一种连接齿花键M值测量辅助装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种连接齿花键M值测量辅助装置，包括底座、装载机构、顶升机构，所述装载机构包括固定支柱、活动支柱、活动托盘、固定托盘、锁紧螺母、连接销，所述固定支柱固定在底座上，所述活动支柱与固定支柱相对布置，并与底座滑动配合，所述活动托盘与活动支柱通过连接销连接，所述锁紧螺母与活动支柱配合，所述固定托盘与底座间隙配合，所述顶升机构与固定托盘活动配合。本实用新型专利技术更具通用性，有效地提高了检测效率，降低了使用成本。降低了使用成本。降低了使用成本。

【技术实现步骤摘要】
一种连接齿花键M值测量辅助装置


[0001]本技术涉及量具
，具体涉及到一种连接齿花键M值测量辅助装置。

技术介绍

[0002]如图1所示，在传动系统中，同步器作为传动系统换挡中介，连接齿又是连接齿轮和同步器的中介，由于需要保证同步器和齿轮连接后不脱落，连接齿上的花键需带有夹角，且花键受力中心为花键中心，检测其受力中心位置加工是否合格成为必须检测项目。
[0003]如图2至图4所示，在现有技术中，由于连接齿的花键带有夹角，无法通过花键环规检测，也无法使用量棒配合卡尺测量，只能量球代替量棒，但是量球无法在花键齿面相对固定，无法测量其M值，针对上述问题，目前通用检测方法为，制作专用检测辅助装置，使量球固定在需要的齿面位置上，再使用量球配合卡尺测量出花键的M值，校核花键加工是否合格，但是，其缺点为：专用检测辅助装置制造周期长，且应用场景单一，只能用在某一固定花键参数的齿上，如果需要测量多种规格连接齿花键M值时，就需要制作多个检测辅助装置，从而造成使用成本较高，造成检测辅助装置不通用，进而造成资源浪费。

