一种MicroLED检测设备制造技术

技术编号:38154814 阅读:22 留言:0更新日期:2023-07-13 09:22
本发明专利技术公开了一种Micro LED检测设备,包括至少一个上/下料工位和多个检测工位,每个检测工位处设置有检测装置,任意两个检测装置实现待检Micro LED不同性能的检测,待检Micro LED通过输送装置在不同检测工位之间切换,每个上/下料工位旁设置有至少一个用于循环送料Tray盘的Tray盘上下料机构,Tray盘上下料机构与位于上/下料工位之间设置有用于将Tray盘上的待检Micro LED逐个移栽至输送装置的移栽装置。本发明专利技术能够更具需要合理搭配实现对Micro LED的各项性能实现自动化检测,具有结构简单、自动化程度高的优点。自动化程度高的优点。自动化程度高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种Micro LED检测设备


[0001]本专利技术属于Micro LED检测
,具体公开了一种Micro LED检测设备。

技术介绍

[0002]Micro LED技术是一种LED微缩矩阵化技术,相比于LCD和OLED,Micro LED在亮度、效率、分辨率、可靠性以及响应速度等方面具有显著优势,故Micro LED发展成未来显示技术的热点之一。在进行巨量转移以后,为了提升和确保Micro LED显示器的良品率,检测技术将是制造过程中不可或缺的关键步骤。而Micro LED显示器所采用LED尺寸为微米等级,鉴于其微米等级的尺寸,故亟待开发一种能够适用于批量自动化检的Micro LED各项性能的检测设备。

