈值，则当前采集平台的数据采集工作强度大，将对应运行对象的数量进行实时增加；
[0019]若采集平台内待采集数据量与完成采集的数据量对应比值未超过数据量比值阈值，且采集平台内实时待采集数据增加量与运行对象实时数据可采集量的差值未超过数据量差值阈值，则当前采集平台的数据采集工作强度正常，将对应运行对象的数量进行恒定不变，并在待采集数据量增加速度降低时进行运行对象数量控制。
[0020]作为本专利技术的一种优选实施方式，安全预警单元的运行过程如下：
[0021]在运行对象实时数据采集过程中，获取到运行对象运行时同等量数据采集速度的延迟值增加速度以及不同量数据采集耗时的偏差值，并将运行对象运行时同等量数据采集速度的延迟值增加速度以及不同量数据采集耗时的偏差值分别与对应的延迟值增加速度阈值和耗时偏差值阈值进行比较：
[0022]若运行对象运行时同等量数据采集速度的延迟值增加速度超过延迟值增加速度阈值，或者不同量数据采集耗时的偏差值超过耗时偏差值阈值，则判定运行对象的运行性能存在变化，且运行性能随着运行过程降低，并将对应运行对象进行安全预警，采集平台将对应运行对象进行运维管控；
[0023]若运行对象运行时同等量数据采集速度的延迟值增加速度未超过延迟值增加速度阈值，且不同量数据采集耗时的偏差值未超过耗时偏差值阈值，则判定运行对象的运行性能不存在变化，且运行性能随着运行过程未降低。
[0024]作为本专利技术的一种优选实施方式，采集监控单元的运行过程如下：
[0025]采集到运行对象接收采集指令至完成采集阶段内无数据传输时间的总占比以及运行对象接收采集指令至完成采集阶段内数据采集卡顿的最大频率，并将运行对象接收采集指令至完成采集阶段内无数据传输时间的总占比以及运行对象接收采集指令至完成采集阶段内数据采集卡顿的最大频率分别与无数据传输时间总占比阈值和数据采集卡顿最大频率阈值进行比较。
[0026]作为本专利技术的一种优选实施方式，若运行对象接收采集指令至完成采集阶段内无数据传输时间的总占比超过无数据传输时间总占比阈值，或者运行对象接收采集指令至完成采集阶段内数据采集卡顿的最大频率超过数据采集卡顿最大频率阈值，则推断运行对象的数据采集监控存在风险，将对应运行对象的数据采集过程进行预警，并将运行对象的数据采集进行管控；
[0027]若运行对象接收采集指令至完成采集阶段内无数据传输时间的总占比未超过无数据传输时间总占比阈值，且运行对象接收采集指令至完成采集阶段内数据采集卡顿的最大频率未超过数据采集卡顿最大频率阈值，则推断运行对象的数据采集监控不存在风险，将对应运行对象的数据采集进行持续监测。
[0028]与现有技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于半导体测试的多通道高速数据采集系统，其特征在于，包括采集平台，采集平台内设置有通道监管单元、数据量分析单元、安全预警单元以及采集监控单元；在数据采集过程中，通道监管单元针对现有数据传输通道监管，判断当前数据采集过程中使用的通道是否满足实际需求，根据实时使用的数据传输通道作为监管对象，若当前监管对象性能监管不合格，将其进行运维；若当前监管对象性能监管合格，将其采集系统进行实时数据量分析；在通过监管分析的监管对象投入使用后，数据量分析单元根据实时系统内数据量进行分析，根据数据量的传输采集强度推断监管对象的投入是否适合当前工作强度；在运行对象数量的实时控制过程中，安全预警单元对运行对象的运行进行实时安全预警，将实时运行对象进行安全预警管控后，采集监控单元对实时运行对象的采集进行监控。2.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试的多通道高速数据采集系统，其特征在于，通道监管单元的运行过程如下：在监管对象运行过程中获取到数据传输量增加过程中数据传输速度的浮动值，并将数据传输量增加过程中数据传输速度的浮动值标记为FZ，在数据传输量增加时，获取到监管对象内数据传输量最大可超过额定数据传输量的超出量，并将监管对象内数据传输量最大可超过额定数据传输量的超出量设置标号DC；在监管对象数据传输量超过额定数据传输量时，监管对象内数据传输相邻周期交替时传输速度涨幅降低量，并将监管对象内数据传输相邻周期交替时传输速度涨幅降低量标记为JD；设置公式并将上述数据代入公式计算获取到监管对象的监管系数GP；将监管对象的监管系数GP与监管系数阈值进行比较：若监管对象的监管系数GP大于等于监管系数阈值，则当前监管对象性能监管不合格，将其进行运维；若监管对象的监管系数GP小于监管系数阈值，则当前监管对象性能监管合格，将其采集系统进行实时数据量分析。3.根据权利要求2所述的一种用于半导体测试的多通道高速数据采集系统，其特征在于，其中，公式为其中，GP为监管对象的监管系数，jkl1、jkl2以及jkl3均为上述数据对应权重系数，并且均为大于1的自然数。4.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试的多通道高速数据采集系统，其特征在于，数据量分析单元的运行过程如下：将实时投入使用的监管对象标定为运行对象，在运行对象使用过程中，获取到采集平台内待采集数据量与完成采集的数据量对应比值以及采集平台内实时待采集数据增加量与运行对象实时数据可采集量的差值，并将采集平台内待采集数据量与完成采集的数据量对应比值以及采集平台内实时待采集数据增加量与运行对象实时数据可采集量的差值分别与数据量比值阈值和数据量差值阈值进行比较。5.根据权利要求4所述的一种用于半导体测试的多通道高速数据采集系统，其特征在于，若采集平台内待采集数据量与完成采集的数据量对应比值超过数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈海峰，郑才忠，王跃伟，
申请(专利权)人：深圳力钛科技术有限公司，
类型：发明
国别省市：