硬盘异常掉电测试方法、系统及介质技术方案

本申请公开了硬盘异常掉电测试方法、系统及介质，方法包括：选取待测硬盘中的至少一部分地址进行屏蔽以形成第一屏蔽区，并将待测硬盘剩余的地址作为第一测试区；向待测硬盘发送测试指令，并对待测硬盘进行掉电测试；在待测硬盘通过掉电测试后，调整第一屏蔽区以及第一测试区的地址；向调整后的待测硬盘发送测试指令，并重新对待测硬盘进行掉电测试。根据本申请的技术方案，能够在掉电测试过程中指定一部分地址进行测试，加快测试效率。加快测试效率。加快测试效率。

【技术实现步骤摘要】
硬盘异常掉电测试方法、系统及介质


[0001]本申请涉及数据处理
，尤其是一种硬盘异常掉电测试方法、系统及介质。

技术介绍

[0002]SSD(Solid State Disk，固态硬盘)的工作环境存在多种不同的异常。其中，最常见的一种异常是突然断电。为保证其内部数据正确可靠，SSD通常都具有掉电数据保护能力。由于SSD实际工作环境中的掉电情况可能出现在读、写以及静置等状态下，使得FW（Firm Ware，固件）和HW（Hard Ware，硬件）要考虑到不同情况下的掉电场景。需要通过大量测试工作来保证数据的掉电可靠性。
[0003]目前在硬盘的掉电测试过程中，由主控随机进行地址分配，将数据写入生成的随机地址，在这个过程中执行异常掉电，然后确定数据是否出现问题。由于随机地址的机制，在异常掉电测试过程中无法指定一个特定的范围进行测试，需要后续重复进行测试，才能校验出错误的地址，从而导致测试时间的延长，降低测试效率。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种硬盘异常掉电测试方法、系统及介质，能够在掉电测试过程中指定一部分地址进行测试，加快测试效率。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种硬盘异常掉电测试方法，所述方法包括：选取待测硬盘中的至少一部分地址进行屏蔽以形成第一屏蔽区，并将所述待测硬盘剩余的地址作为第一测试区；向所述待测硬盘发送测试指令，并对所述待测硬盘进行掉电测试；在所述待测硬盘通过掉电测试后，调整所述第一屏蔽区以及所述第一测试区的地址；向调整后的所述待测硬盘发送所述测试指令，并重新对所述待测硬盘进行掉电测试。
[0006]在一些实施例中，所述调整所述第一屏蔽区以及所述第一测试区的地址，包括：根据所述第一测试区的地址对所述第一测试区进行屏蔽以形成第二屏蔽区，并解除所述第一屏蔽区的地址的屏蔽以形成第二测试区；或者，基于预设的解除参数解除所述第一屏蔽区的地址的屏蔽以将解除屏蔽后的地址以及所述第一测试区作为第二测试区，并将所述第一屏蔽区剩余的地址作为第二屏蔽区。
[0007]在一些实施例中，所述测试指令包括至少一个测试进程；所述向所述待测硬盘发送测试指令，并对所述待测硬盘进行掉电测试，包括：向所述待测硬盘发送所述测试指令，以根据所述测试进程对所述待测硬盘的第一测试区进行测试；对所述待测硬盘进行异常掉电操作；
在对所述待测硬盘进行异常掉电操作之后，对所述待测硬盘进行上电操作；对上电操作后的所述待测硬盘进行数据校验。
[0008]在一些实施例中，在所述向调整后的所述待测硬盘发送所述测试指令，并重新对所述待测硬盘进行掉电测试之前，还包括：对所述第二测试区进行容量计算，得到测试容量；基于预设的填充参数对所述第二测试区进行数据填充操作。
[0009]在一些实施例中，在所述向调整后的所述待测硬盘发送所述测试指令，并重新对所述待测硬盘进行掉电测试之后，还包括：在所述待测硬盘通过掉电测试的情况下，继续对所述第二测试区进行数据填充操作，并重新向所述待测硬盘发送所述测试指令，直至填充全部所述测试容量。
[0010]在一些实施例中，所述选取待测硬盘中的至少一部分地址以对所述地址进行屏蔽，确定第一屏蔽区，并将所述待测硬盘剩余的地址作为第一测试区，包括：对所述待测硬盘进行容量测试，确定所述待测硬盘的实际容量；选取所述实际容量中的至少一部分地址进行屏蔽，确定第一屏蔽区，并将所述实际容量中剩余的地址作为第一测试区。
[0011]在一些实施例中，还包括：在确定所述待测硬盘未通过掉电测试的情况下，确定错误地址；根据所述错误地址确定所述待测硬盘中的错误数据；对所述错误数据进行标注，生成错误报告。
[0012]在一些实施例中，在所述重新对所述待测硬盘进行掉电测试之后，还包括：对所述待测硬盘进行格式化操作；基于预设的屏蔽参数对所述待测硬盘的地址进行屏蔽以形成第三屏蔽区和第三测试区；向所述待测硬盘发送所述测试指令，并对所述待测硬盘进行掉电测试，直至所述待测硬盘的参数满足预设的硬盘参数。
