一种LED失效自动分析系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种LED失效自动分析系统及方法，其中系统包括：参数设定模块、处理模块、测试模块、信号采集模块；其中，参数设定模块、信号采集模块、测试模块均与处理模块连接，测试模块与信号采集模块连接；参数设定模块用于根据待测样品所需的测试条件设定测试模块的工作参数并发送给处理模块；测试模块用于连接待测样品，并对待测样品进行测试；信号采集模块用于采集测试模块中待测样品的测试数据，并进行信号转换后存储数据；处理模块用于接收并保存参数设定模块发送的工作参数，向测试模块发送进行测试的指令，对信号采集模块存储的数据进行数据处理，获取待测样品故障类型。实现在不同方案的LED参数下，自动获取LED失效故障类型。类型。类型。

【技术实现步骤摘要】
一种LED失效自动分析系统及方法


[0001]本专利技术涉及信号采集及测试领域，尤其涉及一种LED失效自动分析系统及方法。

技术介绍

[0002]随着第三代半导体LED迅速发展，因为其具备节能高效的特点，逐渐替代了传统的家用灯具。市面上灯具设计方案众多，常用的LED驱动电源大多采用非隔离恒流驱动方案，对LED的保护功能极少。当出现故障后，大部分金线、晶片已经严重损毁。目前，针对损毁原因的查找问题，只能通过倒推的方法进行逐步地分析，将不良品维修后采用示波器分析电源工作状态，查看整灯参数，通过溶解LED胶水，采用放大装置观看损坏部位来倒推判断损坏的过程和原因。对不良方案进行修复后老化不能实时监测整个方案状态以及LED内部状态。一旦出现损坏往往只有千分之几面的时间，无法看到损坏的过程，必须要有经验丰富的工程师通过现象进行反推分析，导致效率极低，且分析准确率低。

