本发明专利技术涉及服务器测试技术领域，公开了内存漏斗错误上报机制的测试方法、装置、设备及介质，该方法包括：基于待测内存漏斗错误上报机制在基本输入输出系统中配置漏斗上报周期和漏斗数量阈值；基于漏斗上报周期、漏斗数量阈值及内存注错工具的单次注错时长，生成内存漏斗错误测试用例；利用内存注错工具按照内存漏斗错误测试用例向内存注入可纠正错误，并获取基板管理控制器中的系统事件日志；基于日志中的内存错误记录与内存漏斗错误测试用例对应的期望内存错误记录的关系，确定待测内存漏斗错误上报机制的测试结果。从而实现了内存漏斗错误上报机制的自动化测试，测试过程中途无需人工干预，提高了测试效率，减少人工测试成本，可实现长期测试。可实现长期测试。可实现长期测试。
【技术实现步骤摘要】
内存漏斗错误上报机制的测试方法、装置、设备及介质
[0001]本专利技术涉及服务器测试领域，具体涉及内存漏斗错误上报机制的测试方法、装置、设备及介质。
技术介绍
[0002]内存漏斗错误上报机制是指根据配置的单位时间内存错误阈值，对内存可纠正错误(correctable error，简称CE)进行遗漏处理，基于遗漏后的内存CE错误的数量触发日志上报操作，避免每条CE错误都触发日志报警，同时当遇到大量报错时又能及时上报。在服务器领域，随着内存漏斗错误上报机制的出现，内存错误上报的机制越来越准确和严谨，但同时对于测试人员来说，目前内存漏斗错误上报机制的测试主要通过手动测试完成，测试效率低，测试工作量大，难以实现长期测试。
技术实现思路
[0003]有鉴于此，本专利技术提供了内存漏斗错误上报机制的测试方法、装置、设备及介质，以解决相关技术中依靠人工对内存漏斗错误上报机制进行测试的方式，测试效率低，测试工作量大，难以实现长期测试的问题。
[0004]第一方面，本专利技术提供了一种内存漏斗错误上报机制的测试方法，方法包括：
[0005]基于待测内存漏斗错误上报机制在基本输入输出系统中配置漏斗上报周期和漏斗数量阈值；
[0006]基于漏斗上报周期、漏斗数量阈值及内存注错工具的单次注错时长，生成内存漏斗错误测试用例；
[0007]利用内存注错工具按照内存漏斗错误测试用例向内存注入可纠正错误，并获取基板管理控制器中的系统事件日志；
[0008]基于系统事件日志中的内存错误记录与内存漏斗错误测试用例对应的期望内存错误记录的关系，确定待测内存漏斗错误上报机制的测试结果。
[0009]从而通过按照待测内存漏斗错误上报机制对输入输出系统进行相关配置，生成相应的内存漏斗错误测试用例，并利用内存注错工具按照内存漏斗错误测试用例进行自动化注错测试，通过对基板管理控制器中的系统事件日志进行分析的方式实现了内存漏斗错误上报机制的自动化测试，测试过程中途无需人工干预，大大提高了测试效率，减少了更多人工测试成本，可以实现长期测试。
[0010]在一种可选的实施方式中，基于漏斗上报周期、漏斗数量阈值及内存注错工具的单次注错时长，生成内存漏斗错误测试用例，包括：
[0011]基于漏斗上报周期和单次注错时长，确定单漏斗上报周期的第一注错等待时长和不同漏斗上报周期的第二注错等待时长；
[0012]基于漏斗数量阈值确定第一注错数量和第二注错数量，第一注错数量等于漏斗数量阈值，第二注错数量小于漏斗数量阈值；
[0013]在单个漏斗上报周期内，按照第一注错等待时长对第一注错数量和第二注错数量进行组合，生成多个单周期的内存漏斗错误测试用例；
[0014]在不同漏斗上报周期内，按照第二注错等待时长对第一注错数量和第二注错数量进行组合，生成多个不同周期的内存漏斗错误测试用例。
[0015]从而利用于漏斗上报周期和单次注错时长确定不同注错场景下的注错时间间隔，以满足内存漏斗错误上报机制全面的测试需求，保障最终测试结果的准确性。
[0016]在一种可选的实施方式中，利用内存注错工具按照内存漏斗错误测试用例向内存注入可纠正错误，并获取基板管理控制器中的系统事件日志，包括：
[0017]利用内存注错工具按照当前内存漏斗错误测试用例向内存注入可纠正错误，并获取基板管理控制器中与当前内存漏斗错误测试用例的注错时间和注入可纠正错误的类型相关的系统事件日志。
[0018]从而通过利用当前内存漏斗错误测试用例的注错时间和注入可纠正错误的类型进行系统事件日志的精确筛选，能够保证系统事件日志与内存漏斗错误测试用例的一致性，以进一步提高最终测试结果的准确性。
[0019]在一种可选的实施方式中，在获取基板管理控制器中与当前内存漏斗错误测试用例的注错时间和注入可纠正错误的类型相关的系统事件日志之后，方法还包括：
[0020]对操作系统进行重启；
[0021]在操作系统重启后，将下一内存漏斗错误测试用例更新为当前内存漏斗测试用例，并返回利用内存注错工具按照当前内存漏斗错误测试用例向内存注入可纠正错误的步骤，直至完成所有内存漏斗错误测试用例的测试。
[0022]从而在每完成一次内存漏斗错误测试用例的注错测试之后，通过对操作系统进行重启的方式重置漏斗上报时间，确保之后的测试不受影响，以保证测试结果的准确性。
[0023]在一种可选的实施方式中，在基于漏斗上报周期、漏斗数量阈值及内存注错工具的单次注错时长，生成内存漏斗错误测试用例之前，方法还包括：
