【技术实现步骤摘要】
一种四探针电阻率测试仪
[0001]本技术涉及材料电阻率测量
,具体涉及一种四探针电阻率测试装置。
技术介绍
[0002]电阻率是用来表示各种物质电阻特性的物理量,在新型半导体材料、电池材料、介电材料等材料测试和研发中占有重要的地位。通常四探针测试仪是测量半导体材料电阻率以及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器,可用于测量棒状、块状半导体材料(包括厚片和薄片)的电阻率以及硅片上的扩散层、离子注入层、反新外延层的方块电阻。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好,测量范围广,结构紧凑的特点,并且测量结果由数字直接显示,使用方便。传统的四探针电阻率测试仪通常是手动形式的,即通过手动旋转齿轮将检测探头按压于材料表面,如果压力过大会造成样品的损坏,而压力过小会造成测量结果的偏差,且手动检测方式劳动强度大,检测效率低。
技术实现思路
[0003]本技术的目的是提供一种四探针电阻率测试仪,解决现有技术中半导体材料电阻率检测效率低下,自动化程度较低的技术问题。
[0004]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是:本技术所述的一种四探针电阻率测试仪,包括底座、垂直导向杆、升降成套机构、步进电机驱动机构、压力检测机构、探头、探针、测试台、控制台,所述垂直导向杆底部与所述底座固定连接,所述升降成套机构输入端与步进电机驱动机构连接,所述步进电机驱动机构与控制台通过电源连接,所述探头与升降成套机构连接,所述控制台由显示器、电源开关、调节开关组成,所述测试台设置在所述底座上面。
[0005]进一步地,所述探头包括 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种四探针电阻率测试仪,其特征在于:包括底座、垂直导向杆、升降成套机构、步进电机驱动机构、压力检测机构、探头、探针、测试台、控制台,所述垂直导向杆底部与所述底座固定连接,所述升降成套机构输入端与步进电机驱动机构连接,所述步进电机驱动机构与控制台通过电源连接,所述探头与所述升降成套机构连接,所述控制台由显示器、电源开关、调节开关组成,所述测试台设置在所述底座上。2.根据权利要求1所述的一种四探针电阻率测试仪...
【专利技术属性】
技术研发人员:史金涛,郭杰,方璐,焦丽娜,宋京国,胡威威,王凯,梁晴晴,金红红,郝张科,
申请(专利权)人:泛锐云智科技郑州有限公司,
类型:新型
国别省市:
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