一种射频测试适配装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种射频测试适配装置，包括转接适配模块、背板、通用控制模块，所述转接适配模块、通用控制模块分别通过LRM连接器与背板插接；转接适配模块的前侧设置有若干个与待测端连接的测试接头，转接适配模块包括大功率信号处理单元和信号分配单元，所述通用控制模块分别与上位机、信号分配单元连接；所述信号分配单元包括若干个测试支路，且测试支路上设置有电子开关，所述电子开关的输出端对应与测试仪器连接；所述通用控制模块的左侧、右侧分别设置有若干个SMA连接头和一个J30J控制口。本实用新型专利技术将控制电路与开关拓扑分离，使射频适配机构更加小型化、模块化，具有较好的实用性。实用性。实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种射频测试适配装置


[0001]本技术属于航管测试设备的
，具体涉及一种射频测试适配装置。

技术介绍

[0002]目前双实用检测仪的主要用途是用于在机场内或飞机大修厂对JZXWYD机进行功能检查及性能指标定量检测，将故障定位到LRU（LRM）级，用于飞机各系统控制器性能的定检及维修保障。双实用检测仪的射频适配机构主要用于完成待测产品的射频通路与内部的功率频率计、幅相一致性测试卡等设备的测试拓扑的构建。为简化测试拓扑的形态，射频适配接口可设计为专门针对某一类待测产品或某一机型的所有待测设备，在体积允许的情况下尽量保证其通用性，测不同产品时，可不用更换射频适配接口或仅更换一次射频适配接口即可完成所有的测试任务。为使双实用检测仪设备仪器化，射频适配接口需考虑其小型化，因此不应过于复杂。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种射频测试适配装置，旨在实现模块化、小型化设计，使连接结构简洁方便，具有较好的实用性。
[0004]本技术主要通过以下技术方案实现：
[0005]一种射频测试适配装置，包括从前至后依次设置的转接适配模块、背板、通用控制模块，所述转接适配模块、通用控制模块分别通过LRM连接器与背板插接；所述转接适配模块的前侧设置有若干个与待测端连接的测试接头，所述转接适配模块包括大功率信号处理单元和信号分配单元，所述通用控制模块分别与上位机、信号分配单元连接；所述大功率信号处理单元包括从前至后依次连接的功合器、固定衰减器、第一同轴开关、耦合器，所述功合器用于接收并合成待测产品输出的多路天线接口信号，且第一同轴开关、耦合器的输出端分别与信号分配单元连接，所述信号分配单元包括若干个测试支路，且测试支路上设置有电子开关，所述电子开关的输出端对应与测试仪器连接；所述通用控制模块的左侧对应若干个测试仪器设置有若干个SMA连接头和一个J30J控制口，且右侧对应外接射频适配器设置有若干个SMA连接头和一个J30J控制口。本技术通过PXIe背板引出的控制口实现供电，可以由嵌入式控制器进行控制，所述嵌入式控制器为现有技术，故不再赘述。
[0006]为了更好地实现本技术，进一步地，所述测试仪器包括幅相一致性测试卡、嵌入式控制器、功率频率计、激励器；所述嵌入式控制器与通用控制模块左侧的J30J控制口连接；所述通用控制模块的左侧设置有5个SMA连接头，且分别为激励器接口，功率频率计接口，幅相一致性测试卡的Port1、Port2端口，同步触发口。
[0007]为了更好地实现本技术，进一步地，所述通用控制模块的右侧对外设置有5个SMA连接头，且分别为幅相一致性测试卡的Port1、Port2端口，专用信号激励器端口，功率频率计端口，触发及控制端口，用于与外接射频适配器进行控制和信号交互。
[0008]为了更好地实现本技术，进一步地，所述LRM连接器包括射频端口和低频端
口；所述射频端口包括专用信号激励器接口，功率频率计接口，幅相一致性测试卡Port1、Port2端口，RS422控制信号端口；所述低频端口包括同步触发端口、射频开关、程控衰减器、功放的控制信号端口。
[0009]为了更好地实现本技术，进一步地，所述大功率信号处理单元还包括第二同轴开关，所述耦合器的输出端分别与信号分配单元、第二同轴开关连接，所述耦合器与第二同轴开关之间串联有两个环形器，相邻环形器之间分别并联有程控衰减器和固定衰减器，所述第二同轴开关分别与信号分配单元、激励器连接。
[0010]为了更好地实现本技术，进一步地，所述控制模块包括FPGA、通用串行总线、接口转换芯片，所述FPGA通过通用串行总线与若干个与信号分配单元连接的接口连接，所述FPGA通过接口转换芯片与上位机连接。
