存储器功能验证与数据采集系统、测试方法及电子设备技术方案

本发明专利技术提供一种存储器功能验证与数据采集系统、测试方法及电子设备。系统包括测试母板、测试子板、上位机、外部仪表和供电系统；测试母板与上位机测试子板和外部仪表可通讯电连接；测试母板包括相互连接的核心控制电路、继电器控制接口电路、任意波生成电路和其他附属电路；测试子板用于对被测芯片进行高低温试验；上位机与用于向测试母板发送、接收指令、查询处理数据等；外部仪表用于进行被测器件的功能测试和交直流参数抓取。本发明专利技术能够覆盖绝大多数类型的存储器的应用验证和数据采集工作，而且逻辑功能判断准确，数据采集高效且精准，而且所设计的测试系统操作简单，测试效果良好，测试稳定性和可靠性高，具有非常高的工程应用价值。应用价值。应用价值。

【技术实现步骤摘要】
存储器功能验证与数据采集系统、测试方法及电子设备


[0001]本公开涉及集成电路芯片功能验证与数据采集
，尤其涉及一种存储器功能验证与数据采集系统、测试方法及电子设备。

技术介绍

[0002]基于传统ATE机台开展存储器的功能验证存在一些缺陷，比如测试开发流程复杂，需要编写pin configuration文件、level文件、timing文件、pattern文件、testflow文件等，尤其是大容量FLASH测试向量的编写，针对256M bit及以上的NorFlash存储器，通过手动复制上千万行向量时会使得工控机变得非常卡顿，完成一个完整向量的编写通常需要数十几个小时，开发效率极低。并且，传统ATE机台的交直流参数测试精度有限，无法满足部分芯片高精度参数的测试需求，通常需要外接源表以弥补ATE测试精度不足的问题，且需要写底层算法去配置外部源表，操作较为复杂。此外，基于传统ATE机台的芯片测试时间较长，尤其是扇区擦除及片擦除，针对1Gbit的NorFlash存储器而言，片擦除的时间长达8分钟，单片测试时长约30
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40分钟，加之部分ATE机台由于自身配置原因无法支持多site模式，单次只能完成1片存储器的测试，因此对于测试需求量较大时，存储器的测试效率非常低。虽然，有针对存储器芯片的专用测试系统(T5833)，可以支持多site测试模式，但是该系统存在操作流程复杂、设备购置成本高昂、程序编写复杂等问题。因此，专利技术人在于解决现有技术中存在的相关问题对其进行研发改进。

