本发明专利技术公开了一种分布式丝线光纤微弯测试方法、测试系统及测试装置，包括丝线固定金属底板和上压金属板，丝线固定金属底板表面安装丝线，丝线固定金属底板两侧有锁紧螺丝和销钉，受试光纤以与丝线布置方向相垂直的方式设于丝线表面，将上压金属板压在丝线固定金属底板表面，上压金属板对受试光纤施压产生微弯，通过在上压金属板上增加配重获得所需测试的光纤点压力，通过调整丝线直径、数量和光纤受力重量来测试不同条件下的光纤微弯敏感性。通过上述方式，本发明专利技术结构简单、操作方便，能够更精准定性光纤微弯时的附加衰减变化，判断光纤是否拥有良好微弯不敏感性能，对光纤微弯敏感性进行有效测量，并具体评估光纤微弯敏感性能。能。能。
【技术实现步骤摘要】
分布式丝线光纤微弯测试方法、测试系统及测试装置
[0001]本专利技术涉及光纤微弯附加损耗测试
，特别是涉及一种分布式丝线光纤微弯测试方法、测试系统及测试装置。
技术介绍
[0002]光纤的光学性能除了常规的性能指标以外，还有部分定性的指标，光纤微弯损耗就是其中一个，它反映了光纤抗环境中外力造成的光纤损耗问题。光纤微弯损耗的累计可以导致光纤传输整体损耗的增加，最终影响光纤通信链路的各项传输性能。
[0003]微弯损耗是由于光纤轴线方向微小的畸变造成的损耗，这些轴线方向上微小的畸变是由于光纤受到不均匀的应力作用。而不同的光纤对微弯的敏感性不同，要衡量其敏感性差异程度，就要对光纤微弯附加损耗进行测试。
[0004]然而，由于光纤微弯的变形量或者弯曲半径极小，并且有一定的随机性，在光纤微弯附加损耗的测试方法中最难的是要能模拟光纤产生微弯的场景，并且要求操作简单、有重复性，这是一直以来困扰光纤测试业界的难题。
[0005]目前光纤的微弯敏感性测量方法主要有：1、可膨胀圆筒法：在一个圆筒上覆一层砂纸，把光纤绕在上面，然后将光纤加热膨胀，看其衰减特性曲线；2、固定直径圆筒法：在一个直径固定的圆筒上绕上光纤，然后将光纤加热膨胀，看其衰减特性曲线；3、金属网格法：将金属网格放在被固定的光纤上，再将盖板放置在上面，然后来测试光纤的微弯损耗。
[0006]可膨胀圆筒法与固定直径圆筒法类似，这两种方法成本高，可重复性差；金属网格法成本低，但是测试微弯类型单一，不适合于分析光纤微弯损耗的原因。
[0007]综上可知，目前的光纤微弯敏感性测量方法都存在一定的局限性和操作不稳定性，另外测试时光纤的宏弯损耗还会存在一定的干扰从而影响测试结果的准确性。
技术实现思路
[0008]本专利技术主要解决的技术问题是提供一种分布式丝线光纤微弯测试方法、测试系统及测试装置，结构简单、操作方便，能够更精准的定性光纤微弯时的附加衰减变化，判断光纤是否拥有良好的微弯不敏感性能，对评估光纤的微弯敏感性提供了依据，能够对光纤微弯敏感性进行有效测量。
[0009]为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是：提供一种分布式丝线光纤微弯测试方法，其特征在于，具体包括如下步骤：S1、调平丝线固定金属底板：调整丝线固定金属底板四个角位的水平调节螺丝，使丝线固定金属底板保持水平，在丝线固定金属底板上平行布放有若干条丝线；S2、布置受试光纤：将受试光纤来回连续垂直布放在丝线表面，然后使用辅助胶带
固定受试光纤避免交叉和重叠；S3、连接测试仪：将受试光纤与测试尾纤熔接，然后将测试尾纤连接测试仪，通过测试仪测试受试光纤在规定波长下的初始衰减值，并将测试的数据记录为a1；S4、放置上压金属板：将上压金属板压在丝线固定金属底板表面，确保所有的丝线与光纤的交叉点全部压合；S5、增加配重：对光纤受力点施加压力，根据所需测试的光纤点压力在上压金属板上增加相应配重；S6、施压后测试：测试受试光纤在施加压力的作用下产生附加衰减，使用测试仪测试同一波长下受试光纤受力状态下的衰减值，并将测试的数据记录为a2；S7、计算：计算100个光纤受力点受力状态下的附加衰减值，设受试光纤施加压力前后的衰减增加值为a，则a= （a2
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a1）/Q*100，Q为总的受力光纤点数；S8、重复步骤S2
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S7，对比丝线数量相同、光纤受力点受力值相同，仅改变丝线直径时的衰减增加值以判定改变后的光纤微弯敏感性能；S9、重复步骤S2
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S8，对比丝线数量相同、丝线直径相同，仅改变光纤点受力值时的衰减增加值以判定改变后的光纤微弯敏感性能；S10、重复步骤S2
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S8，对比光纤点受力值相同、丝线直径相同，仅改变丝线数量时的衰减增加值以判定改变后的光纤微弯敏感性能。
[0010]为解决上述技术问题，本专利技术采用的另一个技术方案是：提供一种分布式丝线光纤微弯测试系统，用于实现所述的测试方法的步骤，包括：分布式丝线光纤微弯测试装置和测试仪。
[0011]在本专利技术一个较佳实施例中，所述测试仪包括光时域反射仪，将丝线表面受试光纤的引出端与测试尾纤熔接，然后将测试尾纤垂直插入光时域反射仪的尾纤接口，通过该尾纤接口连接光时域反射仪。