[0011]为了更好地实现本技术，进一步地，所述转接适配模块的前侧设置有8个测试接头，分别为上天线、下天线、ΣL、ΣR、
△
L、
△
R、ΩL、ΩR信号的测试接头。ΣL、ΣR、
△
L、
△
R、ΩL、ΩR测试信号经过固定衰减器处理后流入对应的测试支路。
[0012]本技术的有益效果如下：
[0013]（1）本技术实现了小型化设计，常规的接口适配器通常体积庞大，本技术创新的设计统一的控制接口，将控制电路与开关拓扑分离，使射频适配机构更加小型化、模块化，射频适配机构内部拓扑可根据测试需求变化，通过电子开关和同轴开关相互配合，各取所长，既提高了开关矩阵的性能，又缩小了开关矩阵的体积。本技术的外部采用通用控制接口，可通过插拔的方式进行快速更换，具有较好的实用性；
[0014]（2）本技术采用模块化的设计思路，通过功能划分为通用控制模块和转接适配模块两部分，可独立安装、调试，互不影响。同时，采用通用的接口设计，使通用控制模块可以与不同的主机射频接口适配，满足多种型号待测产品的测试，具有较好的实用性；
[0015]（3）本技术基于大功率信号与小功率信号的区分，将主机射频接口单元划分为两部分，大功率部分采用射频同轴开关，小功率部分采用电子开关，极大的降低了接口适配器的体积，利于接口适配器的小型化设计。
附图说明
[0016]图1为本技术的整体原理框图；
[0017]图2为本技术的整体结构示意图；
[0018]图3为图2的主视图；
[0019]图4为图2的右视图；
[0020]图5为图2的俯视图；
[0021]图6为LRM连接器的结构示意图；
[0022]图7为通用控制模块的结构示意图；
[0023]图8为图7的左视图；
[0024]图9为图7的右视图；
[0025]图10为大功率信号处理单元的原理框图；
[0026]图11为信号分配单元的原理框图；
[0027]图12为通用控制模块的原理框图。
[0028]其中：1
‑
转接适配模块、2
‑
通用控制模块、3
‑
背板。
具体实施方式
[0029]实施例1：
[0030]一种射频测试适配装置，如图1
‑
图12所示，包括从前至后依次设置的转接适配模块1、背板3、通用控制模块2，所述转接适配模块1、通用控制模块2分别通过LRM连接器与背板3插接；所述转接适配模块1的前侧设置有若干个与待测端连接的测试接头，所述转接适配模块1包括大功率信号处理单元和信号分配单元，所述通用控制模块2分别与上位机、信号分配单元连接；所述大功率信号处理单元包括从前至后依次连接的功合器、固定衰减器、第一同轴开关、耦合器，所述功合器用于接收并合成待测产品输出的多路天线接口信号，且第一同轴开关、耦合器的输出端分别与信号分配单元连接，所述信号分配单元包括若干个测试支路，且测试支路上设置有电子开关，所述电子开关的输出端对应与测试仪器连接；所述通用控制模块2的左侧对应若本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频测试适配装置，其特征在于，包括从前至后依次设置的转接适配模块（1）、背板（3）、通用控制模块（2），所述转接适配模块（1）、通用控制模块（2）分别通过LRM连接器与背板（3）插接；所述转接适配模块（1）的前侧设置有若干个与待测端连接的测试接头，所述转接适配模块（1）包括大功率信号处理单元和信号分配单元，所述通用控制模块（2）分别与上位机、信号分配单元连接；所述大功率信号处理单元包括从前至后依次连接的功合器、固定衰减器、第一同轴开关、耦合器，所述功合器用于接收并合成待测产品输出的多路天线接口信号，且第一同轴开关、耦合器的输出端分别与信号分配单元连接，所述信号分配单元包括若干个测试支路，且测试支路上设置有电子开关，所述电子开关的输出端对应与测试仪器连接；所述通用控制模块（2）的左侧对应若干个测试仪器设置有若干个SMA连接头和一个J30J控制口，且右侧对应外接射频适配器设置有若干个SMA连接头和一个J30J控制口。2.根据权利要求1所述的一种射频测试适配装置，其特征在于，所述测试仪器包括幅相一致性测试卡、嵌入式控制器、功率频率计、激励器；所述嵌入式控制器与通用控制模块（2）左侧的J30J控制口连接；所述通用控制模块（2）的左侧设置有5个SMA连接头，且分别为激励器接口，功率频率计接口，幅相一致性测试卡的Port1、Port2端口，同步触发口。3.根据权利要求2所述的一种射频测试适配装置，其特征在于，所述通用控制模块（2）的右侧对外设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：关胜羽，杨曦盛，李堤阳，
申请(专利权)人：成都能通科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：