【技术实现步骤摘要】
用于测量回路电阻的方法、装置、存储介质及电子设备
[0001]本专利技术涉及回路电阻测量
,尤其涉及一种用于测量回路电阻的方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
[0002]回路电阻值是表征导电回路的联接是否良好的一个参数,目前,在对芯片检测过程中,需要对导电回路的电阻值进行测量以实现检测,且回路电阻的阻值直接影响到产品的稳定性,但回路电阻的阻值较小,且直接进行测量回路电阻的阻值在可操作上难以实现,而现有技术采用在回路上进行充放电,并通过放电曲线间接测量回路电阻的阻值;此方案需测量放电曲线首末电压及放电时间,但测量设备无法直接测量到首末电压及放电时间,往往通过读取芯片采集的数据来获得这些参数,而这些参数引入的误差都会影响回路电阻最终计算的结果,进而增大了回路电阻值的误差。由此,亟需一种有利于提高测量回路电阻的电阻值的精度的方法。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的在于克服上述现有技术的至少一个不足,提供一种有利于提高测量回路电阻的电阻值的精度的用于测量回路电阻的方法;另外,还提供一种用于测量回路电阻的装置、一种计算机可读存储介质和一种电子设备。
[0004]本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下:
[0005]根据本申请的一方面,提供一种用于测量回路电阻的方法,包括:
[0006]获取储能元件的电容量;
[0007]对所述储能元件进行充电,确定读取所述储能元件的电压的过程中对应的通讯时长导致所述储能元件产生的电压偏差值,其中,所述储能元件的两极连接有 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于测量回路电阻的方法,其特征在于,所述的方法包括:获取储能元件的电容量;对所述储能元件进行充电,确定读取所述储能元件的电压的过程中对应的通讯时长导致所述储能元件产生的电压偏差值,其中,所述储能元件的两极连接有连接线路形成导电回路;采集所述储能元件结束充电时刻的电压,获得第一电压值;基于所述电压偏差值,对所述第一电压值进行增加补偿电压值,其中,所述补偿电压值等于所述电压偏差值;对所述储能元件进行放电第一放电时长,且采集所述储能元件放电第一放电时长后的电压,获得第二电压值;基于所述储能元件的电容量、所述第一电压值、所述补偿电压值、所述第一放电时长和所述第二电压值,计算获得所述导电回路的回路电阻的电阻值。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取储能元件的电容量,包括:对所述储能元件的电容量进行标定,获得所述储能元件的标定电容量,将所述标定电容量作为所述储能元件的电容量。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述储能元件的电容量进行标定,获得所述储能元件的标定电容量,包括:对所述储能元件进行充电至电量饱和状态,对电量饱和状态的所述储能元件的电容量进行测量,获得所述储能元件的实际电容量,将所述实际电容量作为所述储能元件的标定电容量。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法,其特征在于,所述对所述储能元件进行充电,确定读取所述储能元件的电压的过程中对应的通讯时长导致所述储能元件产生的电压偏差值,包括:在对所述储能元件充电的过程中,多次采集所述储能元件的过程电压,获得多个过程电压值;基于所述多个过程电压值,计算对所述储能元件充电的充电速率;基于所述充电速率和完成一次电压测量的固定通讯时长,计算获得所述电压偏差值。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,通过以下公式计算获得所述储能元件充电的充电速率;公式:式中,K为充电速率,U
i
为充电的过程中第i时刻的电压值,U
j
为充电的过程中第j时刻的电压值,t1为第i时刻到第j时刻的时长,U
i
、U
j
的单位均为V,t1的单位为ms;通过以下公式计算获得所述电压偏差值;公式:ΔU=T*K;式中,T为完成一次电压测量的固定通讯时长,T的单位为ms,K为充电速率。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述对所述第一电压值进行增加补偿电压值,包括:通过以下公式对所述第一电压值进行增加补偿电压值;
公式:U
n
=U
m
+U...
【专利技术属性】
技术研发人员:王琳琳,付大师,喻江敏,
申请(专利权)人:贵州全安密灵科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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