一种瓦楞纸板的性能优化方法技术

本发明专利技术公开了一种瓦楞纸板的性能优化方法，属于瓦楞纸板性能控制技术领域，具体包括以下步骤：步骤一，根据待加工瓦楞纸板的待加工信息初始化生产控制参数；步骤二，对加工过程中的瓦楞纸板进行线边取样测试；步骤三，对所述线边取样测试的结果进行统计分析，并根据所述统计分析的结果对历史数据库进行更新或调整生产控制参数。本申请的技术方案，提高了瓦楞纸板的性能管理效率和性能优化精度，实现了生产控制参数的闭环控制管理。了生产控制参数的闭环控制管理。了生产控制参数的闭环控制管理。

【技术实现步骤摘要】
一种瓦楞纸板的性能优化方法


[0001]本专利技术涉及瓦楞纸板性能控制
，尤其是涉及一种瓦楞纸板的性能优化方法。

技术介绍

[0002]瓦楞纸箱的性能很大一部分取决于瓦楞纸板的性能，瓦楞纸板的性能受纸张的定量、等级、加工工艺、大气环境等诸多因素影响较大，因此，即使是采用相同材质的瓦楞原纸，通过不同流水线生产出来的瓦楞纸板性能也会存在差异；而采用相同材质的瓦楞原纸，在不同时间段通过同一流水线生产出来的瓦楞纸板性能也会存在差异。
[0003]针对上述由于各种因素导致生产加工出的瓦楞纸板性能不稳定的情况，目前大多是通过工作人员依据经验对生产控制参数进行设定和调整，但是如何判定当前所用参数设定是否为最佳，一般需要由现场制程管理人员(IPQC)对加工完成的瓦楞纸板进行相关物理性能的测试，但是这种采用人工管理的方式方法存在以下缺陷：一是无法精确判定设定和调整后的瓦楞纸板生产控制参数是否已经为最佳，管理控制精度较低；二是对瓦楞纸板的性能测试是在加工完成后的操作，属于质量滞后管理，导致对瓦楞纸板性能的管理控制效率较低。

