一种缺陷检测方法及装置制造方法及图纸

本申请实施例提供一种缺陷检测方法及装置，所述方法包括：获取待检测图像，所述待检测图像为待检测对象对应的图像；对所述待检测图像进行特征提取，得到所述待检测图像中的至少一个待测区域；获得每一所述待测区域的置信度，所述置信度用于表征待测区域为待检测对象缺陷的可能性；基于每一待测区域的置信度，对置信度满足修正条件的待测区域对应的置信度进行修正，得到修正置信度；根据所述修正置信度和每一待测区域的置信度，在所述待检测图像的所述至少一个待测区域中确定目标缺陷区域，以检测所述待检测对象中存在的缺陷。以检测所述待检测对象中存在的缺陷。以检测所述待检测对象中存在的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种缺陷检测方法及装置


[0001]本申请实施例涉及计算机
，涉及但不限于一种缺陷检测方法及装置。

技术介绍

[0002]当前，相关技术中的缺陷检测方法只能够快速检测出产品表面较大的缺陷，但一直无法快速且准确的对产品表面的微小缺陷进行检测，尤其是对于锂电池等较为精细的产品。
[0003]由于锂电池等产品的表面缺陷大都是较为细小的缺陷，因此，对产品表面的微小生产缺陷进行快速检测，一直是机器视觉技术中亟待解决的问题。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种缺陷检测方法及装置。
[0005]本申请实施例的技术方案是这样实现的：
[0006]本申请实施例提供一种缺陷检测方法，所述方法包括：
[0007]获取待检测图像，所述待检测图像为待检测对象对应的图像；
[0008]对所述待检测图像进行特征提取，得到所述待检测图像中的至少一个待测区域；
[0009]获得每一所述待测区域的置信度，所述置信度用于表征待测区域为待检测对象缺陷的可能性；
[0010]基于每一待测区域的置信度，对置信度满足修正条件的待测区域对应的置信度进行修正，得到修正置信度；
[0011]根据所述修正置信度和每一待测区域的置信度，在所述待检测图像的所述至少一个待测区域中确定目标缺陷区域，以检测所述待检测对象中存在的缺陷。
[0012]在一些实施例中，所述基于每一待测区域的置信度，对置信度满足修正条件的待测区域对应的置信度进行修正，得到修正置信度，包括：
[0013]获取分类阈值；
[0014]在所述至少一个待测区域中，将置信度小于所述分类阈值的待测区域确定为第一待测区域；
[0015]对所述第一待测区域的置信度进行取反处理，得到第一待测区域的修正置信度。
[0016]在一些实施例中，所述根据所述修正置信度和每一待测区域的置信度，在所述待检测图像的所述至少一个待测区域中确定目标缺陷区域，包括：
[0017]在所述至少一个待测区域中，将置信度大于所述分类阈值的待测区域确定为第二待测区域；
[0018]根据修正置信度、第二待测区域对应的置信度和置信度阈值，在所述待检测图像的所述至少一个待测区域中确定目标缺陷区域。
[0019]在一些实施例中，所述置信度阈值包括第一置信度阈值和第二置信度阈值，所述第一置信度阈值小于所述第二置信度阈值；
[0020]所述根据修正置信度、第二待测区域对应的置信度和置信度阈值，在所述待检测图像的所述至少一个待测区域中确定目标缺陷区域，包括：
[0021]将修正置信度大于第一置信度阈值、且小于第二置信度阈值的第一待测区域，和第二待测区域中置信度大于第一置信度阈值、且小于第二置信度阈值的第二待测区域，确定为所述待检测图像的待定缺陷区域；
[0022]将修正置信度大于第二置信度阈值的第一待测区域，和第二待测区域中置信度大于第二置信度阈值的第二待测区域，确定为所述待检测图像的目标缺陷区域。
[0023]在一些实施例中，每一待测区域由至少一个像素点组成；
[0024]所述获得每一所述待测区域的置信度，包括：
[0025]对每一待测区域进行像素特征提取，确定每一待测区域的像素数量和每一像素点的像素信息；
[0026]对每一像素点的像素信息进行归一化，得到每一像素的像素置信度；
[0027]根据每一待测区域的像素数量和每一像素的像素置信度，确定每一待测区域的置信度。
[0028]在一些实施例中，所述方法还包括：
[0029]根据每一待测区域的像素数量，确定每一待测区域的区域面积；
[0030]对应地，在所述待检测图像的所述至少一个待测区域中确定目标缺陷区域，还包括：
[0031]将区域面积大于面积阈值的待测区域，确定为目标缺陷区域。
[0032]在一些实施例中，所述对所述待检测图像进行特征提取，得到所述待检测图像中的至少一个待测区域，包括：
[0033]对所述待检测图像的每一像素点进行灰度特征提取，得到每一像素点的灰度特征信息；
[0034]根据每一像素点的灰度特征信息，在所述待检测图上确定至少一个待测区域。
[0035]在一些实施例中，所述对所述待检测图像进行特征提取，得到所述待检测图像中的至少一个待测区域，包括：
[0036]对所述待检测图像进行特征压缩，得到下采样图像；
[0037]对下采样特征图进行特征增强，得到增强特征图；
