一种通用测试治具及装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种通用测试治具及装置，治具包括底座、测试组件和定位组件；测试组件包括多个测试插座；定位组件包括第一可调定位机构、第二可调定位机构、盖压板、第一卡接结构和第二卡接结构，第一可调定位机构连接底座和盖压板，第二可调定位机构连接底座和第二卡接结构，第一卡接结构连接于盖压板，盖压板与第一可调定位机构铰接，第一卡接结构用于与第二卡接结构卡合连接，第二卡接结构设于第一卡接结构的运动路径。本实用新型专利技术旋转盖压板能够将插头产品压紧，能够有效提高插头产品与测试插座之间连接结构的可靠性，可有效提高测试结果的可靠性，能够针对不同的插头产品实现相应压紧定位的动作，通用性强。通用性强。通用性强。

【技术实现步骤摘要】
一种通用测试治具及装置


[0001]本技术涉及测试领域，特别涉及一种通用测试治具及装置。

技术介绍

[0002]测试治具，是用于专门对产品的功能、功率、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具，主要用在生产线上用于产品的各项指标测试。
[0003]电源插头又称电源适配器，出产之后需要对其性能进行测试，相关技术中，电源插头的测试治具通常是在一个底座上设置多个测试插座，人工将待测的插头产品接插到测试插座之后进行测试，工人的工作强度大，容易因工人疲劳导致插头产品与电源插座之间的连接松动，影响测试结果，存在测试结果不可靠的问题，特别是需要对多种规格的插头进行测试时，现有测试治具因人工接插不稳定而带来的测试结果不可靠问题更明显。

