一种组合式球面垫片检测工装制造技术

本实用新型专利技术提供了一种组合式球面垫片检测工装，包括：检测矮盘、测量高柱、限位短柱和千分表，所述限位短柱插在所述检测矮盘上，所述测量高柱套在所述限位短柱上，所述检测矮盘的顶部开设有球形凹槽，所述测量高柱的底部安装有与所述球形凹槽相匹配的球形凸体，所述千分表通过支撑座设置在所述测量高柱的上方；本实用新型专利技术通过在检测矮盘上开设球形凹槽，在测量高柱上设置球形凸体，实现放置球形垫片就能够得到垫片厚度的效果，降低了球形垫片的检测难度，提高了球形垫片的检测效率。提高了球形垫片的检测效率。提高了球形垫片的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种组合式球面垫片检测工装


[0001]本技术涉及垫片检测
，具体而言，涉及一种组合式球面垫片检测工装。

技术介绍

[0002]球面垫片整体是弧形状，现有技术中想要对球形垫片进行厚度检测，需要使用游标卡尺进行多点定位检测，检测后取得的平均数值即为球形垫片的厚度，但是此种操作方法较为繁琐，且效率低下。
[0003]因此，有必要研发一种效率高的组合式球面垫片检测工装。

技术实现思路

[0004]本技术提供了一种组合式球面垫片检测工装来解决上述问题。
[0005]为了实现上述目的，本技术实施例提供了一种组合式球面垫片检测工装，包括：检测矮盘、测量高柱、限位短柱和千分表，所述限位短柱插在所述检测矮盘上，所述测量高柱套在所述限位短柱上，所述检测矮盘的顶部开设有球形凹槽，所述测量高柱的底部安装有与所述球形凹槽相匹配的球形凸体，所述千分表通过支撑座设置在所述测量高柱的上方。
[0006]进一步的，所述检测矮盘上的中心位置处开设有限位通孔，所述限位短柱插设在所述限位通孔内，所述限位短柱的部分伸至所述限位通孔的外部。
[0007]进一步的，所述球形凹槽具有垫片支撑凹面，所述垫片支撑凹面和球形垫片的凸面相抵。
[0008]进一步的，所述球形凸体具有垫片压合凸面，所述垫片压合凸面和球形垫片的凹面相抵。
[0009]进一步的，所述测量高柱和所述球形凸体的中心位置开设有插接槽，当所述球形凸体和所述球形凹槽相抵时，所述测量高柱通过所述插接槽套在所述限位短柱上。
[0010]进一步的，所述限位短柱的表面开设有多个V形槽，相邻两个所述V形槽之间的竖条和所述限位通孔的内壁相抵。
[0011]进一步的，所述V形槽和所述限位通孔的内壁形成排灰通道。
[0012]相对于现有技术，本技术实施例具有以下有益效果：
[0013]通过在检测矮盘上开设球形凹槽，在测量高柱上设置球形凸体，降低了球形垫片的检测难度，提高了球形垫片的检测效率；
[0014]通过在限位短柱开设V形槽，增强了球形凹槽内壁的洁净程度，避免出现高度检测的误差。
附图说明
[0015]下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。
[0016]图1为本技术一种组合式球面垫片检测工装的最优实施例的立体图；
[0017]图2为本技术检测矮盘、测量高柱和限位短柱的最优实施例的立体图；
[0018]图3为本技术一种组合式球面垫片检测工装的最优实施例的立体剖面图；
[0019]图4为本技术限位通孔和限位短柱的俯视结构示意图。
[0020]其中，1、检测矮盘；2、测量高柱；3、限位短柱；4、千分表；5、支撑座；6、球形凹槽；7、垫片支撑凹面；8、限位通孔；9、球形凸体；10、垫片压合凸面；11、插接槽；12、V形槽；13、排灰通道。
具体实施方式
[0021]现在结合附图对本技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本技术的基本结构，因此其仅显示与本技术有关的构成。
[0022]请参阅图1至图3，图1为本技术一种组合式球面垫片检测工装的最优实施例的立体图；图2为本技术检测矮盘、测量高柱和限位短柱的最优实施例的立体图；图3为本技术一种组合式球面垫片检测工装的最优实施例的立体剖面图。如图1至3所示，本技术提供了一种组合式球面垫片检测工装，包括：检测矮盘1、测量高柱2、限位短柱3和千分表4，千分表4通过支撑座5设置在测量高柱2的上方，检测矮盘1是用来承托待检测的球形垫片的，限位短柱3用来限位球形垫片的圆心，让球形垫片放在检测矮盘1的中心位置处，检测前，将测量高柱2放在检测矮盘1的中心位置，通过千分表4对测量高柱2测量一个初始数据，随后再将待检测的球形垫片放在检测矮盘1内，将测量高柱2压在球形垫片上，再对测量高柱2测量一个数据，这个数据和初始数据之差就是球形垫片的厚度。
