用于离子源的磁体定位系统技术方案

本发明专利技术公开了一种质谱仪，该质谱仪包括电离组件，该电离组件包括电离室和至少一个离子透镜。可拆卸电离组件具有由离开电离组件的离子束的方向限定的主轴，并且电离室和至少一个离子透镜沿着该主轴布置。质谱仪还包括沿着电离组件的主轴对准的电子源和包括磁体的磁体组件。电子源被配置为提供平行于主轴的电子束。磁体组件可在第一位置和第二位置之间移动，在第一位置中磁体被定位成允许移除离子源，在第二位置中磁体与电子源对准。在第二位置中磁体与电子源对准。在第二位置中磁体与电子源对准。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于离子源的磁体定位系统


[0001]本公开总体上涉及质谱分析领域，包括用于离子源的磁体定位系统。
[0002]引言
[0003]质谱分析可用于对样品进行详细分析。此外，质谱可为样品中的大量化合物提供定性(样品中是否存在化合物X)和定量(样品中存在多少化合物X)数据两者。这些能力已用于各种各样的分析，诸如测试药物使用、确定食物中的农药残留、监测水质等等。
[0004]用于质谱分析的样品的电离需要离子源，诸如电子碰撞电离(EI)源或化学电离(CI)源。在一些情况下，单个源可在EI模式和CI模式之间切换。虽然源可以在没有维护的情况下进行许多实验，但可能需要对源进行定期维护。这可包括清洁由电离过程留下的随时间积累的沉积物或替换可消耗部件，诸如电子源长丝。另外，在对离子源进行维护时，可能希望避免使质谱仪排气，因为从接近大气压的压力重新建立质谱仪操作所需的真空压力可能需要几个小时。从上述内容可以理解，存在对改进的离子源的需求。

