一种基于x射线的物体检测方法、系统及处理设备技术方案

技术编号:38004433 阅读:17 留言:0更新日期:2023-06-30 10:19
本申请实施例提供了一种基于x射线的物体检测方法、系统及处理设备,该方法应用于x射线检测系统,x射线检测系统包括分布式射线源和第一探测器,分布式射线源包括多个靶点,靶点的状态包括发射x射线情况下的工作状态和不发射x射线情况下的非工作状态,该方法包括:确定在物体检测过程中分布式射线源上处于工作状态的多个工作靶点,对被检物的多个x射线图像进行重建处理,得到被检物的检测图像,其中,多个x射线图像是在多个工作靶点分别向被检物发射x射线的情况下,经第一探测器采集得到图像。本申请实施例无需将分布式射线源、第一探测器与被检物进行相对旋转,可以降低检测系统的机械结构复杂度,提高图像质量。提高图像质量。提高图像质量。

【技术实现步骤摘要】
一种基于x射线的物体检测方法、系统及处理设备


[0001]本申请涉及x射线检测
,特别是涉及一种基于x射线的物体检测方法、系统及处理设备。

技术介绍

[0002]x射线是一种电磁波,具有很强的穿透性,可以对物体的内部结构和状态进行透射。采用x射线检测技术对物体进行检测,已广泛应用于电子产品检测、医学检测、安全检测等领域。例如,为了保证叠片式锂离子电池安全可靠,可以采用x射线检测技术对叠片式锂离子电池进行质量检测,以确保叠片式锂离子电池的性能参数达到检测要求。
[0003]采用x射线检测技术对叠片式锂离子电池进行检测,主要分为二维检测和三维检测。在二维检测中,利用位置固定的x射线源和探测器对电池进行扫描,方法简单,但图像中存在极片重叠的问题。在三维检测中,利用x射线源和探测器从多个视角扫描电池,采用断层重建技术重建电池内部结构的三维图像,解决了极片重叠问题,但是需要x射线源和探测器与电池进行相对旋转,易造成重建图像的运动伪影。
[0004]目前,在采用x射线检测技术对物体进行多个视角扫描的过程中,需要x射线源和探测器与物体进行相对旋转,机械结构复杂,同时易造成重建图像的运动伪影,降低图像质量。

