【技术实现步骤摘要】
一种芯片烧录测试设备
[0001]本专利技术涉及芯片烧录检测
,具体的说是一种芯片烧录测试设备。
技术介绍
[0002]随着集成电路技术的不断发展,使得电子产品体积越来越小型化,不仅方便人们携带,也具有强大的运算处理功能。芯片在生产时,需要经过多道繁杂的手续,成品制作完成后,进一步地需将特定功能的程序数据烧录到芯片中,以使芯片能实现特定的功能。
[0003]然而,目前在对芯片烧录检测时,大部分都是将芯片单个进行放置在夹具上烧录,来回操作耗时耗力,拆卸繁琐,降低了整体的工作效率,并且夹具只能对一个种类的芯片进行放置,当需要更换芯片时需要更换夹具,十分不方便,并且在烧录过程中不方便很好的对芯片散热防护,从而影响芯片烧录的质量,同时在芯片烧录时,操作夹具是直接放置在台面,操作夹具稳定性差容易松动,缺乏固定组件,从而影响正常的芯片安装,并稍有不慎容易造成线路接触不良,影响芯片的烧录检测工作。
技术实现思路
[0004]针对现有技术中的问题,本专利技术提供了一种芯片烧录测试设备。
[0005]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种芯片烧录测试设备,包括:
[0006]控制台;
[0007]放置机构,所述控制台上安装有放置机构;
[0008]固定机构,所述控制台底部安装有固定机构,所述固定机构包括吸盘,所述控制台四角内部分别安装有吸盘,所述吸盘通过按压弹簧与控制台内部滑动连接,所述吸盘底部延伸至控制台外侧,所述吸盘内部中心处设有导流槽,所述控制台四角分别垂直 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片烧录测试设备,其特征在于,包括:控制台(1);放置机构(2),所述控制台(1)上安装有放置机构(2);固定机构(6),所述控制台(1)底部安装有固定机构(6),所述固定机构(6)包括吸盘(603),所述控制台(1)四角内部分别安装有吸盘(603),所述吸盘(603)通过按压弹簧(604)与控制台(1)内部滑动连接,所述吸盘(603)底部延伸至控制台(1)外侧,所述吸盘(603)内部中心处设有导流槽(605),所述控制台(1)四角分别垂直螺纹连接有螺杆(601),所述螺杆(601)底部转动连接有橡胶柱(602),所述橡胶柱(602)与控制台(1)内部滑动连接,所述橡胶柱(602)底部位于吸盘(603)顶部,所述橡胶柱(602)底部直径小于吸盘(603)顶部直径;闭锁机构(8),所述控制台(1)内部安装有闭锁机构(8)。2.根据权利要求1所述的一种芯片烧录测试设备,其特征在于:所述放置机构(2)包括底座(201),所述控制台(1)上可拆卸连接有底座(201),所述底座(201)顶部安装有转盘(202),所述转盘(202)顶侧边缘处设有多个等距分布的放置槽(203),所述底座(201)底部内侧中心处可拆卸连接有电机(207),所述底座(201)顶部中心处转动连接有驱动盘(205),所述电机(207)输出轴与驱动盘(205)底部连接,所述驱动盘(205)顶侧边缘处固定连接有多个等距分布的卡扣(204),所述转盘(202)底部中心处设有多个呈环形等距分布的卡槽(206),所述卡扣(204)与卡槽(206)内部卡合,所述转盘(202)通过驱动盘(205)与底座(201)顶部转动连接,所述卡槽(206)和卡扣(204)均为“L”形结构。3.根据权利要求2所述的一种芯片烧录测试设备,其特征在于:所述底座(201)顶部边缘处安装有多个呈环形分布的凸块(208),所述凸块(208)底部通过抵触弹簧(209)与底座(201)内部滑动连接,所述凸块(208)顶部为半圆形结构,所述转盘(202)底部设有多个呈环形分布的凹槽(210),所述凸块(208)顶部与凹槽(210)内部抵触。4.根据权利要求2所述的一种芯片烧录测试设备,其特征在于:所述放置机构(2)上安装有抵触机构(3),所述抵触机构(3)包括立柱(301),所述底座(201)一侧可拆卸连接有立柱(301),所述立柱(301)为“7”字形结构,所述立柱(301)延伸至转盘(202)顶部,所述立柱(301)顶部一端位于放置槽(203)顶部,所述立柱(301)顶部一端内侧安装有连接块(302),所述连接块(302)通过活动弹簧(303)与立柱(301)内部滑动连接,所述连接块(302)底部延伸至立柱(301)外侧,所述连接块(302)底部转动连接有压轮(304),所述压轮(304)位于放置槽(203)顶部。5.根据权利要求4所述的一种芯片烧录测试设备,其特征在于:多个所述放置槽(203)内部中心处分别设有顶套(305),所述顶套(305)内部安装有压缩弹簧(306),所述顶套(305)底部通过压缩弹簧(...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈华平,李小山,
申请(专利权)人:深圳市迪科贝科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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