技术实现思路

[0005]质谱仪可包括电离组件，该电离组件包括电离室和至少一个离子透镜。可拆卸电离组件可具有由离开电离组件的离子束的方向限定的主轴，并且电离室和至少一个离子透镜可沿着主轴布置。质谱仪还可包括沿着电离组件的主轴对准的电子源和包括磁体的磁体组件。电子源可被配置成提供平行于主轴的电子束。磁体组件可在第一位置和第二位置之间移动，在第一位置中磁体被定位成允许移除离子源，在第二位置中磁体与电子源对准。为了优化的目的，磁体位置相对于电子源的微调也是可行的，使得第二位置是可调节的。
附图说明
[0006]为了更完整地理解本文所公开的原理及其优点，现在参考以下结合附图进行的描述，其中：
[0007]图1是根据各种实施方案的示例性质谱分析系统的框图。
[0008]图2是根据各种实施方案的离子源的图示。
[0009]图3A和图3B示出了根据各种实施方案的结合离子源的示例性磁体组件的操作。
[0010]图4A和图4B示出了根据各种实施方案的结合离子源的另一示例性磁体组件的操作。
[0011]图5A和图5B示出了根据各种实施方案的结合离子源的又一示例性磁体组件的操作。
[0012]图6A和图6B示出了根据各种实施方案的结合离子源的另一示例性磁体组件的操作。
[0013]图7A和图7B示出了根据各种实施方案的结合离子源的第五示例性磁体组件的操作。
[0014]图8A和图8B示出了根据各种实施方案的结合离子源的第六示例性磁体组件的操
作。
[0015]图9示出了根据各种实施方案的替换离子源的示例性方法。
[0016]图10示出了根据各种实施方案的替换离子源的另一示例性方法。
[0017]应当理解的是，附图不一定按比例绘制，附图中的对象也不一定按比例绘制。附图是旨在使本文公开的设备、系统和方法的各种实施方案清楚明白的描绘。在可能的情况下，贯穿附图将使用相同的附图标记来指代相同或相似的部件。此外，应当理解，附图并非旨在以任何方式限制本教导的范围。
[0018]各种实施方案的描述
[0019]本文描述了用于离子源的磁体定位系统的实施方案。
[0020]本文中使用的章节标题仅出于组织目的，并且不应被解释为以任何方式限制所述的主题。
[0021]在各种实施方案的详细描述中，出于解释的目的，阐述了许多具体细节以提供对所公开的实施方案的透彻理解。然而，所属领域的技术人员将了解，可在具有或不具有这些特定细节的情况下实践这些各种实施方案。在其他实例中，结构和装置以框图形式示出。此外，本领域技术人员可容易地认识到，呈现和执行方法的具体顺序是例示性的，并且预期该顺序可变化并且仍然保持在本文公开的各种实施方案的实质和范围内。
[0022]在本申请中引用的所有文献和类似材料，包括但不限于专利、专利申请、文章、书籍、论文和互联网网页，出于任何目的通过引用以其整体明确地并入。除非另外描述，否则本文使用的所有技术和科学术语具有如本文描述的各种实施方案所属领域的普通技术人员通常理解的含义。
[0023]应当理解，在本教导中讨论的温度、浓度、时间、压力、流速、横截面积等之前存在隐含的“约”，使得本教导的范围内存在轻微和非实质性的偏差。在本申请中，除非另有明确规定，否则单数的使用包括复数。此外，“包含”、“包括”和“含有”的使用并非旨在进行限制。应当理解，前面的一般性描述和下面的详细描述两者仅是示例性和说明性的，而不是对本教导的限制。
[0024]如本文所用，“一”或“一个”也可指“至少一个”或“一个或多个”。而且，“或”的使用是包含性的，使得当“A”为真、“B”为真或“A”和“B”两者均为真时，短语“A或B”为真。此外，除非上下文另有要求，否则单数术语应包括复数并且复数术语应包括单数。
[0025]“系统”阐述了一组真实或抽象的部件，包括整体，其中每个部件与整体内的至少一个其他部件相互作用或相关。
[0026]质谱平台
[0027]质谱平台100的各种实施方案可以包括如图1的框图中所示的组件。在各种实施方案中，图1的元件可以被合并到质谱平台100中。根据各种实施方案，质谱仪100可包括离子源102、质量分析仪106、离子检测器108和控制器110。
[0028]在各种实施方案中，离子源102从样品中产生多个离子。离子源可以包括但不限于电子电离(EI)源、化学电离(CI)源等。
[0029]在各种实施方案中，质量分析仪106可以基于离子的质荷比分离离子。举例来说，质量分析仪106可以包括四极杆滤质器分析仪、四极杆离子阱分析仪、飞行时间(TOF)分析仪、静电阱(例如，轨道阱)质量分析仪、傅里叶变换离子回旋共振(FT
‑
ICR)质量分析仪等。
在各种实施方案中，质量分析仪106还可以被配置成使用碰撞诱导解离(CID)、电子转移解离(ETD)、电子捕获解离(ECD)、光诱导解离(PID)、表面诱导解离(SID)等来碎裂离子，并且基于质荷比进一步分离碎片离子。在各种实施方案中，质量分析仪106可以是混合系统，该混合系统并入一个或多个通过离子光学器件和存储装置的各种组合耦合的质量分析仪和质量分离器。举例来说，混合系统可以是线性离子阱(LIT)、高能碰撞解离装置(HCD)、离子传输系统和TOF。
[0030]在各种实施方案中，离子检测器108可以检测离子。举例来说，离子检测器108可以包括电子倍增器、法拉第杯(Faraday cup)等。可以通过离子检测器检测离开质量分析仪的离子。在各种实施方案中，离子检测器可以是定量的，使得可以确定离子的精确计数。在各个实施方案中，如利用静电阱质量分析仪，质量分析仪检测离子，从而将质量分析仪106和离子检测器108两者的性质组合到一个装置中。
[0031]在各种实施方案中，控制器110可以与离子源102、质量分析仪106和离子检测器108通信。举例来说，控制器110可以配置离子源102或启用/本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种质谱仪，所述质谱仪包括：电离组件，所述电离组件包括电离室和至少一个离子透镜，可拆卸电离组件具有由离开所述电离组件的离子束的方向限定的主轴，所述电离室和所述至少一个离子透镜沿着所述主轴布置；电子源，所述电子源沿着所述电离组件的所述主轴对准并且被配置成提供平行于所述主轴的电子束；和磁体组件，所述磁体组件包括磁体；所述磁体组件能够在第一位置和第二位置之间移动，在所述第一位置中所述磁体被定位成允许移除所述离子源，在所述第二位置中所述磁体与所述电子源对准。2.根据权利要求1所述的离子源，其中所述磁体组件包括第二磁体。3.根据权利要求1或2所述的离子源，其中所述磁体是电磁体。4.根据前述权利要求中任一项所述的离子源，其中所述磁体组件热耦合到真空室的一部分，所述真空室的所述部分充当散热器。5.根据前述权利要求中任一项所述的离子源，其中所述电子源包括热离子长丝。6.根据权利要求1
‑
4中任一项所述的离子源，其中所述电子源包括场发射体。7.根据前述权利要求中任一项所述的离子源，其中所述磁体组件围绕所述第一位置与所述第二位置之间的枢转点旋转。8.根据权利要求1
‑
6中任一项所述的离子源，其中所述磁体组件在所述第一位置和所述第二位置之间能够滑动地平移。9.根据前述权利要求中任一项所述的离子源，还包括用于在所述第一位置和所述第二位置之间移动所述磁体组件的马达。10.根据前述权利要求中任一项所述的离子源，其中所述磁体组件、所述电离组件和所述电子源在真空室内；并且所述磁体组件的移动由位于所述真空室外部并且磁性地耦合到所述磁体组件的部件控制。11.一种从离子源移除电离组件的方法，所述方法包括:将包括磁体的磁体组件从其中所述磁体与电子源对准的第一位置移动到其中所述磁体不阻碍所述电离组件的移除的第二位置，所述电离组件具有由离开所述电离组件的离子束的方向限定的主轴、沿着所述主轴布置的电离室和...

【专利技术属性】
技术研发人员：D，
申请(专利权)人：萨默费尼根有限公司，
类型：发明
国别省市：