多通道纳米孔测量信号产生电路制造技术

技术编号:38332308 阅读:10 留言:0更新日期:2023-07-29 09:15
本发明专利技术公开了一种多通道纳米孔测量信号产生电路,包括依次连接的信号发生电路和数模转换电路,还包括至少一与数模转换电路的输出端连接的选通控制电路,所述选通控制电路包括控制器和至少一多路复用开关,所述多路复用开关中每一路开关的两端分别连接数模转换电路和一纳米孔通道,所述控制器与多路复用开关连接,以控制多路复用开关中的每一路开关依次分时段循环导通,从而给多路纳米孔通道提供DA电压。本发明专利技术采用分时复用方式选通多路复用开关中的开关,以使得多路开关错开导通,使用一个信号发生电路和数模转换电路即可实现给多路纳米孔通道提供DA电压,多通道纳米孔测量时不需设置大量相同结构的芯片群电路,结构简单且成本较低。成本较低。成本较低。

【技术实现步骤摘要】
多通道纳米孔测量信号产生电路


[0001]本专利技术涉及一种多通道纳米孔测量信号产生电路。

技术介绍

[0002]现有技术中,通常采用生物溶液灌注于生物芯片槽中进行生物芯片槽中纳米孔的测量,因生物溶液是带电离子溶液,所以槽的上下端需使用阴阳两个电极,再通过给予电极不同的电压差,才能让带电物质在槽中运动形成电流,电流被感应从而用于相关物质的测量,因此纳米孔测量中需要给予纳米孔两极可控大小的DA电压。
[0003]而为了追求高通量,生物芯片槽中通常有成百上千的纳米孔通道,目前,在每个通道都设置单独可控的DA电压以实现对多路纳米孔通道的测量,则进行多路纳米孔通道测量提供DA电压时需要非常多的DA芯片,然而,芯片非常多会使得连接接口的信号线多,造成设计环节和制造环节高昂的费用和超长的硬件迭代时间,且芯片多会导致整个测量信号产生电路的PCB板巨大,使得产品体积巨大,同时会造成复杂的电磁环境,芯片间容易产生信号间的干扰。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种电路结构简单、成本较低且可减少电磁干扰的多通道纳米孔测量信号产生电路。
[0005]为解决上述技术问题,本专利技术提供一种多通道纳米孔测量信号产生电路,包括依次连接的信号发生电路和数模转换电路,还包括至少一与数模转换电路的输出端连接的选通控制电路,所述选通控制电路包括控制器和至少一多路复用开关,所述多路复用开关中每一路开关的两端分别连接数模转换电路和一纳米孔通道,所述控制器与多路复用开关连接,以控制多路复用开关中的每一路开关依次分时段循环导通,从而给多路纳米孔通道提供DA电压。
[0006]其进一步技术方案为:所述多通道纳米孔测量信号产生电路还包括有保持电路,所述保持电路包括多个电容,每一所述电容的一端连接于一路开关和与该路开关连接的纳米孔通道之间,另一端接地。
[0007]其进一步技术方案为:所述多通道纳米孔测量信号产生电路还包括有连接于数模转换电路和多路复用开关之间的运放电路。
[0008]其进一步技术方案为:所述信号发生电路还与控制器连接,以根据来自控制器的信号形成测量信号。
[0009]其进一步技术方案为:所述多路复用开关采用型号为ADG1208的复用芯片。
[0010]其进一步技术方案为:所述选通控制电路的数量为一,每一所述选通控制电路包括一多路复用开关。
[0011]与现有技术相比,本专利技术多通道纳米孔测量信号产生电路中信号发生电路产生数字测量信号,数字测量信号经数模转换电路后通过选通控制电路连接纳米孔通道,以为纳
米孔通道提供测量DA电压,本专利技术选通控制电路包括有多路复用开关和控制器,多路复用开关中的每一路开关连接数模转换电路和一纳米孔通道,通过控制器控制多路复用开关中的每一路开关依次分时段循环导通,从而给多路纳米孔通道提供DA电压,即采用分时复用方式选通多路复用开关中的开关,以使得多路开关错开导通,使用一个信号发生电路、数模转换电路和选通控制电路即可实现给多路纳米孔通道提供DA电压,多通道纳米孔测量时不需设置大量相同结构的芯片群电路,从根本上解决了现有多通道纳米孔测量信号产生电路芯片数量庞大、体积庞大笨重以及芯片间信号互相干扰的问题,且电路结构简单,成本较低。
附图说明
[0012]图1是本专利技术多通道纳米孔测量信号产生电路一具体实施例的电路结构示意图。
[0013]图2是本专利技术多通道纳米孔测量信号产生电路中各路纳米孔通道测量信号的示意图。
具体实施方式