技术实现思路
r/>[0003]有鉴于此，本公开的目的在于提出一种测试系统操作简单，逻辑功能验证和测试数据精准，测试效果良好，测试稳定性和可靠性高的存储器功能验证与数据采集系统、测试方法及电子设备。
[0004]基于上述目的，本公开在第一方面，提供一种存储器功能验证与数据采集系统，包括测试母板、测试子板、上位机、外部仪表和供电系统；
[0005]所述上位机与所述测试母板可通讯电连接，所述测试母板还与所述测试子板和外部仪表可通讯电连接；
[0006]所述测试母板包括相互连接的核心控制电路、继电器控制接口电路、存储器控制电路、ADC采样电路、任意波生成电路、电源转换电路、存储电路、晶振电路、滤波电路、通讯电路、复位电路、电源转换电路；
[0007]所述测试子板包括被测器件与外围供电及信号电路，用于对被测芯片进行高低温试验；
[0008]所述上位机与用于向所述测试母板发送控制指令、接收测试数据、处理测试数据、查询被测信息、参数设置；
[0009]所述外部仪表用于进行被测器件的功能测试和交直流参数抓取；
[0010]所述供电系统用于向所述测试母板和测试子板提供电能。
[0011]在一些可选的实施例中，所述测试母板的核心控制电路包括：主控芯片，所述主控芯片包括可变静态存储控制器和高密度指令集；
[0012]所述可变静态存储控制器用于根据不同的外部存储器类型发出相应的数据/地址/控制信号类型以匹配信号的速度；
[0013]所述核心控制电路还用于完成数据采集与处理，协议转换，单个或多组高低电平翻转输出，并且管理与控制外设。
[0014]在一些可选的实施例中，所述测试母板的继电器控制接口电路包括：输入信号继电器控制电路和输出信号继电器控制电路；
[0015]所述输入信号继电器控制电路用于控制输入激励信号的选择，所述激励信号包括外部高精度电源、IO驱动信号和任意波生成信号；
[0016]所述IO驱动信号用于提供高电平、低电平驱动信号，用作备用驱动源；
[0017]所述任意波生成信号提供方波、三角波、正弦波、余弦波、锯齿波的激励信号；
[0018]所述输出信号继电器控制电路用于对测试芯片输出信号测试源进行选择，是输出信号测试源包括高精度PPMU、高精度AD采样电路和外部高性能示波器；
[0019]所述高精度PPMU的直流参数通过所述上位机进行参数设置；
[0020]所述高精度AD采样电路用于采集多路信号数据，并与主控芯片进行通讯；
[0021]所述外部高性能示波器用于抓取并测试交流参数，所述交流参数包括片选使能到数据输出有效时间、输出使能有效到数据输出有效时间，地址建立时间。
[0022]在一些可选的实施例中，所述测试母板的任意波生成电路能够同时生成多路不同频率的信号，生成高精度信号；
[0023]所述测试母板的通讯电路用于与所述上位机进行连接，与所述上位机进行数据通信；
[0024]所述测试母板的存储电路用于保存掉电不丢失的数据；其中，所述掉电不丢失的数据包括母板地址信息数据、关键阈值参数、提取数据；
[0025]所述测试母板的复位电路的一端与地导通的按键和主控的引脚相连，能够用于恢复起始状态；
[0026]所述测试母板的电源转换电路用于转换电能，给所述测试母板和控制子板供电。
[0027]在一些可选的实施例中，所述测试子板预留有用于高低温测试的接口，通过导线将被测芯片的供电线和信号线引出以能够在高低温箱中进行高低温试验。
[0028]在一些可选的实施例中，所述上位机通过连接线与所述测试母板进行通信，所述上位机用于：
[0029]给所述测试母板发送控制指令，所述控制指令包括自动测试指令和单步测试指令；
[0030]接收测试母板采集到的测试设备测试数据，所述测试设备测试数据包括功能、交直流测试数据；
[0031]对接收到的测试数据进行处理、判断、输出逻辑判定结果并显示；
[0032]查询测试母板地址编号以及被测存储器芯片的ID信息；
[0033]实现参数设置，包括交直流参数卡限设置、外接源表量程设置；
[0034]还能够用于单次采集测试子板数据，定时采集测试子板数据，轮询采集测试子板
数据以及导出测试数据。
[0035]在一些可选的实施例中，所述供电系统通过开关电源为所述测试母板提供直流电，所述测试母板再通过电源转换电路为核心CPU、内部模块电路及外部测试子板提供直流电源。
[0036]在一些可选的实施例中，所述外部仪表用于测试设备在进行交直流参数测试以及功能验证时与外部测试仪表进行连接，接收所述测试母板的控制信号，实现被测器件的功能测试和交直流参数抓取。
[0037]在第二方面，基于同一专利技术构思，还公开一种存储器功能验证与数据采集测试方法，包括：
[0038]将上位机中的测试操作指令下发至测试母板的核心CPU；
[0039]响应于所述核心CPU将上位机中的测试操作指令下发至优化控制器、高精度PPMU和高性能示波器中；
[0040]响应于接收所述优化控制器的输出信号后读取存储器ID；
[0041]响应于接收到所述高精度PPMU的输出信号后执行直流参数测试；
[0042]响应于接收到高性能示波器的输出信号后执行交流参数测试；
[0043]将测试结果数据上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器功能验证与数据采集系统，其特征在于，包括：测试母板、测试子板、上位机、外部仪表和供电系统；所述上位机与所述测试母板可通讯电连接，所述测试母板还与所述测试子板和外部仪表可通讯电连接；所述测试母板包括相互连接的核心控制电路、继电器控制接口电路、存储器控制电路、ADC采样电路、任意波生成电路、电源转换电路、存储电路、晶振电路、滤波电路、通讯电路、复位电路、电源转换电路；所述测试子板包括被测器件与外围供电及信号电路，用于对被测芯片进行高低温试验；所述上位机与用于向所述测试母板发送控制指令、接收测试数据、处理测试数据、查询被测信息、参数设置；所述外部仪表用于进行被测器件的功能测试和交直流参数抓取；所述供电系统用于向所述测试母板和测试子板提供电能。2.根据权利要求1所述的存储器功能验证与数据采集系统，其特征在于，所述测试母板的核心控制电路包括：主控芯片，所述主控芯片包括可变静态存储控制器和高密度指令集；所述可变静态存储控制器用于根据不同的外部存储器类型发出相应的数据/地址/控制信号类型以匹配信号的速度；所述核心控制电路还用于完成数据采集与处理，协议转换，单个或多组高低电平翻转输出，并且管理与控制外设。3.根据权利要求1所述的存储器功能验证与数据采集系统，其特征在于，所述测试母板的继电器控制接口电路包括：输入信号继电器控制电路和输出信号继电器控制电路；所述输入信号继电器控制电路用于控制输入激励信号的选择，所述激励信号包括外部高精度电源、IO驱动信号和任意波生成信号；所述IO驱动信号用于提供高电平、低电平驱动信号，用作备用驱动源；所述任意波生成信号提供方波、三角波、正弦波、余弦波、锯齿波的激励信号；所述输出信号继电器控制电路用于对测试芯片输出信号测试源进行选择，是输出信号测试源包括高精度PPMU、高精度AD采样电路和外部高性能示波器；所述高精度PPMU的直流参数通过所述上位机进行参数设置；所述高精度AD采样电路用于采集多路信号数据，并与主控芯片进行通讯；所述外部高性能示波器用于抓取并测试交流参数，所述交流参数包括片选使能到数据输出有效时间、输出使能有效到数据输出有效时间，地址建立时间。4.根据权利要求1所述的存储器功能验证与数据采集系统，其特征在于，所述测试母板的任意波生成电路能够同时生成多路不同频率的信号，生成高精度信号；所述测试母板的通讯电路用于与所述上位机进行连接，与所述上位机进行数据通信；所述测试母板的存储电路用于保存掉电...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖勇，韦纯进，李佳俊，吴佩雯，张亭亭，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：