[0013]第二方面，本申请实施例还提供了一种硬盘异常掉电测试系统，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的硬盘异常掉电测试方法。
[0014]第三方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如第一方面所述的硬盘异常掉电测试方法。
[0015]本申请实施例至少有如下有益效果：首先，选取待测硬盘中的至少一部分地址进行屏蔽以形成第一屏蔽区，并将待测硬盘剩余的地址作为第一测试区，实现对特定范围的选取，避免后续进行重复校验，之后，向待测硬盘发送测试指令，并对待测硬盘进行掉电测试，以对硬盘的数据保护能力进行测试，提高硬盘的可靠性和稳定性，在待测硬盘通过掉电测试后，调整第一屏蔽区以及第一测试区的地址，从而实现对屏蔽区范围的变换，能够对特定范围的区域进行测试，避免随机地址机制的影响，最后，向调整后的待测硬盘发送测试指令，并重新对待测硬盘进行掉电测试，能够在掉电测试过程中指定一部分地址进行测试，加快测试效率。
[0016]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0017]图1是本专利技术一个实施例提供的硬盘异常掉电测试方法的流程图；图2是图1中步骤S102的具体方法的流程图；图3是本专利技术另一个实施例提供的硬盘异常掉电测试方法的流程图；图4是本专利技术另一个实施例提供的硬盘异常掉电测试方法的流程图；图5是图1中步骤S101的具体方法的另一流程图；图6是本专利技术另一个实施例提供的硬盘异常掉电测试方法的流程图；图7是本专利技术另一个实施例提供的硬盘异常掉电测试方法的流程图；图8是本专利技术一个实施例提供的硬盘异常掉电测试系统的结构示意图。
具体实施方式
[0018]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0019]需要说明的是，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
[0020]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0021]需要注意的是，在本专利技术实施例的描述中，说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硬盘异常掉电测试方法，其特征在于，所述方法包括：选取待测硬盘中的至少一部分地址进行屏蔽以形成第一屏蔽区，并将所述待测硬盘剩余的地址作为第一测试区；向所述待测硬盘发送测试指令，并对所述待测硬盘进行掉电测试；在所述待测硬盘通过掉电测试后，调整所述第一屏蔽区以及所述第一测试区的地址；向调整后的所述待测硬盘发送所述测试指令，并重新对所述待测硬盘进行掉电测试。2.根据权利要求1所述的硬盘异常掉电测试方法，其特征在于，所述调整所述第一屏蔽区以及所述第一测试区的地址，包括：根据所述第一测试区的地址对所述第一测试区进行屏蔽以形成第二屏蔽区，并解除所述第一屏蔽区的地址的屏蔽以形成第二测试区；或者，基于预设的解除参数解除所述第一屏蔽区的地址的屏蔽以将解除屏蔽后的地址以及所述第一测试区作为第二测试区，并将所述第一屏蔽区剩余的地址作为第二屏蔽区。3.根据权利要求1所述的硬盘异常掉电测试方法，其特征在于，所述测试指令包括至少一个测试进程；所述向所述待测硬盘发送测试指令，并对所述待测硬盘进行掉电测试，包括：向所述待测硬盘发送所述测试指令，以根据所述测试进程对所述待测硬盘的第一测试区进行测试；对所述待测硬盘进行异常掉电操作；在对所述待测硬盘进行异常掉电操作之后，对所述待测硬盘进行上电操作；对上电操作后的所述待测硬盘进行数据校验。4.根据权利要求2所述的硬盘异常掉电测试方法，其特征在于，在所述向调整后的所述待测硬盘发送所述测试指令，并重新对所述待测硬盘进行掉电测试之前，还包括：对所述第二测试区进行容量计算，得到测试容量；基于预设的填充参数对所述第二测试区进行数据填充操作。5.根据权利要求4所述的硬盘异常掉电测试方法，其特征在于，在所述向调整后的所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢登煌，
申请(专利权)人：深圳市晶存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：