技术实现思路

[0004]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本技术提供了一种通用测试治具及装置，能够有效提高插头产品与测试插座之间连接的可靠性，进而有效提高测试结果的可靠性，且通用性强。
[0005]本技术第一方面实施例提供一种通用测试治具，包括底座、测试组件和定位组件；测试组件包括多个测试插座，测试插座连接于底座，测试插座用于连接插头产品；定位组件设于测试组件的上方，定位组件包括第一可调定位机构、第二可调定位机构、盖压板、第一卡接结构和第二卡接结构，第一可调定位机构连接底座和盖压板，第一可调定位机构用于实现盖压板相对于底座的位置调节与锁止，第二可调定位机构连接底座和第二卡接结构，第二可调定位机构用于实现第二卡接结构相对于底座的位置调节与锁止，第一卡接结构连接于盖压板，盖压板与第一可调定位机构铰接，第一卡接结构用于与第二卡接结构卡合连接，第二卡接结构设于第一卡接结构的运动路径，以使盖压板锁止于测试插座的上方并将插头产品压紧于测试插座。
[0006]根据本技术的上述实施例，至少具有如下有益效果：在插头产品连接到测试插座之后，旋转盖压板能够统一将插头产品压紧接入到测试插座，并且盖压板旋转到位时第一卡接结构和第二卡接结构扣合连接，盖压板的位置被锁止，能够有效提高插头产品与测试插座之间连接结构的可靠性，能够显著减少因插头产品与测试插座之间连接结构不稳定所带来的测试误差，可有效提高测试结果的可靠性，盖压板和第二卡接结构均与底座之间可调节连接，通过第一可调定位机构和第二可调定位机构分别对盖压板和第二卡接结构进行调节，能够针对不同的插头产品实现相应压紧定位的动作，通用性强。
[0007]根据本技术一些实施例的一种通用测试治具，第一可调定位机构包括第一立板、第二立板和第二调节螺丝，第一立板连接底座，第二立板设有第二腰型孔，第二调节螺丝穿设于第二腰型孔并与第一立板螺纹连接。
[0008]根据本技术一些实施例的一种通用测试治具，底座设有第一腰型孔，第一可
调定位机构还包括第一调节螺丝，第一调节螺丝穿设于第一腰型孔并与第一立板螺纹连接。
[0009]根据本技术一些实施例的一种通用测试治具，第二可调定位机构包括第三立板、第四立板和第四调节螺丝，第三立板连接底座，第四立板设有第四腰型孔，第四调节螺丝穿设于第四腰型孔并与第三立板螺纹连接。
[0010]根据本技术一些实施例的一种通用测试治具，底座设有第三腰型孔，第二可调定位机构还包括第三调节螺丝，第三调节螺丝穿设于第三腰型孔并与第三立板螺纹连接。
[0011]根据本技术一些实施例的一种通用测试治具，第一卡接结构包括弹性件和卡扣件，卡扣件与盖压板转动连接，卡扣件的一端设有卡勾，弹性件连接卡扣件的另一端和盖压板，以使卡勾形成靠近盖压板运动的趋势，第二卡接结构包括卡座，卡座连接于第二可调定位机构，卡座设有卡槽，卡槽用于卡接固定卡勾。
[0012]根据本技术一些实施例的一种通用测试治具，定位组件还包括多个与测试插座一一对应的压紧块，压紧块连接于盖压板靠近测试插座的一面。
[0013]根据本技术一些实施例的一种通用测试治具，测试组件和定位组件均设有至少两组，测试组件与定位组件一一对应。
[0014]本技术第二方面实施例提供一种通用测试装置，包括上述第一方面实施例任意一项的一种通用测试治具。
[0015]根据本技术的上述实施例，至少具有如下有益效果：在插头产品连接到测试插座之后，旋转盖压板能够统一将插头产品压紧接入到测试插座，并且盖压板旋转到位时第一卡接结构和第二卡接结构扣合连接，盖压板的位置被锁止，能够有效提高插头产品与测试插座之间连接结构的可靠性，能够显著减少因插头产品与测试插座之间连接结构不稳定所带来的测试误差，可有效提高测试结果的可靠性，盖压板和第二卡接结构均与底座之间可调节连接，通过第一可调定位机构和第二可调定位机构分别对盖压板和第二卡接结构进行调节，能够针对不同的插头产品实现相应压紧定位的动作，通用性强。
[0016]根据本技术一些实施例的一种通用测试装置，测试组件还包括多个与测试插座一一对应的测试电路模块，测试电路模块连接测试插座，测试电路模块用于通过测试插座对插头产品进行测试。
[0017]本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0018]本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0019]图1是本技术实施例的一种通用测试治具的立体结构示意图；
[0020]图2是本技术实施例的一种通用测试治具的俯视结构示意图；
[0021]图3是沿图2中A
‑
A的剖面结构示意图；
[0022]图4是在图3中B的放大结构示意图；
[0023]图5是本技术实施例的一种通用测试装置的立体结构示意图。
[0024]附图标记：
[0025]底座100、接线孔110；
[0026]测试组件200、测试插座210、测试电路模块220；
[0027]定位组件300、第一可调定位机构310、第一立板311、第二立板312、第一腰型孔313、第一调节螺丝314、第二腰型孔315、第二调节螺丝316、第二可调定位机构320、第三立板321、第四立板322、第三腰型孔323、第三调节螺丝324、第四腰型孔325、第四调节螺丝326、盖压板330、第一卡接结构340、弹性件341、卡扣件342、卡勾343、第二卡接结构350、卡座351、卡槽352、压紧块360、限位条370。
具体实施方式
[0028]下面详细描述本技术的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0029]在本技术的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、左、右、前、后等指示的方位或位置关系为基于附图所示的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通用测试治具，其特征在于，包括：底座；测试组件，包括多个测试插座，所述测试插座连接于所述底座，所述测试插座用于连接插头产品；定位组件，所述定位组件设于所述测试组件的上方，所述定位组件包括第一可调定位机构、第二可调定位机构、盖压板、第一卡接结构和第二卡接结构，所述第一可调定位机构连接所述底座和所述盖压板，所述第一可调定位机构用于实现所述盖压板相对于所述底座的位置调节与锁止，所述第二可调定位机构连接所述底座和所述第二卡接结构，所述第二可调定位机构用于实现所述第二卡接结构相对于所述底座的位置调节与锁止，所述第一卡接结构连接于所述盖压板，所述盖压板与所述第一可调定位机构铰接，所述第一卡接结构用于与所述第二卡接结构卡合连接，所述第二卡接结构设于所述第一卡接结构的运动路径，以使所述盖压板锁止于所述测试插座的上方并将所述插头产品压紧于所述测试插座。2.根据权利要求1所述的一种通用测试治具，其特征在于，所述第一可调定位机构包括第一立板、第二立板和第二调节螺丝，所述第一立板连接所述底座，所述第二立板设有第二腰型孔，所述第二调节螺丝穿设于所述第二腰型孔并与所述第一立板螺纹连接。3.根据权利要求2所述的一种通用测试治具，其特征在于，所述底座设有第一腰型孔，所述第一可调定位机构还包括第一调节螺丝，所述第一调节螺丝穿设于所述第一腰型孔并与所述第一立板螺纹连接。4.根据权利要求2或3所述的一种通用测试治具，其特征在于，所述第二可调定位机构包括第三立板、第四立...

【专利技术属性】
技术研发人员：李博睿，陆小竞，许胧译，
申请(专利权)人：赛尔康技术深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：