技术实现思路

[0004]为了提高瓦楞纸板的性能管理效率和性能优化精度，本申请提供一种瓦楞纸板的性能优化方法。
[0005]本申请提供一种瓦楞纸板的性能优化方法，采用如下的技术方案：步骤一，根据待加工瓦楞纸板的待加工信息初始化生产控制参数；步骤二，对加工过程中的瓦楞纸板进行线边取样测试；步骤三，对所述线边取样测试的结果进行统计分析，并根据所述统计分析的结果对历史数据库进行更新或调整生产控制参数。
[0006]通过采用上述技术方案，对流水线加工过程中的瓦楞纸板进行线边取样测试，并对该线边取样测试结果进行统计分析，根据统计分析的结果将该瓦楞纸板的生产控制参数录入数据库，实现对历史数据库的更新优化，使数据库中的数据更加丰富；或者根据统计分析的结果即时调整该瓦楞纸板的生产控制参数，提高了瓦楞纸板的性能管理效率和性能优化精度，使瓦楞纸板的综合性能更佳，实现了生产控制参数的闭环控制管理。
[0007]在一个具体的可实施方案中，所述对加工过程中的瓦楞纸板进行线边取样测试具体包括：针对每一个加工流程节点，选取一个或多个测点位置，对所述瓦楞纸板的一项或多项性能进行测试，得到所述瓦楞纸板在各加工流程节点对应测点位置的性能测试数据集。
[0008]通过采用上述技术方案，在加工流程节点中的一个或多个测点位置测试瓦楞纸板的性能，提高了瓦楞纸板各项性能判断的可靠性。
[0009]在一个具体的可实施方案中，所述对所述线边取样测试的结果进行统计分析具体
包括：构建瓦楞纸板性能指标集、生产控制参数集、生产线管控部位集；基于所述瓦楞纸板性能指标集和所述生产控制参数集建立瓦楞纸板性能指标和生产控制参数之间的第一关联关系；基于所述生产控制参数集和所述生产线管控部位集建立生产控制参数和生产线管控部位之间的第二关联关系；基于所述性能测试数据集、所述第一关联关系和所述第二关联关系确定待调整生产线管控部位和待调整值。
[0010]在一个具体的可实施方案中，所述对加工过程中的瓦楞纸板进行线边取样测试具体包括：针对每一个加工流程节点，选取一个或多个测点位置，对所述瓦楞纸板的综合性能进行测试，得到所述瓦楞纸板在各加工流程节点对应测点位置的综合性能测试数据集，并根据所述综合性能测试数据集得到所述瓦楞纸板在同一测点位置相邻加工流程节点之间的综合性能损失百分比集。
[0011]通过采用上述技术方案，在加工流程节点中的一个或多个测点位置测试瓦楞纸板的综合性能，提高了对瓦楞纸板综合性能损失判断的可靠性。
[0012]在一个具体的可实施方案中，所述对所述线边取样测试的结果进行统计分析具体包括：构建瓦楞纸板综合性能损失集、生产控制参数集、生产线管控部位集；基于所述瓦楞纸板综合性能损失集和所述生产控制参数集建立瓦楞纸板综合性能损失和生产控制参数之间的第三关联关系；基于所述生产控制参数集和所述生产线管控部位集建立生产控制参数和生产线管控部位之间的第二关联关系；基于所述综合性能损失百分比集、所述第三关联关系和所述第二关联关系确定待调整生产线管控部位和待调整值。
[0013]在一个具体的可实施方案中，所述根据待加工瓦楞纸板的待加工信息初始化生产控制参数包括：在历史数据库中选取与所述待加工瓦楞纸板的待加工信息相匹配的历史订单，根据所述历史订单中瓦楞纸板的生产控制参数初始化待加工瓦楞纸板的生产控制参数。
[0014]通过采用上述技术方案，参照历史数据库中相匹配的历史订单对待加工瓦楞纸板的生产控制参数进行初始化，提高了生产控制参数初始设定的准确性。
[0015]在一个具体的可实施方案中，所述加工流程节点包括加工流水线切废处和加工流水线堆叠处，所述测点位置包括辊道操作侧、辊道中间位置和辊道驱动侧。
[0016]在一个具体的可实施方案中，所述待加工信息包括类型信息，所述类型信息包括瓦楞尺寸、波形形状、纸板层数、每层纸板克重、配材类型中的一种或多种。
[0017]本申请还提供一种瓦楞纸板的性能优化系统，采用如下的技术方案：所述瓦楞纸板的性能优化系统，包括：初始化生产控制参数模块，用于根据待加工瓦楞纸板的待加工信息初始化生产控制参数；线边取样测试模块，用于对加工过程中的瓦楞纸板进行线边取样测试；统计分析控制模块，用于对所述线边取样测试的结果进行统计分析，并根据所述统计分析的结果对历史数据库进行更新或调整生产控制参数。
[0018]本申请还提供一种计算机可读存储介质，采用如下的技术方案：所述计算机可读存储介质存储有指令，当所述指令被执行时，执行前述瓦楞纸板的性能优化方法步骤。
[0019]综上所述，本申请的技术方案至少包括以下有益技术效果：1、参照历史数据库中相匹配的历史订单对待加工瓦楞纸板的生产控制参数初始
化，再通过对流水线生产过程中的瓦楞纸板进行线边取样测试和统计分析，根据统计分析的结果将该瓦楞纸板的生产控制参数录入数据库，实现对历史数据库的更新优化，使数据库中的数据更加丰富；或者根据统计分析的结果即时调整该瓦楞纸板的生产控制参数，提高了瓦楞纸板的性能管理效率和性能优化精度，使瓦楞纸板的综合性能更佳，实现了生产控制参数的闭环控制管理。
附图说明
[0020]图1是本申请实施例一中瓦楞纸板性能优化方法的流程图。
[0021]图2是本申请实施例一中的一个压力管控部位图。
[0022]附图标记说明：1、上瓦楞辊；2、下瓦楞辊；3、刮糊辊；4、上糊辊；5、压力辊。
具体实施方式
[0023]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细说明。
[0024]实施例一：本说明书实施例提供一种瓦楞纸板的性能优化方法，包括以下步骤：S100：根据待加工瓦楞纸板的待加工信息初始化生产控制参数。
[0025]具体的，待加工信息可以为瓦楞纸板的类型信息，瓦楞纸板的类型信息可以包括瓦楞纸板的瓦楞本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种瓦楞纸板的性能优化方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，根据待加工瓦楞纸板的待加工信息初始化生产控制参数；步骤二，对加工过程中的瓦楞纸板进行线边取样测试；步骤三，对所述线边取样测试的结果进行统计分析，并根据所述统计分析的结果对历史数据库进行更新或调整生产控制参数。2.根据权利要求1所述的瓦楞纸板的性能优化方法，其特征在于：所述对加工过程中的瓦楞纸板进行线边取样测试具体包括：针对每一个加工流程节点，选取一个或多个测点位置，对所述瓦楞纸板的一项或多项性能进行测试，得到所述瓦楞纸板在各加工流程节点对应测点位置的性能测试数据集。3.根据权利要求2所述的瓦楞纸板的性能优化方法，其特征在于：所述对所述线边取样测试的结果进行统计分析具体包括：构建瓦楞纸板性能指标集、生产控制参数集、生产线管控部位集；基于所述瓦楞纸板性能指标集和所述生产控制参数集建立瓦楞纸板性能指标和生产控制参数之间的第一关联关系；基于所述生产控制参数集和所述生产线管控部位集建立生产控制参数和生产线管控部位之间的第二关联关系；基于所述性能测试数据集、所述第一关联关系和所述第二关联关系确定待调整生产线管控部位和待调整值。4.根据权利要求1所述的瓦楞纸板的性能优化方法，其特征在于：所述对加工过程中的瓦楞纸板进行线边取样测试具体包括：针对每一个加工流程节点，选取一个或多个测点位置，对所述瓦楞纸板的综合性能进行测试，得到所述瓦楞纸板在各加工流程节点对应测点位置的综合性能测试数据集，并根据所述综合性能测试数据集得到所述瓦楞纸板在同一测点位置相邻加工流程节点之间的综合性能损失百分比集。5.根据权利要求4所述的瓦楞纸板的性能优化方法，其特征在于：所述对所述线边取样测试的结果进行统计分析具体包括：构建瓦楞...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢思满，张惠忠，刘杨，
申请(专利权)人：达成包装制品苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：