测试装置制造方法及图纸

本申请提供一种测试装置，包括升温装置、承载平台以及检测支架以及；升温装置内形成有升温区域，升温装置的一个侧面具有第一开口；承载平台活动安装于升温区域内，至少部分承载平台可通过第一开口活动移出升温区域，承载平台用于承载至少一个待测显示设备；检测支架位于第一开口的一侧，检测支架包括检测结构，检测结构呈高于承载平台设置，检测结构用于检测可移出升温区域的至少部分承载平台上的至少一个待测显示设备。在本申请中，将待测显示设备安装至承载平台后，使得检测支架上的检测装置对准待测显示设备，然后点亮待测显示设备进行测试，在初始测试完成后，通过升温装置进行升温，在升温完成后，进行复检，以此实现对待测显示设备的检测。显示设备的检测。显示设备的检测。

【技术实现步骤摘要】
测试装置


[0001]本申请涉及测试
，尤其涉及一种测试装置。

技术介绍

[0002]终端研发设计阶段为保证产品设计合理与产品零部件在市场出现的潜在问题，在研发阶段通常采用老化激发的方式，使单体待测显示设备在上电作业情况下，利用高温高湿，低温，高温，挤压，盐雾，落球等环境去快速激发屏幕模组，使单体在老化环境中，潜在的工艺或设计缺陷得以快速暴露出来。
[0003]屏幕单体测试通常在研发实验室环境进行，目前行业内采用人工方式进行主观测试，对于测试质量，测试效率以及后续质量保障上均有一定的风险，可能导致无法准确的暴露屏幕的潜在问题。

