本发明专利技术涉及通光检验装置技术领域，尤其是一种光纤阵列通光检验装置，包括：底板，用于起到支撑的作用；放置架，固定于底板顶部的一侧；检测台，固定于底板顶部的另一侧；放置板，固定于检测台的顶部；取放机构，位于放置板的前表面；所述取放机构包括放置板后表面固定安装的第一电机，所述第一电机的输出端固定连接有转轴，有益效果在于：电磁滑块在电磁滑轨的外部移动然后带动推杆在横槽内移动，此举有利于将第一个光纤阵列推向吸盘使第一个光纤阵列被吸盘吸附，第一连杆逆时针转动的时候竖杆从横向变为竖向，之后坐在板凳上的工人将第一个光纤阵列取下放到检测台的顶部，然后电子显微镜对光纤阵列进行通光检验。对光纤阵列进行通光检验。对光纤阵列进行通光检验。
【技术实现步骤摘要】
一种光纤阵列通光检验装置
[0001]本专利技术涉及通光检验装置
，尤其涉及一种光纤阵列通光检验装置。
技术介绍
[0002]光纤是一种由玻璃或塑料制成的纤维，也是利用光在这些纤维中以全内反射原理传输的光传导工具，光纤的一端的发射设备使用发光二极管或一束激光将光脉冲发送至光纤中，光纤的另一端的接收设备使用光敏组件检测脉冲，包含光纤的线缆称为光缆，通过使用电子显微镜对光纤阵列进行通光检验。
[0003]在对光纤阵列进行通光检验的时候需要工人先拿着光纤阵列然后再放到检测台的顶部进行检验，这就需要工人往复拿取检验浪费时间，现提出一种可以自动拿取光纤阵列的检验装置。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种光纤阵列通光检验装置。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0006]一种光纤阵列通光检验装置，包括：
[0007]底板，用于起到支撑的作用；
[0008]放置架，固定于底板顶部的一侧；
[0009]检测台，固定于底板顶部的另一侧；
[0010]放置板，固定于检测台的顶部；
[0011]取放机构，位于放置板前表面的一侧；
[0012]检测机构，位于放置板前表面的另一侧；
[0013]所述取放机构包括放置板后表面固定安装的第一电机，所述第一电机的输出端固定连接有转轴，所述转轴贯穿放置板并固定连接有第一连杆，所述第一连杆与第一齿轮固定连接，所述第一连杆的前表面贯穿设置有滑槽，所述滑槽的内部滑动连接有活动块，所述放置板的前表面设置有弯槽，所述活动块的内部转动连接有圆杆，所述圆杆的后表面固定设置有插块，所述圆杆的前表面固定设置有竖杆，所述竖杆的底部固定设置有吸盘，所述放置板的前表面转动连接有空心套，所述竖杆贯穿空心套并与空心套滑动，所述放置架的内部设置有电磁滑轨，所述电磁滑轨的外部滑动连接有电磁滑块，所述放置架的顶部设置有横槽，所述电磁滑块的顶部固定设置有推杆，所述放置架的顶部放置有多个待检验的光纤阵列。
[0014]优选的，所述检测机构包括放置板后表面固定安装的第二电机，所述放置板的前表面固定设置有横板、挡板、滑杆与支撑台，所述放置板的前表面转动连接有第一皮带轮与第二皮带轮，所述第一皮带轮与第二皮带轮通过皮带连接，所述滑杆的外部滑动连接有压板，所述第一皮带轮的外部转动连接有第二连杆，所述第二连杆的底部与压板的顶部转动
连接，所述放置板的前表面转动连接有第三连杆，所述压板的外部转动连接有第四连杆，所述第四连杆的一侧与第三连杆的顶部转动连接，所述第三连杆的底部固定设置有钻头，所述第二皮带轮的外侧固定设置有延伸杆，所述延伸杆的顶部转动连接有弯刀，所述放置板的前表面固定设置有支撑块，所述支撑块的内部滑动连接有连接杆，所述弯刀的一侧与连接杆的底部转动连接，所述连接杆的顶部固定设置有切刀。
[0015]优选的，所述插块位于弯槽的内部。
[0016]优选的，所述推杆贯穿横槽位于放置架顶端的外部，所述底板的顶部位于检测台的前表面放置有板凳。
[0017]优选的，所述放置板的前表面位于检测台的顶部安装有电子显微镜。
[0018]优选的，所述第二电机的输出端贯穿放置板并与第一皮带轮后表面的圆心固定连接，所述弯刀与支撑台的顶部接触。
[0019]本专利技术提出的一种光纤阵列通光检验装置，有益效果在于：
[0020]1、通过设置的取放机构，工人坐在板凳上，放置架的顶部放置有多个待检测的光纤阵列，启动第一电机带动第一连杆正反往复转动，第一连杆正向为顺时针转动的时候活动块在滑槽的内部移动，在此过程中插块在弯槽的内部移动，插块顺着弯槽轨迹移动的时候会发生转动然后通过圆杆带动竖杆转动，竖杆转动带动空心套转动并在空心套的内部伸出，空心套为竖杆提供支撑力，之后竖杆与吸盘从图一中的竖向变为图二的横向且位于光纤阵列的一侧，之后电磁滑块在电磁滑轨的外部移动然后带动推杆在横槽内移动，此举将第一个光纤阵列推向吸盘使第一个光纤阵列被吸盘吸附，第一连杆反向为逆时针转动的时候竖杆从横向变为竖向，之后坐在板凳上的工人将第一个光纤阵列取下放到检测台的顶部，然后电子显微镜对光纤阵列进行通光检验。
