无损伤原位构建纳米结点的方法技术

技术编号:3809861 阅读:197 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种纳米技术领域的无损伤原位构建纳米结点的方法,步骤为:对单壁碳纳米管进行纯化;用旋涂的方法将单壁碳纳米管沉积到硅基底上,加热后除去有机表面活性剂;采用原子力显微镜探针,蘸取金属前躯体后,在轻敲模式对分散在基底上的纳米管的成像,选择焊接区域并记录图像,缩小扫描范围,将中心定在需要焊接处,打开负抬高模式,使探针同时在两种模式下运作,选择负抬高模式操作时间控制纳米结点的尺寸,操纵完毕后关闭抬高模式,扩大扫描范围,在轻敲模式下对所焊的纳米结合点进行成像并记录,扫描和操纵均是同一根探针。本发明专利技术具有纳米结点尺寸可控,定位准确、无损伤和无污染等特点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种无损伤原位构建纳米结点的方法,其特征在于,包括以下步骤: 第一步、采用十二烷基苯磺酸钠对单壁碳纳米管进行纯化; 第二步、用旋涂的方法将单壁碳纳米管沉积到硅基底上,加热后除去十二烷基苯磺酸钠; 第三步,采用原子力显微镜探 针,蘸取焊锡后,在轻敲模式对分散在基底上的纳米管的成像,选择焊接区域并记录图像,缩小扫描范围,将中心定在需要焊接处,打开负抬高模式,使探针同时在两种模式下运作,根据要焊接处的尺寸选择负抬高模式操作时间控制纳米结点的尺寸,操纵完毕后关闭抬高模式,扩大扫描范围,在轻敲模式下对所焊的纳米结合点进行成像并记录,扫描和操纵均是同一根探针。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:郭守武陆怡卿沈广霞
申请(专利权)人:上海交通大学
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]

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