【技术实现步骤摘要】
一种基于x射线的物体检测方法、系统及处理设备
[0001]本申请涉及x射线检测
,特别是涉及一种基于x射线的物体检测方法、系统及处理设备。
技术介绍
[0002]x射线是一种电磁波,具有很强的穿透性,可以对物体的内部结构和状态进行透射。采用x射线检测技术对物体进行检测,已广泛应用于电子产品检测、医学检测、安全检测等领域。例如,为了保证叠片式锂离子电池安全可靠,可以采用x射线检测技术对叠片式锂离子电池进行质量检测,以确保叠片式锂离子电池的性能参数达到检测要求。
[0003]采用x射线检测技术对叠片式锂离子电池进行检测,主要分为二维检测和三维检测。在二维检测中,利用位置固定的x射线源和探测器对电池进行扫描,方法简单,但图像中存在极片重叠的问题。在三维检测中,利用x射线源和探测器从多个视角扫描电池,采用断层重建技术重建电池内部结构的三维图像,解决了极片重叠问题,但是需要x射线源和探测器与电池进行相对旋转,易造成重建图像的运动伪影。
[0004]目前,在采用x射线检测技术对物体进行多个视角扫描的过程中,需要x射线源和探测器与物体进行相对旋转,机械结构复杂,同时易造成重建图像的运动伪影,降低图像质量。
技术实现思路
[0005]本申请实施例的目的在于提供一种基于x射线的物体检测方法、系统及处理设备,以降低检测系统的机械结构复杂度,提高图像质量。具体技术方案如下:第一方面,本申请实施例提供了一种基于x射线的物体检测方法,应用于x射线检测系统,所述x射线检测系统包括分布式射线源和第一探测器,所 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于x射线的物体检测方法,其特征在于,应用于x射线检测系统,所述x射线检测系统包括分布式射线源和第一探测器,所述分布式射线源包括多个靶点,靶点的状态包括发射x射线情况下的工作状态和不发射x射线情况下的非工作状态;所述方法包括:确定在物体检测过程中所述分布式射线源上处于工作状态的多个工作靶点;对被检物的多个x射线图像进行重建处理,得到所述被检物的检测图像;其中,所述多个x射线图像是在所述多个工作靶点分别向所述被检物发射x射线的情况下,经所述第一探测器采集得到图像。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述分布式射线源上的靶点沿竖直方向依次排列,所述被检物在检测过程中置于传输装置上;所述确定在物体检测过程中所述分布式射线源上处于工作状态的多个工作靶点,包括:获取所述被检物在竖直方向上的高度、所述被检物接触所述传输装置的底面与所述分布式射线源的底端在竖直方向上的第一距离、所述被检物远离所述分布式射线源的一侧与所述分布式射线源在水平方向上的第二距离、以及所述分布式射线源的射线张角;基于所述高度、所述第一距离、所述第二距离和所述射线张角,确定所述分布式射线源上多个工作靶点的位置分布范围,以使得在物体检测过程中所述多个工作靶点分别向所述被检物发射x射线。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述高度、所述第一距离、所述第二距离和所述射线张角,确定所述分布式射线源上多个工作靶点的位置分布范围,包括:基于所述射线张角以及所述第二距离,确定最低靶点与所述底面在竖直方向上的第三距离,和/或,基于所述射线张角以及所述第二距离,确定最高靶点与所述被检物的顶面在竖直方向上的第三距离,其中,所述最低靶点为发射的x射线刚好照射到所述被检物的底面远离所述分布式射线源的一侧且位置最低的靶点,所述最高靶点为发射的x射线刚好照射到所述被检物的顶面远离所述分布式射线源的一侧且位置最高的靶点;根据所述高度、所述第一距离以及所述第三距离,确定所述多个工作靶点的位置分布范围的下限和上限。4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述x射线检测系统还包括第二探测器;所述第二探测器用于检测所述被检物在竖直方向上的高度。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述分布式射线源上的靶点沿竖直方向依次排列;所述确定在物体检测过程中所述分布式射线源上处于工作状态的多个工作靶点,包括:确定在物体检测过程中所述分布式射线源上处于工作状态的初始靶点;以所述初始靶点为参考位置,沿竖直向上方向和/或竖直向下方向,依次控制各个靶点向所述被检物发射x射线,并获取所述第一探测器分别采集的与各个靶点对应的第一候选图像;将图像内容中至少存在部分被检物的第一候选图像对应的靶点、以及所述初始靶点作为所述工作靶点;所述对被检物的多个x射线图像进行重建处理,得到所述被检物的检测图像,包括:
对所述初始靶点对应的x射线图像和所述图像内容中至少存在部分被检物的第一候选图像进行重建处理,得到所述被检物的检测图像。6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述分布式射线源上的靶点沿竖直方向依次排列;所述确定在物体检测过程中所述分布式射线源上处于工作状态的多个工作靶点,包括:依次控制所述分布式射线源中各个靶点向当前被检物发射x射线,并获取所述第一探测器分别采集的与各个靶点对应的第二候选图像;将图像内容中至少存在部分被检物的第二候选图像对应的靶点作为所述工作靶点,其中,所述工作靶点中的任一个靶点作为下一被检物对应的初始靶点,所述下一个被检物对应的工作靶点通过基于该初始靶点对分布式射线源上的多个靶点进行遍历控制以及基于所述第一探测器采集的x射线图像进行确定得到;所述对被检物的多个x射线图像进行重建处理,得到所述被检物的...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵中玮,徐光明,
申请(专利权)人:杭州睿影科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。