[0023]请继续参阅图2和3，如图2和3所示，下面具体说明检测矮盘1的组成结构，检测矮盘1上的中心位置处开设有限位通孔8，限位通孔8的半径和限位短柱3的半径相等，限位短柱3插设在限位通孔8内，同时由于限位短柱3的高度大于检测矮盘1的厚度，因此限位短柱3的部分伸至限位通孔8的外部。限位短柱3可插拔出的设置在检测矮盘1的限位通孔8上，检测矮盘1的顶部开设有球形凹槽6。
[0024]请继续参阅图2和3，如图2和3所示，下面具体说明测量高柱2的组成结构，测量高柱2的底部安装有与球形凹槽6相匹配的球形凸体9，测量高柱2和球形凸体9的中心位置开设有插接槽11，插接槽11的半径和限位通孔8以及限位短柱3的半径相等，测量高柱2通过插接槽11套在限位短柱3上，当球形凸体9和球形凹槽6相抵时，测量高柱2通过插接槽11套在限位短柱3上。
[0025]请继续参阅图2和3并结合图4，4为本技术限位通孔和限位短柱的俯视结构示意图。如图2至4所示，为了避免球形凹槽6内存有污渍或者灰尘颗粒来影响检测结果，在限位短柱3的表面开设有多个V形槽12，相邻两个V形槽12之间的竖条和限位通孔8的内壁相抵。让V形槽12和限位通孔8的内壁形成排灰通道13，这样让将球形垫片被取出后，不用将限位短柱3拔出就能够对球形凹槽6内进行清理。
[0026]请继续参阅图2和3，如图2和3所示。球形凹槽6具有垫片支撑凹面7，垫片支撑凹面7和球形垫片的凸面相抵。球形凸体9具有垫片压合凸面10，垫片压合凸面10和球形垫片的凹面相抵，垫片支撑凹面7的内轮廓和垫片压合凸面10的外轮廓是相吻合的。
[0027]本技术的具体工作流程是：使用前，将测量高柱2通过插接槽11套在限位短柱
3上，让垫片压合凸面10和垫片支撑凹面7相抵，使用千分表4对测量高柱2的顶面进行高度测量，得到一个初始高度，随后将测量高柱2从限位短柱3拔出，将球形垫片套在限位短柱3上，让球形垫片的凸面和垫片支撑凹面7相抵，再将测量高柱2通过插接槽11套在限位短柱3上，此时垫片压合凸面10和球形垫片的凹面相抵，此时再使用千分表4对测量高柱2的顶面进行高度测量，得到第二个高度，第二个高度和第一个高度之差就是球形垫片的厚度。
[0028]综上所述，本技术的有益效果是：通过在检测矮盘1上开设球形凹槽6，在测量高柱2上设置球形凸体9，实现放置球形垫片就能够得到垫片厚度的效果，降低了球形垫片的检测难度，提高了球形垫片的检测效率，通过在限位短柱3开设V形槽12，实现将球形垫片被取出后，无需拔出限位短柱3就能够对球形凹槽6内进行清理，增强了球形凹槽6内壁的洁净程度，避免出现高度检测的误差。
[0029]以上述依据本技术的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项技术技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项技术的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种组合式球面垫片检测工装，其特征在于，包括：检测矮盘(1)、测量高柱(2)、限位短柱(3)和千分表(4)，所述限位短柱(3)插在所述检测矮盘(1)上，所述测量高柱(2)套在所述限位短柱(3)上，所述检测矮盘(1)的顶部开设有球形凹槽(6)，所述测量高柱(2)的底部安装有与所述球形凹槽(6)相匹配的球形凸体(9)，所述千分表(4)通过支撑座(5)设置在所述测量高柱(2)的上方。2.如权利要求1所述的一种组合式球面垫片检测工装，其特征在于：所述检测矮盘(1)上的中心位置处开设有限位通孔(8)，所述限位短柱(3)插设在所述限位通孔(8)内，所述限位短柱(3)的部分伸至所述限位通孔(8)的外部。3.如权利要求2所述的一种组合式球面垫片检测工装，其特征在于：所述球形凹槽(6)具有垫片支撑凹面(7)，所述垫片支撑凹面(7)和球形垫...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴继祥，吴凯，
申请(专利权)人：无锡新维特精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：