精度的确认方法、装置、存储介质和镭射设备制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种精度的确认方法、装置、存储介质和镭射设备。该方法包括：镭射设备根据获取的第一镭射信息在校正板上镭射出第一图形；测量设备获取第一图形的第一图形信息，并根据第一图形信息与第一镭射信息生成振镜镭射精度；镭射设备获取第二镭射信息，并根据第二镭射信息在校正板上镭射出第二图形；测量设备获取第二图形的第二图形信息，并根据第二图形信息与第一图形信息生成抓靶镭射精度。镭射设备包括镭射标记设备或镭射标记设备与相机，从而使测量设备根据镭射标记设备镭射的第一图形确认出镭射设备的振镜镭射精度；根据镭射标记设备通过相机抓靶镭射的第二图形确认相机的抓靶镭射精度，使用户能够确认镭射设备的镭射精度。备的镭射精度。备的镭射精度。

【技术实现步骤摘要】
精度的确认方法、装置、存储介质和镭射设备


[0001]本专利技术实施例涉及激光应用
，具体涉及一种精度的确认方法、装置、存储介质和镭射设备。

技术介绍

[0002]镭射设备在安装调试工作中，需要一种简单有效的方式，确认镭射精度。镭射设备包括相机与镭射标记设备；镭射精度包括整台机器的镭射精度以及相机抓靶的镭射精度。
[0003]实际应用场景中，如在设备安装调试初期，并没有实际的精度确认方式，导致设备的镭射精度无法确认。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种精度的确认方法、装置、存储介质和镭射设备，用以解决现有技术中设备的镭射精度无法确认的问题。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种精度的确认方法，包括：
[0006]镭射设备根据获取的第一镭射信息在校正板上镭射出第一图形；
[0007]测量设备基于所述第一图形的第一图像，获取所述第一图形的第一图形信息，并根据所述第一图形信息与所述第一镭射信息生成振镜镭射精度；
[0008]镭射设备获取第二镭射信息，并根据所述第二镭射信息在校正板上镭射出第二图形；
[0009]测量设备基于所述第二图形的第二图像，获取所述第二图形的第二图形信息，并根据所述第二图形信息与所述第一图形信息生成抓靶镭射精度。
[0010]在一种可能的实现方式中，所述第一图形包括数据码，所述第二镭射信息包括数据码位置信息与第三镭射信息；所述镭射设备根据所述第二镭射信息在校正板上镭射出第二图形，具体包括
[0011]所述镭射设备根据数据码位置信息对校正板上的数据码进行识别，生成识别信息；
[0012]所述镭射设备判断识别信息与获取的料号输入信息是否相同；
[0013]所述镭射设备若判断出所述识别信息与所述料号输入信息相同，则根据所述第三镭射信息在校正板上镭射出第二图形。
[0014]在一种可能的实现方式中，所述第二镭射信息包括第三镭射信息；所述镭射设备根据所述第二镭射信息在校正板上镭射出第二图形，具体包括：
[0015]所述镭射设备判断获取的抓靶数量是否大于或等于靶标阈值；
[0016]所述镭射设备若判断出所述抓靶数量大于或等于所述靶标阈值，则根据所述第三镭射信息在校正板上镭射出第二图形。
[0017]在一种可能的实现方式中，所述第一图形包括多个靶标，所述第三镭射信息包括靶标信息与第二形状图形信息；所述镭射设备根据所述第三镭射信息在校正板上镭射出第
二图形，具体包括：
[0018]所述镭射设备采集所述校正板的校正板图像，所述校正板图像中包括多个靶标；
[0019]所述镭射设备将所述靶标信息与多个所述靶标对应；
[0020]所述镭射设备通过与所述靶标信息对应的多个靶标，根据所述第二形状图形信息在校正板上镭射出第二图形。
[0021]在一种可能的实现方式中，所述第一图形包括多个第一形状图形，所述第一镭射信息包括多个第一形状图形的第一理论坐标，所述第一图形信息包括多个第一形状图形的第一实际坐标；所述测量设备根据所述第一图形信息与所述第一镭射信息生成振镜镭射精度，包括：
[0022]所述测量设备根据多个第一形状图形的所述第一理论坐标与所述第一实际坐标，计算出所述振镜镭射精度。
[0023]在一种可能的实现方式中，所述第一图形包括多个第一形状图形，所述第一图形信息包括多个第一形状图形的第一实际坐标，所述第二图形包括多个第一形状图形对应的第二形状图形，所述第二图形信息包括多个第二形状图形的第二实际坐标；所述测量设备根据所述第二图形信息与所述第一图形信息生成抓靶镭射精度，包括：
[0024]所述测量设备根据多个所述第一形状图形的第一实际坐标和与所述第一形状图形对应的所述第二形状图形的第二实际坐标，生成每个所述第二形状图形对应的第一距离偏差值；
[0025]所述测量设备根据多个所述第一距离偏差值生成所述抓靶镭射精度。
[0026]在一种可能的实现方式中，所述测量设备根据多个所述第一距离偏差值生成所述抓靶镭射精度，包括：
[0027]所述测量设备从所述多个第一距离偏差值中确定出最大距离偏差值，所述最大距离偏差值为所述多个第一距离偏差值中的最大值；
[0028]所述测量设备将所述最大距离偏差值确定为所述抓靶镭射精度。
[0029]第二方面，本专利技术实施例提供了一种精度的确认方法，所述方法应用于镭射设备，所述方法包括：
[0030]根据获取的第一镭射信息在校正板上镭射出第一图形，以使测量设备基于所述第一图形的第一图像，获取所述第一图形的第一图形信息，并根据所述第一图形信息与所述第一镭射信息生成振镜镭射精度；
[0031]获取第二镭射信息，并根据所述第二镭射信息在校正板上镭射出第二图形，以使所述测量设备基于所述第二图形的第二图像，获取所述第二图形的第二图形信息，根据所述第二图形信息与所述第一图形信息生成抓靶镭射精度。
