本公开提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取待测芯片对应的测试需求，以及所述测试需求对应的硬件仪器；针对每种所述硬件仪器，确定该硬件仪器在所述测试需求中对应的测试动作；访问预设的驱动代码数据库，调取所述测试动作对应的驱动代码，并将所述驱动代码封装为测试工程文件；运行所述测试工程文件，接收所述硬件仪器按照所述测试动作采集到的测试数据，并将所述测试数据返回至用户。可以减少人力成本，提升芯片测试效率。提升芯片测试效率。提升芯片测试效率。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质
[0001]本公开涉及硬件测试
，具体而言，涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
[0002]目前，在芯片的生产流程中，一般需要经过芯片设计、晶圆制造、封装、芯片测试、板级封装等环节。其中，芯片测试环节起到至关重要的作用，在芯片测试环节中，测试人员对芯片产品的功能性以及性能性进行测试，以确保芯片能满足功能需要，并且对测试数据进行分析，从而分析失效模式，进而验证研发。
[0003]在现有的芯片测试中，在测试方案上主要是由测试人员操作台式分立设备仪表如源表，万用表，示波器等，以手动的方式对芯片进行供电，激励以及测量，并且在单片机类型的产品上，测试人员不仅需要负责测试部分，还需要另外一部分控制MCU芯片本身进入特定的测试模式或状态来配合测试，因此，传统的测试方式较为繁琐复杂，需要浪费大量的人力和时间在相同芯片的测试项上，为测试人员带来许多困难。
技术实现思路
[0004]本公开实施例至少提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，可以减少人力成本，提升芯片测试效率。
[0005]本公开实施例提供了一种芯片测试方法，包括：获取待测芯片对应的测试需求，以及所述测试需求对应的硬件仪器；针对每种所述硬件仪器，确定该硬件仪器在所述测试需求中对应的测试动作；访问预设的驱动代码数据库，调取所述测试动作对应的驱动代码，并将所述驱动代码封装为测试工程文件；运行所述测试工程文件，接收所述硬件仪器按照所述测试动作采集到的测试数据，并将所述测试数据返回至用户。
[0006]一种可选的实施方式中，在所述获取待测芯片对应的测试需求，以及所述测试需求对应的硬件仪器之前，所述方法还包括：获取多种测试硬件，并确定每种所述测试硬件对应的硬件功能；针对每种所述硬件功能，确定实现该硬件功能对应的所述测试动作；确定所述测试动作对应的驱动代码，并关联所述测试动作与对应的所述驱动代码；将所述驱动代码，以及所述驱动代码与所述测试动作之间的对应关系，存储于所述驱动代码数据库中。
[0007]一种可选的实施方式中，所述访问预设的驱动代码数据库，调取所述测试动作对应的驱动代码，并将所述驱动代码封装为测试工程文件，具体包括：访问预设的驱动代码数据库，根据所述对应关系，调取所述测试动作对应的驱动
代码；根据所述测试需求，确定所述测试动作之间的动作顺序；按照所述动作顺序，将所述驱动代码封装为测试工程文件。
[0008]一种可选的实施方式中，在所述访问预设的驱动代码数据库，调取所述测试动作对应的驱动代码，并将所述驱动代码封装为测试工程文件之后，所述方法还包括：根据所述测试需求，确定满足所述测试需求时，所述待测芯片对应的控制参数，以及所述硬件仪器对应的配置参数；获取用于控制所述待测芯片工作的控制程序，根据所述控制参数配置所述控制程序；为所述测试工程文件配置所述配置参数。
[0009]一种可选的实施方式中，所述运行所述测试工程文件，接收所述硬件仪器按照所述测试动作采集到的测试数据，并将所述测试数据返回至用户，具体包括：运行配置所述控制参数后的所述控制程序，控制所述待测芯片工作；依次运行所述测试工程文件中包括的每条所述驱动代码，控制该驱动代码对应的所述硬件仪器，根据所述配置参数，针对工作中的所述待测芯片进行所述测试动作；获取所述测试动作采集到的所述测试数据，并将所述测试数据返回至用户。
[0010]一种可选的实施方式中，所述驱动代码数据库中还存储有，由所述测试工程文件与所述测试需求之间对应关系构成的测试驱动模板，在所述访问预设的驱动代码数据库，调取所述测试动作对应的驱动代码，并将所述驱动代码封装为测试工程文件之后，所述方法还包括：响应于用户针对所述测试驱动模板的选择操作，确定目标测试驱动模板；将所述目标测试驱动模板对应的所述测试工程文件确定为目标测试工程文件。
[0011]本公开实施例还提供一种芯片测试装置，包括：需求确定模块，用于获取待测芯片对应的测试需求，以及所述测试需求对应的硬件仪器；动作确定模块，用于针对每种所述硬件仪器，确定该硬件仪器在所述测试需求中对应的测试动作；驱动调取模块，用于访问预设的驱动代码数据库，调取所述测试动作对应的驱动代码，并将所述驱动代码封装为测试工程文件；测试运行模块，用于运行所述测试工程文件，接收所述硬件仪器按照所述测试动作采集到的测试数据，并将所述测试数据返回至用户。
[0012]本公开实施例还提供一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行上述芯片测试方法，或上述芯片测试方法中任一种可能的实施方式中的步骤。
