通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法技术

本发明专利技术公开一种通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法，其包括通过分光光度计测出未镀膜基底的未镀膜透过曲线、及镀膜材料的单层镀膜透过曲线；获取未镀膜基底的透过率，其中未镀膜基底的透过率为取单层镀膜透过曲线的极值点对应的未镀膜透过曲线于相应波长下的透过率；计算未镀膜基底的单面反射率系数；计算未镀膜基底的折射率；获取镀膜材料的透过率，其中镀膜材料的透过率为单层镀膜透过曲线的极值点于相应波长下的透过率；计算镀膜材料的最值透过率系数；计算镀膜材料的折射率。本发明专利技术基于光学薄膜原理，实现获得对单层镀膜材料的精确折射率的计算过程和公式，该方法对于光学介质薄膜分析具有普适性。方法对于光学介质薄膜分析具有普适性。方法对于光学介质薄膜分析具有普适性。

【技术实现步骤摘要】
通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法


[0001]本专利技术涉及光学镀膜
，具体涉及一种通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法。

技术介绍

[0002]为了得到光学镀膜的分光要求，就需要先进行膜系设计，而膜系设计的第一步就是要把握光学镀膜材料的折射率，由于折射率的把握越精确，设计出来的膜系与镀膜结果才越接近，若要达到设计的膜系曲线与镀膜后的膜系曲线高度重合，就要把握更为精确的光学镀膜材料的折射率测算方法，因此，计算获得镀膜材料的折射率是至关重要的。然而，现有的测算方法主要依靠美国等国外进口软件，由于国外进口软件在权限控制等方面多有限制，导致企业无法自主升级折射率计算方法和系统，因此迫切需要研发一种具有高精度的折射率计算方法。