[0024]以操作系统时间为基准，对基本输入输出系统和基板管理控制器进行时间同步。
[0025]从而通过对操作系统、基本输入输出系统和基板管理控制器时间同步的方式，保证整个自动测试过程中时间的一致性，以避免时间不同步影响测试结果的问题，提升测试结果准确性。
[0026]在一种可选的实施方式中，基于系统事件日志中的内存错误记录与内存漏斗错误测试用例对应的期望内存错误记录的关系，确定待测内存漏斗错误上报机制的测试结果，包括：
[0027]判断内存错误记录与内存漏斗错误测试用例对应的期望内存错误记录是否完全一致；
[0028]在内存错误记录与内存漏斗错误测试用例对应的期望内存错误记录完全一致时，确定待测内存漏斗错误上报机制测试通过；
[0029]在内存错误记录与内存漏斗错误测试用例对应的期望内存错误记录不完全一致时，确定待测内存漏斗错误上报机制测试未通过。
[0030]从而通过将注错后基板管理控制器中实际的内存错误记录与预期结果进行对比判断测试是否通过，通过自动化的方式实现了内存漏斗错误上报机制的验证，中途无需人
工干预。
[0031]在一种可选的实施方式中，方法还包括：在确定待测内存漏斗错误上报机制测试未通过时，提取内存错误记录与对应期望内存错误记录不一致的目标内存漏斗错误测试用例；
[0032]基于目标内存漏斗错误测试用例分析待测内存漏斗错误上报机制的测试失败原因。
[0033]从而通过对注错后基板管理控制器中实际的内存错误记录于期望结果不一致的内存漏斗错误测试用例进行分析的方式，得到测试失败原因，为后续开发人员对待测内存漏斗错误上报机制进行调整提供参考，并为测试人员进行人工验证整体测试方案的测试效果提供参考。
[0034]第二方面，本专利技术提供了一种内存漏斗错误上报机制的测试装置，装置包括：
[0035]第一处理模块，用于基于待测内存漏斗错误上报机制在基本输入输出系统中配置漏斗上报周期和漏斗数量阈值；
[0036]第二处理模块，用于基于漏斗上报周期、漏斗数量阈值及内存注错工具的单次注错时长，生成内存漏斗错误测试用例；
[0037]第三处理模块，用于利用内存注错工具按照内存漏斗错误测试用例向内存注入可纠正错误，并获取基板管理控制器中的系统事件日志；
[0038]第四处理模块，用于基于系统事件日志中的内存错误记录本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种内存漏斗错误上报机制的测试方法，其特征在于，所述方法包括：基于待测内存漏斗错误上报机制在基本输入输出系统中配置漏斗上报周期和漏斗数量阈值；基于漏斗上报周期、漏斗数量阈值及内存注错工具的单次注错时长，生成内存漏斗错误测试用例；利用所述内存注错工具按照所述内存漏斗错误测试用例向内存注入可纠正错误，并获取基板管理控制器中的系统事件日志；基于所述系统事件日志中的内存错误记录与所述内存漏斗错误测试用例对应的期望内存错误记录的关系，确定所述待测内存漏斗错误上报机制的测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于漏斗上报周期、漏斗数量阈值及内存注错工具的单次注错时长，生成内存漏斗错误测试用例，包括：基于所述漏斗上报周期和所述单次注错时长，确定单漏斗上报周期的第一注错等待时长和不同漏斗上报周期的第二注错等待时长；基于所述漏斗数量阈值确定第一注错数量和第二注错数量，所述第一注错数量等于所述漏斗数量阈值，所述第二注错数量小于所述漏斗数量阈值；在单个漏斗上报周期内，按照所述第一注错等待时长对所述第一注错数量和所述第二注错数量进行组合，生成多个单周期的内存漏斗错误测试用例；在不同漏斗上报周期内，按照所述第二注错等待时长对所述第一注错数量和所述第二注错数量进行组合，生成多个不同周期的内存漏斗错误测试用例。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述内存注错工具按照所述内存漏斗错误测试用例向内存注入可纠正错误，并获取基板管理控制器中的系统事件日志，包括：利用所述内存注错工具按照当前内存漏斗错误测试用例向内存注入可纠正错误，并获取基板管理控制器中与所述当前内存漏斗错误测试用例的注错时间和注入可纠正错误的类型相关的系统事件日志。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在获取基板管理控制器中与所述当前内存漏斗错误测试用例的注错时间和注入可纠正错误的类型相关的系统事件日志之后，所述方法还包括：对操作系统进行重启；在所述操作系统重启后，将下一内存漏斗错误测试用例更新为当前内存漏斗测试用例，并返回利用所述内存注错工具按照当前内存漏斗错误测试用例向内存注入可纠正错误的步骤，直至完成所有内存漏斗错误测试用例的测试。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在基...
【专利技术属性】
技术研发人员：周玥，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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