本申请公开一种芯片布局合法化检测方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取各单元对应的待检测边缘信息，并确定所述待检测边缘信息对应的边缘范围；根据所述边缘范围，确定检测窗口；根据所述检测窗口，确定各所述检测窗口内的单元分布信息，并根据所述单元分布信息，确定芯片布局合法化检测结果。通过获取芯片中各单元对应的待检测边缘信息确定相应的边缘范围，进而对各单元生成相应的检测窗口，检测窗口可确定相应范围内的单元分布信息，进而确定芯片单元布局的合法化检测结果，可提升针对单元边缘违规现象的芯片布局合法化检测的有效性及效率。化检测的有效性及效率。化检测的有效性及效率。
【技术实现步骤摘要】
芯片布局合法化检测方法、装置、电子设备及存储介质
[0001]本申请涉及集成电路设计的
，具体地涉及一种芯片布局合法化检测方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
[0002]在集成电路设计领域，涉及总体布局、合法化布局和详细布局三个阶段，在合法化布局阶段，需要确定各单元是否符合相应的布局合法性，即单元边缘是否出现不符合设计规程的违规问题。单元边缘违规指可能产生违规的单元相邻放置的现象，分为水平方向和竖直方向两类。
[0003]当前，对于超大规模的集成电路设计，芯片尺寸显著缩小，对于混合行高单元布局，缺乏有效的布局检测手段和工具，因此，提升针对单元边缘违规现象的芯片布局合法化检测的有效性尤为重要。
[0004]本
技术介绍
描述的内容仅为了便于了解本领域的相关技术，不视作对现有技术的承认。
技术实现思路
[0005]因此，本专利技术实施例意图提供一种芯片布局合法化检测方法、装置、电子设备及存储介质，以通过获取芯片中各单元对应的待检测边缘信息确定相应的边缘范围，进而对各单元生成相应的检测窗口，检测窗口可确定相应范围内的单元分布信息，进而确定芯片单元布局的合法化检测结果，可提升针对单元边缘违规现象的芯片布局合法化检测的有效性及效率。
[0006]在第一方面，本专利技术实施例提供了一种芯片布局合法化检测方法，所述方法包括：
[0007]获取各单元对应的待检测边缘信息，并确定所述待检测边缘信息对应YFZN2022041A的边缘范围；
[0008]根据所述边缘范围，确定检测窗口；
[0009]根据所述检测窗口，确定各所述检测窗口内的单元分布信息，并根据所述单元分布信息，确定芯片布局合法化检测结果。
[0010]作为一种可选的实施方式，所述获取各单元对应的待检测边缘信息，并确定所述待检测边缘信息对应的边缘范围，包括：
[0011]获取各单元对应的初始边缘信息；
[0012]对各所述单元执行第一方向和/或第二方向的翻转处理，并获取所述翻转处理后的目标边缘信息；
[0013]将所述初始边缘信息和/或所述目标边缘信息，作为待检测边缘信息；
[0014]根据所述待检测边缘信息，确定所述待检测边缘信息对应的边缘范围。
[0015]作为一种可选的实施方式，所述根据所述待检测边缘信息，确定所述待检测边缘信息对应的边缘范围，包括：
[0016]根据所述待检测边缘信息，确定多个边缘类型；
[0017]确定各所述边缘类型对应的边缘空间，以及，确定各所述边缘类型之间的目标距离；
[0018]将所述边缘空间及所述目标距离作为所述边缘范围。
[0019]作为一种可选的实施方式，所述根据所述边缘范围，确定检测窗口，包括：
[0020]根据所述边缘范围，确定对应单元的单元信息；所述单元信息包括以下一种或多种：第一坐标、第二坐标、第一边缘位置、第二边缘位置、第一高度和第二高度；
[0021]根据所述单元信息，确定检测窗口信息；所述检测窗口信息包括以下一种或多种：第三坐标、第四坐标、窗口宽度和窗口高度；
[0022]根据所述检测窗口信息，确定检测窗口。
[0023]作为一种可选的实施方式，所述第三坐标是通过以下方式确定出的：
[0024]根据所述第一坐标和所述第一边缘位置之和，确定所述第三坐标；
[0025]以及，所述第四坐标是通过以下方式确定出的：
[0026]根据所述第二坐标和所述第一高度之和，确定所述第四坐标；YFZN2022041A
[0027]以及，所述窗口宽度是通过以下方式确定出的：
[0028]根据所述第二边缘位置和所述第一边缘位置之差，确定所述窗口宽度；
[0029]以及，所述窗口高度是通过以下方式确定出的：
[0030]根据所述第二高度，确定所述窗口高度。
[0031]作为一种可选的实施方式，所述根据所述检测窗口，确定各所述检测窗口内的单元分布信息，包括：
[0032]根据所述检测窗口，确定检测位图；
[0033]根据所述检测位图，确定所述检测窗口范围内的单元个数及单元类型，作为单元分布信息；
[0034]所述根据所述单元分布信息，确定芯片布局合法化检测结果，包括：
[0035]若所述单元个数和/或单元类型不符合预设条件，则确定出芯片不符合布局合法化条件。