技术实现思路

[0003]为了解决
技术介绍
种存在的问题，本专利技术提供了一种LED失效自动分析系统及方法，其中系统解决对LED失效时，根据不同方案下LED灯珠与驱动电源的各项参数，确定LED失效点及失效原因。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术所采用的技术方案如下：
[0005]第一方面，一种LED失效自动分析系统，包括：参数设定模块、处理模块、测试模块、信号采集模块；其中，参数设定模块、信号采集模块、测试模块均与处理模块连接，测试模块与信号采集模块连接；
[0006]所述参数设定模块用于根据待测样品所需的测试条件设定测试模块的工作参数，并将工作参数发送给处理模块；
[0007]所述测试模块用于连接待测样品，并按照处理模块发送的工作参数对待测样品进行测试；
[0008]所述信号采集模块用于采集测试模块中待测样品的测试数据，并进行信号转换后存储数据；
[0009]所述处理模块用于接收并保存参数设定模块发送的工作参数，向测试模块发送进行测试的指令，对信号采集模块存储的数据进行数据处理，获取待测样品的故障类型。
[0010]进一步地，参数设定模块设定的工作参数包括工作模式、供电电压、供电电流、样品测试区的环境温度、湿度、灯板温度。
[0011]进一步地，测试模块包括依次连接的驱动控制单元、样品测试区、信号检测端口，其中驱动控制单元与处理模块连接，信号检测端口与信号采集模块连接。
[0012]进一步地，信号采集模块包括依次连接的信号检测单元、滤波转换单元、采集内存；其中，信号检测单元与测试模块连接，采集内存与处理模块连接。
[0013]进一步地，处理模块包括波形解析单元、失效分析单元、处理单元，其中，处理单元
连接失效分析单元、参数设定模块、测试模块，波形解析单元与失效分析单元连接。
[0014]进一步地，还包括显示模块，所述显示模块与处理模块连接。
[0015]具体实施时，用户在测试模块中的样品测试区完成LED待测样品的连接，通过参数设定模块设定LED待测样品所需测试条件的工作参数：工作模式(包括：恒压模式、恒流模式、脉冲电流模式)、供电电压、恒流电流、样品测试区的环境温度、湿度、灯板温度，参数设定模块将用户设定的工作参数发送给处理模块。由处理模块的处理单元保存并发送给测试模块，同时处理单元发送驱动测试模块进行测试的指令。测试模块的驱动控制单元接收到进行测试的指令后，使样品测试区提供用户设定的工作参数的测试条件进行测试。信号采集模块中的信号检测单元与测试模块的信号检测端口连接，获取待测样品的模拟电信号数据，包括工作电压、工作电流、金线阻抗、芯片阻抗。模拟电信号数据由滤波转换单元进行滤波、转换为数字信号，并存储在采集内存中。处理模块中波形解析单元获取采集内存中的数据并进行解析，获取时间轴上工作电压、工作电流、金线阻抗、芯片阻抗的数据，同时根据处理单元保存的工作参数匹配失效分析单元内部数据库中样品正常工作时工作电压、工作电流、金线阻抗、芯片阻抗的数据，将待测样品的测试时的各项性能指标与正常工作时的各项新能指标进行比较，当若各项性能指标的波动值在预设范围内，则判断信号正常，输出正常数据；若各项性能指标的波动值超出预设范围，则判断信号异常，输出异常数据。处理模块的失效分析单元对波形解析单元输出的数据进行判断，若为正常数据则直接发送给处理单元；若为异常数据，则将异常数据与设定的工作参数对应的正常数据进行比对分析，自动保留异常部分的数据，并将异常部分的数据转换后发送给处理模块的处理单元；处理模块的处理单元针对失效单元发送的数据进行处理：若为正常数据，则直接输出正常，并通过显示模块进行显示；若为异常部分的数据，则将异常部分的数据与处理模块中LED故障模型库存储的故障类型进行匹配：若匹配成功，则输出故障类型，并通过显示模块进行显示；若匹配失败，则输出新故障至显示模块，并存储为新故障数据，待人工进行分析后确定故障类型后，存储至LED故障模型库中，便于下次检测到相同故障数据时就能够自动判断故障类型。
[0016]第二方面，本专利技术提供了一种LED失效自动分析方法，包括：
[0017]S1：将待测样品连接于测试模块中，用户根据待测样品所需的测试条件，在参数设定模块中设定测试相应的工作参数；
[0018]S2：参数设定模块将工作参数发送给处理模块，处理模块接收并保存工作参数，同时将工作参数发送给测试模块，并发送驱动测试模块进行测试的指令；
[0019]S3：测试模块接收指令后，按照设定的工作参数开始测试；
[0020]S4：信号采集模块采集测试模块中待测样品的测试参数，并进行信号转换、存储；
[0021]S5：处理模块获取信号采集模块内存储的数据，并对数据进行处理，得到待测样品的故障类型。
[0022]进一步地，S5中对数据进行处理的具体过程过程包括：
[0023]S51：通过处理模块的波形解析单元对数据进行波形解析，并输出解析数据；
[0024]S52：利用处理模块的失效分析单元对解析数据进行分析得到待测样品的匹配情况，进而处理单元根据匹配情况进行处理得到最终的结果。
[0025]更进一步地，S51的具体过程为：
[0026]处理模块的波形解析单元对数据进行波形解析，根据解析后的波形获取待测样品
测试时的各项性能指标；
[0027]处理模块根据保存的工作参数匹配正常工作的指标数据，并将测试时的各项性能指标与正常工作的指标数据进行比较，若各项性能指标的波动值在预设范围内，则判断信号正常，输出正常数据；若各项性能指标的波动值超出预设范围，则判断信号异常，输出异常数据。
[0028]更进一步地，S52的具体过程为：
[0029]处理模块的失效分析单元对波形解析单元输出的数据进行判断，若为正常数据则直接发送给处理单元；若为异常数据，则将异常数据与设定的工作参数对应的正常数据进行比对分析，自动保留异常部分的数据，并将异常部分的数据转换后发送给处理模块的处理单元；
[0030]处理模块的处理单元针对失本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED失效自动分析系统，其特征在于，包括：参数设定模块、处理模块、测试模块、信号采集模块；其中，参数设定模块、信号采集模块、测试模块均与处理模块连接，测试模块与信号采集模块连接；所述参数设定模块用于根据待测样品所需的测试条件设定测试模块的工作参数，并将工作参数发送给处理模块；所述测试模块用于连接待测样品，并按照处理模块发送的工作参数对待测样品进行测试；所述信号采集模块用于采集测试模块中待测样品的测试数据，并进行信号转换后存储数据；所述处理模块用于接收并保存参数设定模块发送的工作参数，向测试模块发送进行测试的指令，对信号采集模块存储的数据进行数据处理，获取待测样品的故障类型。2.根据权利要求1所述的LED失效自动分析系统，其特征在于，参数设定模块设定的工作参数包括工作模式、供电电压、供电电流、样品测试区的环境温度、湿度、灯板温度。3.根据权利要求1所述的LED失效自动分析系统，其特征在于，测试模块包括依次连接的驱动控制单元、样品测试区、信号检测端口，其中驱动控制单元与处理模块连接，信号检测端口与信号采集模块连接。4.根据权利要求1所述的LED失效自动分析系统，其特征在于，信号采集模块包括依次连接的信号检测单元、滤波转换单元、采集内存；其中，信号检测单元与测试模块连接，采集内存与处理模块连接。5.根据权利要求1所述的LED失效自动分析系统，其特征在于，处理模块包括波形解析单元、失效分析单元、处理单元，其中，处理单元连接失效分析单元、参数设定模块、测试模块，波形解析单元与失效分析单元连接。6.根据权利要求1所述的LED失效自动分析系统，其特征在于，还包括显示模块，所述显示模块与处理模块连接。7.一种LED失效自动分析方法，其特征在于，包括：S1：将待测样品连接于测试模块中，用户根据待测样品所需的测试条件，在参数设定模块中设定测试相应的工作参数；S2：参数设定模块将工作参数发送给处理模块，处理模块接收并保存...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘德权，汪荣华，
申请(专利权)人：湖南普斯赛特光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：