电子内窥镜系统加速老化试验方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:38208479 阅读:16 留言:0更新日期:2023-07-21 16:58
本申请公开了一种电子内窥镜系统加速老化试验方法、装置、设备及介质,涉及电子内窥镜系统领域,包括:确定对电子内窥镜系统进行加速老化存储试验和加速老化工作试验时分别允许的试验参数;将试验参数输入至加速老化模型以计算加速老化因子;计算电子内窥镜系统在预设使用期限内的总上电工作时长和总断电时长;根据基于加速老化因子、总上电工作时长和总断电时长计算出加速老化工作时间和加速老化存储时间,进而根据参数和时间这些试验条件对电子内窥镜系统进行加速老化试验。本申请将加速老化试验分为加速老化存储和加速老化工作两部分,模拟实际临床中开机和关机的场景,使得试验更贴近电子内窥镜的实际使用情况,从而提高试验结果的准确性。高试验结果的准确性。高试验结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
电子内窥镜系统加速老化试验方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及电子内窥镜系统领域,特别涉及一种电子内窥镜系统加速老化试验方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]当前,电子内窥镜系统涉及光学、电子学、机械学、人体工程学等多个交叉学科,产品结构往往非常复杂,而且应用在医学中对产品的可靠性要求也很高,要想在产品有效期内拥有较高的可靠性就需要提前在开发验证阶段做充分的测试验证,并且产品在出厂前都会通过加速老化试验来进行可靠性研究,一般需要根据具体的产品特性,考虑主要的影响因子,从而选定合适的加速老化模型进行试验。
[0003]由于电子产品在实际使用中主要受到环境温度和湿度因素的影响,一般采用最弱链条的失效模型,通过提高温度和湿度来考核产品的使用寿命,通常选用peck模型计算加速因子,然后通过预期使用寿命直接除以加速因子计算出加速老化时间,进行加速老化工作试验,但是这样方式,并没有充分考虑到产品的实际使用场景,实际产品不是一直处于开机不断电状态,这样的试验结果不准确,从而导致评估出的产品使用寿命可能存在偏差。