技术实现思路

[0004]第一方面，本申请实施例提供一种测试装置，包括：
[0005]升温装置，升温装置内形成有升温区域，升温装置的一个侧面具有第一开口；
[0006]承载平台，承载平台活动安装于升温区域内，至少部分承载平台可通过第一开口活动移出升温区域，承载平台用于承载至少一个待测显示设备；以及，
[0007]检测支架，检测支架位于第一开口的一侧，检测支架包括检测结构，检测结构呈高于承载平台设置，检测结构用于检测可移出升温区域的至少部分承载平台上的至少一个待测显示设备。
[0008]在一个可能的示例中，至少一个待测显示设备连接有连接器；
[0009]承载平台上形成有压接结构，压接结构与连接器进行对位连接。
[0010]在一个可能的示例中，压接结构包括：
[0011]第一安装块，沿第一水平方向活动安装至承载平台上；
[0012]第二安装块，沿第二水平方向活动安装至第一安装块上；
[0013]压接接头，安装至第二安装块上，压接接头与连接器进行对位连接；以及，
[0014]第一驱动结构，驱动第一安装块以及第二安装块活动；
[0015]其中，第一水平方向与第二水平方向相互垂直。
[0016]在一个可能的示例中，压接结构还包括对位相机，与第一驱动结构电性连接，对位相机用以抓取至少一个待测显示设备Mark点的位置信息，使得第一驱动结构基于Mark点的位置信息驱动第一安装块和第二安装块进行位移。
[0017]在一个可能的示例中，承载平台内凹设有至少一个检测槽，至少一个检测槽呈相邻设置的两内侧壁上均活动安装有夹持件，夹持件用以夹持至少一个待测显示设备。
[0018]在一个可能的示例中，检测支架还包括：
[0019]支架本体，用于支撑检测结构，支架泵体包括多个支撑柱以及连接多个支撑柱的多个水平连接杆；
[0020]第二驱动结构，包括第一驱动丝杆以及第一位移结构，第一驱动丝杆的两端转动安装至水平连接杆上，第一位移结构上形成有第一螺纹孔，第一位移结构螺纹穿设于第一驱动丝杆上，沿第一丝杆的延伸方向移动。
[0021]在一个可能的示例中，第一位移结构包括：
[0022]位移座，形成有第一螺纹孔，用以安装检测装置；以及，
[0023]第二驱动丝杆，转动安装至位移座上，且第二驱动丝杆的两端滑动安装至水平连接杆上。
[0024]在一个可能的示例中，升温装置还包括用于闭合第一开口的第一侧板。
[0025]在一个可能的示例中，第一侧板上设置有透明玻璃区域。
[0026]在一个可能的示例中，承载平台与第一开口的相邻两侧壁面形成有滑动结构，滑动结构包括相互配合设置的滑槽以及第二滑轨，第二滑轨滑动安装至滑槽内，第二滑轨与滑槽中，其中之一设于承载平台上，另一设于升温装置的内侧壁上。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本申请或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0028]图1为本申请一个实施例中提供的测试装置的结构示意图；
[0029]图2为本申请一个实施例中的待测显示设备的结构示意图；
[0030]图3为本申请一个实施例中提供的压接结构的结构示意图；
[0031]图4为图1中承载平台的结构示意图；
[0032]图5为图1中检测支架的结构示意图；
[0033]图6为本申请另一个实施例中提供的测试装置的结构示意图。
具体实施方式
[0034]为使本申请的技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请中的附图，对本申请中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0035]在本申请实施例中提到或者可能提到的上、下、左、右、前、后、正面、背面、顶部、底部等方位用语是相对于各附图中所示的构造进行定义的，它们是相对的概念，因此有可能会根据其所处不同位置、不同使用状态而进行相应地变化。所以，也不应当将这些或者其他的方位用语解释为限制性用语。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等或类似表述仅用于描述与区分目的，而不能理解为指示或暗示相应的构件的相对重要性。
[0036]请参阅图1，本申请一个实施例提供一种测试装置100，包括升温装置1、承载平台2以及检测支架3；升温装置1内形成有升温区域，升温装置1的一个侧面具有第一开口10；承载平台2活动安装于升温区域内，至少部分承载平台2可通过第一开口10活动移出升温区域，承载平台2用于承载至少一个待测显示设备A；检测支架3位于第一开口10的一侧，检测
支架3包括检测结构33，检测结构33呈高于承载平台2设置，检测结构33用于检测可移出升温区域的至少部分承载平台2上的至少一个待测显示设备A。
[0037]在本申请一个实施例提供的测试装置100中，由于检测结构33高于承载平台2设置，使得至少部分承载平台2从升温装置1的第一开口10处朝向检测结构33移动时，承载平台2位于检测结构33的下方，当至少部分承载平台2从升温装置1的第一开口10处朝向升温区域移动时，承载平台2从检测结构33的下方进入升温区域内部。
[0038]示例性的，将待测显示设备A安装至承载平台2后，活动承载平台2使得检测支架3上的检测结构33对准待测显示设备A，例如将承载平台2从升温装置1内通过第一开口10部分或全部地移出，然后点亮待测显示设备A进行测试；在初始测试完成后，活动部分或全部移出升温装置1的承载平台2，使得承载平台2完全进入升温装置1的升温区域内，从而带动承载平台2上的待测显示设备A同步进入升温区域内，将待测显示设备A进入升温区域内后，升温装置1对升温区域进行升温直至测试温度，使得待测显示设备A暴露在测试温度下一定时间，之后，再次活动承载平台2从升温装置1的第一开口10内将承载平台2部分或全部地移出，待测显示设备A继续暴露在检测支架3的检测结构33下方，使得检测结构33对经过升温后的待测显示设备A进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：升温装置，所述升温装置内形成有升温区域，所述升温装置的一个侧面具有第一开口；承载平台，所述承载平台活动安装于所述升温区域内，至少部分所述承载平台可通过所述第一开口活动移出所述升温区域，所述承载平台用于承载至少一个待测显示设备；以及，检测支架，所述检测支架位于所述第一开口的一侧，所述检测支架包括检测结构，所述检测结构呈高于所述承载平台设置，所述检测结构用于检测可移出所述升温区域的至少部分所述承载平台上的至少一个所述待测显示设备。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，至少一个所述待测显示设备连接有连接器；所述承载平台上形成有压接结构，所述压接结构与所述连接器进行对位连接。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述压接结构包括：第一安装块，沿第一水平方向活动安装至所述承载平台上；第二安装块，沿第二水平方向活动安装至所述第一安装块上；压接接头，安装至所述第二安装块上，所述压接接头与所述连接器进行对位连接；以及，第一驱动结构，驱动所述第一安装块以及所述第二安装块活动；其中，所述第一水平方向与所述第二水平方向相互垂直。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述压接结构还包括对位相机，与所述第一驱动结构电性连接，所述对位相机用以抓取至少一个所述待测显示设备Mark点的位置信息，使得所述第一驱动结构基于所述Mark点的位置信息驱动所述第一安装块和所述第二安装块进行位移。5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述承载平台内凹设有至少一个检测槽，至少一个所...

【专利技术属性】
技术研发人员：邢飞，
申请(专利权)人：湖北星纪时代科技有限公司，
类型：发明
国别省市：