一种集成芯片检测用辅助冶具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成芯片检测用辅助冶具，包括测试板体，所述测试板体的左右两侧对称固定连接有测安装条，且测安装条的表面均匀开设有定位孔，所述测试板体的上表面设置为放置面，所述测试板体的底面开设有底仓，所述测试板体的中心设置有辅助定位机构，当中心块右侧移动后，同时位于滑动板上端滑动连接于测试板体表面的两组第一定位板便会顺势向着测试板体的中心靠近，同时第二定位板也会在中心块带动水平弹簧右移的同时而向着测试板体的中心靠近，此时在两组第一定位板与一组第二定位板的同步夹持作用下，促使芯片能够在第一时间内得到夹持，从而有效地保证了芯片位于放置面表面的稳定性，进而保证了检测人员芯片检测的效率。测的效率。测的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种集成芯片检测用辅助冶具


[0001]本技术涉及芯片检测
，具体是一种集成芯片检测用辅助冶具。

技术介绍

[0002]目前在专利授权公告为：CN213068923U，名称为一种芯片检测用夹持装置，其提出：现有芯片在生产过后都需要对芯片的性能进行检测，但是现在检测装置在对芯片进行检测后不易将芯片取出，导致给工作人员的检测工作带来了困扰，降低了对芯片检测的工作效率，不能满足芯片检测的使用需求，故而其通过盖板、检测板、安装板、空腔、第二转轴、连接板、活动板、芯片主体和连接块的相互配合使用，使得芯片主体可以对其位置进行固定，同时工作人员方便将芯片主体取出，解决了一般检测装置在对芯片进行检测时不易将芯片取出，给工作人员的检测工作带来了困扰同时降低了检测装置工作效率的问题，给工作人员的检测工作带来了便利，同时提高了该检测装置的实用性，满足了芯片检测的使用需求；
[0003]其虽然实现了对芯片的夹持定位效果，并且还方便检测人员取出芯片，但在具体使用时，其整体的联动性较差，并且难以实现快速对芯片进行夹持定位的效果，从而导致检测芯片的效率降低，并且在进行检测时未能很好地考虑到装置自身的稳定性，从而导致检测人员在使用装置时，因装置的不稳定性而导致芯片检测过程失效的情况；
[0004]于是有鉴于此，本技术提供一种集成芯片检测用辅助冶具以弥补和改善现有技术的不足之处。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于针对现有技术的不足之处，提供一种集成芯片检测用辅助冶具，以解决
技术介绍
提出的相关技术问题。/>[0006]为达到以上目的，本技术采用的技术方案为：一种集成芯片检测用辅助冶具，包括测试板体，所述测试板体的左右两侧对称固定连接有测安装条，且测安装条的表面均匀开设有定位孔，所述测试板体的上表面设置为放置面，其用于放置待检测的集成芯片，所述测试板体的底面开设有底仓，所述测试板体的中心设置有辅助定位机构：
[0007]所述辅助定位机构包括：第一定位板、第二定位板、滑动板、连接条、中心块、拉杆、拉环、限制环、水平弹簧，所述测试板体的上表面分别设置有第一定位板、第二定位板，所述第一定位板的底部固定连接有水平弹簧，且水平弹簧的右侧固定连接有中心块，所述中心块的前后两侧均铰接有连接条，且连接条的前后两侧均铰接有滑动板，所述滑动板固定连接于第二定位板的底部，所述中心块的右侧方中心固定连接有拉杆，且拉杆的右端端头固定连接有拉环，且拉环的左侧设置有限制环。
[0008]优选的，所述测试板体的底面贴合有橡胶垫，且橡胶垫的底面设置有防滑纹。
[0009]优选的，所述测安装条的数量不少于四组，所述定位孔的内壁带有内螺纹，通过将测试板体和测安装条放置于水平台面，并使用螺栓拧入测安装条内再将螺栓拧入台面上，
即可将测试板体固定至水平台面以供检测人员使用本装置，以保证本装置使用的稳固性，间接的提升测试芯片的稳定性。
[0010]优选的，所述第一定位板为一组，且第一定位板滑动连接于测试板体的左侧，所述第二定位板为两组，且第二定位板呈前后对称滑动连接于测试板体的前后两侧，所述第一定位板、第二定位板均为弹性材质。
[0011]优选的，所述拉杆远离拉环一端的外表面设置有外螺纹，所述限制环与拉杆外表面的外螺纹互相适配。
[0012]优选的，所述限制环转动连接于拉环左侧靠近测试板体的左侧外壁，且限制环的外表面贴合有软胶垫，并且软胶垫的表面设置有防滑纹。