技术实现思路

[0003]为了克服上述技术问题，本专利技术公开了一种通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法。
[0004]本专利技术为实现上述目的所采用的技术方案是：
[0005]一种通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法，其包括以下步骤：
[0006]步骤1，通过分光光度计测出未镀膜基底的未镀膜透过曲线、以及镀膜材料的单层镀膜透过曲线；
[0007]步骤2，获取所述未镀膜基底的透过率T
0λ1
，T
0λ2
，
……
T
0λn
，其中所述未镀膜基底的透过率为取所述单层镀膜透过曲线的极值点对应的所述未镀膜透过曲线于相应波长下的透过率；<br/>[0008]步骤3，计算所述未镀膜基底的单面反射率系数R
0λ1
，R
0λ2
，
……
R
0λn
；
[0009]步骤4，计算所述未镀膜基底的折射率Ns
λ1
，Ns
λ2
，
……
Ns
λn
；
[0010]步骤5，获取所述镀膜材料的透过率E
λ1
，E
λ2
，
……
E
λn
，其中所述镀膜材料的透过率为所述单层镀膜透过曲线的极值点于相应波长下的透过率；
[0011]步骤6，计算所述镀膜材料的最值透过率系数T
Eλ1
，T
Eλ2
，
……
T
Eλn
，其中所述镀膜材料的最值透过率系数为所述单层镀膜透过曲线达到极值点时的最值透过率系数；
[0012]步骤7，计算所述镀膜材料的折射率N
fλ1
，N
fλ2
，
……
N
fλn
。
[0013]上述的通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法，其中在所述步骤3中，所述未镀膜基底的单面反射率系数的计算公式为：
[0014][0015][0016]……
[0017][0018]其中，所述T
0λ1
，T
0λ2
，
……
T
0λn
为所述未镀膜基底的透过率。
[0019]上述的通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法，其中在所述步骤4中，所述未镀膜基底的折射率的计算公式为：
[0020][0021][0022]……
[0023][0024]其中，所述R
0λ1
，R
0λ2
，
……
R
0λn
为所述未镀膜基底的单面反射率系数。
[0025]上述的通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法，其中在所述步骤6中，所述镀膜材料的最值透过率系数的计算公式为：
[0026]T
Eλ1
＝E
λ1
×
0.01
[0027]T
Eλ2
＝E
λ2
×
0.01
[0028]……
[0029]T
Eλn
＝E
λn
×
0.01
[0030]其中，所述E
λ1
，E
λ2
，
……
E
λn
为所述镀膜材料的透过率。
[0031]上述的通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法，其中在所述步骤7中，所述镀膜材料的折射率的计算公式为：
[0032][0033][0034]……
[0035][0036]其中，所述N0为空气折射率，所述Ns
λ1
，Ns
λ2
，
……
Ns
λn
为所述未镀膜基底的折射率，所述T
Eλ1
，T
Eλ2
，
……
T
Eλn
为所述镀膜材料的最值透过率系数。
[0037]本专利技术的有益效果为：本专利技术提供的通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法，通过测算未镀膜基底的未镀膜透过曲线和镀膜材料的单层镀膜透过曲线，找出单层镀膜透过曲线的极值点于相应波长下的透过率、及其对应的所述未镀膜透过曲线于相应波长下的透过率，计算所述未镀膜基底的单面反射率系数和折射率，以及计算所述镀膜材料的最值透过率系数，最终计算获得所述镀膜材料的折射率，以实现获得对单层镀膜材料的精确折射率的计算过程和公式，该方法对于光学介质薄膜分析具有普适性。
附图说明
[0038]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。
[0039]图1为本专利技术中实施例1的未镀膜基底和镀膜材料的透过曲线示意图。
具体实施方式
[0040]下面通过具体实施例对本专利技术作进一步说明，以使本专利技术技术方案更易于理解、掌握，而非对本专利技术进行限制。
[0041]本专利技术提供的一种通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法，其包括以下步骤：
[0042]步骤1，通过分光光度计测出未镀膜基底的未镀膜透过曲线、以及镀膜材料的单层镀膜透过曲线；所述未镀膜基底为平面玻璃基底；
[0043]步骤2，获取所述未镀膜基底的透过率T
0λ1
，T
0λ2
，
……
T
0λn
，其中所述未镀膜基底的透过率为取所述单层镀膜透过曲线的极值点(镀膜材料与平面玻璃基底折射率相比较，镀膜材料的折射率高取谷极值点，镀膜材料的折射率低取峰极值点)对应的所述未镀膜透过曲线于相应波长下的透过率；具体地，与所述未镀膜基底的未镀膜透过曲线相比，于所述镀膜材料的单层镀膜透过曲线中较高透过率处取峰极值点，于所述镀膜材料的单层镀膜透过曲线中较低透过率处取谷极值点；在本实施例中所述单层镀膜透过曲线的极值点以谷极值点作为极值点；
[0044]步骤3，计算所述未镀膜基底的单面反射率系数R
0λ1
，R<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法，其特征在于，其包括以下步骤：步骤1，通过分光光度计测出未镀膜基底的未镀膜透过曲线、以及镀膜材料的单层镀膜透过曲线；步骤2，获取所述未镀膜基底的透过率T
0λ1
，T
0λ2
，
……
T
0λn
，其中所述未镀膜基底的透过率为取所述单层镀膜透过曲线的极值点对应的所述未镀膜透过曲线于相应波长下的透过率；步骤3，计算所述未镀膜基底的单面反射率系数R
0λ1
，R
0λ2
，
……
R
0λn
；步骤4，计算所述未镀膜基底的折射率Ns
λ1
，Ns
λ2
，
……
Ns
λn
；步骤5，获取所述镀膜材料的透过率E
λ1
，E
λ2
，
……
E
λn
，其中所述镀膜材料的透过率为所述单层镀膜透过曲线的极值点于相应波长下的透过率；步骤6，计算所述镀膜材料的最值透过率系数T
Eλ1
，T
Eλ2
，
……
T
Eλn
，其中所述镀膜材料的最值透过率系数为所述单层镀膜透过曲线达到极值点时的最值透过率系数；步骤7，计算所述镀膜材料的折射率N
fλ1
，N
fλ2
，
……
N
fλn
。2.根据权利要求1所述的通过分光光度计测出透过率计算镀膜材料折射率的方法，其特征在于，在所述步骤3中，所述未镀膜基底的单面反射率系数的计算公式为：特征在于，在所述步骤3中，所述未镀膜基底的单面反射率系数的计算公式为：
……
其中，所述T
0λ1
，T<...

【专利技术属性】
技术研发人员：周荣铿，
申请(专利权)人：贵州铜仁旭晶光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：