技术实现思路

[0004]有鉴于此,本专利技术的目的在于提供一种电子内窥镜系统加速老化试验方法、装置、设备及介质,能够提高加速老化试验结果的准确性。其具体方案如下:
[0005]第一方面,本申请公开了一种电子内窥镜系统加速老化试验方法,包括:
[0006]确定对电子内窥镜系统进行加速老化存储试验时所允许的存储温湿度试验参数以及进行加速老化工作试验所允许的工作温湿度试验参数;
[0007]将所述存储温湿度试验参数和所述工作温湿度试验参数输入至预先创建的加速老化模型以计算出与所述加速老化存储试验和所述加速老化工作试验分别对应的加速老化因子;
[0008]计算所述电子内窥镜系统在预设使用期限内的总上电工作累计时长和总断电累计时长;
[0009]基于所述加速老化因子、所述总上电工作累计时长和所述总断电累计时长计算出加速老化工作时间和加速老化存储时间;
[0010]根据所述存储温湿度试验参数和所述加速老化存储时间以及所述工作温湿度试验参数和所述加速老化工作时间对所述电子内窥镜系统进行所述加速老化存储试验和所述加速老化工作试验。
[0011]可选的,所述确定对电子内窥镜系统进行加速老化存储试验时所允许的存储温湿度试验参数以及进行加速老化工作试验所允许的工作温湿度试验参数,包括:
[0012]统计所述电子内窥镜系统对应的物料清单中所有关键元器件分别处于存放状态和工作状态时所允许的最高温湿度;
[0013]从所有所述关键元器件分别处于所述存放状态和所述工作状态时所允许的所述最高温湿度中选取所述存放状态对应的存储温湿度最小值和所述工作状态对应的工作温湿度最小值;
[0014]将所述存储温湿度最小值确定为对所述电子内窥镜系统进行加速老化存储试验时所允许的存储温湿度试验参数,并将所述工作温湿度最小值确定为对所述电子内窥镜系统进行加速老化工作试验所允许的工作温湿度试验参数。
[0015]可选的,所述计算所述电子内窥镜系统在预设使用期限内的总上电工作累计时长和总断电累计时长,包括:
[0016]统计临床使用场景中所述电子内窥镜系统每次上电的工作时间和每天上电的工作次数,并计算所述工作时间的时间平均值和所述工作次数的次数平均值;
[0017]根据所述时间平均值和所述次数平均值计算所述电子内窥镜系统在预设使用期限内的总上电工作累计时长;
[0018]根据所述预设使用期限内的总时长和所述总上电工作累计时长确定出总断电累计时长。
[0019]可选的,所述根据所述预设使用期限内的总时长和所述总上电工作累计时长确定出总断电累计时长,包括:
[0020]将所述预设使用期限内的总时长与所述总上电工作累计时长之间的差值确定为总断电累计时长。
[0021]可选的,对所述电子内窥镜系统进行所述加速老化存储试验和所述加速老化工作试验的过程中,还包括:
[0022]定期监测所述电子内窥镜系统的功能和性能是否出现异常得到相应的监测结果;
[0023]基于所述监测结果确定是否停止相应的加速老化试验。
[0024]可选的,所述基于所述监测结果确定是否停止相应的加速老化试验,包括:
[0025]若所述监测结果表明在开展相应的加速老化试验的过程中所述电子内窥镜系统的功能和性能出现异常,则停止相应的加速老化试验;
[0026]若所述监测结果表明在开展相应的加速老化试验的过程中所述电子内窥镜系统的功能和性能未出现异常,则继续开展相应的老化加速试验。
[0027]可选的,对所述电子内窥镜系统进行所述加速老化存储试验和所述加速老化工作试验的过程中,还包括:
[0028]记录所述加速老化存储试验和所述加速老化工作试验的实际试验时间;
[0029]根据所述实际试验时间计算出所述电子内窥镜系统的实际使用寿命。
[0030]第二方面,本申请公开了一种电子内窥镜系统加速老化试验装置,包括:
[0031]试验参数确定模块,用于确定对电子内窥镜系统进行加速老化存储试验时所允许的存储温湿度试验参数以及进行加速老化工作试验所允许的工作温湿度试验参数;
[0032]加速老化因子计算模块,用于将所述存储温湿度试验参数和所述工作温湿度试验参数输入至预先创建的加速老化模型以计算出与所述加速老化存储试验和所述加速老化工作试验分别对应的加速老化因子;
[0033]第一时间计算模块,用于计算所述电子内窥镜系统在预设使用期限内的总上电工作累计时长和总断电累计时长;
[0034]第二时间计算模块,用于基于所述加速老化因子、所述总上电工作累计时长和所述总断电累计时长计算出加速老化工作时间和加速老化存储时间;
[0035]加速老化试验模块,用于根据所述存储温湿度试验参数和所述加速老化存储时间以及所述工作温湿度试验参数和所述加速老化工作时间对所述电子内窥镜系统进行所述加速老化存储试验和所述加速老化工作试验。
[0036]第三方面,本申请公开了一种电子设备,包括:
[0037]存储器,用于保存计算机程序;
[0038]处理器,用于执行所述计算机程序,以实现前述公开的电子内窥镜系统加速老化试验方法的步骤。
[0039]第四方面,本申请公开了一种计算机可读存储介质,用于存储计算机程序;其中,所述计算机程序被处理器执行时实现前述公开的电子内窥镜系统加速老化试验方法的步骤。
[0040]可见,本申请提供了一种电子内窥镜系统加速老化试验方法,包括:确定对电子内窥镜系统进行加速老化存储试验时所允许的存储温湿度试验参数以及进行加速老化工作试验所允许的工作温湿度试验参数;将所述存储温湿度试验参数和所述工作温湿度试验参数输入至预先创建的加速老化模型以计算出与所述加速老化存储试验和所述加速老化工作试验分别对应的加速老化因子;计算所述电子内窥镜系统在预设使用期限内的本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子内窥镜系统加速老化试验方法,其特征在于,包括:确定对电子内窥镜系统进行加速老化存储试验时所允许的存储温湿度试验参数以及进行加速老化工作试验所允许的工作温湿度试验参数;将所述存储温湿度试验参数和所述工作温湿度试验参数输入至预先创建的加速老化模型以计算出与所述加速老化存储试验和所述加速老化工作试验分别对应的加速老化因子;计算所述电子内窥镜系统在预设使用期限内的总上电工作累计时长和总断电累计时长;基于所述加速老化因子、所述总上电工作累计时长和所述总断电累计时长计算出加速老化工作时间和加速老化存储时间;根据所述存储温湿度试验参数和所述加速老化存储时间以及所述工作温湿度试验参数和所述加速老化工作时间对所述电子内窥镜系统进行所述加速老化存储试验和所述加速老化工作试验。2.根据权利要求1所述的电子内窥镜系统加速老化试验方法,其特征在于,所述确定对电子内窥镜系统进行加速老化存储试验时所允许的存储温湿度试验参数以及进行加速老化工作试验所允许的工作温湿度试验参数,包括:统计所述电子内窥镜系统对应的物料清单中所有关键元器件分别处于存放状态和工作状态时所允许的最高温湿度;从所有所述关键元器件分别处于所述存放状态和所述工作状态时所允许的所述最高温湿度中选取所述存放状态对应的存储温湿度最小值和所述工作状态对应的工作温湿度最小值;将所述存储温湿度最小值确定为对所述电子内窥镜系统进行加速老化存储试验时所允许的存储温湿度试验参数,并将所述工作温湿度最小值确定为对所述电子内窥镜系统进行加速老化工作试验所允许的工作温湿度试验参数。3.根据权利要求1所述的电子内窥镜系统加速老化试验方法,其特征在于,所述计算所述电子内窥镜系统在预设使用期限内的总上电工作累计时长和总断电累计时长,包括:统计临床使用场景中所述电子内窥镜系统每次上电的工作时间和每天上电的工作次数,并计算所述工作时间的时间平均值和所述工作次数的次数平均值;根据所述时间平均值和所述次数平均值计算所述电子内窥镜系统在预设使用期限内的总上电工作累计时长;根据所述预设使用期限内的总时长和所述总上电工作累计时长确定出总断电累计时长。4.根据权利要求3所述的电子内窥镜系统加速老化试验方法,其特征在于,所述根据所述预设使用期限内的总时长和所述总上电工作累计时长确定出总断电累计时长,包括:将所述预设使用期限内的总时长与所述总上电工作累计时长之间的差值确定为总断电累计时长。5.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭建丽
申请(专利权)人:重庆金山医疗技术研究院有限公司
类型:发明
国别省市:

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