[0013]本公开实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行上述芯片测试方法，或上述芯片测试方法中任一种可能的实施方式中的步骤。
[0014]本公开实施例还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，该计算机程
序、指令被处理器执行时实现上述芯片测试方法，或上述芯片测试方法中任一种可能的实施方式中的步骤。
[0015]本公开实施例提供的一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取待测芯片对应的测试需求，以及所述测试需求对应的硬件仪器；针对每种所述硬件仪器，确定该硬件仪器在所述测试需求中对应的测试动作；访问预设的驱动代码数据库，调取所述测试动作对应的驱动代码，并将所述驱动代码封装为测试工程文件；运行所述测试工程文件，接收所述硬件仪器按照所述测试动作采集到的测试数据，并将所述测试数据返回至用户。可以减少人力成本，提升芯片测试效率。
[0016]为使本公开的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，此处的附图被并入说明书中并构成本说明书中的一部分，这些附图示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于说明本公开的技术方案。应当理解，以下附图仅示出了本公开的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0018]图1示出了本公开实施例所提供的一种芯片测试方法的流程图；图2示出了本公开实施例所提供的另一种芯片测试方法的流程图；图3示出了本公开实施例所提供的一种芯片测试装置的示意图；图4示出了本公开实施例所提供的一种电子设备的示意图。
具体实施方式
[0019]为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例中附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本公开实施例的组本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：获取待测芯片对应的测试需求，以及所述测试需求对应的硬件仪器；针对每种所述硬件仪器，确定该硬件仪器在所述测试需求中对应的测试动作，这里，将芯片测试过程中，为满足测试需求所需要进行的测试过程步骤拆分为各个硬件仪器的测试动作，将芯片测试过程抽象成为各个硬件仪器的测试动作；访问预设的驱动代码数据库，调取所述测试动作对应的驱动代码，并将所述驱动代码封装为测试工程文件；运行所述测试工程文件，接收所述硬件仪器按照所述测试动作采集到的测试数据，并将所述测试数据返回至用户，其中，根据测试工程文件中的驱动代码，驱动与待测芯片连接搭建好的硬件仪器，进行与驱动代码相对应的测量动作。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取待测芯片对应的测试需求，以及所述测试需求对应的硬件仪器之前，所述方法还包括：获取多种测试硬件，并确定每种所述测试硬件对应的硬件功能；针对每种所述硬件功能，确定实现该硬件功能对应的所述测试动作；确定所述测试动作对应的驱动代码，并关联所述测试动作与对应的所述驱动代码；将所述驱动代码，以及所述驱动代码与所述测试动作之间的对应关系，存储于所述驱动代码数据库中。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述访问预设的驱动代码数据库，调取所述测试动作对应的驱动代码，并将所述驱动代码封装为测试工程文件，具体包括：访问预设的驱动代码数据库，根据所述对应关系，调取所述测试动作对应的驱动代码；根据所述测试需求，确定所述测试动作之间的动作顺序；按照所述动作顺序，将所述驱动代码封装为测试工程文件。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述访问预设的驱动代码数据库，调取所述测试动作对应的驱动代码，并将所述驱动代码封装为测试工程文件之后，所述方法还包括：根据所述测试需求，确定满足所述测试需求时，所述待测芯片对应的控制参数，以及所述硬件仪器对应的配置参数；获取用于控制所述待测芯片工作的控制程序，根据所述控制参数配置所述控制程序；为所述测试工程文件配置所述配置参数。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述运行所述测试工程文件，接收所述硬件仪器按照所述测试动作采集到的测试数据，并将所述测试数据返回至用户，具体包括：运行配置所述控制参数后的所述控制程序，控制所述待测芯片工作；依次运行所述测试工程文件中包括的每条所述驱动代码，控制该驱动代码对应的所述硬件仪器，根据所...
【专利技术属性】
技术研发人员：王思明，王孜，周浩，
申请(专利权)人：上海孤波科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。