[0021]2、通过设置的检测机构，将光纤阵列放到横板的顶部进行压力测试，有的光纤阵列需要钻孔对内部检测，可以将需要开孔的光纤阵列手动拿持放到钻头的前端，光纤阵列上的光纤过长需要切断的时候，将过长需要切断的光纤手动拿持放到放到支撑台的顶部或者挡板的底部，启动第二电机带动第一皮带轮转动，然后通过皮带带动第二皮带轮转动，第一皮带轮转动带动第二连杆转动进而带动压板在滑杆的外部升降，通过压板的升降有利于按压横板顶部的光纤阵列对其进行压力测试，压板升降带动第四连杆转动进而带动第三连杆转动，通过第三连杆的转动带动钻头转动对光纤阵列开孔，有利于对光纤阵列的内部检测，第二皮带轮转动带动延伸杆转动进而带动弯刀在支撑台的顶部往复转动，通过弯刀的往复转动有利于将光纤阵列上过长的光纤切断，并且弯刀往复转动带动连接杆升降，连接杆升降带动切刀升降，然后在挡板的阻挡作用下有利于通过切刀的升降将过长的光纤切断。
附图说明
[0022]图1为本专利技术提出的整体结构示意图；
[0023]图2为本专利技术提出的图1中吸盘调整角度后的示意图；
[0024]图3为本专利技术提出的放置架顶部结构示意图；
[0025]图4为本专利技术提出的放置板前表面一侧结构示意图；
[0026]图5为本专利技术提出的图4局部结构示意图；
[0027]图6为本专利技术提出的放置板后表面结构示意图；
[0028]图7为本专利技术提出的放置板前表面另一侧结构示意图。
[0029]图中：1、底板；2、放置架；3、检测台；5、放置板；6、转轴；7、第一电机；12、第一连杆；13、滑槽；14、活动块；15、弯槽；16、圆杆；17、插块；18、竖杆；19、吸盘；20、电磁滑轨；21、电磁滑块；22、横槽；23、推杆；24、光纤阵列；25、电子显微镜；26、板凳；27、第二电机；28、横板；29、挡板；30、滑杆；31、支撑台；32、第一皮带轮；33、第二皮带轮；34、皮带；35、压板；36、第三连杆；37、第四连杆；38、钻头；39、延伸杆；40、空心套；41、弯刀；42、支撑块；43、连接杆；44、切刀；45、第二连杆。
具体实施方式
[0030]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0031]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光纤阵列通光检验装置，包括：底板(1)，用于起到支撑的作用；放置架(2)，固定于底板(1)顶部的一侧；检测台(3)，固定于底板(1)顶部的另一侧；放置板(5)，固定于检测台(3)的顶部；取放机构，位于放置板(5)前表面的一侧；检测机构，位于放置板(5)前表面的另一侧；其特征在于：所述取放机构包括放置板(5)后表面固定安装的第一电机(7)，所述第一电机(7)的输出端固定连接有转轴(6)，所述转轴(6)贯穿放置板(5)并固定连接有第一连杆(12)，所述第一连杆(12)与第一齿轮(11)固定连接，所述第一连杆(12)的前表面贯穿设置有滑槽(13)，所述滑槽(13)的内部滑动连接有活动块(14)，所述放置板(5)的前表面设置有弯槽(15)，所述活动块(14)的内部转动连接有圆杆(16)，所述圆杆(16)的后表面固定设置有插块(17)，所述圆杆(16)的前表面固定设置有竖杆(18)，所述竖杆(18)的底部固定设置有吸盘(19)，所述放置板(5)的前表面转动连接有空心套(40)，所述竖杆(18)贯穿空心套(40)并与空心套(40)滑动，所述放置架(2)的内部设置有电磁滑轨(20)，所述电磁滑轨(20)的外部滑动连接有电磁滑块(21)，所述放置架(2)的顶部设置有横槽(22)，所述电磁滑块(21)的顶部固定设置有推杆(23)，所述放置架(2)的顶部放置有多个待检验的光纤阵列(24)。2.根据权利要求1所述的一种光纤阵列通光检验装置，其特征在于，所述检测机构包括放置板(5)后表面固定安装的第二电机(27)，所述放置板(5)的前表面固定设置有横板(28)、挡板(29)、滑杆(30)与支撑台(31)，所述放置板(5)的前表...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏征，
申请(专利权)人：鹰潭明康通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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