[0012]在本专利技术一个较佳实施例中，所述测试仪包括稳定光源和光功率计，将受试光纤的两端分别与测试尾纤熔接，然后将两端测试尾纤分别连接稳定光源的发射口和光功率计的接收口。
[0013]为解决上述技术问题，本专利技术采用的另一个技术方案是：提供一种分布式丝线光纤微弯测试装置，该测试装置应用于所述的分布式丝线光纤微弯测试系统，包括：作为受试光纤布放平台和力传输媒介的丝线固定金属底板；作为施力载体的上压金属板和配重；所述丝线固定金属底板表面安装有丝线，所述丝线固定金属底板两侧设有能够使丝线缠绕在并平行布放在丝线固定金属底板表面的锁紧螺丝和销钉，受试光纤以与丝线布置方向相垂直的方式被设置于丝线表面，使用时将上压金属板压在丝线固定金属底板表面，然后在上压金属板增加配重对受试光纤施压，，使丝线表面每个点的受试光纤受力发生形变，产生微小弯曲。
[0014]在本专利技术一个较佳实施例中，所述丝线固定金属底板四个角位设有水平调整螺丝以调整丝线固定金属底板的水平。
[0015]在本专利技术一个较佳实施例中，所述丝线固定金属底板的尺寸大小为350~500*350~500*2~10mm，所述上压金属板的尺寸大小与丝线固定金属底板相适配。
[0016]在本专利技术一个较佳实施例中，所述锁紧螺丝的数量为四个，以对称方式布置于丝线固定金属底板两侧的两端；所述销钉设有若干个，两两对称布置于两端的锁紧螺丝之间。
[0017]在本专利技术一个较佳实施例中，所述丝线为金属丝线或非金属丝线，所述金属丝线可为铜丝等金属丝，所述丝线直径为0.2~1.0mm，丝线数量为20~80，丝线分布间隔为0.5~20mm，受试光纤长度大于3m。
[0018]在本专利技术一个较佳实施例中，所述受试光纤来回连续垂直布放于丝线表面，受试光纤与丝线的接触点为光纤受力点，每个点的光纤受力为1~10g。
[0019]本专利技术的有益效果是：本专利技术分布式丝线光纤微弯测试方法、测试系统及测试装置采用两块平行金属板作为施加力和弯曲的载体，结构简单、操作方便，可以有效规避圆筒法测试时光纤宏弯损耗所产生的影响，同时可调整丝线的数量，同时平板压力也可在线调整，可实时调整每个点的光纤受力大小，便于定量分析光纤的微弯性能；能够更精准的定性光纤微弯时的附加衰减变化，判断光纤是否拥有良好的微弯不敏感性能，对评估光纤的微弯敏感性提供了依据，能够对光纤微弯敏感性进行有效测量。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种分布式丝线光纤微弯测试方法，其特征在于，具体包括如下步骤：S1、调平丝线固定金属底板：调整丝线固定金属底板四个角位的水平调节螺丝，使丝线固定金属底板保持水平，在丝线固定金属底板上平行布放有若干条丝线；S2、布置受试光纤：将受试光纤来回连续垂直布放在丝线表面，然后使用辅助胶带固定受试光纤避免交叉和重叠；S3、连接测试仪：将受试光纤与测试尾纤熔接，然后将测试尾纤连接测试仪，通过测试仪测试受试光纤在规定波长下的初始衰减值，并将测试的数据记录为a1；S4、放置上压金属板：将上压金属板压在丝线固定金属底板表面，确保所有的丝线与光纤的交叉点全部压合；S5、增加配重：对光纤受力点施加压力，根据所需测试的光纤点压力在上压金属板上增加相应配重；S6、施压后测试：测试受试光纤在施加压力的作用下产生附加衰减，使用测试仪测试同一波长下受试光纤受力状态下的衰减值，并将测试的数据记录为a2；S7、计算：计算100个光纤受力点受力状态下的附加衰减值，设受试光纤施加压力前后的衰减增加值为a，则a= （a2
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a1）/Q*100，Q为总的受力光纤点数；S8、重复步骤S2
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S7，对比丝线数量相同、光纤受力点受力值相同，仅改变丝线直径时的衰减增加值以判定改变后的光纤微弯敏感性能；S9、重复步骤S2
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S8，对比丝线数量相同、丝线直径相同，仅改变光纤点受力值时的衰减增加值以判定改变后的光纤微弯敏感性能；S10、重复步骤S2
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S8，对比光纤点受力值相同、丝线直径相同，仅改变丝线数量时的衰减增加值以判定改变后的光纤微弯敏感性能。2.一种分布式丝线光纤微弯测试系统，其特征在于，用于实现权利要求1所述的测试方法的步骤，包括：分布式丝线光纤微弯测试装置和测试仪。3.根据权利要求2所述的分布式丝线光纤微弯测试系统，其特征在于，所述测试仪包括光时域反射仪，将丝线表面受试光纤的引出端与测试尾纤熔接，然后将测试尾纤垂直插入光时域反射仪...
【专利技术属性】
技术研发人员：华金婷，曹剑翔，黄正欧，季红，于风，石明，
申请(专利权)人：江苏南方通信科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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