一种用于膜厚测定的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于膜厚测定的装置,包括测定台和测定头归零装置，所述测定台上方设置有测定头，所述测定头设为多个；所述测定头侧面上连接有升降机构，所述升降机构用来对测定头进行竖直高度的调节；所述升降机构侧面上连接有二号滑动块；所述测定头归零装置和测定头配合使用；测定前，所述测定头通过二号滑动块向靠近测定头归零装置的方向进行水平移动，所述测定头归零装置根据预先设定好的数值将测定头进行归零处理；测定时，所述测定头会进行复位，所述测定头底部上的感受器会与膜本体上表面进行多次接触，以实现对膜本体厚度的测定。本实用新型专利技术解决了原来的膜厚测定装置无法实现自动化上料和下料以及膜厚测定数据准确性不高的问题。据准确性不高的问题。据准确性不高的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种用于膜厚测定的装置


[0001]本技术属于膜的生产相关
，具体涉及一种省时省力且测定精度高的膜厚测定的装置。

技术介绍

[0002]膜本身可以由聚合物、无机材料或液体制成，其结构可以是均质或非均质的，多孔或无孔的，固体的或液体的，荷电的或中性的。膜的厚度可以薄至几个微米，厚至几毫米。
[0003]由于膜的厚度均较薄，在对于膜的厚度进行测定时就比较麻烦，目前采用的较多的是通过测量工具对于膜厚度进行精准测定，这种测定的方式不仅耗费时间，而且测定的准确性也较差。
[0004]为此，我们研发了一种省时省力且测定精度高的膜厚测定的装置。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种省时省力且测定精度高的膜厚测定的装置。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于膜厚测定的装置，包括测定台和测定头归零装置，所述测定台上方设置有测定头，所述测定头设为多个；所述测定头侧面上连接有升降机构，所述升降机构用来对测定头进行竖直高度的调节；所述升降机构侧面上连接有二号滑动块，所述二号滑动块活动安装于二号滑轨外壁上；所述二号滑动块和二号滑轨配合使用，以便测定头可以通过二号滑动块沿着二号滑轨进行水平方向上的滑动；所述测定头归零装置和测定头配合使用；测定前，所述测定头通过二号滑动块向靠近测定头归零装置的方向进行水平移动，所述测定头归零装置根据预先设定好的数值将测定头进行归零处理；测定时，所述测定头会进行复位，所述测定头底部上的感受器会与膜本体上表面进行多次接触，以实现对膜本体厚度的测定。
[0007]优选的：所述工作台上表面还设置有二号滑动机构，所述二号滑动机构在动力装置的驱动下可沿着水平方向进行滑动；所述二号滑动机构侧面上设置有一号滑动机构，且所述二号滑动机构和一号滑动机构位于同一侧；所述一号滑动机构在动力装置的驱动下可沿着竖直方向进行上下移动。
[0008]优选的：所述测定台底部的两侧上均设置有一号滑动块，所述一号滑动块底部上开设有滑动腔；所述滑动腔内壁上活动装配有一号滑轨，以便一号滑动块沿着一号滑轨在水平方向上滑动。
[0009]优选的：所述二号滑动块设为两个，两个所述二号滑动块之间设置有二号丝杆，所述二号丝杆外壁上通过连接块连接有升降机构；所述二号丝杆靠近测定台的一端上连接有驱动电机，所述驱动电机用来驱动二号丝杆进行转动。
[0010]优选的：所述工作台上表面设置有一号移动机构；所述一号移动机构包含第一水平移动机构和第一竖直移动机构，所述第一水平移动机构和第一竖直移动机构的相互位置关系固定；所述一号移动机构底部上设置有二号吸盘；所述第一水平移动机构用于驱动二
号吸盘进行水平方向上的移动；所述第一竖直移动机构用于驱动二号吸盘进行竖直方向上的移动。
[0011]优选的：所述工作台上表面还设置有二号移动机构，所述二号移动机构和一号移动机构呈对称设置；所述二号移动机构包含第二水平移动机构和第二竖直移动机构，所述第二水平移动机构和第二竖直移动机构的相互位置关系固定；所述二号移动机构底部上设置有三号吸盘；所述第二水平移动机构用于驱动三号吸盘进行水平方向上的移动；所述第二竖直移动机构用于驱动三号吸盘进行竖直方向上的移动。
[0012]优选的：所述测定头归零装置和一号移动机构之间设置有一号放置盘，所述一号放置盘用来放置符合标准的膜本体；所述一号放置盘关于一号移动机构和二号移动机构对称的设置有二号放置盘，所述二号放置盘用来放置不符合标准的膜本体。
[0013]优选的：所述一号滑动机构底部上设置有一号吸盘，所述一号吸盘用来对膜本体进行吸附；所述一号吸盘斜下方设置有伺服电机。