[0032]第三方面，本专利技术实施例提供了一种精度的确认装置，所述装置包括：
[0033]第一镭射模块，用于根据获取的第一镭射信息在校正板上镭射出第一图形，以使测量设备基于所述第一图形的第一图像，获取所述第一图形的第一图形信息，并根据所述第一图形信息与所述第一镭射信息生成振镜镭射精度；
[0034]第二镭射模块，用于获取第二镭射信息，并根据所述第二镭射信息在校正板上镭射出第二图形，以使所述测量设备基于所述第二图形的第二图像，获取所述第二图形的第二图形信息，并根据所述第二图形信息与所述第一图形信息生成抓靶镭射精度。
[0035]第四方面，本专利技术实施例提供了一种精度的确认装置，所述装置包括：
[0036]第一生成模块，用于基于第一图形的第一图像，获取所述第一图形的第一图形信息，并根据所述第一图形信息与第一镭射信息生成振镜镭射精度，所述第一图形为镭射设备根据获取的第一镭射信息在校正板上镭射出的图形；
[0037]第二生成模块，用于基于第二图形的第二图像，获取所述第二图形的第二图形信息，并根据所述第二图形信息与所述第一图形信息生成抓靶镭射精度，所述第二图形为所述镭射设备获取第二镭射信息，并根据所述第二镭射信息在校正板上镭射出的图形。
[0038]第五方面，本专利技术实施例提供了一种镭射设备，包括存储器和处理器，所述存储器用于存储包括程序指令的信息，所述处理器用于控制程序指令的执行，所述程序指令被处理器加载并执行时实现上述第一方面或第二方面任一可能的实现方式中的精度的确认方法的步骤。
[0039]第六方面，本专利技术实施例提供了一种测量设备，包括存储器和处理器，所述存储器用于存储包括程序指令的信息，所述处理器用于控制程序指令的执行，所述程序指令被处理器加载并执行时实现上述第一方面或第二方面任一可能的实现方式中的精度的确认方法的步骤。
[0040]第七方面，本专利技术实施例提供了一种存储介质，所述存储介质包括存储的程序，其中，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种精度的确认方法，其特征在于，所述方法包括：镭射设备根据获取的第一镭射信息在校正板上镭射出第一图形；测量设备基于所述第一图形的第一图像，获取所述第一图形的第一图形信息，并根据所述第一图形信息与所述第一镭射信息生成振镜镭射精度；镭射设备获取第二镭射信息，并根据所述第二镭射信息在校正板上镭射出第二图形；测量设备基于所述第二图形的第二图像，获取所述第二图形的第二图形信息，并根据所述第二图形信息与所述第一图形信息生成抓靶镭射精度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一图形包括数据码，所述第二镭射信息包括数据码位置信息与第三镭射信息；所述镭射设备根据所述第二镭射信息在校正板上镭射出第二图形，具体包括：所述镭射设备根据数据码位置信息对校正板上的数据码进行识别，生成识别信息；所述镭射设备判断识别信息与获取的料号输入信息是否相同；所述镭射设备若判断出所述识别信息与所述料号输入信息相同，则根据所述第三镭射信息在校正板上镭射出第二图形。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二镭射信息包括第三镭射信息；所述镭射设备根据所述第二镭射信息在校正板上镭射出第二图形，具体包括：所述镭射设备判断获取的抓靶数量是否大于或等于靶标阈值；所述镭射设备若判断出所述抓靶数量大于或等于所述靶标阈值，则根据所述第三镭射信息在校正板上镭射出第二图形。4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述第一图形包括多个靶标，所述第三镭射信息包括靶标信息与第二形状图形信息；所述镭射设备根据所述第三镭射信息在校正板上镭射出第二图形，具体包括：所述镭射设备采集所述校正板的校正板图像，所述校正板图像中包括多个靶标；所述镭射设备将所述靶标信息与多个所述靶标对应；所述镭射设备通过与所述靶标信息对应的多个靶标，根据所述第二形状图形信息在校正板上镭射出第二图形。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一图形包括多个第一形状图形，所述第一镭射信息包括多个第一形状图形的第一理论坐标，所述第一图形信息包括多个第一形状图形的第一实际坐标；所述测量设备根据所述第一图形信息与所述第一镭射信息生成振镜镭射精度，包括：所述测量设备根据多个第一形状图形的所述第一理论坐标与所述第一实际坐标，计算出所述振镜镭射精度。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一图形包括多个第一形状图形，所述第一图形信息包括多个第一形状图形的第一实际坐标，所述第二图形包括多个第一形状图形对应的第二形状图形，所述第二图形信息包括多个第二形状图形的第二实际坐标；所述测量设备根据所述第二图形信息与所述第一图形信息生成抓靶镭射精度，包括：所述测量设备根据多个所述第一形状图形的第一实际坐标和与所述第一形状图形对应的所述第二形状图形的第二实际坐标，生成每个所述第二形状图形对应的第一距离偏差值；<...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱延文，侯林坚，林潇俊，陈国栋，吕洪杰，杨朝辉，
申请(专利权)人：深圳市大族数控科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：