本公开涉及显示装置及检查显示装置的方法。显示装置包括显示层，该显示层包括其中布置有多个像素的有效区域和邻近有效区域定位的外围区域。显示层包括：晶体管，设置在有效区域中并且包括栅极、源极和漏极；第一裂纹线，设置在外围区域中并且在平面图中围绕有效区域的一部分；以及第二裂纹线，在第一裂纹线下方设置在外围区域中。第一裂纹线与第二裂纹线绝缘。缘。缘。
【技术实现步骤摘要】
显示装置及检查显示装置的方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本专利申请要求于2022年1月14日提交的第10
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2022
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0005925号韩国专利申请的优先权，该韩国专利申请的公开内容以其全文通过引用并入本文中。
[0003]本公开涉及能够检查其缺陷的显示装置和检查显示装置的方法。
技术介绍
[0004]随着显示装置技术的新近发展，正在开发包括柔性显示面板的显示装置。柔性显示装置包括具有用于显示图像的像素的柔性显示面板和用于驱动像素的驱动芯片。像素设置在显示面板的显示区域中，并且驱动芯片设置在围绕显示区域的非显示区域中。在驱动芯片和显示区域之间限定有弯曲部分，并且弯曲部分弯曲以使驱动芯片设置在显示面板下方。
[0005]应该在制造之后执行检测显示装置的缺陷和裂纹的检查，以降低显示装置的工艺缺陷率。
技术实现思路
[0006]本公开的至少一个实施例提供了一种具有增强的缺陷检查可靠性的显示装置。
[0007]本公开的至少一个实施例提供了一种用于检查显示装置的方法。
[0008]本专利技术构思的实施例提供了一种显示装置，包括显示层，所述显示层包括其中布置有多个像素的有效区域和邻近有效区域定位的外围区域。显示层包括：晶体管，设置在有效区域中并且包括栅极、源极和漏极；第一裂纹线；以及第二裂纹线。第一裂纹线设置在外围区域中，并且在平面图中围绕有效区域的一部分。第二裂纹线在第一裂纹线下方设置在外围区域中。第一裂纹线与第二裂纹线绝缘。
[0009]在实施例中，第一裂纹线在平面图中与第二裂纹线重叠。
[0010]显示层还可以包括设置在第一裂纹线和第二裂纹线之间的绝缘层。
[0011]在实施例中，第一裂纹线和第二裂纹线中的至少一个设置在与晶体管相同的层上。
[0012]第二裂纹线可以在平面图中围绕有效区域的一部分。
[0013]在实施例中，有效区域包括图案孔，并且第一裂纹线围绕图案孔的一部分。
[0014]在实施例中，显示层还包括电连接到晶体管的驱动电路，外围区域包括第一区域、在第一方向上与第一区域间隔开的第二区域、以及设置在第一区域和第二区域之间的弯曲区域，其中，第一区域邻近有效区域定位，并且驱动电路设置在第二区域中。
[0015]在实施例中，第一裂纹线和第二裂纹线中的每一个设置在第一区域、第二区域和弯曲区域中。
[0016]显示装置还可以包括传感器层，其设置在显示层上，用于感测外部输入，并且包括
多个导电层。
[0017]本专利技术构思的实施例提供了一种检查显示装置的方法。所述方法包括提供显示装置，所述显示装置包括显示层，所述显示层包括其中布置有多个像素的有效区域和邻近有效区域定位的外围区域，并且包括：晶体管，设置在有效区域中并且包括栅极、源极和漏极；第一裂纹线；第二裂纹线；以及绝缘层。第一裂纹线设置在外围区域中，并且在平面图中围绕有效区域的一部分。第二裂纹线在第一裂纹线下方设置在外围区域中。绝缘层设置在第一裂纹线与第二裂纹线之间。所述方法还包括：基于第一裂纹线和第二裂纹线中的至少一个来检测显示装置中是否出现缺陷；以及基于惠斯通(Wheatstone)电桥来分析缺陷出现的位置。
[0018]可以使用默里(Murray)环路测试来进行对缺陷的位置的分析。
[0019]所述方法可以包括：基于第一裂纹线来检测第一裂纹线的第一缺陷是否出现；以及基于第一裂纹线和第二裂纹线来检测绝缘层的第二缺陷是否出现。
[0020]对缺陷的位置的分析可以包括分析绝缘层中出现的第二缺陷的位置。
[0021]对缺陷的位置的分析可以包括将包括默里环路测试仪的检测器电连接到第一裂纹线。
[0022]对缺陷的位置的分析可以包括将第二裂纹线连接到接地电压。
[0023]对缺陷的位置的分析可以包括检测在第一裂纹线中产生过热的位置。
[0024]本专利技术构思的实施例提供了一种检查显示装置的方法。所述方法包括提供显示装置，所述显示装置包括显示层，所述显示层包括其中布置有多个像素的有效区域和邻近有效区域定位的外围区域，并且包括：第一裂纹线，设置在外围区域中并且在平面图中围绕有效区域的一部分；以及第二裂纹线，在第一裂纹线下方设置在外围区域中。所述方法包括：基于第一裂纹线和第二裂纹线来检测显示层中是否出现缺陷；以及基于默里环路测试来分析缺陷出现的位置。
[0025]对缺陷的位置的分析可以包括将第二裂纹线连接到接地电压。
[0026]对缺陷的位置的分析可以包括将第一裂纹线连接到检测器并且允许第一裂纹线和检测器形成惠斯通电桥。
[0027]对缺陷的位置的分析可以包括检测在第一裂纹线中产生过热的位置。