[0014]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0015]参照图1,图1为本专利技术多通道纳米孔测量信号产生电路10一具体实施例的电路结构示意图。在附图所示的实施例中,本专利技术多通道纳米孔测量信号产生电路10包括依次连接的信号发生电路11和数模转换电路12,还包括至少一与数模转换电路12的输出端连接的选通控制电路,所述选通控制电路包括控制器141和至少一多路复用开关142,所述多路复用开关142中每一路开关的两端分别连接数模转换电路12和一纳米孔通道,所述控制器141与多路复用开关142连接,以控制多路复用开关142中的每一路开关依次分时段循环导通,从而给多路纳米孔通道提供DA电压。优选地,本实施例中,所述控制器141可采用单片机、ARM或DSP等控制芯片,以精确地控制时刻下开关的切换导通。
[0016]具体地,本实施例中,所述选通控制电路的数量为一,每一所述选通控制电路包括一多路复用开关142,即本实施例中多路纳米孔通道共用一个控制器141和一个多路复用开关142,只需要根据控制器141的控制信号按顺序错开导通多路复用开关142中的开关即可实现对多路纳米孔通道的电压提供。可理解地,在某些其他实施例中,可根据纳米孔通道的数量增加选通控制电路和/或多路复用开关142的数量,即当不足以支持太多纳米孔通道的复用时,可以增加选通控制电路和/或多路复用开关142的数量,同时将多路纳米孔通道分为多组,每一组分时复用同一选通控制电路和/或多路复用开关142,比如若有1000路纳米孔通道需要提供DA电压进行测量,则可以分为十组,每组有100路纳米孔通道共用同一选通控制电路,且其中该组中的纳米孔通道还可以再细分为小组,每小组共用一个多路复用开关142,可节省资源,不需针对一路纳米孔通道设置一个信号发生电路11和数模转换电路12,不需设置大量相同结构的芯片群电路,从根本上解决现有多通道纳米孔测量信号产生电路10中芯片数量庞大、体积庞大笨重以及DA芯片间信号互相干扰的问题,电路结构简单,
成本较低。
[0017]进一步地,所述多通道纳米孔测量信号产生电路10还包括有连接于数模转换电路12和多路复用开关142之间的运放电路13,且本实施例中,所述信号发生电路11还与控制器141连接,以根据来自控制器141的信号形成测量信号。可理解地,所述信号发生电路11、数模转换电路12以及运放电路13均为本领域技术人员常用的电路模块,在此不再赘述。
[0018]优选地,本实施例中,所述多路复用开关142采用型号为ADG1208的复用芯片,而在某些其他实施例中,还可采用可实现相同复用功能的其他型号的复用芯片(例如型号为CD4053的复用芯片等),以配合控制器141实现测量信号的分时复用。如图1所示,本实施例中,多路复用开关142中开关S1、开关S2和开关S3均与控制器141连接,且所述开关S1连接运放电路13和纳米孔通道CH1,开关S2连接运放电路13和纳米孔通道CH2,开关S3连接运放电路13和纳米孔通道CH3,信号发生电路11中产生的测量信号经数模转换电路12、运放电路13后分别经选通控制电路中的开关S1、开关S2和开关S3给纳米孔通道CH1、纳米孔通道CH2和纳米孔通道CH3提供DA本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多通道纳米孔测量信号产生电路,包括依次连接的信号发生电路和数模转换电路,其特征在于:还包括至少一与数模转换电路的输出端连接的选通控制电路,所述选通控制电路包括控制器和至少一多路复用开关,所述多路复用开关中每一路开关的两端分别连接数模转换电路和一纳米孔通道,所述控制器与多路复用开关连接,以控制多路复用开关中的每一路开关依次分时段循环导通,从而给多路纳米孔通道提供DA电压。2.如权利要求1所述的多通道纳米孔测量信号产生电路,其特征在于:所述多通道纳米孔测量信号产生电路还包括有保持电路,所述保持电路包括多个电容,每一所述电容的一端连接于一路开关和与该路开关连接的纳...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘炬坪卓国峰
申请(专利权)人:深圳市梅丽纳米孔科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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