技术实现思路

[0003]针对现有技术中存在的技术问题,本专利技术提供了一种Micro LED检测设备,其能够更具需要合理搭配实现对Micro LED的各项性能实现自动化检测,具有结构简单、自动化程度高的优点。
[0004]本专利技术公开了一种Micro LED检测设备,包括至少一个上/下料工位和多个检测工位,每个检测工位处设置有检测装置,任意两个检测装置实现待检Micro LED不同性能的检测,待检Micro LED通过输送装置在不同检测工位之间切换,每个上/下料工位旁设置有至少一个用于循环送料Tray盘的Tray盘上下料机构,Tray盘上下料机构与位于上/下料工位之间设置有用于将Tray盘上的待检Micro LED逐个移栽至输送装置的移栽装置。
[0005]在本专利技术的一种优选实施方案中,Tray盘上下料机构与位于上/下料工位之间还设置有上料大视野相机和上料精对位相机,所述上料大视野相机设置于所述Tray盘上下料机构上方,所述上料精对位相机设置于移栽装置下方。
[0006]在本专利技术的一种优选实施方案中,每个上/下料工位旁设置有两个平行布置的移栽装置,一个移栽装置用于实现待检Micro LED上料的满载Tray盘,一个移栽装置用于实现已检Micro LED下料的空载Tray盘。
[0007]在本专利技术的一种优选实施方案中,所述包括直线输送模组和驱动单元,所述直线输送模组上设置有沿其移动方向间隔布置的治具,上/下料工位和多个检测工位沿直线输送模组的移动方向间隔布置。
[0008]在本专利技术的一种优选实施方案中,所述输送装置包括转盘和驱动单元,所述转盘上设置有多个沿转盘的周向间隔布置治具,上/下料工位和多个检测工位沿转盘的周向间隔布置。
[0009]在本专利技术的一种优选实施方案中,所述转盘的中部设置有与其同轴布置有的安装架,所述安装架上布置有沿其周向间隔布置的多个信号发生器,所述信号发生器和所述面板压接导通治具一一对应布置,所述信号发生器所在的平面和所述治具所在的平面之间存在一夹角。
[0010]在本专利技术的一种优选实施方案中,所述Tray盘上下料机构包括沿第一轴向间隔布置的堆栈模组和夹持模组,所述堆栈模组的下方设置有沿第一轴向延伸布置的第一输送单元,所述第一输送单元的移动端上设置有能够沿第三轴向升降的载具,所述第一输送单元的下方设置有沿第一轴向延伸布置的第二输送单元,所述第一输送单元和所述第二输送单元之间设置有用沿第三轴向延伸布置的升降单元,所述升降单元的移动端上设置有载台,所述载台的布置位置与所述夹持模组的布置位置相对应。
[0011]在本专利技术的一种优选实施方案中,所述移栽装置包括多轴运动单元,所述多轴运动单元的移动端上吸嘴快换机构,所述吸嘴快换机构包括安装板和连接块,所述连接块上设置有至少一个吸附单元,所述安装板、所述连接块和所述吸附单元依次相连通,所述安装板和所述连接块之间通过定位单元连接,所述定位单元用于限制所述安装板和所述连接块相对于第一轴向的旋转自由度、相对于第二轴向的位移和旋转自由度以及相对于第三轴向的位移和旋转自由度,所述安装板设置有用于限制所述连接块沿第一轴向的位移自由度的肘夹。
[0012]在本专利技术的一种优选实施方案中,所述检测装置包括AOI检测装置和/或Mura色度检测装置和/或色偏检测装置和/或外观检测装置和/或Demura检测装置和/或复核分层集成检测装置。
[0013]在本专利技术的一种优选实施方案中,还包括暗室,所述检测装置、所述输送装置、所述Tray盘上下料机构和移栽装置均位于所述暗室内。
[0014]本专利技术的有益效果是:本专利技术能够更具需要合理搭配实现对Micro LED的各项性能实现自动化检测,具有结构简单、自动化程度高的优点;本专利技术包括至少一个上/下料工位和多个检测工位,每个检测工位处设置有检测装置,任意两个检测装置实现待检Micro LED不同性能的检测,待检Micro LED通过输送装置在不同检测工位之间切换,每个上/下料工位旁设置有至少一个用于循环送料Tray盘的Tray盘上下料机构,Tray盘上下料机构与位于上/下料工位之间设置有用于将Tray盘上的待检Micro LED逐个移栽至输送装置的移栽装置,该技术方案具有结构紧凑、自动化程度高的优点;进一步的,本专利技术的Tray盘上下料机构与位于上/下料工位之间还设置有上料大视野相机和上料精对位相机,上料大视野相机设置于Tray盘上下料机构上方,上料精对位相机设置于移栽装置下方,上料大视野相机的存在更便于移栽装置逐个获取Tray盘上的待检Micro LED,上料精对位相机的存在更便于位于移栽装置上待检Micro LED位置的调节,方便其准确上料至输送装置的治具上实现导通点亮;进一步的,本专利技术的每个上/下料工位旁设置有两个平行布置的移栽装置,一个移栽装置用于实现待检Micro LED上料的满载Tray盘,一个移栽装置用于实现已检Micro LED下料的空载Tray盘,该技术方案更便于Micro LED的上下料,防止上料与下料混淆干涉;进一步的,本专利技术的输送装置包括直线输送模组和驱动单元,直线输送模组上设置有沿其移动方向间隔布置的治具,上/下料工位和多个检测工位沿直线输送模组的移动方向间隔布置,直线输送模组的技术方案适用于检测流水线,但占用空间更大;进一步的,本专利技术的输送装置包括转盘和驱动单元,转盘上设置有多个沿转盘的周向间隔布置治具,上/下料工位和多个检测工位沿转盘的周向间隔布置,转盘的技术方案
占用空间小,结构紧凑;进一步的,本专利技术的转盘的中部设置有与其同轴布置有的安装架,安装架上布置有沿其周向间隔布置的多个信号发生器,信号发生器和面板压接导通治具一一对应布置,信号发生器所在的平面和治具所在的平面之间存在一夹角,信号发生器所在的平面和治具所在的平面之间存在一夹角的设计创造性的将信号发生器和面板压接导通治具分离布置,充分利用了转盘中部的空间,有效地减小转盘的尺寸,从而使得本专利技术能够搭配大尺寸的信号发生器时不会增加压接导通治具的转动惯量,从而提高显示面板的定位精度;进一步的,本专利技术的Tray盘上下料机构包括沿第一轴向间隔布置的堆栈模组和夹持模组,堆栈模组的下方设置有沿第一轴向延伸布置的第一输送单元,第一输送单元的移动端上设置有能够沿第三轴向升降的载具,第一输送单元的下方设置本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种Micro LED检测设备,其特征在于:包括至少一个上/下料工位和多个检测工位,每个检测工位处设置有检测装置(A),每个检测装置(A)的检测类型不同,待检Micro LED通过输送装置(B)在不同检测工位之间切换,每个所述上/下料工位旁设置有至少一个用于循环送料Tray盘的Tray盘上下料机构(C),所述Tray盘上下料机构(C)与位于上/下料工位之间设置有用于将Tray盘上的待检Micro LED逐个移栽至输送装置(B)的移栽装置(D)。2.根据权利要求1所述的Micro LED检测设备,其特征在于:Tray盘上下料机构(C)与上/下料工位之间还设置有上料大视野相机(E)和上料精对位相机(F),所述上料大视野相机(E)设置于位于Tray盘上的待检Micro LED的上方,所述上料精对位相机(F)设置于位于移栽装置(D)上的待检Micro LED的下方。3.根据权利要求1所述的Micro LED检测设备,其特征在于:每个上/下料工位旁设置有两个平行布置的移栽装置(D),一个移栽装置(D)用于实现待检Micro LED上料的满载Tray盘,另一个移栽装置(D)用于实现已检Micro LED下料的空载Tray盘。4.根据权利要求1所述的Micro LED检测设备,其特征在于:所述输送装置(B)包括直线输送模组和驱动单元,所述直线输送模组上设置有沿其移动方向间隔布置的治具(2),上/下料工位和多个检测工位沿直线输送模组的移动方向间隔布置。5.根据权利要求1所述的Micro LED检测设备,其特征在于:所述输送装置(B)包括转盘(B

1)和驱动单元,所述转盘上设置有多个沿转盘的周向间隔布置治具(B

2),上/下料工位和多个检测工位沿转盘的周向间隔布置。6.根据权利要求5所述的Micro LED检测设备,其特征在于:所述转盘(B

1)的中部设置有与其同轴布置有的安装架(B

3),所述安装架(B

3)上布置有沿其周向间隔布置的多个信号发生器(B

4),所述信号发生器(B

4)和面板压接导通治具(B

2)一一对应布置,所述信号发生器(B

4)所在的平面和所述治具...

【专利技术属性】
技术研发人员:柴新玉肖治祥朱涛
申请(专利权)人:武汉精测电子集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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