[0014]优选的：所述伺服电机轴端连接有一号丝杆；所述一号丝杆外壁的顶部上连接有测定台，以便带动测定台进行移动，所述测定台用来放置待测定的膜本体。
[0015]与现有技术相比，本技术提供了一种用于膜厚测定的装置，具备以下有益效果：
[0016]本技术通过设计的测定头、升降机构、二号滑动块、二号滑轨、二号丝杆、驱动电机和测定头归零装置，其中在二号滑动块、二号滑轨、二号丝杆和驱动电机的配合下，实现了测定头在水平方向上自由移动，其中升降机构实现了测定头在竖直方向上自由移动，最终在测定头和测定头归零装置的配合下，完成了对膜厚度是否符合标准的测定。
[0017]本技术通过设计的一号吸盘、一号滑动机构、二号滑动机构、测定台、一号滑动块、一号滑轨、一号丝杆和伺服电机，共同构成了一套自动上料机构，便于将待测定的膜进行自动化上料，全程无需工作人员参与，节约了人力和物力。
[0018]本技术通过设计的一号移动机构和二号移动机构，其中一号移动机构和二号移动机构分别于对应的吸盘相配合，做到了对合格品和非合格品的收集工作。
附图说明
[0019]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制，在附图中：
[0020]图1为本技术所述的用于膜厚测定的装置的第一角度的立体图；
[0021]图2为本技术所述的用于膜厚测定的装置的第二角度的立体图；
[0022]图3为本技术所述的用于膜厚测定的装置的第三角度的立体图；
[0023]图4为本技术所述的用于膜厚测定的装置中一号移动机构的立体结构示意图；
[0024]图5为本技术图4中A处放大示意图；
[0025]图6为本技术所述的用于膜厚测定的装置中工作台的主视图；
[0026]图7为本技术所述的用于膜厚测定的装置图6中B处放大示意图；
[0027]图8为本技术所述的用于膜厚测定的装置中测定头归零装置的结构示意图；
[0028]图9为本技术图3中C处放大示意图；
[0029]图中：1、工作台；2、膜本体放置台；3、膜本体；4、一号吸盘；5、一号滑动机构；6、二号滑动机构；7、测定台；8、一号滑动块；9、一号滑轨；10、一号丝杆；11、伺服电机；12、测定头；13、升降机构；14、二号滑动块；15、二号滑轨；16、二号丝杆；17、驱动电机；18、测定头归零装置；19、一号移动机构；20、二号吸盘；21、一号放置盘；22、二号移动机构；23、二号放置盘；24、三号吸盘。
具体实施方式
[0030]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0031]请参阅图1
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9，本技术提供一种技术方案：一种用于膜厚测定的装置，包括工作台1，所述工作台1上表面设置有膜本体放置台2，所述膜本体放置台2上可设置有膜本体3。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于膜厚测定的装置，包括测定台和测定头归零装置，其特征在于：所述测定台上方设置有测定头，所述测定头设为多个；所述测定头侧面上连接有升降机构，所述升降机构用来对测定头进行竖直高度的调节；所述升降机构侧面上连接有二号滑动块，所述二号滑动块活动安装于二号滑轨外壁上；所述二号滑动块和二号滑轨配合使用，以便测定头可以通过二号滑动块沿着二号滑轨进行水平方向上的滑动；所述测定头归零装置和测定头配合使用；测定前，所述测定头通过二号滑动块向靠近测定头归零装置的方向进行水平移动，所述测定头归零装置根据预先设定好的数值将测定头进行归零处理；测定时，所述测定头会进行复位，所述测定头底部上的感受器会与膜本体上表面进行多次接触，以实现对膜本体厚度的测定。2.根据权利要求1所述的用于膜厚测定的装置，其特征在于：还包括工作台，所述工作台上表面还设置有二号滑动机构，所述二号滑动机构在动力装置的驱动下可沿着水平方向进行滑动；所述二号滑动机构侧面上设置有一号滑动机构，且所述二号滑动机构和一号滑动机构位于同一侧；所述一号滑动机构在动力装置的驱动下可沿着竖直方向进行上下移动。3.根据权利要求1所述的用于膜厚测定的装置，其特征在于：所述测定台底部的两侧上均设置有一号滑动块，所述一号滑动块底部上开设有滑动腔；所述滑动腔内壁上活动装配有一号滑轨，以便一号滑动块沿着一号滑轨在水平方向上滑动。4.根据权利要求1所述的用于膜厚测定的装置，其特征在于：所述二号滑动块设为两个，两个所述二号滑动块之间设置有二号丝杆，所述二号丝杆外壁上通过连接块连接有升降机构；所述二号丝杆靠近测定台的一端上连接有驱动电机，所述驱动电机用来驱动二号丝杆进...

【专利技术属性】
技术研发人员：许陈杰，
申请(专利权)人：苏州邦勒尔自动化科技有限公司，
类型：新型
国别省市：