[0038]基于通道注意力机制和空间注意力机制，对下采样特征图进行特征采样，得到采样特征图；
[0039]对所述采样特征图和所述增强特征图进行拼接处理，得到拼接特征图；
[0040]对所述拼接特征图进行降噪处理，得到降噪特征图；
[0041]对所述降噪特征图进行特征提取，得到至少一个待测区域。
[0042]在一些实施例中，所述方法通过缺陷检测模型实现；其中，所述缺陷检测模型通过以下方式进行训练：
[0043]对获取的预训练图像进行数据预处理，得到样本数据，所述样本数据包括样本待检测对象对应的样本待检测图像和所述样本待检测图像对应的缺陷区域；
[0044]将所述样本待检测图像输入至所述缺陷检测模型中；
[0045]通过所述缺陷检测模型的特征提取层，对所述样本待检测图像进行特征提取，得
到所述样本待检测图像中的至少一个样本待测区域；
[0046]通过所述缺陷检测模型的置信度计算层，获取每一所述样本待测区域的样本置信度；
[0047]通过所述缺陷检测模型的置信度修正层，基于每一样本待测区域的样本置信度，对样本置信度满足修正条件的样本待测区域对应的样本置信度进行修正，得到样本修正置信度；
[0048]通过所述缺陷检测模型的缺陷检测层，根据所述样本修正置信度和每一样本待测区域的样本置信度，在所述样本待检测图像的所述至少一个样本待测区域中确定样本目标缺陷区域；
[0049]将所述样本目标缺陷区域和所述缺陷区域输入至预设损失模型中，得到损失结果；
[0050]基于所述损失结果，对所述特征提取层、所述置信度计算层、所述置信度修正层和所述缺陷检测层中的模型参数进行修正，得到训练后的缺陷检测模型。
[0051]本申请实施例提供一种缺陷检测装置，所述装置包括：
[0052]获取模块，用于获取待检测图像，所述待检测图像为待检测对象对应的图像；
[0053]特征提取模块，用于对所述待检测图像进行特征提取，得到所述待检测图像中的至少一个待测区域；
[0054]获得模块，用于获得每一所述待测区域的置信度，述置信度用于表征待测区域为待检测对象缺陷的可能性；
[0055]修正模块，用于基于每一待测区域的置信度，对置信度满足修正条件的待测区域对应的置信度进行修正，得到修正置信度；
[0056]确定模块，用于根据所述修正置信度和每一待测区域的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，所述方法包括：获取待检测图像，所述待检测图像为待检测对象对应的图像；对所述待检测图像进行特征提取，得到所述待检测图像中的至少一个待测区域；获得每一所述待测区域的置信度，所述置信度用于表征待测区域为待检测对象缺陷的可能性；基于每一待测区域的置信度，对置信度满足修正条件的待测区域对应的置信度进行修正，得到修正置信度；根据所述修正置信度和每一待测区域的置信度，在所述待检测图像的所述至少一个待测区域中确定目标缺陷区域，以检测所述待检测对象中存在的缺陷。2.根据权利要求1所述的方法，所述基于每一待测区域的置信度，对置信度满足修正条件的待测区域对应的置信度进行修正，得到修正置信度，包括：获取分类阈值；在所述至少一个待测区域中，将置信度小于所述分类阈值的待测区域确定为第一待测区域；对所述第一待测区域的置信度进行取反处理，得到第一待测区域的修正置信度。3.根据权利要求2所述的方法，所述根据所述修正置信度和每一待测区域的置信度，在所述待检测图像的所述至少一个待测区域中确定目标缺陷区域，包括：在所述至少一个待测区域中，将置信度大于所述分类阈值的待测区域确定为第二待测区域；根据修正置信度、第二待测区域对应的置信度和置信度阈值，在所述待检测图像的所述至少一个待测区域中确定目标缺陷区域。4.根据权利要求3所述的方法，所述置信度阈值包括第一置信度阈值和第二置信度阈值，所述第一置信度阈值小于所述第二置信度阈值；所述根据修正置信度、第二待测区域对应的置信度和置信度阈值，在所述待检测图像的所述至少一个待测区域中确定目标缺陷区域，包括：将修正置信度大于第一置信度阈值、且小于第二置信度阈值的第一待测区域，和第二待测区域中置信度大于第一置信度阈值、且小于第二置信度阈值的第二待测区域，确定为所述待检测图像的待定缺陷区域；将修正置信度大于第二置信度阈值的第一待测区域，和第二待测区域中置信度大于第二置信度阈值的第二待测区域，确定为所述待检测图像的目标缺陷区域。5.根据权利要求1所述的方法，每一待测区域由至少一个像素点组成；所述获得每一所述待测区域的置信度，包括：对每一待测区域进行像素特征提取，确定每一待测区域的像素数量和每一像素点的像素信息；对每一像素点的像素信息进行归一化，得到每一像素的像素置信度；根据每一待测区域的像素数量和每一像素的像素置信度，确定每一待测区域的置信度。6.根据权利要求5所述的方法，所述方法还包括：根据每一待测区域的像素数量，确定每一待测区域的区域面积；
对应地，在所述待检测图像的所述至少一个待测区域中确定目标缺陷区域，还包括：将区域面积大于面积阈值的待测区域，确定为目标缺陷区域。7.根据权利要求1至6任...

【专利技术属性】
技术研发人员：张安，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：