[0028]在实施例中，检测器电连接到第一裂纹线的两端并且测量电流和/或电阻。当测量到开路电流和/或开路电阻时，检测器确定在显示装置中出现缺陷。当测量到短路电流和/或短路电阻时，检测器确定在显示装置中出现缺陷。因此，提供了一种具有增强的缺陷检查可靠性的显示装置和一种检查显示装置的方法。
[0029]此外，用户可以使用检测到的显示装置的缺陷来降低显示装置的工艺缺陷率。可以基于第一裂纹线的长度来确定缺陷出现的位置，所述第一裂纹线的长度可以根据使用默里环路测试来检查显示装置的方法来计算。此外，可以基于检测到的缺陷位置来校正显示装置的制造工艺，以防止未来在相同的位置出现缺陷。因此，可以增强显示装置的制造工艺的可靠性和显示装置的检查方法的可靠性。
附图说明
[0030]当结合附图考虑时，通过参考以下详细描述，本公开将变得显而易见，其中：
[0031]图1是根据本公开的实施例的显示装置的立体图；
[0032]图2A是根据本公开的实施例的显示装置的剖视图；
[0033]图2B是根据本公开的实施例的显示装置的剖视图；
[0034]图3是根据本公开的实施例的沿着图1的线I
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I'截取的显示装置的剖视图；
[0035]图4是根据本公开的实施例的显示层的平面图；
[0036]图5是根据本公开的实施例的沿着图4的线II
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II'截取的剖视图；
[0037]图6是根据本公开的实施例的检查显示装置的方法的流程图；
[0038]图7A是根据本公开的实施例的显示层的平面图；
[0039]图7B是根据本公开的实施例的图7A的区域AA'的放大平面图；
[0040]图8A是根据本公开的实施例的显示层的平面图；
[0041]图8B是根据本公开的实施例的显示层的平面图；
[0042]图9是根据本公开的实施例的沿着图8A的线III
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III'截取的剖视图；
[0043]图10是解释根据本公开的实施例的使用默里环路测试来定位缺陷的方法的视图；以及
[0044]图11是根据本公开的实施例的惠斯通电桥的电路图。
具本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示装置，包括：显示层，包括其中布置有多个像素的有效区域和邻近所述有效区域定位的外围区域，所述显示层包括：晶体管，设置在所述有效区域中并且包括栅极、源极和漏极；第一裂纹线，设置在所述外围区域中并且在平面图中围绕所述有效区域的一部分；以及第二裂纹线，在所述第一裂纹线下方设置在所述外围区域中，其中，所述第一裂纹线与所述第二裂纹线绝缘。2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述第一裂纹线在所述平面图中与所述第二裂纹线重叠。3.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述显示层还包括设置在所述第一裂纹线与所述第二裂纹线之间的绝缘层。4.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述第一裂纹线和所述第二裂纹线中的至少一个设置在与所述晶体管相同的层上。5.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述第二裂纹线在所述平面图中围绕所述有效区域的所述一部分。6.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述有效区域包括图案孔，并且所述第一裂纹线围绕所述图案孔的一部分。7.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述显示层还包括电连接到所述晶体管的驱动电路，所述外围区域包括第一区域、在第一方向上与所述第一区域间隔开的第二区域、以及设置在所述第一区域与所述第二区域之间的弯曲区域，所述第一区域邻近所述有效区域定位，并且所述驱动电路设置在所述第二区域中。8.根据权利要求7所述的显示装置，其中，所述第一裂纹线和所述第二裂纹线中的每一个设置在所述第一区域、所述第二区域和所述弯曲区域中。9.根据权利要求1所述的显示装置，还包括传感器层，所述传感器层设置在所述显示层上，感测外部输入，并且包括多个导电层。10.一种检查显示装置的方法，包括：提供显示装置，所述显示装置包括显示层，所述显示层包括其中布置有多个像素的有效区域和邻近所述有效区域定位的外围区域，所述显示层包括：晶体管，设置在所述有效区域中并且包括栅极、源极和漏极；第一裂纹线，设置在所述外围区域中并且在平面图中围绕所述有效区域的一部分；第二裂纹线，在所述第一裂纹线下方设置在所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：池安祜，朴相禹，曹成豪，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：
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