技术实现思路

[0004]本技术提供一种通用的连接齿花键M值测量辅助装置，本技术有效地提高了检测效率，降低了使用成本。
[0005]解决上述技术问题的技术方案如下：
[0006]一种连接齿花键M值测量辅助装置，包括底座、装载机构、顶升机构，所述装载机构包括固定支柱、活动支柱、活动托盘、固定托盘、锁紧螺母、连接销，所述固定支柱固定在底座上，所述活动支柱与固定支柱相对布置，并与底座滑动配合，所述活动托盘与活动支柱通过连接销连接，所述锁紧螺母与活动支柱配合，所述固定托盘与底座间隙配合，所述顶升机构与固定托盘活动配合。
[0007]进一步地，所述固定支柱包括第一柱体、第一测头，所述活动支柱包括第二柱体、第二测头，第一柱体和第一测头一体成型，第二柱体和第二测头一体成型，第一测头与第二测头相对布置，第二柱体的一部分可滑动地布置在底座内。
[0008]进一步地，所述顶升机构包括螺杆、凸轮，所述螺杆一端与凸轮固定连接，另一端暴露在底座的侧端面。
[0009]本技术提供的连接齿花键M值测量辅助装置，通过改变摆放连接齿的托盘的大小来适应不同规格连接齿，通过移动活动支柱来适应连接齿不同规格花键，通过顶升机构顶起固定托盘来适应不同规格连接齿要求测量花键M值的指定高度，本技术提供的连接齿花键M值测量辅助装置，制造成本低，制造精度相对较低，使用范围广泛，可适用于不同型号连接齿，可搭配不同规格量球使用，只需配合使用卡尺和指定规格量球即可测量M值，且操作简单，使用方便快捷，解决专用检具制造成本和专用检具不通用的问题。
附图说明
[0010]图1为连接齿的立体图；
[0011]图2为连接齿单个花键局部放大图以及要求的M值测量位置示意图；
[0012]图3为现有技术专用检测辅助装置检测连接齿时的示意图；
[0013]图4为连接齿的主视图；
[0014]图5为本技术的立体图；
[0015]图6为本技术的俯视图；
[0016]图7为本技术检测连接齿时的装配示意图；
[0017]图8为本技术的剖视图；
[0018]图9为本技术顶升机构的立体图。
[0019]附图中的标记：固定支柱1，第一柱体1
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1，第一测头1
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2，活动支柱2，第二柱体2
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1，第二测头2
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2，活动托盘3，固定托盘4，底座5，锁紧螺母7，连接销8，螺杆21，螺杆缺口21
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1，凸轮22，连接齿A。
具体实施方式
[0020]下面结合附图以及具体实施方式对本技术作进一步地说明。
[0021]如图5至图9所示，一种连接齿花键M值测量辅助装置，包括底座5、装载机构、顶升机构，所述装载机构包括固定支柱1、活动支柱2、活动托盘3、固定托盘4、锁紧螺母7、连接销8，所述固定支柱1固定在底座5上，所述活动支柱2与固定支柱1相对布置，并与底座5滑动配合，所述活动托盘3与活动支柱2通过连接销8连接，所述锁紧螺母7与活动支柱7配合，所述固定托盘4与底座5间隙配合，所述顶升机构与固定托盘4活动配合。
[0022]在本实施例中，固定支柱1采用螺栓固定在底座5上，在测量不同连接齿A时，首先将锁紧螺母7拧松，使活动支柱2能够在底座5上左右滑动，将活动支柱2滑动到连接齿A能够顺利、不受任何干涉地放置在固定托盘4上，然后再滑动活动支柱2，使活动支柱2位于连接齿A相邻的两个花键之间，此时固定支柱1也位于连接齿A另外两个花键之间(相当于固定支柱1与活动支柱2将连接齿A定位在固定托盘4上)然后在固定支柱1与活动支柱2上分别放置一个量球；在本实施例中，在未转动顶升机构时，固定托盘4压在底座5上，此时固定托盘4与固定支柱1、活动支柱2的相对距离最大，也是本装置能测量的花键长度最大的极限尺寸，当活动支柱3向底座5外滑动至极限位置时，此时活动托盘3也跟随活动支柱3滑动到最右端极限位置，也是本装置能测量的连接齿A花键大径最大尺寸。
[0023]如图5至图7所示，所述固定支柱1包括第一柱体1
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1、第一测头1
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2，所述活动支柱2包括第二柱体2
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1、第二测头2
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2，第一柱体1
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1和第一测头1
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2一体成型，第二柱体2
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1和第二测头2
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2一体成型，第一测头1
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2与第二测头2
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2相对布置，第二柱体2
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1的一部分可滑动地布置在底座5内。
[0024]在本实施例中，在测量连接齿A花键M值时，先根据技术要求旋转顶升机构以调整固定托盘4的高度，使其与固定支柱1的第一测头1
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2、活动支柱2的第二测头2
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2的相对高度到达要求位置。
[0025]例如，根据图2所示，图2中的齿总高4.6mm，要求选用直径3.5mm的量球在图示位置靠近齿顶部2mm位置，此时旋转顶升机构调整固定托盘4与固定支柱1、活动支柱2的第一测
头1
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2、第二测头2
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2高度差为0.85mm，调整后可使用高度尺校核位置是否正确，然后根据连接齿A花键大径尺寸，然后调整活动支柱2，使活动支柱2向底座外滑动，并带动活动托盘3同步滑动，使活动托盘3和固定托盘4能平稳放置连接齿A，然后取技术要求的量球，并分别在第一测头1
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2、第二测头2
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2上放置一颗技术要求的量球，此时量球靠近连接齿A的花键，最后使用卡尺测量两颗量球的距离即为被测连接齿A花键的M值。
[0026]如图9所示，所述顶升机构包括螺杆21、凸轮22，所述螺杆21一端与凸轮22固定连接，另一端暴本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种连接齿花键M值测量辅助装置，包括底座(5)、装载机构、顶升机构，其特征在于，所述装载机构包括固定支柱(1)、活动支柱(2)、活动托盘(3)、固定托盘(4)、锁紧螺母(7)、连接销(8)，所述固定支柱(1)固定在底座(5)上，所述活动支柱(2)与固定支柱(1)相对布置，并与底座(5)滑动配合，所述活动托盘(3)与活动支柱(2)通过连接销(8)连接，所述锁紧螺母(7)与活动支柱(2)配合，所述固定托盘(4)与底座(5)间隙配合，所述顶升机构与固定托盘(4)活动配合。2.根据权利要求1所述的一种连接齿花键M值测量辅助装置，其特征在于，所述固定支柱(1)包括第一柱体(1
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1)、第一测头(1
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2)，所述活动支柱(2)包括第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭志明，刘陈成，余世杰，郑孝林，李逵，
申请(专利权)人：重庆青山工业有限责任公司，
类型：新型
国别省市：