技术实现思路

[0005]本申请实施例的目的在于提供一种基于x射线的物体检测方法、系统及处理设备,以降低检测系统的机械结构复杂度,提高图像质量。具体技术方案如下:第一方面,本申请实施例提供了一种基于x射线的物体检测方法,应用于x射线检测系统,所述x射线检测系统包括分布式射线源和第一探测器,所述分布式射线源包括多个靶点,靶点的状态包括发射x射线情况下的工作状态和不发射x射线情况下的非工作状态;所述方法包括:确定在物体检测过程中所述分布式射线源上处于工作状态的多个工作靶点;对被检物的多个x射线图像进行重建处理,得到所述被检物的检测图像;其中,所述多个x射线图像是在所述多个工作靶点分别向所述被检物发射x射线的情况下,经所述第一探测器采集得到图像。
[0006]第二方面,本申请实施例提供了一种x射线检测系统,所述x射线检测系统包括处理装置、分布式射线源和第一探测器,所述分布式射线源包括多个靶点,靶点的状态包括发射x射线情况下的工作状态和不发射x射线情况下的非工作状态,其中:所述处理装置,用于确定在物体检测过程中所述分布式射线源上处于工作状态的多个工作靶点;对被检物的多个x射线图像进行重建处理,得到所述被检物的检测图像,其中,所述多个x射线图像是在所述多个工作靶点分别向所述被检物发射x射线的情况下,经所述第一探测器采集得到图像。
[0007]第三方面,本申请实施例提供了一种处理设备,包括:存储器,用于存放计算机程序;处理器,用于执行存储器上所存放的程序时,实现上述第一方面任一所述的方法。
[0008]本申请实施例有益效果:本申请实施例提供的方案,应用于x射线检测系统,x射线检测系统包括分布式射线源和第一探测器,分布式射线源包括多个靶点,靶点的状态包括发射x射线情况下的工作状态和不发射x射线情况下的非工作状态,处理设备可以确定在物体检测过程中分布式射线源上处于工作状态的多个工作靶点,对被检物的多个x射线图像进行重建处理,得到被检物的检测图像,其中,多个x射线图像是在多个工作靶点分别向被检物发射x射线的情况下,经第一探测器采集得到图像。由于处于工作状态的多个工作靶点位于分布式射线源的不同位置,在多个工作靶点分别发射x射线对被检物成像的情况下,可以获取多角度的被检物的x射线图像,这样无需将分布式射线源、第一探测器与被检物进行相对旋转,可以降低检测系统的机械结构复杂度,避免相对旋转所造成的重建图像的运动伪影,提高图像质量,同时可以提高检测效率。当然,实施本申请的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
[0009]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,还可以根据这些附图获得其他的实施例。
[0010]图1为本申请实施例所提供的一种x射线检测系统的结构示意图;图2为本申请实施例所提供的一种基于x射线的物体检测方法的流程图;图3为锂离子电池叠片式工艺的一种示意图;图4为基于图2所示实施例的获取叠片式锂离子电池的x射线图像的一种示意图;图5为图2所示实施例中步骤S201的第一种具体流程图;图6为基于图2所示实施例的x射线检测系统的第一种示意图;图7为基于图5所示实施例的工作靶点分布的一种结构示意图;图8为图5所示实施例中步骤S502的一种具体流程图;图9为基于图2所示实施例的获取被检物的x射线图像的一种具体流程图;图10为图2所示实施例中步骤S201的第二种具体流程图;图11为图10所示实施例中步骤S1002的一种具体流程图;图12为图2所示实施例中步骤S201的第三种具体流程图;图13为基于图2所示实施例的调整靶点的一种示意图;图14为基于图2所示实施例的调整靶点的另一种示意图;图15为基于图2所示实施例的x射线检测系统的第二种示意图;图16为基于图2所示实施例的x射线检测系统的第三种示意图;图17为基于图2所示实施例的基于x射线的物体检测方法的一种具体流程图;图18为基于图2所示实施例的基于x射线的物体检测方法的另一种具体流程图;
图19为本申请实施例所提供的一种基于x射线的物体检测装置的结构示意图;图20为本申请实施例所提供的一种处理设备的结构示意图。
具体实施方式
[0011]下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员基于本申请所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
[0012]为了降低检测系统的机械结构复杂度,提高图像质量,本申请实施例提供了一种基于x射线的物体检测方法、系统、处理设备、计算机可读存储介质以及计算机程序产品。下面首先对本申请实施例所提供的一种基于x射线的物体检测方法进行介绍。
[0013]本申请实施例所提供的一种基于x射线的物体检测方法可以应用于如图1所示的x射线检测系统,具体可以应用于x射线检测系统中的处理设备等。所述x射线检测系统包括处理装置103、分布式射线源101和第一探测器102,所述分布式射线源101包括多个靶点,靶点的状态包括发射x射线情况下的工作状态和不发射x射线情况下的非工作状态。
[0014]如图2所示,一种基于x射线的物体检测方法,所述方法包括:S201,确定在物体检测过程中所述分布式射线源上处于工作状态的多个工作靶点;S202,对被检物的多个x射线图像进行重建处理,得到所述被检物的检测图像。
[0015]其中,所述多个x射线图像是在所述多个工作靶点分别向所述被检物发射x射线的情况下,经所述第一探测器采集得到图像。
[0016]可见,在本申请实施例所提供的方案中本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于x射线的物体检测方法,其特征在于,应用于x射线检测系统,所述x射线检测系统包括分布式射线源和第一探测器,所述分布式射线源包括多个靶点,靶点的状态包括发射x射线情况下的工作状态和不发射x射线情况下的非工作状态;所述方法包括:确定在物体检测过程中所述分布式射线源上处于工作状态的多个工作靶点;对被检物的多个x射线图像进行重建处理,得到所述被检物的检测图像;其中,所述多个x射线图像是在所述多个工作靶点分别向所述被检物发射x射线的情况下,经所述第一探测器采集得到图像。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述分布式射线源上的靶点沿竖直方向依次排列,所述被检物在检测过程中置于传输装置上;所述确定在物体检测过程中所述分布式射线源上处于工作状态的多个工作靶点,包括:获取所述被检物在竖直方向上的高度、所述被检物接触所述传输装置的底面与所述分布式射线源的底端在竖直方向上的第一距离、所述被检物远离所述分布式射线源的一侧与所述分布式射线源在水平方向上的第二距离、以及所述分布式射线源的射线张角;基于所述高度、所述第一距离、所述第二距离和所述射线张角,确定所述分布式射线源上多个工作靶点的位置分布范围,以使得在物体检测过程中所述多个工作靶点分别向所述被检物发射x射线。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述高度、所述第一距离、所述第二距离和所述射线张角,确定所述分布式射线源上多个工作靶点的位置分布范围,包括:基于所述射线张角以及所述第二距离,确定最低靶点与所述底面在竖直方向上的第三距离,和/或,基于所述射线张角以及所述第二距离,确定最高靶点与所述被检物的顶面在竖直方向上的第三距离,其中,所述最低靶点为发射的x射线刚好照射到所述被检物的底面远离所述分布式射线源的一侧且位置最低的靶点,所述最高靶点为发射的x射线刚好照射到所述被检物的顶面远离所述分布式射线源的一侧且位置最高的靶点;根据所述高度、所述第一距离以及所述第三距离,确定所述多个工作靶点的位置分布范围的下限和上限。4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述x射线检测系统还包括第二探测器;所述第二探测器用于检测所述被检物在竖直方向上的高度。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述分布式射线源上的靶点沿竖直方向依次排列;所述确定在物体检测过程中所述分布式射线源上处于工作状态的多个工作靶点,包括:确定在物体检测过程中所述分布式射线源上处于工作状态的初始靶点;以所述初始靶点为参考位置,沿竖直向上方向和/或竖直向下方向,依次控制各个靶点向所述被检物发射x射线,并获取所述第一探测器分别采集的与各个靶点对应的第一候选图像;将图像内容中至少存在部分被检物的第一候选图像对应的靶点、以及所述初始靶点作为所述工作靶点;所述对被检物的多个x射线图像进行重建处理,得到所述被检物的检测图像,包括:
对所述初始靶点对应的x射线图像和所述图像内容中至少存在部分被检物的第一候选图像进行重建处理,得到所述被检物的检测图像。6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述分布式射线源上的靶点沿竖直方向依次排列;所述确定在物体检测过程中所述分布式射线源上处于工作状态的多个工作靶点,包括:依次控制所述分布式射线源中各个靶点向当前被检物发射x射线,并获取所述第一探测器分别采集的与各个靶点对应的第二候选图像;将图像内容中至少存在部分被检物的第二候选图像对应的靶点作为所述工作靶点,其中,所述工作靶点中的任一个靶点作为下一被检物对应的初始靶点,所述下一个被检物对应的工作靶点通过基于该初始靶点对分布式射线源上的多个靶点进行遍历控制以及基于所述第一探测器采集的x射线图像进行确定得到;所述对被检物的多个x射线图像进行重建处理,得到所述被检物的...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵中玮徐光明
申请(专利权)人:杭州睿影科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1