[0013]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0014]1.该集成芯片检测用辅助装置，当中心块右侧移动后，便会同时带动位于其前后两侧的滑动板、连接条均同步运动，同时位于滑动板上端滑动连接于测试板体表面的两组第一定位板便会顺势向着测试板体的中心靠近，同时第二定位板也会在中心块带动水平弹簧右移的同时而向着测试板体的中心靠近，此时在两组第一定位板与一组第二定位板的同步夹持作用下，促使芯片能够在第一时间内得到夹持，从而有效地保证了芯片位于放置面表面的稳定性，进而保证了检测人员芯片检测的效率；
[0015]2.该集成芯片检测用辅助装置，检测人员通过推动拉杆，促使中心块挤压水平弹簧，并随即释放推力，此时在水平弹簧的反弹力作用下会带动第二定位板向右侧滑动一定的距离，从而通过第二定位板的此滑动距离顺势将芯片自动向着测试板体的右侧弹出，随即检测人员便可轻松地取下芯片；
[0016]3.该集成芯片检测用辅助装置，通过在测安装条上开设的定位孔内部插入螺栓，并通过螺栓紧固安装于台面上，此时在不少于四组测安装条的定位稳固作用下，使得测试板体放置于台面上时能够有着稳定的使用状态，从而提升检测人员检测芯片的有效性。
附图说明
[0017]图1为本技术的主视立体结构示意图；
[0018]图2为本技术的仰视剖面立体结构示意图；
[0019]图3为本技术中的局仰视立体结构示意图；
[0020]图4为本技术的主视剖面立体结构示意图；
[0021]图5为本技术图1中A处的局部放大立体结构示意图。
[0022]图中标号为：
[0023]1、测试板体；11、安装条；12、定位孔；13、放置面；14、底仓；
[0024]2、辅助定位机构；21、第一定位板；22、第二定位板；23、滑动板；24、连接条；25、中心块；26、拉杆；27、拉环；28、限制环；29、水平弹簧。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下
所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]实施例一
[0027]请参照图1至图5所示，一种集成芯片检测用辅助冶具，包括测试板体1，测试板体1的底面贴合有橡胶垫，且橡胶垫的底面设置有防滑纹，测试板体1的左右两侧对称固定连接有测安装条11，且测安装条11的表面均匀开设有定位孔12，测安装条11的数量不少于四组，定位孔12的内壁带有内螺纹，通过将测试板体1和测安装条11放置于水平台面，并使用螺栓拧入测安装条11内再将螺栓拧入台面上，即可将测试板体1固定至水平台面以供检测人员使用本装置，以保证本装置使用的稳固性，间接的提升测试芯片的稳定性，测试板体1的上表面设置为放置面13，其用于放置待检测的集成芯片，测试板体1的底面开设有底仓14，测试板体1的中心设置有辅助定位机构2；
[0028]辅助定位机构2包括：第一定位板21、第二定位板22、滑动板23、连接条24、中心块25、拉杆26、拉环27、限制环28、水平弹簧29，测试板体1的上表面分别设置有第一定位板21、第二定位板22，第一定位板21为一组，且第一定位板21滑动连接于测试板体1的左侧，第二定位板22为两组，且第二定位板22呈本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成芯片检测用辅助冶具，包括测试板体(1)，其特征在于：所述测试板体(1)的左右两侧对称固定连接有测安装条(11)，且测安装条(11)的表面均匀开设有定位孔(12)，所述测试板体(1)的上表面设置为放置面(13)，所述测试板体(1)的底面开设有底仓(14)，所述测试板体(1)的中心设置有辅助定位机构(2)；所述辅助定位机构(2)包括：第一定位板(21)、第二定位板(22)、滑动板(23)、连接条(24)、中心块(25)、拉杆(26)、拉环(27)、限制环(28)、水平弹簧(29)，所述测试板体(1)的上表面分别设置有第一定位板(21)、第二定位板(22)，所述第一定位板(21)的底部固定连接有水平弹簧(29)，且水平弹簧(29)的右侧固定连接有中心块(25)，所述中心块(25)的前后两侧均铰接有连接条(24)，且连接条(24)的前后两侧均铰接有滑动板(23)，所述滑动板(23)固定连接于第二定位板(22)的底部，所述中心块(25)的右侧方中心固定连接有拉杆(26)，且拉杆(26)的右端端头固定连接有拉环(27)，且拉环(27)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：张高中，
申请(专利权)人：安泊智汇半导体设备上海有限责任公司，
类型：新型
国别省市：