[0036]在本专利技术实施例中，在第二方面，提供一种芯片布局合法化检测装置，所述装置包括：
[0037]边缘确定模块，用于获取各单元对应的待检测边缘信息，并确定所述待检测边缘信息对应的边缘范围；
[0038]窗口确定模块，用于根据所述边缘范围，确定检测窗口；
[0039]合法化检测模块，用于根据所述检测窗口，确定各所述检测窗口内的单元分布信息，并根据所述单元分布信息，确定芯片布局合法化检测结果。
[0040]作为一种可选的实施方式，所述边缘确定模块获取各单元对应的待检测边缘信息，并确定所述待检测边缘信息对应的边缘范围的具体方式，包括：
[0041]获取各单元对应的初始边缘信息；
[0042]对各所述单元执行第一方向和/或第二方向的翻转处理，并获取所述翻转处理后的目标边缘信息；
[0043]将所述初始边缘信息和/或所述目标边缘信息，作为待检测边缘信息；
[0044]根据所述待检测边缘信息，确定所述待检测边缘信息对应的边缘范围。
[0045]作为一种可选的实施方式，所述边缘确定模块根据所述待检测边缘信息，确定所述待检测边缘信息对应的边缘范围的具体方式，包括：
[0046]YFZN2022041A
[0047]根据所述待检测边缘信息，确定多个边缘类型；
[0048]确定各所述边缘类型对应的边缘空间，以及，确定各所述边缘类型之间的目标距离；
[0049]将所述边缘空间及所述目标距离作为所述边缘范围。
[0050]作为一种可选的实施方式，所述窗口确定模块根据所述边缘范围，确定检测窗口的具体方式，包括：
[0051]根据所述边缘范围，确定对应单元的单元信息；所述单元信息包括以下一种或多种：第一坐标、第二坐标、第一边缘位置、第二边缘位置、第一高度和第二高度；
[0052]根据所述单元信息，确定检测窗口信息；所述检测窗口信息包括以下一种或多种：第三坐标、第四坐标、窗口宽度和窗口高度；
[0053]根据所述检测窗口信息，确定检测窗口。
[0054]作为一种可选的实施方式，
[0055]所述第三坐标是通过所述窗口确定模块根据以下方式确定出的：
[0056]根据所述第一坐标和所述第一边缘位置之和，确定所述第三坐标；
[0057]以及，所述第四坐标是通过所述窗口确定模块根据以下方式确定出的：
[0058]根据所述第二坐标和所述第一高度之和，确定所述第四坐标；
[0059]以及，所述窗口宽度是通过所本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片布局合法化检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取各单元对应的待检测边缘信息，并确定所述待检测边缘信息对应的边缘范围；根据所述边缘范围，确定检测窗口；根据所述检测窗口，确定各所述检测窗口内的单元分布信息，并根据所述单元分布信息，确定芯片布局合法化检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取各单元对应的待检测边缘信息，并确定所述待检测边缘信息对应的边缘范围，包括：获取各单元对应的初始边缘信息；对各所述单元执行第一方向和/或第二方向的翻转处理，并获取所述翻转处理后的目标边缘信息；将所述初始边缘信息和/或所述目标边缘信息，作为待检测边缘信息；根据所述待检测边缘信息，确定所述待检测边缘信息对应的边缘范围。3.根据权利要求2所述的方法，所述根据所述待检测边缘信息，确定所述待检测边缘信息对应的边缘范围，包括：根据所述待检测边缘信息，确定多个边缘类型；确定各所述边缘类型对应的边缘空间，以及，确定各所述边缘类型之间的目标距离；将所述边缘空间及所述目标距离作为所述边缘范围。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述边缘范围，确定检测窗口，包括：根据所述边缘范围，确定对应单元的单元信息；所述单元信息包括以下一种或多种：第一坐标、第二坐标、第一边缘位置、第二边缘位置、第一高度和第二高度；根据所述单元信息，确定检测窗口信息；所述检测窗口信息包括以下一种或多种：第三坐标、第四坐标、窗口宽度和窗口高度；根据所述检测窗口信息，确定检测窗口。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第三坐标是通过以下方式确定出的：根据所述第一坐标和所述第一边缘位置之和，确定所述第三坐标；以及，所述第四坐标是通过以下方式确定出的：根据所述第二坐标和所述第一高度之和，确定所述第四坐标；以及，所述窗口宽度是通过以下方式确定出的：根据所述第二边缘...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾铮，邹鹏，蒋宁欢，
申请(专利权)人：上海立芯软件科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。